JP2002304164A - ディスプレイ装置駆動デバイス、ディスプレイ装置及びドライバ回路テスト方法 - Google Patents
ディスプレイ装置駆動デバイス、ディスプレイ装置及びドライバ回路テスト方法Info
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- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S345/00—Computer graphics processing and selective visual display systems
- Y10S345/904—Display with fail/safe testing feature
Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【課題】 最短可能時間内で且つ非常に広範な故障の保
障範囲でテストされ得るドライバ回路を提供する。 【解決手段】 ディスプレイ装置を駆動するためのデバ
イスは、少なくとも一つのマルチプレックスデバイス
（４）と少なくとも一つの増幅器ユニット（５）を備え
るＡＮ個の出力ステージへ連結されるＭ本のリードを備
え、Ｍ本のリードは、Ｍ本のリードへの電圧の供給の中
断を可能とする第１のスイッチング装置（２）へ連結さ
れ、且つ少なくとも一つ第２のスイッチング装置（３）
は、出力ステージ（ＡＮ）を選択可能電位へスイッチン
グするために少なくとも一つの出力ステージ（ＡＮ）に
設けられる。これによって、デジタル的に実行されるテ
ストの使用が可能となる。
障範囲でテストされ得るドライバ回路を提供する。 【解決手段】 ディスプレイ装置を駆動するためのデバ
イスは、少なくとも一つのマルチプレックスデバイス
（４）と少なくとも一つの増幅器ユニット（５）を備え
るＡＮ個の出力ステージへ連結されるＭ本のリードを備
え、Ｍ本のリードは、Ｍ本のリードへの電圧の供給の中
断を可能とする第１のスイッチング装置（２）へ連結さ
れ、且つ少なくとも一つ第２のスイッチング装置（３）
は、出力ステージ（ＡＮ）を選択可能電位へスイッチン
グするために少なくとも一つの出力ステージ（ＡＮ）に
設けられる。これによって、デジタル的に実行されるテ
ストの使用が可能となる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ディスプレイ装置
を駆動するためのデバイス及びドライバ回路を含むディ
スプレイ装置に関する。また、本発明は、ドライバ回路
のテスト方法にも関する。
を駆動するためのデバイス及びドライバ回路を含むディ
スプレイ装置に関する。また、本発明は、ドライバ回路
のテスト方法にも関する。
【０００２】
【従来の技術】今後、ディスプレイ技術は、情報と通信
の分野において益々重要な役割を果たすであろう。人間
とデジタルワールドとの間にインターフェイスであるデ
ィスプレイ装置は、現在の情報システムを受け入れるた
めにきわめて重要なものである。例えば、ノートブッ
ク、電話、デジタルカメラ及び携帯情報端末（ＰＤＡ）
のような顕著にポータブルな装置は、フラットディスプ
レイを使用しなければ実現されることができない。
の分野において益々重要な役割を果たすであろう。人間
とデジタルワールドとの間にインターフェイスであるデ
ィスプレイ装置は、現在の情報システムを受け入れるた
めにきわめて重要なものである。例えば、ノートブッ
ク、電話、デジタルカメラ及び携帯情報端末（ＰＤＡ）
のような顕著にポータブルな装置は、フラットディスプ
レイを使用しなければ実現されることができない。
【０００３】アクティブマトリックスディスプレイは、
このようなディスプレイ装置が、例えばマウスのカーソ
ルのディスプレイにおける高速な画像変化を可能とする
ために、特に重要なものである。このアクティブマトリ
ックスＬＣＤ技術によれば、画像点又は画素は、アクテ
ィブに駆動される。最も高頻度に使用されるバージョン
は、薄膜トランジスタ（ＴＦＴ−ＬＣＤ）を利用する。
シリコンで製造され且つ各画素中に直接的に集積された
トランジスタは、画素中に画像信号の記憶を可能とす
る。情報のディスプレイ中に異なるグレー値やカラーを
実現するために、大きな電圧範囲において、夫々の異な
る電圧でディスプレイ又はディスプレイ装置を駆動する
ことが必要である。ドライバ回路は、このようなディス
プレイ装置やディスプレイの駆動のために使用される。
このようなディスプレイ装置が、例えばマウスのカーソ
ルのディスプレイにおける高速な画像変化を可能とする
ために、特に重要なものである。このアクティブマトリ
ックスＬＣＤ技術によれば、画像点又は画素は、アクテ
ィブに駆動される。最も高頻度に使用されるバージョン
は、薄膜トランジスタ（ＴＦＴ−ＬＣＤ）を利用する。
シリコンで製造され且つ各画素中に直接的に集積された
トランジスタは、画素中に画像信号の記憶を可能とす
る。情報のディスプレイ中に異なるグレー値やカラーを
実現するために、大きな電圧範囲において、夫々の異な
る電圧でディスプレイ又はディスプレイ装置を駆動する
ことが必要である。ドライバ回路は、このようなディス
プレイ装置やディスプレイの駆動のために使用される。
【０００４】アクティブマトリックスディスプレイ（Ｔ
ＦＴディスプレイ）は、一般に、延出し且つドライバ回
路が接続される接続部を有するガラスからなる。このよ
うなドライバ回路は、画像信号をディスプレイに表示さ
れるために変換する。画像情報は、デジタル信号の形態
でメモリに記憶される。このようなデジタル信号は、ア
ナログ信号へ変換されることが必要であり、それによっ
て対応する光強度がアナログ電圧によって表示される。
この変換に必要なデジタル−アナログコンバータは、２
