JP2005300287A - Icテスタ - Google Patents
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Abstract
【課題】 パターンデータを自由に出力し、比較電圧データの出力が行えるICテスタを実現することを目的にする。
【解決手段】 本発明は、パターンデータに基づいて多段階電圧を出力する被試験対象を試験するICテスタに改良を加えたものである。本装置は、パターンアドレスを出力するパターンジェネレータと、このパターンジェネレータのパターンアドレスにより、パターンデータを出力するパターンメモリと、このパターンメモリのパターンデータから比較電圧データを演算する演算部とを有し、演算部の比較電圧データにより、被試験対象の出力の試験を行うことを特徴とする装置である。
【選択図】 図1
【解決手段】 本発明は、パターンデータに基づいて多段階電圧を出力する被試験対象を試験するICテスタに改良を加えたものである。本装置は、パターンアドレスを出力するパターンジェネレータと、このパターンジェネレータのパターンアドレスにより、パターンデータを出力するパターンメモリと、このパターンメモリのパターンデータから比較電圧データを演算する演算部とを有し、演算部の比較電圧データにより、被試験対象の出力の試験を行うことを特徴とする装置である。
【選択図】 図1
Description
本発明は、パターンデータに基づいて多段階電圧を出力する被試験対象、例えば、液晶駆動ドライバを試験するICテスタに関し、パターンデータを自由に出力し、比較電圧データの出力が行えるICテスタに関するものである。
ICテスタは、液晶駆動ドライバに表示データを出力し、液晶駆動ドライバが出力する多段階(多諧調)電圧を測定し、液晶駆動ドライバの良否の判定を行うものである。このような装置は、例えば特許文献1等に記載されている。
以下、従来のICテスタを図2に示し説明する。図2において、被試験対象(以下DUT)1は液晶駆動ドライバで、表示データ(パターンデータ)を入力し、多段階電圧を出力する。シーケンシャルパターンジェネレータ(以下SQPG)2は、パターンアドレスを出力する。パターンメモリ(以下PM)3は、SQPG2のパターンアドレスにより、パターンデータをDUT1に出力する。A/Dコンバータ4は、DUT1が出力する電圧を入力する。メモリ5は、A/Dコンバータ4の出力を格納する。メモリ6は、比較電圧データを格納する。演算部7は、メモリ6の比較電圧データから許容電圧範囲を演算し、この許容電圧範囲に、メモリ5の電圧データが入っているか演算して求め、DUT1の良否の判定を行う。
このような装置の動作を以下に説明する。SQPG2がパターンアドレスを出力し、このパターンアドレスに基づいて、PM3が表示データを出力する。この表示データにより、DUT1は電圧を出力し、A/Dコンバータ4がDUT1の電圧をデジタルデータにして、メモリ5に格納する。そして、演算部7は、メモリ6の比較電圧データにより許容電圧範囲を求め、メモリ5の電圧データが範囲内に入っているかどうか確認し、DUT1の良否の判定を行う。
液晶駆動ドライバの出力電圧は、直線状に変化するものではなく、表示データに対して、ガンマ補正が行われ、例えば256階調の多段階電圧となる。この多段階電圧を発生させるために、図3に示されるように、複数の基準電圧V1〜Vmを複数の抵抗R1〜Rnを用い、抵抗R1〜Rnをガンマ特性に合わせて、多段階電圧を発生させている。このような液晶駆動ドライバの表示データと出力電圧との関係は例えば図4のように示される。このため、液晶駆動ドライバの試験に用いる比較電圧データは演算して求められている。従って、基準電圧V1〜Vmを変更した場合、その都度演算して、比較電圧データを求め、メモリ6に事前に設定しなければならなかった。
これに対し、特許文献1では基準電圧値に基づいて、比較電圧を演算しながら、液晶駆動ドライバの出力と比較を行っている。
しかし、液晶駆動ドライバと比較する比較電圧を決まった順、階調順にしか出力できないので、表示データを自由に決めることができなかった。例えば、液晶駆動ドライバが正負の電圧を出力できる場合、正負の電圧を順に出力して試験を行う場合があり、対応することができなかった。
そこで、本発明の目的は、パターンデータを自由に出力し、比較電圧データの出力が行えるICテスタを実現することにある。
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項1記載の発明は、
