EP1225559A2 - Treiberschaltung für Anzeigevorrichtung - Google Patents

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EP1225559A2
EP1225559A2 EP02100001A EP02100001A EP1225559A2 EP 1225559 A2 EP1225559 A2 EP 1225559A2 EP 02100001 A EP02100001 A EP 02100001A EP 02100001 A EP02100001 A EP 02100001A EP 1225559 A2 EP1225559 A2 EP 1225559A2
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EP
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lines
switching device
voltage
driver circuit
test
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Withdrawn
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EP02100001A
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Guido c/o Philips Corp. Int. Prop. GmbH Plangger
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Original Assignee
Philips Corporate Intellectual Property GmbH
NXP BV
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    • Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S345/00—Computer graphics processing and selective visual display systems
    • Y10S345/904—Display with fail/safe testing feature

Definitions

  • the invention relates to an arrangement for controlling display devices and a Display device with a driver circuit.
  • the invention further relates to a Method for testing driver circuits.
  • the display technology will always play an important role in the next few years Information and communication technology too.
  • the display device As an interface between people and In the digital world, the display device is of central importance for acceptance modern information systems.
  • portable devices such as notebooks, Phones, digital cameras, Personal Digital Assistant (PDA) are without the use of Flat displays cannot be realized.
  • PDA Personal Digital Assistant
  • the active matrix displays are of particular importance because this display device rapid image changes, e.g. the representation of a mouse pointer, are realizable.
  • this active matrix LCD technology the pixels or pixels actively controlled.
  • TFT-LCD Thin film transistors
  • Transistors made of silicon allow the are integrated directly into each pixel, storing the image signals in the pixel.
  • Control voltages over a wide voltage range it is necessary to differentiate the displays or display devices accordingly Control voltages over a wide voltage range. For this control of the Display devices or displays use driver circuits.
  • TFT displays typically consist of a glass with after externally routed connections to which driver circuits are connected.
  • This Driver circuits convert the image signals that are to be shown on a display.
  • the image information is stored in memories as digital signals.
  • This digital Signals must be converted into analog signals, so that by means of an analog Voltage a corresponding light intensity can be displayed.
  • the one for this Conversion required digital-to-analog converters must convert digital signals into voltages convert that go over a range from less than 20 mV to more than 10 V.
  • Display units are sold as modules that result from the active matrix TFT displays and assemble the driver circuit.
  • the quality of the driver ICs comes one special meaning too. Since these driver circuits have several hundred connections to the Need to drive the display device, it is very expensive to this driver circuit testing.
  • the test procedure for these driver circuits has a decisive influence on the quality of the display device and thus also on the price of the end devices. Therefore the test time should be as short as possible.
  • Elaborate precision measuring devices for the Testing also have a negative impact on the price of end products. Only with one very high quality of each driver circuit can produce high yields of Display modules and therefore low costs for the end products.
  • driver circuits mainly consist of a large number of digital-to-analog converters exist, the quality of these devices can only be guaranteed if these digital-to-analog converters be seriously tested. Due to the digital-analog conversion of the digital Image signals can be standard test methods for digital logic for this driver circuit do not apply. Because there are many different voltage values over a wide range must be generated and tested, a test for the driver circuits is very complex.
  • a driver circuit contains 64 lines on which Analog voltages are present and 400 output stages, which means at least 25,600 individual analog voltage values would have to be tested.
  • a test of every single analog voltage value takes a lot of time because Every single value must be programmed and checked directly. Each selectable Analog voltage must be checked at each output of the driver circuit. The height The number of outputs of such a driver circuit requires a simultaneous one parallel measurement of possibly 400 and more analog outputs. The measurement of many analog outputs with an accuracy of 0.2% of the total Voltage range requires very expensive test equipment. Such a functional test leads to very high test costs and is reflected in a very long test time. at Functional tests, such as the one just described, can also occur errors in the Manufacture of the wafers arise that are not detected or only for unreliable detection can.
  • Critical defects such as leakage currents between the lines that the analog Live voltages and the output lines can only be detected if the a digital-to-analog converter for the M line carries a voltage that is very different from that Output line voltage deviates. So-called functional tests are known not as meaningful as test procedures and arrangements where defect-oriented Is tested.
  • the object of the invention is therefore to provide a driver circuit which is within short time and with a very high error coverage.
  • an arrangement for controlling display devices is provided with M lines with at least one multiplexing device and are coupled to a first switching device which interrupts a voltage supply to the M lines and with at least one to the M lines coupled second switching device by means of which at least one of the M lines a definable potential can be switched.
  • a first switching device is inserted into the M lines.
  • This first switching device interrupts the voltage supply, so that a voltage already present there is no longer driven and is held until possible leakage currents or parasitic capacities result in a discharge.
  • the analog voltages on the M lines can be selected via multiplex devices.