０ｍＶ未満で１０ｍＶを越える値の範囲の電圧にデジタ
ル信号を変換しなければならない。
ＦＴディスプレイ）は、一般に、延出し且つドライバ回
路が接続される接続部を有するガラスからなる。このよ
うなドライバ回路は、画像信号をディスプレイに表示さ
れるために変換する。画像情報は、デジタル信号の形態
でメモリに記憶される。このようなデジタル信号は、ア
ナログ信号へ変換されることが必要であり、それによっ
て対応する光強度がアナログ電圧によって表示される。
この変換に必要なデジタル−アナログコンバータは、２
０ｍＶ未満で１０ｍＶを越える値の範囲の電圧にデジタ
ル信号を変換しなければならない。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ディスプレイユニット
は、アクティブマトリックスＴＦＴディスプレイとドラ
イバ回路よりなるモジュールとして市販されている。こ
の場合、ドライバＩＣの品質は、非常に重要である。こ
のようなドライバ回路は、ディスプレイ装置の数百端子
を駆動しなければならないので、このようなドライバ回
路のテストは非常に複雑である。これらのドライバ回路
用のテスト動作は、ディスプレイ装置の品質へ、それゆ
えに、最終製品の価格へ決定的な影響を及ぼす。従っ
て、テスト時間はできるだけ短くするべきである。テス
ト動作用の込み入った精度測定装置の使用は、最終製品
の価格へ悪影響を及ぼす。ディスプレイモジュールの高
歩留まり、従って最終製品の低コストは、個々のドライ
バ回路の全てが非常に高い品質である場合のみ、達成さ
れ得る。
は、アクティブマトリックスＴＦＴディスプレイとドラ
イバ回路よりなるモジュールとして市販されている。こ
の場合、ドライバＩＣの品質は、非常に重要である。こ
のようなドライバ回路は、ディスプレイ装置の数百端子
を駆動しなければならないので、このようなドライバ回
路のテストは非常に複雑である。これらのドライバ回路
用のテスト動作は、ディスプレイ装置の品質へ、それゆ
えに、最終製品の価格へ決定的な影響を及ぼす。従っ
て、テスト時間はできるだけ短くするべきである。テス
ト動作用の込み入った精度測定装置の使用は、最終製品
の価格へ悪影響を及ぼす。ディスプレイモジュールの高
歩留まり、従って最終製品の低コストは、個々のドライ
バ回路の全てが非常に高い品質である場合のみ、達成さ
れ得る。
【０００６】ドライバ回路は、多数のデジタル−アナロ
グコンバータを備えるので、このような装置の品質は、
デジタル−アナログコンバータが厳格にテストされる場
合のみ保障され得る。デジタル画像信号のデジタル−ア
ナログ変換のために、デジタル論理用の標準のテスト方
法は、このドライバ回路に対して使用されることができ
ない。広範囲に亘る非常に多くの異なる電圧値を保障し
且つテストすることが必要があるので、ドライバ回路の
テストは、非常に込み入ったものとなる。
グコンバータを備えるので、このような装置の品質は、
デジタル−アナログコンバータが厳格にテストされる場
合のみ保障され得る。デジタル画像信号のデジタル−ア
ナログ変換のために、デジタル論理用の標準のテスト方
法は、このドライバ回路に対して使用されることができ
ない。広範囲に亘る非常に多くの異なる電圧値を保障し
且つテストすることが必要があるので、ドライバ回路の
テストは、非常に込み入ったものとなる。
【０００７】ドライバ回路は、一般に、複数のアナログ
電圧が供給され、そこで選択ユニットがデジタル画像信
号に応じて電圧を選択し、引き続いて、その選択された
電圧がドライバ回路の対応する出力へ印加されて増幅さ
れる。例えば、ドライバ回路は、アナログ電圧を供給す
る６４本のリードと４００個の出力ステージを備え、従
って、少なくとも２５，６００個の別々のアナログ電圧
値がテストされなければならない。
電圧が供給され、そこで選択ユニットがデジタル画像信
号に応じて電圧を選択し、引き続いて、その選択された
電圧がドライバ回路の対応する出力へ印加されて増幅さ
れる。例えば、ドライバ回路は、アナログ電圧を供給す
る６４本のリードと４００個の出力ステージを備え、従
って、少なくとも２５，６００個の別々のアナログ電圧
値がテストされなければならない。
【０００８】個々のアナログ電圧値の全てのテストは、
各個別の値がプログラムされ且つ直接にテストされなけ
ればならなために非常に時間がかかる。全ての選択可能
アナログ電圧は、ドライバ回路の各出力でテストされな
ければならない。このようなドライバ回路の多数の出力
では、４００個もの多くの、可能であればそれ以上のア
ナログ出力の同時並列測定が必要である。全体の電圧範
囲の０．２％の精度での多数のアナログ出力の測定で
は、非常に高価なテスト装置の使用が必要である。この
ような機能テストは、非常に高いテスト費用と長い時間
が必要となってくる。上述の機能テストは、ウェーハー
の製造で発生し、且つ検出できない或いは確実には検出
できない故障を含み得る。例えば、アナログ電圧を供給
するリードと出力リード間の漏れ電流は、Ｍリードに対
する一つのデジタル−アナログコンバータが出力リード
上の電圧から非常に顕著に逸れる電圧を供給する場合に
のみ、検出され得る。知られているように、所謂機能テ
ストは、欠陥検出指向テストを行なうテスト方法とテス
トデバイスほど決定的なものではない。
各個別の値がプログラムされ且つ直接にテストされなけ
ればならなために非常に時間がかかる。全ての選択可能
アナログ電圧は、ドライバ回路の各出力でテストされな
ければならない。このようなドライバ回路の多数の出力
では、４００個もの多くの、可能であればそれ以上のア
ナログ出力の同時並列測定が必要である。全体の電圧範
囲の０．２％の精度での多数のアナログ出力の測定で