パターンデータに基づいて多段階電圧を出力する被試験対象を試験するICテスタにおいて、
パターンアドレスを出力するパターンジェネレータと、
このパターンジェネレータのパターンアドレスにより、前記パターンデータを出力するパターンメモリと、
このパターンメモリのパターンデータから比較電圧データを演算する演算部と
を有し、前記演算部の比較電圧データにより、前記被試験対象の出力の試験を行うことを特徴とするものである。
パターンデータに基づいて多段階電圧を出力する被試験対象を試験するICテスタにおいて、
パターンアドレスを出力するパターンジェネレータと、
このパターンジェネレータのパターンアドレスにより、前記パターンデータを出力するパターンメモリと、
このパターンメモリのパターンデータから比較電圧データを演算する演算部と
を有し、前記演算部の比較電圧データにより、前記被試験対象の出力の試験を行うことを特徴とするものである。
請求項2記載の発明は、請求項1記載の発明において、
被試験対象が出力する電圧を入力するA/Dコンバータと、
このA/Dコンバータの出力と演算部の比較電圧データとを比較するデジタルコンパレータと
を備えたことを特徴とするものである。
被試験対象が出力する電圧を入力するA/Dコンバータと、
このA/Dコンバータの出力と演算部の比較電圧データとを比較するデジタルコンパレータと
を備えたことを特徴とするものである。
請求項3記載の発明は、請求項1または2記載の発明において、
演算部は、許容範囲の上限、下限の比較電圧データを出力することを特徴とするものである。
演算部は、許容範囲の上限、下限の比較電圧データを出力することを特徴とするものである。
請求項4記載の発明は、請求項1〜3のいずれかに記載の発明において、
デジタルコンパレータの出力により良否を判定する判定回路を設けたことを特徴とするものである。
デジタルコンパレータの出力により良否を判定する判定回路を設けたことを特徴とするものである。
請求項5記載の発明は、請求項1〜4のいずれかに記載の発明において、
被試験対象は、液晶駆動ドライバであることを特徴とするものである。
被試験対象は、液晶駆動ドライバであることを特徴とするものである。
本発明によれば、演算部が、パターンデータ、基準電圧値に基づいて、比較電圧データを演算するので、パターンデータに基づいて、自由に比較電圧データを得ることができる。これにより、パターンデータの変更を自由に行い、被試験対象の試験を行うことができる。
以下本発明を図面を用いて詳細に説明する。図1は本発明の一実施例を示した構成図である。ここで、図2と同一のものは同一符号を付し説明を省略する。
図1において、演算部8は、パターンメモリ3の表示データ、DUT1の多段階電圧の基準となる複数の基準電圧値から、比較電圧データを演算する。デジタルコンパレータ9は、A/Dコンバータ4の出力と演算部8の上限の比較電圧データとを比較する。デジタルコンパレータ10は、A/Dコンバータ4の出力と演算部8から下限の比較電圧データとを比較する。判定回路11は、デジタルコンパレータ9,10の出力により良否を判定する。
このような装置の動作を以下に説明する。SQPG2がパターンアドレスを出力し、このパターンアドレスに基づいて、PM3が表示データを出力する。この表示データにより、DUT1は電圧を出力し、A/Dコンバータ4がDUT1の電圧をデジタルデータに変換し、デジタルコンパレータ9,10に出力する。一方、演算部8が、PM3の表示データと複数の基準電圧値により比較電圧データを演算し、デジタルコンパレータ9,10にそれぞれ比較電圧データの上限値、下限値を出力する。
具体的には、(一方の基準電圧値)+(基準電圧値間の差電圧)×(表示階調に対応する抵抗値)/(基準電圧値間の抵抗値)で表示階調電圧は表される。例えば、図3に示される基準電圧V1,V2の間の多段階電圧が出力される場合、V2+(V1−V2)×(R1の表示階調に対応する一部)/R1で求める。この求まった表示諧調電圧から許容範囲の電圧、比較電圧データを求める。
そして、デジタルコンパレータ9,10が、A/Dコンバータ4の出力と演算部8の比較電圧データとを比較し、ハイ、ロウを出力する。判定回路11は、デジタルコンパレータ9,10の出力により、比較電圧範囲内に入っているか判定し、DUT1の良否の判定を行う。つまり、デジタルコンパレータ9,10が両方ともハイを出力していた場合、DUT1を良品と判定し、それ以外は不良品と判定する。
