JP2007132905A

JP2007132905A - Ｉｃテスタ

Info

Publication number: JP2007132905A
Application number: JP2005328882A
Authority: JP
Inventors: Hideki Naganuma; 英樹永沼
Original assignee: Yokogawa Electric Corp
Current assignee: Yokogawa Electric Corp
Priority date: 2005-11-14
Filing date: 2005-11-14
Publication date: 2007-05-31
Also published as: KR20070051659A; KR100827736B1; TWI310839B; CN1967277A; TW200718958A

Abstract

【課題】オフセット電圧をテストプログラムで設定することなく、適切なオフセット電圧を与えることができ、オーバーレンジを抑制できるＩＣテスタを実現することを目的にする。
【解決手段】本発明は、被試験対象の出力をオフセット電圧で減算して測定を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。本装置は、被試験対象の出力を測定する電圧測定部と、この電圧測定部の測定結果に基づいて、オフセット電圧を発生する電圧発生部とを備えたことを特徴とする装置である。
【選択図】図１

Description

本発明は、被試験対象、例えば液晶駆動ドライバ等の出力をオフセット電圧で減算して測定を行うＩＣテスタに関し、オフセット電圧をテストプログラムで設定することなく、適切なオフセット電圧を与えることができ、オーバーレンジを抑制できるＩＣテスタに関するものである。

液晶駆動ドライバは、複数ピンから多段階（多階調）電圧を出力し、液晶ディスプレイを駆動している。このような液晶駆動ドライバを試験するＩＣテスタは、例えば、下記特許文献１等に記載されている。以下図５を用いて説明する。

特開２００２−９８７３８号公報

図５において、被試験対象（以下ＤＵＴと略す）１は液晶駆動ドライバで、複数ピンから多段階電圧を出力する。電圧発生部２は、ＤＵＴ１の多段階電圧に対応したオフセット電圧を出力する。オフセット減算器３は、ＤＵＴ１の出力ピンごとに設けられ、電圧発生部２の出力を入力し、ＤＵＴ１の多段階電圧と電圧発生部２の電圧との差電圧を増幅し出力する。スイッチ４は、オフセット減算器３と並列に設けられる。Ａ／Ｄコンバータ５は、オフセット減算器３またはスイッチ４の出力を入力する。

このような装置の動作を以下に説明する。ＤＵＴ１の出力が、Ａ／Ｄコンバータ５の入力レンジ内の場合、スイッチ４をオンとする。そして、ＤＵＴ１が図示しない信号発生部から入力された入力パターンにより、階調電圧を出力し、スイッチ４を介して、Ａ／Ｄコンバータ５に入力される。Ａ／Ｄコンバータ５が、入力された電圧をデジタルデータにして、このデジタルデータにより、図示しない演算部がＤＵＴ１の良否判定を行う。

また、ＤＵＴ１の出力が、Ａ／Ｄコンバータ５の入力レンジ外の場合、スイッチ４をオフとし、電圧発生部２がオフセット電圧を出力する。そして、ＤＵＴ１が、図示しない信号発生部から入力された入力パターンにより、階調電圧を出力する。オフセット減算器３が、ＤＵＴ１の出力からオフセット電圧を減算し、Ａ／Ｄコンバータ５に出力する。Ａ／Ｄコンバータ５が、入力された電圧をデジタルデータにして、このデジタルデータ、オフセット電圧値により、図示しない演算部がＤＵＴ１の良否判定を行う。

このような装置では、ＤＵＴ１の出力電圧値のおおよその値が既知である必要がある。適切なオフセット電圧設定等を行わなければ、Ａ／Ｄコンバータ５の入力レンジより、測定電圧が飛び出してしまう。また、オフセット電圧値をテストプログラムにおいて、設定しなければならないという問題点があった。

そこで、本発明の目的は、オフセット電圧をテストプログラムで設定することなく、適切なオフセット電圧を与えることができ、オーバーレンジを抑制できるＩＣテスタを実現することにある。