は、非常に高価なテスト装置の使用が必要である。この
ような機能テストは、非常に高いテスト費用と長い時間
が必要となってくる。上述の機能テストは、ウェーハー
の製造で発生し、且つ検出できない或いは確実には検出
できない故障を含み得る。例えば、アナログ電圧を供給
するリードと出力リード間の漏れ電流は、Ｍリードに対
する一つのデジタル−アナログコンバータが出力リード
上の電圧から非常に顕著に逸れる電圧を供給する場合に
のみ、検出され得る。知られているように、所謂機能テ
ストは、欠陥検出指向テストを行なうテスト方法とテス
トデバイスほど決定的なものではない。
【０００９】従って、本発明の目的は、最短可能時間内
で且つ非常に広範な故障の保障範囲でテストされ得るド
ライバ回路を提供することである。
で且つ非常に広範な故障の保障範囲でテストされ得るド
ライバ回路を提供することである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】この目的は、ディスプレ
イ装置を駆動するためのデバイスが、Ｍ本のリードを備
え、前記Ｍ本のリードは少なくとも１つのマルチプレッ
クスデバイスへ及び前記Ｍ本のリードへの電圧供給の中
断を可能とする第１のスイッチング装置へ連結されてお
り、更に前記駆動デバイスは、前記Ｍ本のリードへ連結
される少なくとも一つの第２のスイッチング装置を備
え、それによって前記Ｍ本のリードの内の少なくとも１
本が選択可能な電位へスイッチング可能であることによ
って達成される。
イ装置を駆動するためのデバイスが、Ｍ本のリードを備
え、前記Ｍ本のリードは少なくとも１つのマルチプレッ
クスデバイスへ及び前記Ｍ本のリードへの電圧供給の中
断を可能とする第１のスイッチング装置へ連結されてお
り、更に前記駆動デバイスは、前記Ｍ本のリードへ連結
される少なくとも一つの第２のスイッチング装置を備
え、それによって前記Ｍ本のリードの内の少なくとも１
本が選択可能な電位へスイッチング可能であることによ
って達成される。
【００１１】本発明に従うデバイスの基本アイデアは、
欠陥検出指向テスト及びこの目的に適する方法を提供す
ることである。駆動デバイス即ちドライバ回路へ追加さ
れる追加のテストハードウエアの使用によって、多くの
個別のアナログ測定の必要性が除去されるが、故障エラ
ー保障範囲が等しく高いままか或いはそれにも関わらず
一層向上される。
欠陥検出指向テスト及びこの目的に適する方法を提供す
ることである。駆動デバイス即ちドライバ回路へ追加さ
れる追加のテストハードウエアの使用によって、多くの
個別のアナログ測定の必要性が除去されるが、故障エラ
ー保障範囲が等しく高いままか或いはそれにも関わらず
一層向上される。
【００１２】この結果、第１のスイッチング装置がＭ本
のリード中に挿入される。この第１のスイッチング装置
は、電圧供給を中断し、それによって、すでに存在して
いる電圧が最早駆動されず、且つ漏れ電流や寄生容量が
放電を起こすまで保持される。Ｍ本のリード上のアナロ
グ電圧は、マルチプレックスデバイスを介して選択する
ことができる。これらのマルチプレックスデバイスは、
デジタル信号によって駆動される。これらのデジタル信
号は、表示されるべき画像情報を含み、Ｍ本のリード上
の選択された電圧が出力Ｎに印加されるように、理想的
なスイッチとして働くマルチプレックスデバイスに対し
て影響を及ぼす。
のリード中に挿入される。この第１のスイッチング装置
は、電圧供給を中断し、それによって、すでに存在して
いる電圧が最早駆動されず、且つ漏れ電流や寄生容量が
放電を起こすまで保持される。Ｍ本のリード上のアナロ
グ電圧は、マルチプレックスデバイスを介して選択する
ことができる。これらのマルチプレックスデバイスは、
デジタル信号によって駆動される。これらのデジタル信
号は、表示されるべき画像情報を含み、Ｍ本のリード上
の選択された電圧が出力Ｎに印加されるように、理想的
なスイッチとして働くマルチプレックスデバイスに対し
て影響を及ぼす。
【００１３】本発明に従って、第２のスイッチング装置
が提供され、それによってマルチプレックスデバイスに
よって選択される電圧が選択可能なテスト基準電位へス
イッチングされ得る。この選択可能又は定義可能なテス
ト基準電位は、接地電位であることが好ましい。この第
２のスイッチング装置は、マルチプレックスデバイスに
よってスイッチングされる電圧を選択可能なテスト基準
電位へ接続する。この第２のスイッチング装置は、第１
のスイッチング装置の開放後に最早駆動されないＭ本の
リードがマルチプレックスデバイスの制御によって第２
のスイッチング装置へスイッチングされることを可能と
し、次にこの第２のスイッチング装置は、このように選
択されたリードＭを固定電位へスイッチングする。通常
の場合、この電位は、選択されたリード上で調節され、
そして単純且つ容易にモニターされ得る。この固定電位
が選択されたリード上に存在しない場合、故障のドライ
バ回路が含まれていると仮定すべきである。これによっ
て、ドライバ回路の機能性の簡単なテストが可能とな
る。異なるＭ本のリード間の漏れ電流は、簡単に検出さ
れる。理由は、特別のリードＭＩが選択され、第２のス
イッチング装置へスイッチングされた時、存在する漏れ
電流が第２のリードを介して消散されることができ、そ
れによって必要なレベルは、故障状態において出力Ｎ又
は選択されたリードＭＩ及びそれへ接続される更なるリ
ードをモニターしている間には検出されない。
が提供され、それによってマルチプレックスデバイスに
よって選択される電圧が選択可能なテスト基準電位へス
イッチングされ得る。この選択可能又は定義可能なテス
ト基準電位は、接地電位であることが好ましい。この第
２のスイッチング装置は、マルチプレックスデバイスに
