KR20090023941A - 테스트 비용을 절감할 수 있는 디스플레이 장치용 구동집적회로 및 그 테스트 방법 - Google Patents

테스트 비용을 절감할 수 있는 디스플레이 장치용 구동집적회로 및 그 테스트 방법 Download PDF

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Abstract

테스트 비용을 절감할 수 있는 디스플레이 장치용 구동 집적회로가 개시된다. 상기 디스플레이 장치용 구동 집적회로의 일예에 따르면, 데이터 신호 및 복수의 계조전압들을 입력받으며, 상기 데이터 신호에 응답하여 상기 계조전압들을 선택적으로 출력하는 디코더와, 상기 디코더로부터 출력된 계조전압을 입력받아 패널을 구동하기 위한 구동전압을 발생하는 앰프부와, 상기 복수의 계조전압들을 발생하여 각각의 신호 경로를 통하여 출력하는 계조전압 발생부 및 상기 디코더와 상기 계조전압 발생부 사이에 배치되며, 테스트 동작시, 상기 각각의 신호 경로를 통하여 상기 디코더로 제공되는 전압의 레벨을 변동시키기 위한 스위치부를 구비하는 것을 특징으로 한다.

Description

테스트 비용을 절감할 수 있는 디스플레이 장치용 구동 집적회로 및 그 테스트 방법{Driving IC for display device capable of reducing test cost and Test Method for the same}
본 발명은 디스플레이 장치용 구동 집적회로에 관한 것으로서, 더 상세하게는 테스트 비용을 절감할 수 있는 디스플레이 장치용 구동 집적회로에 관한 것이다.
일반적으로, 노트북 컴퓨터 및 모니터 등에 널리 이용되고 있는 디스플레이 장치로서 액정 표시 장치(LCD, Liquid Crystal Device)가 대표적이다. 상기 액정 표시 장치는 화상을 구현하는 패널을 구비하며, 상기 패널에는 복수 개의 픽셀을 구비한다. 상기 복수 개의 픽셀은, 게이트 선택 신호를 전달하는 다수의 스캔 라인들과, 색상 데이터 즉 계조 데이터를 전달하는 다수의 데이터 라인들이 교차하는 영역에 형성된다.
상기 액정 표시 장치 등의 디스플레이 장치를 구동하기 위한 구동 집적회로는, 상기 스캔 라인들을 구동하기 위한 스캔 구동부 및 상기 데이터 라인들을 구동하기 위한 소스 구동부 등이 하나의 칩에 집적되어 설계될 수 있다. 종래의 디스플 레이용 구동 집적회로를 도 1을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
도 1은 일반적인 디스플레이 장치용 구동회로의 구성을 나타내는 블록도이다. 도시된 바와 같이 일반적인 디스플레이 장치용 구동회로(100)는 메모리부(110), 소스 드라이버(120) 및 계조전압 발생부(130)를 구비할 수 있다. 또한 상기 소스 드라이버(120)는, 메모리부(110)로부터 제공된 소정의 디지털 데이터(D[1:m])를 저장하는 레지스터(121)와, 레지스터(121)로부터 제공된 데이터의 전압 레벨을 변환하기 위한 레벨 쉬프터(122)와, 레벨 쉬프터(122)로부터 제공된 디지털 데이터를 아날로그 전압으로 변환하는 디코더(123)와, 디코더(123)의 출력을 버퍼링하여 디스플레이 장치(미도시)로 구동전압들(Y1 내지 Yn)을 제공하는 앰프부(124) 등을 구비할 수 있다. 한편 구동회로(100)는 복수의 계조전압들(VGMA)을 소스 드라이버(120)의 디코더(123)로 제공하는 계조전압 발생부(130)를 더 구비할 수 있다.
