JP2007304339A - レーザ走査型顕微鏡および顕微鏡観察方法 - Google Patents

レーザ走査型顕微鏡および顕微鏡観察方法 Download PDF

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Abstract

【課題】標本内の同じ位置に操作用レーザ光を合焦させた状態を維持しながら観察用レーザ光の合焦位置のみを移動させることのできるレーザ走査型顕微鏡および顕微鏡観察方法を提供することを目的とする。
【解決手段】標本を観察するための観察用レーザ光と標本を操作するための操作用レーザ光とを合波し、合波後の光を対物レンズを介してステージ上に載せられた標本に照射し、標本内から観察光軸方向に発せられる蛍光を検出する。この場合において、準備モードにおいては、合焦機構による対物レンズまたはステージの移動にかかわらず、観察用レーザ光の合焦位置と操作用レーザ光の合焦位置とが一致するように、合焦位置調節装置を制御し、観察モードにおいては、対物レンズまたはステージの移動に伴う操作用レーザ光の合焦位置のずれ量を相殺するように、合焦位置調節装置を制御する。
【選択図】図1

Description

本発明は、レーザ走査型顕微鏡に関し、特に、観察用レーザ光と操作用レーザ光とを合波して同一の対物レンズにより標本に照射するレーザ走査型顕微鏡および顕微鏡観察方法に関するものである。
従来、観察用レーザ光源と操作用レーザ光源とを備え、観察用レーザ光および操作用レーザ光を別個の走査手段により標本上で2次元的に走査するレーザ走査型顕微鏡が知られている。
例えば、特許文献1には、操作用レーザ光の合焦位置を変更する摺動可能な合焦手段を備え、操作用レーザ光の合焦位置を独立して変更可能としたレーザ走査型顕微鏡が開示されている。更に、この特許文献1には、操作用レーザ光を光ピンセットとして利用することが開示されている。具体的には、特許文献1には、対物レンズの焦平面に平行な面内において、種々異なる操作部位に操作用レーザ光を照射することで、該操作部位を光ピンセットで捉えることが開示されている。
特開2002−82287号公報(第5図)
ところで、上述したようなレーザ走査型顕微鏡においては、標本の複数の箇所を光ピンセットで捉え、この状態を維持したまま、つまり、光ピンセットの把持位置を維持したまま、観察用レーザ光を3次元的に操作させることにより、標本の3次元的な蛍光画像を取得することが望まれる。しかしながら、観察用レーザ光と操作用レーザ光とを同一の対物レンズを介して標本に照射する場合、観察用レーザ光の合焦位置を変化させるために、対物レンズあるいは標本が載置されているステージを移動させると、この移動に伴い、操作用レーザ光の合焦位置も移動してしまうという不都合が生ずる。このため、標本における常に同じ位置を光ピンセットによって把持しながら、観察用レーザ光のみを3次元的に走査させるとういことができないという問題が生ずる。上記特許文献1には、このような問題に対する具体的な開示がなく、上記問題の解決には至っていない。
本発明は上述した事情に鑑みてなされたものであって、同一の対物レンズを介して観察用レーザ光と操作用レーザ光とを標本に照射する場合において、標本内の同じ位置に操作用レーザ光を合焦させた状態を維持しながら観察用レーザ光の合焦位置のみを移動させることのできるレーザ走査型顕微鏡および顕微鏡観察方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明は以下の手段を提供する。
本発明は、観察用レーザ光を発する観察用レーザ光源と、標本を操作するための操作用レーザ光を発する操作用レーザ光源と、観察用レーザ光を2次元的に走査する走査手段と、操作用レーザ光の照射位置を2次元的に調節するレーザ光位置調節手段と、前記操作用レーザ光の合焦位置を光軸方向に移動させる合焦位置調節手段と、前記走査手段により走査された観察用レーザ光と、前記レーザ光位置調節手段および前記合焦位置調節手段により調節された操作用レーザ光とを合波する合波手段と、前記合波手段により合波された観察用レーザ光および操作用レーザ光を集光して標本に照射する一方、標本において発生した蛍光を集光する対物レンズと、前記対物レンズにより集光された蛍光を検出する光検出器と、前記対物レンズまたは前記標本が載せられたステージを光軸方向に移動させるZ軸駆動手段と、前記対物レンズまたは前記ステージの移動量と前記合焦位置調節手段とを制御する制御手段と、前記Z軸駆動手段による前記対物レンズまたは前記ステージの移動にかかわらず、前記観察用レーザ光の合焦位置と操作用レーザ光の合焦位置とが一致するように、前記制御手段が前記合焦位置調節手段を制御する準備モードと、前記対物レンズまたは前記ステージの移動に伴う前記操作用レーザ光の合焦位置のずれ量を相殺するように、前記制御手段が前記合焦位置調節手段を制御する観察モードとを切り替えるモード切替手段とを具備するレーザ走査型顕微鏡を提供する。