よってスイッチングされる電圧を選択可能なテスト基準
電位へ接続する。この第２のスイッチング装置は、第１
のスイッチング装置の開放後に最早駆動されないＭ本の
リードがマルチプレックスデバイスの制御によって第２
のスイッチング装置へスイッチングされることを可能と
し、次にこの第２のスイッチング装置は、このように選
択されたリードＭを固定電位へスイッチングする。通常
の場合、この電位は、選択されたリード上で調節され、
そして単純且つ容易にモニターされ得る。この固定電位
が選択されたリード上に存在しない場合、故障のドライ
バ回路が含まれていると仮定すべきである。これによっ
て、ドライバ回路の機能性の簡単なテストが可能とな
る。異なるＭ本のリード間の漏れ電流は、簡単に検出さ
れる。理由は、特別のリードＭＩが選択され、第２のス
イッチング装置へスイッチングされた時、存在する漏れ
電流が第２のリードを介して消散されることができ、そ
れによって必要なレベルは、故障状態において出力Ｎ又
は選択されたリードＭＩ及びそれへ接続される更なるリ
ードをモニターしている間には検出されない。
【００１４】本発明に従うドライバ回路の好適な実施の
形態において、Ｍ本のリードは、Ａ Ｎ個の出力ステージ
へ連結される。出力ステージＡＮは、マルチプレックス
デバイスのみならず増幅器ユニットを含む。この増幅器
は、可変ゲインを有すると共にその入力側で高抵抗に構
成され、それによって、対応する出力が対応する値で駆
動され得る。第２のスイッチング装置は、少なくとも一
つの出力ステージに配置されることが好ましい。従っ
て、このマルチプレックスデバイスが効果的に使用され
ることが達成される。
形態において、Ｍ本のリードは、Ａ Ｎ個の出力ステージ
へ連結される。出力ステージＡＮは、マルチプレックス
デバイスのみならず増幅器ユニットを含む。この増幅器
は、可変ゲインを有すると共にその入力側で高抵抗に構
成され、それによって、対応する出力が対応する値で駆
動され得る。第２のスイッチング装置は、少なくとも一
つの出力ステージに配置されることが好ましい。従っ
て、このマルチプレックスデバイスが効果的に使用され
ることが達成される。
【００１５】本発明の好適な実施の形態におけるスイッ
チング装置は、Ｍ本のリードの個別の中断が可能である
ように構成される。このように、更なる自由度がそのテ
ストのために生成される。
チング装置は、Ｍ本のリードの個別の中断が可能である
ように構成される。このように、更なる自由度がそのテ
ストのために生成される。
【００１６】本発明のドライバ回路によって、Ｍ本のリ
ードの個別のリード間の漏れ電流の検出が可能となる。
例えば、リードＭ１が選択されるべきにも関わらず、Ｍ
２が選択されたとしても、マルチプレックスデバイスの
誤まった選択が検出され得る。
ードの個別のリード間の漏れ電流の検出が可能となる。
例えば、リードＭ１が選択されるべきにも関わらず、Ｍ
２が選択されたとしても、マルチプレックスデバイスの
誤まった選択が検出され得る。
【００１７】マルチプレックスデバイスにおけるスイッ
チの過剰に高い順方向抵抗の場合、リードＭの電圧が遅
延を介して又はその後にのみスイッチングされないこと
が検出することができる。更に、Ｍリードと出力Ｎとの
間の漏れ電流を、検出することが可能である。次に、対
応するマルチプレックスデバイスが対応するＭリードを
選択した時のみに漏れ電流が発生する限りにおいて、テ
ストが困難であることが判明する。このテストの保障範
囲は、この追加のテストによって増加され得る。
チの過剰に高い順方向抵抗の場合、リードＭの電圧が遅
延を介して又はその後にのみスイッチングされないこと
が検出することができる。更に、Ｍリードと出力Ｎとの
間の漏れ電流を、検出することが可能である。次に、対
応するマルチプレックスデバイスが対応するＭリードを
選択した時のみに漏れ電流が発生する限りにおいて、テ
ストが困難であることが判明する。このテストの保障範
囲は、この追加のテストによって増加され得る。
【００１８】本発明に従って、Ｍ本のリードは、例え
ば、デジタル信号１を表す電圧で駆動される。Ｍ本のリ
ードは、トリステート（ｔｒｉｓｔａｔｅ）条件に設定
されるように第１のスイッチング装置によって供給電圧
から分離される。
ば、デジタル信号１を表す電圧で駆動される。Ｍ本のリ
ードは、トリステート（ｔｒｉｓｔａｔｅ）条件に設定
されるように第１のスイッチング装置によって供給電圧
から分離される。
【００１９】出力ステージの内の少なくとも幾つかへの
第２のスイッチング装置の挿入の結果として、全てのＭ
本のリードは、連続的にテスト基準電位へスイッチング
され得る。第１のスイッチング装置の開路の後に、Ｍ本
のリードは、内部寄生容量が放電を開始するまで、所与
の時間の間それらの電圧値を保持する。その結果、この
期間の間、リードＭ上の電圧と同じ電圧値を出力Ｎ上で
測定することができる。続いて全ての第２のスイッチン
グ装置が閉じ、Ｍ本のリードの内の少なくとも幾つかは
テスト基準電位へスイッチングされ、そしてＭ本のリー
ドの内の何れがゼロへスイッチングされたか否かについ
てＭ本のリードをチェックできる。テスト基準電位へス
イッチングされるリードと非駆動リードＭとの間に漏れ
電流が存在する場合、非駆動リードＭがテスト基準電位
へスイッチングされる。
第２のスイッチング装置の挿入の結果として、全てのＭ
本のリードは、連続的にテスト基準電位へスイッチング
され得る。第１のスイッチング装置の開路の後に、Ｍ本
のリードは、内部寄生容量が放電を開始するまで、所与
の時間の間それらの電圧値を保持する。その結果、この
期間の間、リードＭ上の電圧と同じ電圧値を出力Ｎ上で
測定することができる。続いて全ての第２のスイッチン