도 2는 도 1의 디스플레이 장치용 구동회로(100)의 일부를 더 자세하게 나타내기 위한 회로도이다. 도시된 바와 같이 디코더(123)는 소스 드라이버(120)의 채널 각각에 대응하는 복수 개의 디코더(123_1, 123_2,...)를 구비할 수 있다. 또한 앰프부(124)는 각각의 디코더(123_1, 123_2,...)에 연결되는 복수 개의 앰프(124_1, 124_2,...)를 구비할 수 있다. 계조전압 발생부(130)는 전원전압(GVDD) 및 접지전압(AVSS) 사이의 전압을 분배하여 생성된 복수의 계조전압(일예로서 64 개의 계조전압 V<0>, V<1>,...V<63>)을 각각의 신호 경로를 통하여 디코더(123)로 제공한다. 복수 개의 디코더(123_1, 123_2,...) 각각은 상기 복수의 계조전 압(V<0>, V<1>,...V<63>)을 입력받으며, 입력된 디지털 데이터(D[5:0])에 대응하는 하나의 계조전압을 선택하여 앰프부(124_1, 124_2,...)로 출력한다. 복수 개의 앰프(124_1, 124_2,...) 각각은 입력된 계조전압을 버퍼링하여 디스플레이 장치(미도시)를 구동하기 위한 전압(Y1 내지 Yn)을 제공한다.
한편, 상기와 같이 구성될 수 있는 디스플레이 장치용 구동회로(100)의 정상유무를 판별하기 위한 테스트 동작의 일예로서, 디코더(123)에 의해서 선택된 아날로그의 계조전압이 정상적으로 출력되는지를 테스트하게 되는데, 이와 같은 테스트 동작을 고 정밀도로 수행하기 위해서는 고가의 계측기를 필요로 하게 된다.
또한, 소스 드라이버(120)의 채널 수가 증가함에 반해 고가의 계측기가 동시 측정할 수 있는 채널의 수는 한정되어 있으므로, 채널들의 테스트를 여러번 나누어서 수행해야 한다. 또한 상기 아날로그 계조전압의 정상출력 유무를 측정하기 위해서는 계조전압이 포화(Saturation)된 후 측정을 해야한다. 상기와 같은 이유들 때문에 상기 테스트에 소요되는 시간은 증가하게 된다. 따라서 종래의 경우에는, 디스플레이 장치용 구동회로(100)의 테스트를 위하여 고가의 계측기를 필요로 하거나, 테스트 시간이 증가하기 때문에 테스트 동작에 소요되는 비용(Cost)이 증가하는 문제가 발생하였다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 저가의 테스터를 이용하여 테스트 동작을 수행할 수 있으며, 테스트에 소요되는 시간을 줄임으로써 효율적인 테스트 동작을 수행할 수 있는 디스플레이 장치용 구동회로를 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 일실시예에 따른 디스플레이 장치용 구동 집적회로는, 데이터 신호 및 복수의 계조전압들을 입력받으며, 상기 데이터 신호에 응답하여 상기 계조전압들을 선택적으로 출력하는 디코더와, 상기 디코더로부터 출력된 계조전압을 입력받아 패널을 구동하기 위한 구동전압을 발생하는 앰프부와, 상기 복수의 계조전압들을 발생하여 각각의 신호 경로를 통하여 출력하는 계조전압 발생부 및 상기 디코더와 상기 계조전압 발생부 사이에 배치되며, 테스트 동작시, 상기 각각의 신호 경로를 통하여 상기 디코더로 제공되는 전압의 레벨을 변동시키기 위한 스위치부를 구비하는 것을 특징으로 한다.
바람직하게는, 테스트 동작시, 상기 복수의 계조전압들은 서로 동일한 제1 전압을 갖는 것을 특징으로 한다.
또한 바람직하게는, 상기 스위치부는, 상기 신호 경로 각각에 대응하여 배치되는 스위치를 구비하며, 테스트 동작시 상기 각각의 스위치는, 상기 제1 전압을 갖는 계조 전압을 상기 디코더로 제공하거나, 상기 제1 전압과 다른 레벨을 갖는 제2 전압을 상기 디코더로 제공하도록 제어하는 것을 특징으로 한다.