上記レーザ走査型顕微鏡によれば、観察用レーザ光源から発せられた観察用レーザ光が、走査手段により2次元的に走査され、対物レンズによって標本上に集光される。一方、操作用レーザ光源から発せられた操作用レーザ光は、レーザ光位置調節手段の作動により2次元的な配置を調節され、また、合焦位置調節手段の作動により合焦位置が調整された後、合波手段の作動により観察用レーザ光と合波され、対物レンズにより標本上に集光される。
観察用レーザ光は、標本に集光されることにより、標本内の蛍光物質を励起して蛍光を発生させる。発生した蛍光は、対物レンズ、合波手段、走査手段を介して戻り、光検出器により検出される。走査手段による標本上の操作位置情報および光検出器により検出された蛍光の光量情報に基づいて、蛍光画像が構築される。また、Z軸駆動手段の作動により対物レンズまたはステージが光軸方向に沿って移動させられることで、標本内における観察用レーザ光の焦点位置が光軸方向に移動し、標本の任意の深さにおける蛍光画像が構築される。
一方、操作用レーザ光は、対物レンズにより標本に集光されることにより、標本に対し、光刺激、レーザトラップ(光ピンセット)等の操作を行う。このとき、操作用レーザ光源から複数の操作用レーザ光を発する構成とすれば、複数の操作用レーザ光が標本に入射されることとなるので、標本に対し、複数箇所の光刺激やレーザトラップを行うことができる。
この場合において、本発明によれば、準備モードと観察モードとを切り替える切り替え手段を備えているので、例えば、準備モードにおいては、対物レンズまたはステージの移動にかかわらず、観察用レーザ光の合焦位置と操作用レーザ光の合焦位置とが一致するように、合焦位置調節手段が制御されることとなる。これにより、操作用レーザ光の合焦位置を観察用レーザ光の合焦位置に一致させた状態を保持することが可能となるので、観察モードに切り替えられた場合には、観察用レーザ光および操作用レーザ光の合焦位置が合致している状態とすることができ、観察を円滑に開始させることができる。
また、観察モードにおいては、対物レンズまたはステージの移動に伴う操作用レーザ光の合焦位置のずれ量を相殺するように、合焦位置調節手段が制御されることとなる。これにより、対物レンズまたはステージの移動に伴って観察用レーザ光の合焦位置が連続的に移動した場合でも、操作用レーザ光の合焦位置を所望の位置に固定させることができる。この結果、光刺激を標本の同じ位置に対して行いながら、或いは、光ピンセットの把持位置を常に同じ位置に固定させた状態で、観察用レーザ光の合焦位置のみを標本の深さ方向に移動させることができる。
本発明は、標本を観察するための観察用レーザ光と標本を操作するための操作用レーザ光とを合波し、合波後の光を対物レンズを介してステージ上に載せられた前記標本に照射し、前記標本内から前記観察光軸方向に発せられる蛍光を検出する顕微鏡観察方法であって、前記標本に対する前記操作用レーザ光の照射を停止した状態で、前記対物レンズまたは前記ステージの移動にかかわらず、前記観察用レーザ光の合焦位置と前記操作用レーザ光の合焦位置とが一致するように前記操作用レーザ光の合焦位置を調節する準備モードを実施し、前記操作用レーザ光の合焦位置が所望の位置に達した場合に、前記標本に対する前記操作用レーザ光の照射を開始するとともに、前記対物レンズまたは前記ステージの移動に伴う前記操作用レーザ光の合焦位置のずれ量を相殺するように、前記操作用レーザ光の合焦位置を調節する観察モードに切り替える顕微鏡観察方法を提供する。
上記顕微鏡観察方法によれば、まずは、準備モードが実施されることにより、操作用レーザ光の照射が停止された状態で、前対物レンズまたはステージの移動にかかわらず観察用レーザ光の合焦位置と操作用レーザ光の合焦位置とが一致するように、操作用レーザ光の合焦位置が調節される。そして、この準備モードにおいて、操作用レーザ光の合焦位置が所望の位置に達すると、準備モードから観察モードに切り替えられることにより、標本に対する操作用レーザ光の照射が開始されるとともに、対物レンズまたはステージの移動に伴う操作用レーザ光の合焦位置のずれ量を相殺するように、操作用レーザ光の合焦位置が調節されることとなる。
これにより、準備モードにおいては、対物レンズまたはステージが光軸方向に移動することに伴い、操作用レーザ光の合焦位置がずれたとしても、操作用レーザ光の合焦位置と観察用レーザ光の合焦位置とが一致するように、操作用レーザ光の合焦位置が調整されるので、観察用レーザ光と操作用レーザ光とを同一位置で合焦させた状態を保持することができる。この結果、観察モードに切り替えられた場合には、観察を円滑に開始させることができる。