このような課題を達成するために、本発明のうち請求項１記載の発明は、
被試験対象の出力をオフセット電圧で減算して測定を行うＩＣテスタにおいて、
前記被試験対象の出力を測定する電圧測定部と、
この電圧測定部の測定結果に基づいて、前記オフセット電圧を発生する電圧発生部と
を備えたことを特徴とするものである。
請求項２記載の発明は、
被試験対象の出力をオフセット電圧で減算して測定を行うＩＣテスタにおいて、
前記被試験対象の出力を測定する電圧測定部と、
前記オフセット電圧を発生する電圧発生部と、
前記電圧測定部の測定結果に基づいて、前記電圧発生部のオフセット電圧を設定する制御部と
を備えたことを特徴とするものである。
請求項３記載の発明は、請求項１または２記載の発明であって、
電圧測定部は、広い測定範囲で、被試験対象の出力を測定し、狭い測定範囲で、被試験対象の出力がオフセット電圧により減算された電圧を測定することを特徴とするものである。
請求項４記載の発明は、
被試験対象の出力をオフセット電圧で減算して、Ａ／Ｄコンバータにより狭い測定範囲で測定を行うＩＣテスタにおいて、
前記被試験対象の出力を広い測定範囲で測定する電圧測定部と、
前記オフセット電圧を発生する電圧発生部と、
前記電圧測定部の測定結果に基づいて、前記電圧発生部のオフセット電圧を設定する制御部と
を備えたことを特徴とするものである。
請求項５記載の発明は、請求項１〜４のいずれかに記載の発明であって、
電圧測定部は、Ａ／Ｄコンバータ、電圧発生部はＤ／Ａコンバータであることを特徴とするものである。
請求項６記載の発明は、請求項１〜５のいずれかに記載の発明であって、
被試験対象は、液晶駆動ドライバであることを特徴とするものである。
請求項７記載の発明は、請求項１〜５のいずれかに記載の発明であって、
被試験対象の出力経路に電流を電圧に変換するＩ／Ｖ変換器を設けたことを特徴とするものである。

本発明によれば、電圧測定部が、被試験対象の出力を測定し、この測定結果により、電圧発生部がオフセット電圧を出力するので、オフセット電圧をテストプログラムで設定することなく、適切なオフセット電圧を与えることができ、オーバーレンジを抑制できる。

以下本発明を、図面を用いて詳細に説明する。

図１は本発明の一実施例を示した構成図である。ここで、図５と同一のものは同一符号を付し説明を省略する。

図１において、電圧測定部６は、ＤＵＴ１のピンごとの出力をＡ／Ｄコンバータ５と比較して、広い測定範囲で、粗く測定する。制御部７は、電圧測定部６の測定結果を入力し、電圧発生部２のオフセット電圧を設定し、Ａ／Ｄコンバータ５の出力を入力する。

このような装置の動作を以下に説明する。高精度測定が必要でない場合、スイッチ４をオンとし、Ａ／Ｄコンバータ５の入力範囲を広げ、測定範囲を広げる。Ａ／Ｄコンバータ５の出力ビット数は、変わらないので、測定精度は下がる。そして、ＤＵＴ１が図示しない信号発生部から入力された入力パターンにより、ＤＵＴ１が階調電圧を出力し、スイッチ４を介して、Ａ／Ｄコンバータ５に入力される。Ａ／Ｄコンバータ５が、入力された電圧をデジタルデータにして、ＤＵＴ１の良否判定を行う。良否判定には、所望の期待値範囲に、ＤＵＴ１の出力が入っているかどうかの判定やピン間ばらつきの判定等を行っている。

高精度測定が必要な場合、スイッチ４をオフとし、Ａ／Ｄコンバータ５の入力範囲を狭め、測定範囲を狭める。そして、ＤＵＴ１が図示しない信号発生部から入力された入力パターンにより、ＤＵＴ１が階調電圧を出力する。このＤＵＴ１の出力を、電圧測定部６が粗く測定し、制御部７に出力する。制御部７が、電圧測定部６の測定結果により、電圧発生部２にオフセット電圧を設定する。電圧発生部２がオフセット電圧を出力し、オフセット減算器３が、ＤＵＴ１の出力からオフセット電圧を減算し、Ａ／Ｄコンバータ５に出力する。Ａ／Ｄコンバータ５が、入力された電圧をデジタルデータにして、このデジタルデータ、オフセット電圧値により、ＤＵＴ１の出力を求め、制御部７がＤＵＴ１の良否判定を行う。

このように、電圧測定部６が、ＤＵＴ１の出力を広い測定範囲で、粗く測定し、この測定結果により、制御部７がオフセット電圧を電圧発生部２に設定するので、オフセット電圧をテストプログラムで設定することなく、適切なオフセット電圧を与えることができ、オーバーレンジを抑制できる。

また、Ａ／Ｄコンバータ５に求められる測定範囲を狭くすることができるので、低精度のＡ／Ｄコンバータ５でも高精度の測定ができる。

なお、ＤＵＴ１の出力は、アナログ信号なので、セトリングタイムがかかる。従って、Ａ／Ｄコンバータ５で測定する前に、電圧測定部６で電圧を測定し、電圧発生部２にオフセット電圧を出力させている。つまり、試験時間に影響を与えずに、オフセット電圧設定が行われている。