グ装置が閉じ、Ｍ本のリードの内の少なくとも幾つかは
テスト基準電位へスイッチングされ、そしてＭ本のリー
ドの内の何れがゼロへスイッチングされたか否かについ
てＭ本のリードをチェックできる。テスト基準電位へス
イッチングされるリードと非駆動リードＭとの間に漏れ
電流が存在する場合、非駆動リードＭがテスト基準電位
へスイッチングされる。
【００２０】このようなドライバ回路のテストのための
好適な構成では、Ｍ本のリードは、共通で等しい電圧で
駆動されるように、テストモードにおいて全て互いに接
続される。これらのリード上での電圧の発生後に、第１
のスイッチング装置が開路され、全てのリードが同じ電
圧を供給する。第２のスイッチング装置が設けられてい
ない出力ステージにおいて、Ｍ本のリード上で調節され
る電圧を、出力Ｎ上でテストすることができる。第２の
スイッチング装置が設けられ且つ第２のスイッチング装
置が閉路される出力ステージの出力Ｎにおいて、出力が
テスト基準電位へ接続されるか否かについてテストされ
得る。同時に、第２のスイッチング装置を備えていない
他の出力ステージは、これらの出力ステージの出力がテ
スト基準電位へ接続されているか否かについてテストさ
れ得る。この事から、対応して選択されたリードＭ同士
間が短絡していることが推定される。
好適な構成では、Ｍ本のリードは、共通で等しい電圧で
駆動されるように、テストモードにおいて全て互いに接
続される。これらのリード上での電圧の発生後に、第１
のスイッチング装置が開路され、全てのリードが同じ電
圧を供給する。第２のスイッチング装置が設けられてい
ない出力ステージにおいて、Ｍ本のリード上で調節され
る電圧を、出力Ｎ上でテストすることができる。第２の
スイッチング装置が設けられ且つ第２のスイッチング装
置が閉路される出力ステージの出力Ｎにおいて、出力が
テスト基準電位へ接続されるか否かについてテストされ
得る。同時に、第２のスイッチング装置を備えていない
他の出力ステージは、これらの出力ステージの出力がテ
スト基準電位へ接続されているか否かについてテストさ
れ得る。この事から、対応して選択されたリードＭ同士
間が短絡していることが推定される。
【００２１】本発明に従う構成の利点は、ディスプレイ
装置用のドライバ回路を完全にデジタルでテストするこ
とができ、それによってテスト時間が大きく減少する事
である。同時に、アナログ測定に比較して、より一層簡
単なテストと測定装置がデジタルテストにとって必要で
ある。デジタルテスト信号のために、多くのテスト方法
が非常に広範な故障保障範囲が達成されるように実現さ
れ得る。テスト方法のデジタルの特性のために、全体の
テスト構成が電磁波による妨害に対して非常に頑強であ
る。
装置用のドライバ回路を完全にデジタルでテストするこ
とができ、それによってテスト時間が大きく減少する事
である。同時に、アナログ測定に比較して、より一層簡
単なテストと測定装置がデジタルテストにとって必要で
ある。デジタルテスト信号のために、多くのテスト方法
が非常に広範な故障保障範囲が達成されるように実現さ
れ得る。テスト方法のデジタルの特性のために、全体の
テスト構成が電磁波による妨害に対して非常に頑強であ
る。
【００２２】また、本発明の目的は、ドライバ回路のＮ
本の出力がディスプレイ装置のＮ本の端子へ接続される
ドライバ回路を含むディスプレイ装置によって達成され
る。
本の出力がディスプレイ装置のＮ本の端子へ接続される
ドライバ回路を含むディスプレイ装置によって達成され
る。
【００２３】更に、本発明の目的は、ドライバ回路のテ
スト方法によって達成され、この方法では、ドライバ回
路は、Ｍ本のリードにおいて少なくとも一つの電圧が供
給され、ここで、Ｍ本のリードは、第１のスイッチング
装置に連結されると共にＭ本のリードへの電圧の供給
は、第１のスイッチング装置によって中断され、Ｍ本の
リードの内の一つがＭ本のリードへ連結される少なくと
も１つのマルチプレックスデバイスによって選択され、
且つ選択されたリード上の電圧は第２のスイッチング装
置によってテスト基準電位へスイッチングされる。
スト方法によって達成され、この方法では、ドライバ回
路は、Ｍ本のリードにおいて少なくとも一つの電圧が供
給され、ここで、Ｍ本のリードは、第１のスイッチング
装置に連結されると共にＭ本のリードへの電圧の供給
は、第１のスイッチング装置によって中断され、Ｍ本の
リードの内の一つがＭ本のリードへ連結される少なくと
も１つのマルチプレックスデバイスによって選択され、
且つ選択されたリード上の電圧は第２のスイッチング装
置によってテスト基準電位へスイッチングされる。
【００２４】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を、図面を参
照して詳細に説明する。
照して詳細に説明する。
【００２５】図１は、電圧バスであると理解され得るＭ
本のリードを示す。Ｍ本のリードは、通常、６ビットＤ
／Ａコンバータの場合、６４本の個別のリードを有す
る。Ｍ本のリードは、第１のスイッチング装置２に連結
される。第１のスイッチング装置２によって、Ｍ本のリ
ードへの電圧供給の中断が可能となる。Ｎ個の出力ステ
ージＡＮは、前記Ｍ本のリードへ接続され、各出力ステ
ージＡＮは、Ｍ本のリードの少なくとも一部へ接続され
る。しかしながら、一般的に言えば、Ｍ本のリードの全
てが各出力ステージＡＮへ接続される。その理由は、デ
ィスプレイ装置の各端子は、対応するディスプレイエリ
アで画像情報を再生するように各電圧が供給されなけれ
ばならないからである。夫々のタイムマルチプレックス
デバイス４が出力ステージＡＮに設けられる。マルチプ
レックスデバイス４は、Ｍ本のリードを介して供給され