また、観察モードにおいては、対物レンズまたはステージが光軸方向に移動することに伴い、操作用レーザ光の合焦位置がずれたとしても、このずれを相殺するように操作用レーザ光の合焦位置が調節されるので、標本に対する操作用レーザ光の合焦位置を固定させることが可能となる。この結果、光刺激を標本の同じ位置に対して行いながら、或いは、光ピンセットの把持位置を常に同じ位置に固定させた状態で、観察用レーザ光の合焦位置のみを標本の深さ方向に移動させることができる。
上記顕微鏡観察方法において、前記操作用レーザ光の合焦位置の調節を前記標本の蛍光検出に同期して行うことが好ましい。
このような方法によれば、対物レンズまたはステージの動きに同期して、操作用レーザ光の合焦位置が調節されるので、効率的に観察を行うことができる。
本発明によれば、標本内の同じ位置に操作用レーザ光を合焦させた状態を維持しながら観察用レーザ光の合焦位置のみを移動させることができるという効果を奏する。
以下、本発明の一実施形態に係るレーザ走査型顕微鏡1について、図1から図7を参照して説明する。
本実施形態に係るレーザ走査型顕微鏡1は、レーザ走査型共焦点顕微鏡である。図1中、各種レンズおよびピンホール等の光学部品は、説明の簡略化のために省略している。
本実施形態に係るレーザ走査型顕微鏡1は、図1に示されるように、観察用レーザ光L1を発生する観察用レーザ光発生部2と、操作用レーザ光L2,L3を発生する操作用レーザ光発生部3と、観察用レーザ光L1および操作用レーザ光L2,L3を合波するダイクロイックミラー(合波手段)4と、合波された観察用レーザ光L1および操作用レーザ光L2,L3を集光して標本Pに照射する一方、観察用レーザ光L1を標本Pに照射することにより、標本P内の蛍光物質が励起されて発生した蛍光Fを集光する対物レンズ5と、該対物レンズ5により集光された蛍光Fを検出する光検出器6とを備えている。
観察用レーザ光発生部2は、観察用レーザ光L1を出射する観察用レーザ光源7と、観察用レーザ光源7から発せられた観察用レーザ光L1を光軸に交差する方向に2次元的に走査する第1のスキャナ(走査手段)8とを備えている。符号9はミラーである。
また、観察用レーザ光発生部2の観察用レーザ光源7と第1のスキャナ8との間には、標本Pにおいて発生し、対物レンズ5により集光され、ダイクロイックミラー4、ミラー9および第1のスキャナ8を経由して戻る蛍光Fを観察用レーザ光L1から分岐して光検出器6に向かわせるダイクロイックミラー10が備えられている。
操作用レーザ光発生部3は、操作用レーザ光L2,L3を出射する操作用レーザ光源11と、該操作用レーザ光源11から発せられた操作用レーザ光L2,L3を分岐するハーフミラー12と、分岐された2つの操作用レーザ光L2,L3をそれぞれ光軸に交差する方向に2次元的に位置調節する第2のスキャナ(レーザ光位置調節手段)13,14と、第2のスキャナ13,14によりそれぞれ位置調節された2つの操作用レーザ光L2,L3を合波する偏光ビームスプリッタ15とを備えている。符号16はミラーである。
また、操作用レーザ光発生部3には、ハーフミラー12により分岐された一方の操作用レーザ光L3の偏光方向を90°回転させるλ/2板17と、標本P上における操作用レーザ光L2,L3の合焦位置を調節する合焦位置調節装置(合焦位置調整手段)18,19とが備えられている。合焦位置調節装置18,19は、波面変換素子あるいは少なくとも一部が光軸方向に移動可能に支持された複数のレンズ群(図示略)により構成されている。
また、ハーフミラー12により分岐された2つの操作用レーザ光L2,L3の光路には、それぞれ、後述する制御装置20により開閉制御されるシャッタ21,22が設けられている。シャッタ21,22に代えて、AOTFやAOMのような音響光学素子を用いても良い。
操作用レーザ光L2,L3は、標本Pに結合されたアクチンまたはミオシンの位置に合焦されることにより、標本Pを保持する光ピンセットとして利用されるようになっている。
また、前記対物レンズ5は、該対物レンズ5を光軸方向に沿って移動させる合焦機構(Z軸駆動手段)23により支持されている。
合焦機構23および合焦位置調節装置18,19は、制御装置20に接続されている。制御装置20は、合焦機構23による対物レンズ5の移動量と合焦位置調節装置18,19による2つの操作用レーザ光L2,L3の合焦位置の移動量との関係を記憶している。