또한 바람직하게는, 상기 제2 전압은 접지전압인 것을 특징으로 한다.
한편, 상기 스위치부는, 테스트 동작시, 어느 하나의 신호 경로를 통하여 상기 디코더로 제2 전압을 제공하며, 나머지 신호 경로를 통하여 상기 디코더로 제1 전압을 제공하도록 스위칭되는 것을 특징으로 한다.
한편, 상기 스위치부는, 상기 제1 전압을 갖는 계조 전압이 상기 디코더로 제공되도록 하거나 제공을 차단하도록 제어하는 제1 스위치부 및 상기 제1 전압과 서로 다른 레벨을 갖는 제2 전압이 상기 디코더로 제공되도록 하거나 제공을 차단하도록 제어하는 제2 스위치부를 구비하는 것을 특징으로 한다.
바람직하게는, 상기 각각의 신호 경로가 순차적으로 선택되도록 하기 위하여, 복수의 제어신호를 발생하여 상기 스위치부로 제공하는 제어신호 발생부를 더 구비하는 것을 특징으로 한다.
또한 바람직하게는, 제어신호 발생부는, 테스트 동작시, 선택된 신호 경로를 통하여 상기 디코더로 상기 제2 전압이 제공되고, 비선택된 신호 경로를 통하여 상기 디코더로 상기 제1 전압이 제공되도록 상기 스위치부를 제어하는 것을 특징으로 한다.
한편, 본 발명의 일실시예에 따른 디스플레이 장치용 구동 집적회로를 테스트하는 방법은, 계조전압 발생부로부터 서로 동일한 제1 전압을 갖는 복수의 계조 전압을 발생하는 단계와, 상기 계조전압 발생부와 디코더 사이에 배치되는 스위치를 제어하는 단계와, 복수의 신호 경로를 통하여 상기 디코더로 복수의 아날로그 전압을 제공하는 단계와, 상기 디코더로 입력된 디지털 데이터에 응답하여, 상기 복수의 아날로그 전압 중 어느 하나의 전압을 앰프부로 출력하는 단계 및 상기 앰프부로부터 출력된 신호의 레벨을 판단하는 단계를 구비하며, 상기 스위치 제어에 의하여, 상기 복수의 신호 경로 중 일부의 신호 경로를 통하여 상기 제1 전압을 갖는 계조 전압을 상기 디코더로 제공하며, 다른 일부의 신호 경로를 통하여 상기 제1 전압과 다른 레벨을 갖는 제2 전압을 상기 디코더로 제공하는 것을 특징으로 한다.
상기한 바와 같은 본 발명에 따르면, 디스플레이 장치용 구동회로를 테스트함에 있어서 저가의 계측기를 이용할 수 있으며, 테스트에 소요되는 시간을 줄일 수 있어 테스트 동작에 소요되는 비용을 절감할 수 있는 효과가 있다.
본 발명과 본 발명의 동작상의 이점 및 본 발명의 실시에 의하여 달성되는 목적을 충분히 이해하기 위해서는 본 발명의 바람직한 실시 예를 예시하는 첨부 도면 및 도면에 기재된 내용을 참조하여야 한다.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예를 설명함으로써, 본 발명을 상세히 설명한다. 각 도면에 제시된 동일한 참조부호는 동일한 부재를 나타낸다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 디스플레이 장치용 구동회로의 구성을 나타내는 블록도이다. 도시된 바와 같이 상기 디스플레이 장치용 구동회로(200)는, 소스 드라이버(220), 계조전압 발생부(230) 및 스위치부(240)를 구비할 수 있다. 비록 도시되지는 않았으나, 디스플레이 장치를 구동하기 위한 기타 다른 구성요소가 상기 디스플레이 장치용 구동회로(200)에 구비될 수 있음은 당업자들에게 자명한 사항이므로, 이에 대한 자세한 도시는 생략하였다.