る電圧の内の一つを選択するように配置される。マルチ
プレックスデバイス４は、選択された電圧を出力Ｎへ導
く増幅器５へ連結される。第２のスイッチング装置３が
少なくとも一つの出力ステージＡＮに設けられる。第２
のスイッチング装置３は、出力ステージＡＮへ印加され
る電位をテスト基準電位へスイッチングするように配置
される。また、第２のスイッチング装置３を、全ての出
力ステージＡＮに設けてもよい。また、出力ステージＡ
Ｎにおける第２のスイッチング装置３を異なるテスト基
準電位へスイッチするようにしてもよい。また、第２の
スイッチング装置を、出力ステージの外側に設けてもよ
い。マルチプレックスデバイス４を、出力ステージの外
側に配置してもよい。
本のリードを示す。Ｍ本のリードは、通常、６ビットＤ
／Ａコンバータの場合、６４本の個別のリードを有す
る。Ｍ本のリードは、第１のスイッチング装置２に連結
される。第１のスイッチング装置２によって、Ｍ本のリ
ードへの電圧供給の中断が可能となる。Ｎ個の出力ステ
ージＡＮは、前記Ｍ本のリードへ接続され、各出力ステ
ージＡＮは、Ｍ本のリードの少なくとも一部へ接続され
る。しかしながら、一般的に言えば、Ｍ本のリードの全
てが各出力ステージＡＮへ接続される。その理由は、デ
ィスプレイ装置の各端子は、対応するディスプレイエリ
アで画像情報を再生するように各電圧が供給されなけれ
ばならないからである。夫々のタイムマルチプレックス
デバイス４が出力ステージＡＮに設けられる。マルチプ
レックスデバイス４は、Ｍ本のリードを介して供給され
る電圧の内の一つを選択するように配置される。マルチ
プレックスデバイス４は、選択された電圧を出力Ｎへ導
く増幅器５へ連結される。第２のスイッチング装置３が
少なくとも一つの出力ステージＡＮに設けられる。第２
のスイッチング装置３は、出力ステージＡＮへ印加され
る電位をテスト基準電位へスイッチングするように配置
される。また、第２のスイッチング装置３を、全ての出
力ステージＡＮに設けてもよい。また、出力ステージＡ
Ｎにおける第２のスイッチング装置３を異なるテスト基
準電位へスイッチするようにしてもよい。また、第２の
スイッチング装置を、出力ステージの外側に設けてもよ
い。マルチプレックスデバイス４を、出力ステージの外
側に配置してもよい。
【００２６】図２は、ここで記述された回路構成のより
詳細な図である。リードＭ１乃至Ｍ ｉは、電圧発生器７
によって一つ又はそれ以上の電圧が供給される。リード
Ｍ１乃至Ｍｉは、全ての出力ステージＡ１乃至ＡＮへ導
通される。出力ステージにおいて、リードＭ１乃至Ｍｉ
は、マルチプレックス４へ接続される。マルチプレック
スデバイス４は、デジタル信号Ｅ１乃至ＥＮに応じた電
圧を出力ステージＡＮへ伝える。第１のスイッチング装
置２は、別々にリードＭ１乃至Ｍｉを切断できる。ま
た、リードＭ１乃至Ｍｉを相互接続することが可能であ
り、従って、電圧を全てのリードＭ１乃至Ｍｉへ印加可
能とする。
詳細な図である。リードＭ１乃至Ｍ ｉは、電圧発生器７
によって一つ又はそれ以上の電圧が供給される。リード
Ｍ１乃至Ｍｉは、全ての出力ステージＡ１乃至ＡＮへ導
通される。出力ステージにおいて、リードＭ１乃至Ｍｉ
は、マルチプレックス４へ接続される。マルチプレック
スデバイス４は、デジタル信号Ｅ１乃至ＥＮに応じた電
圧を出力ステージＡＮへ伝える。第１のスイッチング装
置２は、別々にリードＭ１乃至Ｍｉを切断できる。ま
た、リードＭ１乃至Ｍｉを相互接続することが可能であ
り、従って、電圧を全てのリードＭ１乃至Ｍｉへ印加可
能とする。
【００２７】図３は、一般的に、延出される端子１３を
有するディスプレイガラス１０よりなるアクティブマト
リックスＴＦＴディスプレイを示す。ソースドライバ１
１とゲートドライバ１２が端子１３を駆動する。ソース
ドライバ１１は、一般的に数百の出力を有し、これによ
ってアナログ電圧値がディスプレイ１０の端子１３上で
調節される。
有するディスプレイガラス１０よりなるアクティブマト
リックスＴＦＴディスプレイを示す。ソースドライバ１
１とゲートドライバ１２が端子１３を駆動する。ソース
ドライバ１１は、一般的に数百の出力を有し、これによ
ってアナログ電圧値がディスプレイ１０の端子１３上で
調節される。
【図１】本発明のドライバ回路の回路図である。
【図２】本発明のドライバ回路の回路構成の詳細図であ
る。
る。
【図３】ディスプレイ装置を駆動するためのデバイスの
図である。
図である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 グイド、プランガー スイス国エッシェンバッハ、ミューリバイ ラーシュトラーセ、17 Ｆターム(参考） 5C006 AF51 AF53 AF65 AF83 BB16 BC12 BC20 BF24 BF25 BF31 EB01 EB04 5C080 AA10 BB05 DD15 DD28 FF11 JJ02
Claims (10)
- 【請求項１】ディスプレイ装置を駆動するデバイスであ
って、前記駆動デバイスは、Ｍ本のリードを備え、前記
Ｍ本のリードは少なくとも１つのマルチプレックスデバ
イスへ及び前記Ｍ本のリードへの電圧供給の中断を可能
とする第１のスイッチング装置へ連結されており、更に
前記駆動デバイスは、前記Ｍ本のリードへ連結される少
なくとも一つの第２のスイッチング装置を備え、それに
よって前記Ｍ本のリードの内の少なくとも１本が選択可
能な電位へスイッチング可能であるディスプレイ装置を
駆動させる装置。 - 【請求項２】前記Ｍ本のリードは、少なくとも一つのマ
ルチプレックスデバイスと少なくとも一つの増幅器ユニ
ットとを備えるＡＮ個の出力ステージへ連結され、且つ
少なくとも一つの出力ステージは、前記出力ステージを