制御装置20は、観察用レーザ光L1および操作用レーザ光L2,L3をいずれも照射している観察モードにおいては、合焦機構23と合焦位置調節装置18,19を連動して作動させ、対物レンズ5の移動に伴う操作用レーザ光L2,L3の合焦位置のずれ量を相殺するように、操作用レーザ光L2,L3の合焦位置を移動させるようになっている。制御装置20は、例えば、対物レンズ5の移動方向とは逆方向に同じ距離だけ2つの操作用レーザ光L2,L3の合焦位置を移動させるようになっている。
また、制御装置20は、観察用レーザ光L1のみを照射し、操作用レーザ光L2,L3を停止している準備モードにおいては、観察用レーザ光L1の合焦位置と、停止されている操作用レーザ光L2,L3の合焦位置(操作用レーザ光が出射されたならば達成される合焦位置)とを一致させた状態で、合焦機構23と合焦位置調節装置18,19との連動を停止するようになっている。
これにより、準備モードにおいては、合焦機構23を作動させて対物レンズ5を光軸方向に移動させると、観察用レーザ光L1のみならず停止されている操作用レーザ光L2,L3の合焦位置が対物レンズ5とともに光軸方向に移動させられるようになっている。
このように機能する制御装置20は、例えば、コンピュータ装置を内蔵している。コンピュータ装置は、例えば、CPU(中央演算装置)、ROM(Read Only Memory)、RAM(Random
Access Memory)等から構成されている。上述の各種機能を実現するための一連の処理の過程は、プログラムの形式でROM等に記録されており、このプログラムをCPUがRAM等に読み出して、情報の加工・演算処理を実行することにより、各種機能が実現される。
上記制御装置20には、前記光検出器6、第1、第2のスキャナ8,13、モニタ24およびマウス25が接続されている。
制御装置20は、第1のスキャナ8による観察用レーザ光L1の標本P上における走査位置情報と、光検出器6により検出された蛍光Fの光強度情報とに基づいて、2次元的な蛍光画像を構築し、モニタ24に表示するようになっている。
このように構成された本実施形態に係るレーザ走査型顕微鏡1の作用について以下に説明する。
本実施形態に係るレーザ走査型顕微鏡1を用いて、標本P、例えば、シャーレ26内に貯留された培地27内に浮遊する細胞を観察する場合には、図2に示されるように、標本Pの端点A,Bにアクチンまたはミオシンを結合しておき(図8のステップS1)、制御装置20を準備モードに切り替える(図8のステップS2:モード切替手段)。
これにより、図2に示されるように、観察用レーザ光発生部2からの観察用レーザ光L1のみが標本Pに照射され、2つの操作用レーザ光L2,L3は停止される。操作用レーザ光L2,L3の停止は、操作用レーザ光源11のオフまたはシャッタ21,22の閉鎖あるいは、音響光学素子のオフにより行う。ここでは、シャッタ21,22の閉鎖により行うこととして説明する。
操作者は、合焦機構23を作動させて、例えば、標本Pの最上位近傍に観察用レーザ光L1の焦点面FPが配置されるように対物レンズ5を移動し、第1のスキャナ8を作動させる。これにより、観察用レーザ光L1の焦点面FPにおける標本Pの蛍光画像が取得される(図8のステップS3)。図2に示す例では、標本Pの端点Aが最上位位置であるため、端点Aを含む最上位位置の断面の蛍光画像が取得される。
操作者は、取得された蛍光画像をモニタ24上で確認しながら、このモニタ24上の蛍光画像に対して端点Aをマウス25等の入力手段により指示する(図8のステップS4)。これにより、一方の操作用レーザ光L2による光ピンセットの把持位置が指定されるので、制御装置20は、第2のスキャナ13を作動させて、一方の操作用レーザ光L2の照射位置を指定された端点Aに一致するように2次元的に位置調整した後(図8のステップS5)、当該一方の操作用レーザ光L2の光路上のシャッタ21を開放し、操作用レーザ光L2を標本Pに照射する。
準備モードにおいては、停止されていた操作用レーザ光L2の合焦位置が観察用レーザ光L1の焦点面FPと一致した状態に維持されているので、シャッタ21の開放により照射された操作用レーザ光L2は、図3に示されるように、端点Aに合焦され、標本Pを端点Aにおいて保持することができる。
同時に、制御装置20は、シャッタ21を開放した当該一方の操作用レーザ光L2については準備モードを解除し、観察モードに切り替える(図8のステップS6:モード切替手段)。
次いで、操作者は、合焦機構23を作動させて、図4に示されるように、観察用レーザ光L1の焦点面FPを下降させていく。このとき、シャッタ22が閉鎖されている操作用レーザ光L3については準備モードに維持されているため、その合焦位置は、観察用レーザ光L1の焦点面FPに一致した状態で合焦機構23の動作に従って下降させられる。