소스 드라이버(220)는 디코더(223) 및 앰프부(224)를 구비할 수 있다. 디스플레이 장치용 구동회로(200)는 칼라 구현을 위하여 복수의 디지털-아날로그 컨버터(DAC)를 디코더(223) 내부에 구비한다. 디코더(223)는 디지털 데이터 신호(D[1:m])를 입력받으며, 또한 복수의 아날로그 전압 입력단으로 복수의 계조전압들(V<0>, V<1>,...V<63>)을 입력받는다. 또한 디코더(223)는, 입력된 데이터 신호(D[1:m])에 응답하여 상기 복수의 계조전압들(V<0>, V<1>,...V<63>)을 선택적으로 앰프부(224)로 출력한다.
블록으로 도시된 상기 디코더(223)는 복수 개의 디코더로 이루어진다. 디스플레이 장치용 구동회로(200)의 정상 동작시, 상기 복수 개의 디코더 각각은 계조전압 발생부(230)로부터 제공된 복수의 계조전압들(V<0>, V<1>,...V<63>)을 입력받으며, 각각의 디코더는 입력된 복수의 계조전압들(V<0>, V<1>,...V<63>) 중 어느 하나의 계조전압을 선택적으로 출력한다. 64 개의 계조전압들(V<0>, V<1>,...V<63>)을 입력받아 그 중 어느 하나의 계조전압을 출력하는 경우에, 각각의 디코더는 5 비트의 디지털 데이터 신호를 입력받을 수 있다.
한편 앰프부(224)는 복수의 앰프를 구비한다. 상기 복수의 앰프 각각은 복수 개의 디코더의 출력에 각각 연결된다. 각각의 앰프는 이에 대응하는 디코더로부터 출력된 계조전압을 입력받으며, 이를 버퍼링하여 디스플레이 장치(미도시)로 구동전압(Y1 내지 Yn)으로서 제공한다.
계조전압 발생부(230)는 복수의 계조전압들(V<0>, V<1>,...V<63>)을 발생하며, 각각의 신호 경로를 통하여 상기 복수의 계조전압들(V<0>, V<1>,...V<63>)을 디코더(223)로 출력한다. 특히 본 발명의 일실시예에 따르면, 디스플레이 장치용 구동회로(200)의 테스트 동작시에는, 소정의 전원전압 GVDD 와 VGS 값이 동일한 전압레벨을 갖도록 함으로써, 생성된 복수의 계조전압들(V<0>, V<1>,...V<63>)이 모두 갖는 크기의 전압을 갖도록 한다.
한편, 스위치부(240)는 디코더(223)와 계조전압 발생부(230) 사이에 연결된다. 스위치부(240)는 복수 개의 스위치를 구비할 수 있으며, 바람직하게는, 복수의 계조전압들(V<0>, V<1>,...V<63>)을 전달하기 위한 복수의 신호 경로 각각에 대응하여 배치되는 스위치들을 구비할 수 있다. 구동회로(200)의 테스트 동작시에, 스위치부(240)는 제어신호(C0 내지 C63)에 응답하여 스위칭된다. 상기 스위칭 동작에 의하여, 계조전압 발생부(230)로부터 발생된 계조전압(V<0>, V<1>,...V<63>)을 아날로그 전압(V'<0>, V'<1>,...V'<63>)으로서 디코더(223)로 제공하거나, 다른 레벨을 갖는 전압신호를 디코더(223)로 제공한다. 일예로서, 계조전압 발생부(230)로 제공되는 전원전압 GVDD 와 VGS 값이 모두 6V 이고, 다른 레벨을 갖는 전압신호가 접지전압 레벨을 갖는 경우, 상기 각각의 신호 경로를 통하여 디코더(223)로 6V 크기를 갖는 계조전압이 제공되거나 0 V 크기를 갖는 전압이 제공된다. 상기 전원전압 GVDD 와 VGS 의 값이라든지 또는 스위칭 동작에 의하여 디코더(223)로 제공되는 전압신호는 그 레벨을 다른 값으로 조절할 수 있다.