選択可能電位へスイッチングするための第２のスイッチ
ング装置を備えることを特徴とする請求項１に記載の装
置。 - 【請求項３】第２のスイッチング装置は、全ての出力ス
テージに設けられることを特徴とする請求項１に記載の
装置。 - 【請求項４】前記マルチプレックスデバイスは、デジタ
ル信号によって制御可能であり、且つ出力ステージへの
Ｍ本のリード上に存在する電圧をスイッチングするよう
に設けられることを特徴とする請求項１に記載の装置。 - 【請求項５】前記出力ステージ内の前記第２のスイッチ
ング装置は、マルチプレックスデバイスによって選択さ
れるリードＭをテスト基準電位へスイッチングするこを
特徴とする請求項１に記載の装置。 - 【請求項６】テストモードにおいて、前記第１のスイッ
チング装置は、Ｍ本のリードを共通の電位に接続すると
共にＭ本のリードを前記共通の電位から離間させること
を特徴とする請求項１に記載の装置。 - 【請求項７】電圧発生器は、前記Ｍ本のリードへの供給
用の少なくとも一つの電圧を発生することを特徴とする
請求項１に記載の装置。 - 【請求項８】前記スイッチング装置は、別々に制御する
ことができる請求項１に記載の装置。 - 【請求項９】前記出力ステージは、ディスプレイ装置の
Ｎ本の端子へ接続される、請求項１乃至８の何れか１項
に記載の駆動回路を含むディスプレイ装置。 - 【請求項１０】ドライバ回路をテストする方法であっ
て、前記ドライバ回路は、Ｍ本のリード上に少なくとも
一つの電圧を供給し、前記Ｍ本のリードは、第１のスイ
ッチング装置へ連結され、前記Ｍ本のリードへの電圧供
給は、前記第１のスイッチング装置によって中断され、
前記Ｍ本のリードの内の一本は、Ｍ本のリードへ連結さ
れる少なくとも一つのマルチプレックスデバイスによっ
て選択され、前記選択されたリードへの供給された電圧
は、第２のスイッチング装置によってテスト基準電位へ
スイッチングされるドライバ回路テスト方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE10100569A DE10100569A1 (de) | 2001-01-09 | 2001-01-09 | Treiberschaltung für Anzeigevorrichtung |
| DE10100569.5 | 2001-01-09 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002304164A true JP2002304164A (ja) | 2002-10-18 |
| JP4290370B2 JP4290370B2 (ja) | 2009-07-01 |
Family
ID=7669979
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002000114A Expired - Fee Related JP4290370B2 (ja) | 2001-01-09 | 2002-01-04 | ディスプレイを駆動する駆動デバイス及び駆動デバイスを含むディスプレイ装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6972755B2 (ja) |
| EP (1) | EP1225559A3 (ja) |
| JP (1) | JP4290370B2 (ja) |
| CN (1) | CN100504974C (ja) |
| DE (1) | DE10100569A1 (ja) |
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| US7859268B2 (en) | 2005-09-02 | 2010-12-28 | Renesas Electronics Corporation | Method of testing driving circuit and driving circuit for display device |
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| EP1571981A2 (en) * | 2002-11-27 | 2005-09-14 | Z-Tech (Canada) Inc. | Eliminating interface artifact errors in bioimpedance measurements |
| CN1314202C (zh) * | 2004-05-12 | 2007-05-02 | 凌阳科技股份有限公司 | 共享运算放大器及应用其的增益电路与模拟/数字转换电路 |
| JP4848369B2 (ja) | 2004-06-18 | 2011-12-28 | インぺディメッド リミテッド | 浮腫検出のための装置と該動作方法 |
| TWI285358B (en) * | 2004-07-30 | 2007-08-11 | Sunplus Technology Co Ltd | TFT LCD source driver with built in test circuit and method for testing the same |
| CN100359556C (zh) * | 2004-09-13 | 2008-01-02 | 凌阳科技股份有限公司 | 内建测试电路的源极驱动器及其测试方法 |
| WO2006056074A1 (en) | 2004-11-26 | 2006-06-01 | Z-Tech (Canada) Inc. | Weighted gradient method and system for diagnosing disease |