一方、準備モードが解除されて観察モードに切り替えられた操作用レーザ光L2については、制御装置20の作動により、合焦機構23と合焦位置調節手段18とが連動させられる。これにより、操作用レーザ光L2は、合焦機構23により観察用レーザ光L1の焦点面FPとともに移動させられる一方で、その移動量と同一の移動量で逆方向に操作用レーザ光L2の合焦位置が移動するように合焦位置調節手段18が作動させられる。その結果、操作用レーザ光L2は、図4に示されるように、標本Pの端点Aを保持した合焦位置を移動させることなく静止した状態に維持される。
そして、操作者は、合焦機構23を作動させて、例えば、図5に示されるように、標本Pの最下位近傍に観察用レーザ光L1の焦点面FPが配置されるように対物レンズ5を移動し、第1のスキャナ8を作動させる。図5に示す例では、標本Pの端点Bが最下位位置であるため、端点Bを含む最下位位置の断面の蛍光画像が取得される(図8のステップS7)。
操作者は、取得された蛍光画像をモニタ24上で確認しながら、端点Bをマウス25等の入力手段により指示する(図8のステップS8)。これにより、他方の操作用レーザ光L3による光ピンセットの把持位置が指定されるので、制御装置20は、第2のスキャナ14を作動させて、他方の操作用レーザ光L3の照射位置を指定された端点Bに一致するように2次元的に位置調整した後(図8のステップS9)、当該他方の操作用レーザ光L3の光路上のシャッタ22を開放し、図6に示されるように、操作用レーザ光L3を標本Pに照射する。
シャッタ22の開放により照射された当該他方の操作用レーザ光L3が端点Bに合焦され、標本Pを端点Bにおいて保持することができる。
同時に、制御装置20は、シャッタ22を開放した当該他方の操作用レーザ光L3についても準備モードを解除し、観察モードに切り替える(図8のステップS10:モード切替手段)。これにより、図7に示されるように、合焦機構23を作動させて対物レンズ5を光軸方向に移動させても、他方の操作用レーザ光L3も、標本Pの端点Bを保持した合焦位置を移動させることなく静止した状態に維持される。
その後の観察モードにおいては、合焦機構23を作動させることにより対物レンズ5を移動させ、観察用レーザ光L1の焦点面FPを移動させても、端点A,Bを保持している2つの操作用レーザ光L2,L3の合焦位置が静止状態に維持される。したがって、操作用レーザ光L2,L3を用いた光ピンセットにより標本Pを端点A,Bの2カ所で静止した状態に維持しつつ、観察用レーザ光L1の焦点面FPを順次移動させて、蛍光画像の取得位置を対物レンズ5の光軸方向に変位させることができる。そして、対物レンズ5の光軸方向にずれた複数の蛍光画像を取得することにより、これらの蛍光画像を用いて、標本Pの3次元的な蛍光分布を取得することが可能となる(図8のステップS11)。
以上説明したように、本実施形態に係るレーザ走査型顕微鏡1によれば、合焦機構23の作動により、対物レンズ5が移動された場合には、この移動量に応じて合焦位置調節装置18,19が制御装置20によって調節されるので、対物レンズ5の移動に伴う操作用レーザ光の合焦位置のずれ量を考慮した合焦位置調整を行うことが可能となる。これにより、観察用レーザ光の合焦位置を連続的に移動させた場合でも、操作用レーザ光を所望の位置に合焦させることができる。
また、本実施形態に係るレーザ走査型顕微鏡1によれば、標本に操作用レーザ光L2,L3を照射している観察モードにおいては、対物レンズ5が移動すると、その移動に伴う操作用レーザ光L2,L3の合焦位置のずれ量を相殺するように、制御装置20が合焦位置調節装置18,19を制御するので、標本Pに対する操作用レーザ光L2,L3の合焦位置を固定させることができる。これにより、光刺激やレーザトラップを標本の同じ位置に対して行いながら、観察用レーザ光L1の合焦位置のみを標本の深さ方向に移動させることができる。
つまり、観察モードにおいては、合焦機構23と合焦位置調節装置18,19とを連動させることにより、単一の対物レンズ5を介して標本Pに照射されている観察用レーザ光L1の焦点面FPのみを対物レンズ5の移動に従って移動させ、操作用レーザ光L2,L3の合焦位置を固定させておくことができる。この結果、標本Pを静止させたままの状態で、観察用レーザ光L1の焦点面FPを対物レンズ5の光軸方向に移動させることができ、標本Pの状態を変化させることなく、また、標本Pに外力を付与することなく、3次元的な蛍光分布を観察することができる。
更に、標本に対する操作用レーザ光の照射を停止している準備モードにおいては、観察用レーザ光L1の合焦位置と操作用レーザ光L2,L3の合焦位置とが一致するように、制御装置20が合焦位置調節装置18,19を制御するので、操作用レーザ光L2,L3の合焦位置を観察用レーザ光L1の合焦位置に一致させた状態を保持することが可能となる。これにより、観察モードに切り替えられた場合には、観察用レーザ光L1および操作用レーザ光L2,L3の合焦位置が合致している状態とすることができ、観察を円滑に開始させることができる。