한편, 제어신호 발생부(250)는 소정의 테스트 신호(TEST[0:5])에 응답하여 스위치부(240)를 제어하기 위한 제어신호(C0 내지 C63)를 발생한다. 바람직하게는, 제어신호 발생부(250)는 디지털 신호인 테스트 신호(TEST[0:5])를 디코딩하기 위한 디코더(251)와, 디코더(251)로부터 발생된 신호의 레벨을 변동하기 위한 레벨 쉬프터(252)를 구비할 수 있다.
상기와 같이 구성될 수 있는 디스플레이 장치용 구동회로(200)의 자세한 동작을 도 4를 참조하여 설명한다.
도 4는 도 3에 도시된 디스플레이 장치용 구동회로를 더 자세하게 나타내는 회로도이다.
도시된 바와 같이, 디코더(223)는 소스 드라이버의 채널 수에 해당하는 수의 디코더들(223_1, 223_2,...)을 구비한다. 또한 앰프부(224)는 디코더들(223_1, 223_2,...)에 각각 대응하여 배치되는 복수 개의 앰프들(224_1, 224_2,...)을 구비한다.
디스플레이 장치용 구동회로(200)의 정상 동작시, 디코더들(223_1, 223_2,...) 각각은 계조전압 발생부(230)로부터 발생된 복수의 계조전압들(V<0>, V<1>,...V<63>)을 아날로그 전압들(V'<0>, V'<1>,...V'<63>)로서 입력받는다. 일예로서 디코더들(223_1, 223_2,...) 각각은 64 개의 계조전압들(V<0>, V<1>,...V<63>)을 입력받으며, 5 비트의 데이터 신호(D[0:5])에 응답하여 어느 하나의 계조전압을 출력한다.
한편, 디스플레이 장치용 구동회로(200) 동작의 정상유무를 판별하기 위한 테스트 동작의 일예로서, 계조전압 발생부(230)로부터 발생한 계조전압이 복수의 신호 경로, 디코더(223) 및 앰프부(224)를 거쳐 정상적으로 채널을 통하여 출력되는지를 테스트하게 된다. 본 발명의 일실시예에 따르면, 상기 테스트 동작에 있어서, 계조전압 발생부(230)는 동일한 전압레벨을 갖는 계조전압들(V<0>, V<1>,...V<63>)을 발생한다. 일예로서, 테스트 동작시 계조전압 발생부(230)로 6 V의 전원전압 GVDD, VGS가 제공되고 스위치 SWa가 오프되는 경우, 계조전압 발생부(230)에서 발생되는 계조전압들(V<0>, V<1>,...V<63>)은 모두 6 V의 전압 크기를 갖는다.
한편, 스위치부(240)는 계조전압 발생부(230)와 디코더(223) 사이에 연결되며, 바람직하게는 상기 스위치부(240)는, 계조전압 발생부(230)와 디코더(223) 사이의 전기적 연결을 제어하기 위한 제1 스위치부(SW0 내지 SW63)와, 상기 디코더(223)의 아날로그 전압 입력단과 다른 레벨의 전압과의 연결을 제어하기 위한 제2 스위치부(N0 내지 N63)를 구비할 수 있다. 도 4에는 제2 스위치부(N0 내지 N63)를 구현하기 위한 일예로서 NMOS 트랜지스터를 이용하는 것이 도시되며, 제어신호 발생부(250)는 복수의 제어신호를 발생하여 제2 스위치부(N0 내지 N63)로 제공되는 것이 도시된다. 한편, 도시되지는 않았으나, 제어신호 발생부(250)로부터 발생한 제어신호는 제1 스위치부(SW0 내지 SW63)로도 제공될 수 있다. 또한 상술하였던 바와 같이 제어신호 발생부(250)는 디코더(251) 및 레벨 쉬프터(252)를 구비할 수 있다.