| WO2007002991A1 (en) | 2005-07-01 | 2007-01-11 | Impedimed Limited | Monitoring system |
| EP1898784B1 (en) | 2005-07-01 | 2016-05-18 | Impedimed Limited | Method and apparatus for performing impedance measurements |
| EP1912563B1 (en) * | 2005-08-02 | 2016-04-20 | Impedimed Limited | Impedance parameter values |
| ES2476999T3 (es) | 2005-10-11 | 2014-07-15 | Impedimed Limited | Monitorización del estado de hidratación |
| EP2020918B1 (en) | 2006-05-30 | 2015-05-20 | Impedimed Limited | Impedance measurements |
| JP2008009170A (ja) * | 2006-06-29 | 2008-01-17 | Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd | 液晶表示装置および液晶表示装置の駆動方法 |
| CA2670293C (en) | 2006-11-30 | 2017-01-03 | Impedimed Limited | Measurement apparatus |
| JP5400618B2 (ja) | 2007-01-15 | 2014-01-29 | インぺディメッド リミテッド | モニタリングシステム |
| JP5101685B2 (ja) | 2007-03-30 | 2012-12-19 | インぺディメッド リミテッド | 補償レベルを可変制御して抵抗性信号および容量性信号の負荷を低減するための動作保護回路 |
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| AU2008207672B2 (en) * | 2008-02-15 | 2013-10-31 | Impedimed Limited | Impedance Analysis |
| JP5616900B2 (ja) | 2008-11-28 | 2014-10-29 | インぺディメッド リミテッドＩｍｐｅｄｉｍｅｄ Ｌｉｍｉｔｅｄ | インピーダンス測定処理 |
| CN101847378B (zh) * | 2009-03-27 | 2012-07-04 | 北京京东方光电科技有限公司 | 源极驱动芯片 |
| AU2010312305B2 (en) | 2009-10-26 | 2014-01-16 | Impedimed Limited | Fluid level indicator determination |
| WO2011060497A1 (en) | 2009-11-18 | 2011-05-26 | Impedimed Limited | Signal distribution for patient-electrode measurements |
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- 2002-01-04 JP JP2002000114A patent/JP4290370B2/ja not_active Expired - Fee Related
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- 2002-01-08 US US10/042,444 patent/US6972755B2/en not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
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|---|---|
| CN100504974C (zh) | 2009-06-24 |
| CN1365092A (zh) | 2002-08-21 |
| US20020093992A1 (en) | 2002-07-18 |
| US6972755B2 (en) | 2005-12-06 |
| EP1225559A3 (de) | 2009-07-08 |
| DE10100569A1 (de) | 2002-07-11 |
| JP4290370B2 (ja) | 2009-07-01 |
| EP1225559A2 (de) | 2002-07-24 |
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Legal Events
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|
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|
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
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| R371 | Transfer withdrawn |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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