また、上記レーザ走査型顕微鏡1によれば、2つに分岐された操作用レーザ光L2,L3の合焦位置が、それぞれ、合焦位置調節手段18,19により対物レンズ5の光軸方向に調節され、第2のスキャナ13,14により対物レンズ5の光軸に交差する2次元方向に調節される。そして、合焦位置を調節された2つの操作用レーザ光L2,L3が、偏光ビームスプリッタ15によって合波された後に、ダイクロイックミラー4により観察用レーザ光L1に合波されるので、対物レンズ5により集光された蛍光Fが偏光ビームスプリッタ15を通過せずに済む。その結果、2つの操作用レーザ光L2,L3を照射する場合においても、操作用レーザ光L2,L3と観察用レーザ光L1との合波位置における蛍光Fのロスが増大することがなく、明るい蛍光画像を取得することができるという利点がある。
また、λ/2板17と偏光ビームスプリッタ15とにより、2つの操作用レーザ光L2,L3を合波することとしているので、操作用レーザ光源11が1つで済み、装置の小型化を図ることができる。また、操作用レーザ光L2,L3のロスを低減することにより無駄をなくし、消費電力を低減することができる。
なお、本実施形態においては、単一の操作用レーザ光源11から発せられた操作用レーザ光L2,L3をハーフミラー12によって分岐することとしたが、これに代えて、各操作用レーザ光L2,L3毎に、操作用レーザ光源11を配置してもよい。この場合には、操作用レーザ光源11の設置角度を90°異ならせることにより、偏光方向が相互に直交する2つの操作用レーザ光L2,L3を利用することができる。
また、2つの操作用レーザ光L2,L3を用いる場合について説明したが、これに代えて、3以上の操作用レーザ光を用いることにしてもよい。この場合には、2つの操作用レーザ光を上記と同様にして合波した後に合波された操作用レーザ光をさらに他の操作用レーザ光と合波させることとすればよい。
また、操作用レーザ光L2,L3を光ピンセットとして使用する場合について説明したが、光刺激用に使用することとしてもよい。このようにすることで、2カ所以上の定まった位置に光刺激を付与しながら標本Pの3次元的な蛍光分布を取得することができる。
また、合焦機構23として、対物レンズ5を光軸方向に移動させるものを例示したが、これに代えて、対物レンズ5は固定したままで、標本Pを支持するステージ28を光軸方向に移動させることにしてもよい。
また、本実施形態においては、2つの操作用レーザ光L2,L3を光ピンセットとして使用し、標本Pの異なる端点A,Bを静止した状態に保持したままで、合焦機構23の作動により対物レンズ5を光軸方向に移動させて、観察用レーザ光L1の焦点面FPを光軸方向に移動させたが、これに代えて、光ピンセットにより端点A,Bを把持した後は、合焦位置調節装置18,19の作動により標本Pを対物レンズ5の光軸方向に移動させることとしてもよい。
このようにすることで、合焦機構23により対物レンズ5やステージ28を移動させることなく、標本Pの3次元的な蛍光分布を取得することができる。その結果、対物レンズ5やステージ28を移動させるような大きな駆動力を発生するモータが不要となり、装置の小型化を図ることができる。
本発明の一実施形態に係るレーザ走査型顕微鏡を示す全体構成図である。 図1のレーザ走査型顕微鏡から観察用レーザ光のみを標本に照射した準備モードを示す説明図である。 図1のレーザ走査型顕微鏡からの観察用レーザ光の焦点面が、標本の最上位位置に一致した原点位置において、一方の操作用レーザ光を標本に照射した状態を示す説明図である。 図3の原点位置から観察用レーザ光の焦点面を下降させた状態を示す説明図である。 図1のレーザ走査型顕微鏡からの観察用レーザ光の焦点面が、標本の最下位位置に一致した状態を示す説明図である。 図5の状態で他方の観察用レーザ光を標本に照射した状態を示す説明図である。 図5の状態において2つの操作用レーザ光を固定し、観察用レーザ光のみを移動させる観察モードを説明する説明図である。 図1のレーザ走査型顕微鏡を用いた標本の観察手順を示すフローチャートである。
符号の説明
F 蛍光
L1 観察用レーザ光
L2,L3 操作用レーザ光
P 標本
1 レーザ走査型顕微鏡
4 ダイクロイックミラー(合波手段)
5 対物レンズ
6 光検出器
7 観察用レーザ光源
8 第1のスキャナ(走査手段)
11 操作用レーザ光源
12 ハーフミラー
13,14 第2のスキャナ(レーザ光位置調節手段)
15 偏光ビームスプリッタ
17 λ/2板