図２は第２の実施例を示した構成図である。ここで、図１と同一のものは同一符号を付し説明を省略する。

図２において、基準電圧源部２１、マルチプレクサ２２が、図１に示される電圧発生部２の代わりに、電圧発生部となる。基準電圧源部２１は、複数の基準電圧源からなり、異なる基準電圧Ｖ１〜Ｖ３を出力する。マルチプレクサ２２は、基準電圧源部２１の異なる基準電圧Ｖ〜Ｖ３を選択して、オフセット減算器３にオフセット電圧として出力する。２つのコンパレータ６１は、電圧測定部６の代わりに設けられ、電圧測定部となり、ＤＵＴ１のピンごとの出力を比較電圧ＶＨ，ＶＬ（Ｖ３＞ＶＨ＞Ｖ２＞ＶＬ＞Ｖ１）のそれぞれと比較する。制御部７１は、制御部７の代わりに設けられ、コンパレータ６１の結果を入力し、マルチプレクサ２２を切り換え、オフセット電圧を指示し、Ａ／Ｄコンバータ５の出力を入力する。

このような装置の動作は、図１に示す装置とほぼ同様である。異なる点について、以下説明する。２つのコンパレータ６１が、基準電圧Ｖ１〜Ｖ３を選択するための電圧範囲内にＤＵＴ１の出力が入っているかどうかを測定する。つまり、ＤＵＴ１の出力が、コンパレータ６１の比較電圧ＶＨ，ＶＬの間の場合、制御部７１がマルチプレクサ２２に基準電圧源部２１の基準電圧Ｖ２を選択させる。ＤＵＴ１の出力が比較電圧ＶＨより大きい場合、制御部７１がマルチプレクサ２２に基準電圧Ｖ３を選択させ、ＤＵＴＵ１の出力が比較電圧ＶＬより小さい場合、制御部７１がマルチプレクサ２２に基準電圧Ｖ１を選択させる。そして、マルチプレクサ２２がオフセット電圧をオフセット減算器３に出力する。

この例では、オフセット電圧が、基準電圧源による固定電圧であるため、ドリフトやセトリングなどの影響を受けにくく、比較的精度が出しやすい。

図３は第３の実施例を示した構成図である。ここで、図１と同一のものは同一符号を付し説明を省略する。

図３において、Ｄ／Ａコンバータ２３は、電圧発生部２の代わりに設けられ、オフセット電圧をオフセット減算器３に出力する。Ａ／Ｄコンバータ６２は、電圧測定部６の代わりに設けられ、ＤＵＴ１のピンごとの出力を広い測定範囲、低精度で測定する。制御部７２は、制御部７の代わりに設けられ、Ａ／Ｄコンバータ５の測定結果を入力し、Ｄ／Ａコンバータ２３のオフセット電圧を設定し、Ａ／Ｄコンバータ５の出力を入力する。

このような装置の動作は、電圧発生部２がＤ／Ａコンバータ２３、電圧測定部６がＡ／Ｄコンバータ６２に変わっただけで、図１に示す装置と動作は同様なので説明を省略する。

図４は第４の実施例を示した構成図である。ここで、図１に示す装置と同一のものは同一符号を付し説明を省略する。

図４において、図１と異なり、電圧測定部６が設けられず、制御部７３が、制御部７の代わりに設けられ、スイッチ４、Ａ／Ｄコンバータ５を制御し、Ａ／Ｄコンバータ５の出力を入力すると共に、電圧発生部２のオフセット電圧を設定する。

このような装置の高精度測定が必要でない場合の動作は、図１に示す装置と同様なので説明を省略する。高精度測定が必要な場合、制御部７３が、スイッチ４をオンにし、Ａ／Ｄコンバータ５の入力範囲を広め、測定範囲を広める。そして、ＤＵＴ１が図示しない信号発生部から入力された入力パターンにより、ＤＵＴ１が階調電圧を出力する。このＤＵＴ１の出力を、スイッチ４を介して、Ａ／Ｄコンバータ５が測定し、制御部７３に出力し、制御部７３が電圧発生部２にオフセット電圧を設定する。このとき、制御部７３は、スイッチ４をオフにし、Ａ／Ｄコンバータ５の入力範囲を狭め、測定範囲を狭める。電圧発生部２がオフセット電圧を出力し、オフセット減算器３が、ＤＵＴ１の出力からオフセット電圧を減算し、Ａ／Ｄコンバータ５に出力する。Ａ／Ｄコンバータ５が、入力された電圧をデジタルデータにして、制御部７３に出力する。

次に、ＤＵＴ１に入力される入力パターンが変化した場合、再び、制御部７３が、スイッチ４をオンにし、Ａ／Ｄコンバータ５の入力範囲を広め、スイッチ４を介して、ＤＵＴ１の出力を、Ａ／Ｄコンバータ５が測定し、制御部７３に出力する。制御部７３が電圧発生部２にオフセット電圧を設定する。このとき、制御部７３は、スイッチ４をオフにし、Ａ／Ｄコンバータ５の入力範囲を狭める。電圧発生部２がオフセット電圧を出力し、オフセット減算器３が、ＤＵＴ１の出力からオフセット電圧を減算し、Ａ／Ｄコンバータ５に出力する。Ａ／Ｄコンバータ５が、入力された電圧をデジタルデータにして、制御部７３に出力する。このような動作を繰り返し、オフセット減算されたデジタルデータ、オフセット電圧値により、制御部７３がＤＵＴ１の良否判定を行う。