디코더(223)에 의해 선택된 출력전압(Y1 내지 Yn)을 테스트하기 위하여, 복수의 계조전압들(V<0>, V<1>,...V<63>)을 전달하기 위한 복수의 신호 경로가 각각 순차적으로 선택된다. 일예로서, 계조전압 V<0>을 전달하는 신호 경로가 선택되는 경우, 테스트 신호(TEST[0:5])에 응답하여 스위치 SW0가 턴 오프되고 MOS 트랜지스터 N0이 턴온된다. 한편 나머지 스위치 SW1 내지 SW63은 턴 온되고, 나머지 MOS 트랜지스터 N1 내지 N63은 턴 오프된다. 이에 따라 복수의 디코더(223_1, 223_2,...) 각각에 대하여, 계조 전압 V<0>을 전달하는 신호 경로로 0 V의 아날로그 전압 신호(V'<0>)가 입력되며, 계조 전압 V<1> 내지 V<63>을 전달하는 신호 경로로 6 V(V'<1> 내지 V'<63>)의 아날로그 전압 신호가 입력된다.
복수의 디코더(223_1, 223_2,...) 각각은, 0 V의 아날로그 전압 V'<0>과 6 V의 아날로그 전압 V'<1> 내지 V'<63>을 입력받으며, 데이터 신호(D[0:5])에 응답하여 0 V의 아날로그 전압 V'<0>을 선택적으로 출력한다. 출력된 아날로그 전압 V'<0>은 앰프들(224_1, 224_2,...) 각각을 통하여 외부로 출력된다. 즉, 디코더(223_1, 223_2,...) 각각으로 선택된 신호 경로를 통하여 아날로그 전압 0 V가 입력되고 나머지 비선택된 신호 경로를 통하여 아날로그 전압 6 V가 입력되므로, 디코더(223_1, 223_2,...)로 제공되는 아날로그 전압간 전위차를 크게 할 수 있다. 이에 따라 비교기(Comparator)를 실장하는 테스터(TESTER)를 디스플레이 장치용 구동회로(200)에 연결함으로써 출력전압에 대한 테스트를 수행할 수 있으므로, 상기 테스터(TESTER)를 저가로 구현할 수 있다.
이후, 계조전압 V<1>을 전달하는 신호 경로가 순차적으로 선택되어, 상술하 였던 바와 같은 스위치 제어에 의하여, 디코더(223_1, 223_2,...) 각각으로 제공되는 아날로그 전압 V'<1>이 0 V 가 되도록 하고, 나머지 아날로그 전압 V'<0>, V'<2> 내지 V'<63>이 6 V 가 되도록 한다. 디코더(223_1, 223_2,...)는 입력된 아날로그 전압들(V'<0> 내지 V'<63>) 중 데이터 신호(D[0:5])에 응답하여 아날로그 전압 V'<1>을 선택적으로 출력한다. 외부의 테스터(TESTER)는 선택적으로 출력된 아날로그 전압 V'<1>의 레벨을 판단한다. 상기와 같은 테스트 동작은 이후 계조전압 V<2> 내지 V<63>을 전달하는 신호 경로에 대해 동일한 방식으로 수행된다.