このように、演算部8が、表示データ、基準電圧値に基づいて、比較電圧データを演算するので、表示データに基づいて、自由に比較電圧データを得ることができる。これにより、表示データの変更を自由に行い、DUT1の試験を行うことができる。
なお、演算部8は基準電圧値が外部から与えられる構成を示したが、基準電圧値に変更がなければ、外部から与えられる必要はない。
また、論理回路のような機能試験に用いられるSQPG2を用いた例を示したが、メモリのような規則的なパターンアドレスをパターンアドレスを発生するアルゴリズミックパターンジェネレータでもよい。要するに、パターンアドレスを出力するパターンジェネレータであればよい。
また、演算部8は、上限、下限の比較電圧データを求める構成を示したが、許容範囲内ではなく、以上、以下を単に比較するだけならば、上限、下限の比較電圧データの一方だけを求める構成でもよい。
1 DUT
2 SQPG
3 PM
4 A/Dコンバータ
8 演算部
9,10 デジタルコンパレータ
11 判定回路
2 SQPG
3 PM
4 A/Dコンバータ
8 演算部
9,10 デジタルコンパレータ
11 判定回路
Claims (5)
- パターンデータに基づいて多段階電圧を出力する被試験対象を試験するICテスタにおいて、
パターンアドレスを出力するパターンジェネレータと、
このパターンジェネレータのパターンアドレスにより、前記パターンデータを出力するパターンメモリと、
このパターンメモリのパターンデータから比較電圧データを演算する演算部と
を有し、前記演算部の比較電圧データにより、前記被試験対象の出力の試験を行うことを特徴とするICテスタ。 - 被試験対象が出力する電圧を入力するA/Dコンバータと、
このA/Dコンバータの出力と演算部の比較電圧データとを比較するデジタルコンパレータと
を備えたことを特徴とする請求項1記載のICテスタ。 - 演算部は、許容範囲の上限、下限の比較電圧データを出力することを特徴とする請求項1または2記載のICテスタ。
- デジタルコンパレータの出力により良否を判定する判定回路を設けたことを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載のICテスタ。
- 被試験対象は、液晶駆動ドライバであることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載のICテスタ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004115080A JP2005300287A (ja) | 2004-04-09 | 2004-04-09 | Icテスタ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004115080A JP2005300287A (ja) | 2004-04-09 | 2004-04-09 | Icテスタ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005300287A true JP2005300287A (ja) | 2005-10-27 |
Family
ID=35331994
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004115080A Pending JP2005300287A (ja) | 2004-04-09 | 2004-04-09 | Icテスタ |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2005300287A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007132905A (ja) * | 2005-11-14 | 2007-05-31 | Yokogawa Electric Corp | Icテスタ |
JP2007147469A (ja) * | 2005-11-29 | 2007-06-14 | Yokogawa Electric Corp | Icテスタ |
-
2004
- 2004-04-09 JP JP2004115080A patent/JP2005300287A/ja active Pending
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