  • the multiplexing devices are controlled by digital signals. By means of these digital signals that the contain the image information to be displayed, which acts as an ideal switch Multiplexing device influences such that a selected voltage on the M lines is switched through to an output N.
  • a second switching device is provided, by means of which the voltage selected by the multiplex device can be switched to a selectable test reference potential.
  • This selectable or definable test reference potential is preferably provided as a mass.
  • This second switching device connects the voltage switched through by the multiplexing device with a definable test reference potential.
  • the M lines are coupled to A N output stages.
  • This amplifier with adjustable gain factor is designed with high impedance on the input side, which makes it possible to drive the corresponding output with the appropriate strength.
  • the second switching device is preferably arranged in at least one output stage. This ensures that the existing multiplexing devices are used effectively.
  • the first switching device is such executed, which enables a separate interruption of the M lines Another degree of freedom introduced in the test.
  • Leakage currents can be between the driver circuit according to the invention Detect individual lines of the M lines. A wrong selection of the Multiplex devices can be detected, for example if line M1 is selected, although M2 was selected.
  • the M-lines are driven with a voltage that, for example represents digital signal 1.
  • the M lines of the power supply is disconnected and set to a tri-state.
  • the second switching device By arranging the second switching device in at least some of the output stages it is possible to connect all M lines to a test reference potential one after the other turn. After the first switching device has been opened, the M lines remain their voltage value for a period of time until internal parasitic capacities discharge entail. Accordingly, the same voltage value is at the output N for this time measurable, as on line M. By now closing all the second ones Switching devices it is possible to connect at least some of the M lines to that Switch the test reference potential and check which of the M lines on the M lines be switched to zero. If there is a leakage current between one at the test reference potential switched line and a non-driven line M, the non-driven line M also switched to the test reference potential.
  • these driver circuits are in one Test mode
  • the M lines are all interconnected and with a common one same tension. After a voltage builds up on these lines the first switching device is opened and all lines carry the same voltage.
  • the advantage of this arrangement according to the invention is that the driver circuit for one Display device can be tested almost exclusively digitally, which increases the test time significantly decreased. At the same time, you need much simpler for a digital test Test and measurement devices as for analog measurements. Leave on the basis of the digital test signal very many test states are realized, which means that very high error coverage can be achieved is. Due to the digital nature of the test method, the whole test setup is very robust against interference from electromagnetic radiation.
  • the object is also achieved by a display device with a driver circuit, in which the N outputs of the driver circuit with N terminals of the display device are connected.
  • the task is also achieved by a method for testing driver circuits solved, in which the driver circuit at least one voltage on M lines is fed and in which the M lines are coupled to a first switching device and by means of the first switching device the voltage supply to the M lines is interrupted and in which with at least one multiplex device with the M Lines is coupled, one of the M lines is selected, and in which one second switching devices to the supplied voltage on the selected line Test reference potential is switched.
  • Fig. 1 shows the M lines, which can also be understood as a voltage bus.
  • the M lines in a 6 bit D / A converter usually include 64 individual lines.
  • the M lines are coupled to the first switching device 2.
  • This first switching device 2 enables the voltage supply to the M lines to be interrupted.
  • N output stages A N are connected to these M lines, each output stage A N being connected to at least some of the M lines.
  • All M lines are connected to each output stage A N , since each connection of a display device must be supplied with every voltage in order to display image information in the corresponding display area.
  • Multiplexers 4 are present in the output stages A N. These multiplexing devices 4 are provided for the selection of one of the applied voltages which are supplied via the M lines.
  • the multiplexing devices 4 are coupled to an amplifier 5, which forwards the selected voltage to the output N.
  • a second switching device 3 is provided in at least one output stage A N. This second switching device 3 is provided to switch the potential connected through to the output stage A N to a test reference potential.
  • This second switching device 3 can also be arranged in all output stages A N. It is also conceivable for the second switching devices 3 to switch to different test reference potentials in the output stages A N.
  • the second switching devices can also be arranged outside the output stages.
  • the multiplexing devices 4 can also be arranged outside the output stages.
  • the lines M 1 to M i are supplied with one or more voltages by a voltage generator 7. These lines M 1 to M i are supplied to all output stages A 1 to A N. These lines M 1 to M i are each fed to the multiplexing devices 4 in the output stages. Depending on a digital signal E 1 to E N, these multiplexing devices 4 connect a corresponding voltage to the output stage A N.
  • the first switching device 2 is able to interrupt the lines M 1 to M i separately from one another. If necessary, it is also able to connect the lines M 1 to M i with one another and thus to enable all lines M 1 to M i to be supplied with a voltage.
  • FIG. 3 shows an active matrix TFT display, which typically consists of a display glass 10 exists, with leads 13 led out.
  • the source drivers 11 and gate drivers 12 control each of the connections 13.
  • the source drivers 11 typically have several hundred outputs, by means of which on the connections 13 on the display 10 analog voltage value is set.