상기와 같은 방식에 따른 테스트 동작의 경우, 디코더(223)로 제공되는 아날로그 전압(V'<0> 내지 V'<63>)간의 전위차를 기존 대비 매우 크게할 수 있다(수 mV -> 수 V). 이에 따라 디스플레이 장치용 구동회로(200)를 테스트하기 위한 테스터(TESTER)를 저가의 비교기(Comparator)로 구현할 수 있다. 또한, 아날로그 전압이 포화(Saturation)되기까지 기다려야 하는 시간을 줄일 수 있으며, 디스플레이 장치용 구동회로(200)의 채널 각각에 대응하여 비교기를 배치함으로써 모든 채널에 대한 테스트를 동시에 수행할 수 있으므로 테스트에 소요되는 시간을 감소시킬 수 있다. 또한, 아날로그 전압(V'<0> 내지 V'<63>)간의 전위차를 기존 대비 매우 커지므로, 복수의 신호 경로 사이의 마이크로 브릿지 같은 공정불량을 효과적으로 검출할 수 있다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 디스플레이 장치용 구동회로의 테스트 동작을 나타내는 블록도이다. 디스플레이 장치용 구동회로(200)에 구비되는 소스 드라이버(220)는 복수의 채널(일예로서 SOUT0 내지 SOUT719)을 통하여 아날로그 전압 을 출력한다. 한편 디스플레이 장치용 구동회로(200)의 테스트 동작시에 테스터(300, TESTER)를 소스 드라이버(220)의 복수의 채널(SOUT0 내지 SOUT719)에 연결시킨다. 상술하였던 바와 같이 본 발명의 일실시예에 따른 디스플레이 장치용 구동회로(200)를 테스트하기 위하여, 저가의 비교기(Comparator)로 구현된 테스터(300)를 사용할 수 있다. 테스터(300)에 구비되는 복수의 비교기 각각은 소스 드라이버(220)의 복수의 채널(SOUT0 내지 SOUT719) 각각에 대응하며, 채널 각각으로부터 제공되는 아날로그 신호의 로직 하이 또는 로직 로우를 판단하고 이에 따른 신호를 출력한다. 상기 비교기의 출력 신호를 판단함으로써 디스플레이 장치용 구동회로(200)의 테스트 동작을 수행할 수 있다.
본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 다른 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의하여 정해져야 할 것이다.
도 1은 일반적인 디스플레이 장치용 구동회로의 구성을 나타내는 블록도이다.
도 2는 도 1의 디스플레이 장치용 구동회로의 일부를 더 자세하게 나타내기 위한 회로도이다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 디스플레이 장치용 구동회로의 구성을 나타내는 블록도이다.
도 4는 도 3에 도시된 디스플레이 장치용 구동회로를 더 자세하게 나타내는 회로도이다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 디스플레이 장치용 구동회로의 테스트 동작을 나타내는 블록도이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *
200: 디스플레이 장치용 구동회로
220: 소스 드라이버 223: 디코더
224: 앰프부 230: 계조전압 발생부
240: 스위치부 250: 제어신호 발생부
251: 디코더 252: 레벨 쉬프터

Claims (12)

  1. 데이터 신호 및 복수의 계조전압들을 입력받으며, 상기 데이터 신호에 응답하여 상기 계조전압들을 선택적으로 출력하는 디코더;
    상기 디코더로부터 출력된 계조전압을 입력받아 패널을 구동하기 위한 구동전압을 발생하는 앰프부;
    상기 복수의 계조전압들을 발생하여 각각의 신호 경로를 통하여 출력하는 계조전압 발생부; 및
    상기 디코더와 상기 계조전압 발생부 사이에 배치되며, 테스트 동작시, 상기 각각의 신호 경로를 통하여 상기 디코더로 제공되는 전압의 레벨을 변동시키기 위한 스위치부를 구비하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치용 구동 집적회로.
  2. 제1항에 있어서,
    테스트 동작시, 상기 복수의 계조전압들은 서로 동일한 제1 전압을 갖는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치용 구동 집적회로.
  3. 제2항에 있어서, 상기 스위치부는,
    상기 신호 경로 각각에 대응하여 배치되는 스위치를 구비하며,
    테스트 동작시 상기 각각의 스위치는, 상기 제1 전압을 갖는 계조 전압을 상기 디코더로 제공하거나, 상기 제1 전압과 다른 레벨을 갖는 제2 전압을 상기 디코 더로 제공하도록 제어하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치용 구동 집적회로.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 제2 전압은 접지전압인 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치용 구동 집적회로.