18,19 合焦位置調節装置(合焦位置調節手段)
23 合焦機構(Z軸駆動手段)

Claims (3)

  1. 観察用レーザ光を発する観察用レーザ光源と、
    標本を操作するための操作用レーザ光を発する操作用レーザ光源と、
    観察用レーザ光を2次元的に走査する走査手段と、
    操作用レーザ光の照射位置を2次元的に調節するレーザ光位置調節手段と、
    前記操作用レーザ光の合焦位置を光軸方向に移動させる合焦位置調節手段と、
    前記走査手段により走査された観察用レーザ光と、前記レーザ光位置調節手段および前記合焦位置調節手段により調節された操作用レーザ光とを合波する合波手段と、
    前記合波手段により合波された観察用レーザ光および操作用レーザ光を集光して標本に照射する一方、標本において発生した蛍光を集光する対物レンズと、
    前記対物レンズにより集光された蛍光を検出する光検出器と、
    前記対物レンズまたは前記標本が載せられたステージを光軸方向に移動させるZ軸駆動手段と、
    前記対物レンズまたは前記ステージの移動量と前記合焦位置調節手段とを制御する制御手段と、
    前記Z軸駆動手段による前記対物レンズまたは前記ステージの移動にかかわらず、前記観察用レーザ光の合焦位置と操作用レーザ光の合焦位置とが一致するように、前記制御手段が前記合焦位置調節手段を制御する準備モードと、前記対物レンズまたは前記ステージの移動に伴う前記操作用レーザ光の合焦位置のずれ量を相殺するように、前記制御手段が前記合焦位置調節手段を制御する観察モードとを切り替えるモード切替手段と
    を具備するレーザ走査型顕微鏡。
  2. 標本を観察するための観察用レーザ光と標本を操作するための操作用レーザ光とを合波し、合波後の光を対物レンズを介してステージ上に載せられた前記標本に照射し、前記標本内から前記観察光軸方向に発せられる蛍光を検出する顕微鏡観察方法であって、
    前記標本に対する前記操作用レーザ光の照射を停止した状態で、前記対物レンズまたは前記ステージの移動にかかわらず、前記観察用レーザ光の合焦位置と前記操作用レーザ光の合焦位置とが一致するように前記操作用レーザ光の合焦位置を調節する準備モードを実施し、前記操作用レーザ光の合焦位置が所望の位置に達した場合に、前記標本に対する前記操作用レーザ光の照射を開始するとともに、前記対物レンズまたは前記ステージの移動に伴う前記操作用レーザ光の合焦位置のずれ量を相殺するように、前記操作用レーザ光の合焦位置を調節する観察モードに切り替える顕微鏡観察方法。
  3. 前記操作用レーザ光の合焦位置の調節を前記標本の蛍光検出に同期して行う請求項2に記載の顕微鏡観察方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012035903A1 (ja) * 2010-09-17 2012-03-22 独立行政法人科学技術振興機構 3次元共焦点観察用装置及び観察焦点面変位・補正ユニット
JP2012128301A (ja) * 2010-12-17 2012-07-05 Canon Inc 焦点調節方法、焦点調節プログラムおよび撮像装置

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011056658A1 (en) * 2009-10-27 2011-05-12 Duke University Multi-photon microscopy via air interface objective lens
JP5554965B2 (ja) * 2009-11-06 2014-07-23 オリンパス株式会社 位相変調型空間光変調器を用いたレーザ顕微鏡
JP5452180B2 (ja) * 2009-11-13 2014-03-26 オリンパス株式会社 顕微鏡装置
DE102011100507B4 (de) * 2011-04-29 2020-05-14 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Tragbares optisches Analysegerät
JP5926966B2 (ja) * 2012-01-30 2016-05-25 オリンパス株式会社 蛍光観察装置
JP5914242B2 (ja) * 2012-08-08 2016-05-11 浜松ホトニクス株式会社 観察装置
WO2015127940A1 (en) * 2014-02-28 2015-09-03 Københavns Universitet A detection system for an optical manipulation system for manipulating micro-particles or nano-particles of a sample by means of at least two optical traps