この例では、Ａ／Ｄコンバータ５が、オフセット電圧設定のための電圧測定も行うので、電圧測定部を設ける必要がない。つまり、安価に構成することができる。

なお、本発明はこれに限定されるものではなく、ＤＵＴ１の例として、電圧出力を行う液晶駆動ドライバを示したが、多段階電流出力を行う有機ＥＬ（Electronic Luminescent）ドライバでもよい。この場合、ＤＵＴ１の出力段にＩ／Ｖ変換器を設けて、電流出力を電圧に変換する。

また、オフセット減算器３でオフセット電圧を減算する構成を示したが、オフセット電圧が負電圧なら、加算器で構成してもよい。

また、電圧測定部６がＤＵＴ１の出力を制御部７に出力し、制御部７が電圧発生部２にオフセット電圧を設定する構成を示したが、電圧測定部６が電圧発生部２に直接設定する構成でもよい。この場合、電圧測定部６は、制御部７がＤＵＴ１の出力値を得るために、測定結果を制御部７に出力する必要があることはいうまでもない。

また、２つのコンパレータ６１で測定する構成を示したが、複数のコンパレータ６１で構成してもよい。例えば、基準電圧源部２１の基準電圧Ｖ１〜Ｖ３の数が増加すれば、一度に測定できるように、複数のコンパレータ６１を設ける。

また、ＤＵＴ１のピンごとに、オフセット減算器３、スイッチ４、Ａ／Ｄコンバータ５、電圧測定部６を設けた構成を示したが、ＤＵＴ１のピンを選択するスキャナを用いて、一組のオフセット減算器３、スイッチ４、Ａ／Ｄコンバータ５、電圧測定部６により測定を行う構成でもよい。

また、制御部７，７１〜７３が、ＤＵＴ１の良否の判定を行う構成を示したが、別の演算部やデジタルコンパレータにより良否の判定を行う構成でもよい。この場合、制御部は、電圧測定部の出力により、電圧発生部のオフセット電圧設定のみを行う。そして、デジタルコンパレータを用いた場合は、オフセット電圧値を加算した後、デジタルコンパレータで、期待値と比較を行う。

本発明の第１の実施例を示した構成図である。本発明の第２の実施例を示した構成図である。本発明の第３の実施例を示した構成図である。本発明の第４の実施例を示した構成図である。従来のＩＣテスタの構成を示した図である。

符号の説明

１ＤＵＴ
２電圧発生部
３オフセット減算器
４スイッチ
５，６２Ａ／Ｄコンバータ
６電圧測定部
７，７１〜７３制御部
２１基準電圧源部
２２マルチプレクサ
６１コンパレータ

Claims

被試験対象の出力をオフセット電圧で減算して測定を行うＩＣテスタにおいて、
前記被試験対象の出力を測定する電圧測定部と、
この電圧測定部の測定結果に基づいて、前記オフセット電圧を発生する電圧発生部と
を備えたことを特徴とするＩＣテスタ。
被試験対象の出力をオフセット電圧で減算して測定を行うＩＣテスタにおいて、
前記被試験対象の出力を測定する電圧測定部と、
前記オフセット電圧を発生する電圧発生部と、
前記電圧測定部の測定結果に基づいて、前記電圧発生部のオフセット電圧を設定する制御部と
を備えたことを特徴とするＩＣテスタ。
電圧測定部は、広い測定範囲で、被試験対象の出力を測定し、狭い測定範囲で、被試験対象の出力がオフセット電圧により減算された電圧を測定することを特徴とする請求項１または２記載のＩＣテスタ。
被試験対象の出力をオフセット電圧で減算して、Ａ／Ｄコンバータにより狭い測定範囲で測定を行うＩＣテスタにおいて、
前記被試験対象の出力を広い測定範囲で測定する電圧測定部と、
前記オフセット電圧を発生する電圧発生部と、
前記電圧測定部の測定結果に基づいて、前記電圧発生部のオフセット電圧を設定する制御部と
を備えたことを特徴とするＩＣテスタ。
電圧測定部は、Ａ／Ｄコンバータ、電圧発生部はＤ／Ａコンバータであることを特徴とする請求項１〜４のいずれかに記載のＩＣテスタ。
被試験対象は、液晶駆動ドライバであることを特徴とする請求項１〜５のいずれかに記載のＩＣテスタ。
被試験対象の出力経路に電流を電圧に変換するＩ／Ｖ変換器を設けたことを特徴とする請求項１〜５のいずれかに記載のＩＣテスタ。