  5. 제3항에 있어서, 상기 스위치부는,
    테스트 동작시, 어느 하나의 신호 경로를 통하여 상기 디코더로 제2 전압을 제공하며, 나머지 신호 경로를 통하여 상기 디코더로 제1 전압을 제공하도록 스위칭되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치용 구동 집적회로.
  6. 제2항에 있어서, 상기 스위치부는,
    상기 제1 전압을 갖는 계조 전압이 상기 디코더로 제공되도록 하거나 제공을 차단하도록 제어하는 제1 스위치부; 및
    상기 제1 전압과 서로 다른 레벨을 갖는 제2 전압이 상기 디코더로 제공되도록 하거나 제공을 차단하도록 제어하는 제2 스위치부를 구비하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치용 구동 집적회로.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 각각의 신호 경로가 순차적으로 선택되도록 하기 위하여, 복수의 제어 신호를 발생하여 상기 스위치부로 제공하는 제어신호 발생부를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치용 구동 집적회로.
  8. 제7항에 있어서, 상기 제어신호 발생부는,
    테스트 동작시, 선택된 신호 경로를 통하여 상기 디코더로 상기 제2 전압이 제공되고, 비선택된 신호 경로를 통하여 상기 디코더로 상기 제1 전압이 제공되도록 상기 스위치부를 제어하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치용 구동 집적회로.
  9. 디스플레이 장치용 구동 집적회로를 테스트하는 방법에 있어서,
    계조전압 발생부로부터 서로 동일한 제1 전압을 갖는 복수의 계조 전압을 발생하는 단계;
    상기 계조전압 발생부와 디코더 사이에 배치되는 스위치를 제어하는 단계;
    복수의 신호 경로를 통하여 상기 디코더로 복수의 아날로그 전압을 제공하는 단계;
    상기 디코더로 입력된 디지털 데이터에 응답하여, 상기 복수의 아날로그 전압 중 어느 하나의 전압을 앰프부로 출력하는 단계; 및
    상기 앰프부로부터 출력된 신호의 레벨을 판단하는 단계를 구비하며,
    상기 스위치 제어에 의하여, 상기 복수의 신호 경로 중 일부의 신호 경로를 통하여 상기 제1 전압을 갖는 계조 전압을 상기 디코더로 제공하며, 다른 일부의 신호 경로를 통하여 상기 제1 전압과 다른 레벨을 갖는 제2 전압을 상기 디코더로 제공하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치용 구동 집적회로의 테스트 방법.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 복수의 신호 경로 중, 어느 하나의 선택된 신호 경로를 통하여 상기 제2 전압을 상기 디코더로 제공하고, 나머지 비선택된 신호 경로를 통하여 상기 제1 전압을 상기 디코더로 제공하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치용 구동 집적회로의 테스트 방법.
  11. 제9항에 있어서,
    상기 구동 집적회로에 구비되는 모든 채널에 대하여 상기 테스트 동작을 동시에 수행하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치용 구동 집적회로의 테스트 방법.
  12. 제9항에 있어서,
    상기 앰프부로부터 출력된 신호는 복수 개의 비교기를 구비하는 테스터에 의해 그 레벨이 판단되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치용 구동 집적회로의 테스트 방법.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101876678A (zh) * 2009-04-30 2010-11-03 三星移动显示器株式会社 单片测试装置和使用单片测试装置进行测试的方法
US11231468B2 (en) * 2019-03-07 2022-01-25 Wistron Corp. Inspection apparatus and inspection method thereof

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101876678A (zh) * 2009-04-30 2010-11-03 三星移动显示器株式会社 单片测试装置和使用单片测试装置进行测试的方法
KR101065416B1 (ko) * 2009-04-30 2011-09-16 삼성모바일디스플레이주식회사 원장 검사 장치 및 그 검사 방법
US8294470B2 (en) 2009-04-30 2012-10-23 Samsung Display Co., Ltd. One sheet test device and method of testing using the same
US11231468B2 (en) * 2019-03-07 2022-01-25 Wistron Corp. Inspection apparatus and inspection method thereof

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