EP2930496B8 (en) * 2014-04-10 2021-12-15 Horiba France SAS Raman micro-spectrometry system and method for analyzing microscopic objects in a fluidic sample
NL2014262B1 (en) * 2015-02-09 2016-10-13 Stichting Vu Apparatus and method for controlling a plurality of optical traps.

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10206742A (ja) * 1996-11-21 1998-08-07 Olympus Optical Co Ltd レーザ走査顕微鏡
JP2005165212A (ja) * 2003-12-05 2005-06-23 Olympus Corp 走査型共焦点顕微鏡装置

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10039520A1 (de) * 2000-08-08 2002-02-21 Leica Microsystems Vorrichtung zur Untersuchung und Manipulation von mikroskopischen Objekten
DE10115578A1 (de) * 2001-03-29 2002-10-10 Leica Microsystems Verfahren und Anordnung zum Ausgleichen von Abbildungsfehlern
DE102004016253B4 (de) * 2004-04-02 2006-02-23 Leica Microsystems Cms Gmbh Rastermikroskop und Verfahren zur rastermikroskopischen Untersuchung einer Probe
DE102004032952A1 (de) * 2004-07-07 2006-01-26 Leica Microsystems Cms Gmbh Rastermikroskop und Verfahren zur Untersuchung von biologischen Proben mit einem Rastermikroskop
DE102004034998A1 (de) 2004-07-16 2006-02-02 Carl Zeiss Jena Gmbh Lichtrastermikroskop mit bewegter Lochscheibe und Verwendung

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10206742A (ja) * 1996-11-21 1998-08-07 Olympus Optical Co Ltd レーザ走査顕微鏡
JP2005165212A (ja) * 2003-12-05 2005-06-23 Olympus Corp 走査型共焦点顕微鏡装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012035903A1 (ja) * 2010-09-17 2012-03-22 独立行政法人科学技術振興機構 3次元共焦点観察用装置及び観察焦点面変位・補正ユニット
JP2012063668A (ja) * 2010-09-17 2012-03-29 Japan Science & Technology Agency 3次元共焦点観察用装置及び観察焦点面変位・補正ユニット
US9835843B2 (en) 2010-09-17 2017-12-05 Japan Science And Technology Agency Three-dimensional confocal microscopy apparatus and focal plane scanning and aberration correction unit
JP2012128301A (ja) * 2010-12-17 2012-07-05 Canon Inc 焦点調節方法、焦点調節プログラムおよび撮像装置

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