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Abstract

Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Ansteuerung von Anzeigevorrichtungen und eine Anzeigevorrichtung rnit einer Treiberschaltung. Des weiteren betrifft die Erfindung ein Verfahren zum Testen von Treiberschaltungen. Derartige Treiberschaltungen haben entschiedenen Einfluss auf die Qualität der Anzeigevorrichtungen. Deshalb muss, um die Qualität sicherzustellen, die Treiberschaltung umfassend gestestet werden, mit möglichst geringer Testzeit und geringem Aufwand. Um einen derartigen Test zu ermöglichen ist eine Anordnung zur Ansteuerung von Anzeigevorrichtungen vorgesehen, mit M Leitungen die mit A N Ausgangsstufen gekoppelt sind, die wenigstens eine Multiplexeinrichtung (4) und wenigstens eine Verstärkereinheit (5) enthalten und die M Leitungen an eine erste Schaltvorrichtung (2) gekoppelt sind, die ein Unterbrechen einer Spannungszufuhr zu den M Leitungen ermöglicht und in wenigstens einer Ausgangsstufe (A N ) eine zweite Schaltvorrichtung (3) vorgesehen ist, um die Ausgangsstufe (A N ) auf ein festlegbares Potential zu schalten. Dadurch wird ein Test ermöglicht der digital durchführbar ist.

Description

Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Ansteuerung von Anzeigevorrichtungen und eine Anzeigevorrichtung mit einer Treiberschaltung. Des weiteren betrifft die Erfindung ein Verfahren zum Testen von Treiberschaltungen.
Der Displaytechnik kommt in den nächsten Jahren eine immer wichtige Rolle in der Informations- und Kommunikationstechnik zu. Als Schnittstelle zwischen Mensch und digitaler Welt besitzt die Anzeigevorrichtung eine zentrale Bedeutung für die Akzeptanz moderner Informationssysteme. Insbesondere transportable Geräte wie z.B. Notebooks, Telefone, Digitalkameras, Personal Digital Assistent (PDA) sind ohne den Einsatz von Flachdisplays nicht realisierbar.
Dabei kommt den Aktiv-Matrix-Displays eine ganz besondere Bedeutung zu, da mittels dieser Anzeigevorrichtung schnelle Bildänderungen, z.B. die Darstellung eines Mousezeigers, realisierbar sind. Bei dieser Aktiv Matrix LCD-Technik werden die Bildpunkte oder Pixel aktiv angesteuert. Die dabei am häufigsten eingesetzte Variante arbeitet mit Dünnschichttransistoren (TFT-LCD). Dabei ermöglichen Transistoren aus Silizium, die direkt in jeden Bildpunkt integriert sind, das Speichern der Bildsignale im Bildpunkt. Um unterschiedliche Graustufen bzw. Farben bei der Anzeige von Informationen zu realisieren, ist es erforderlich die Displays oder Anzeigevorrichtungen mit entsprechend unterschiedichen Spannungen über einen großen Spannungsbereich anzusteuern. Für diese Ansteuerung der Anzeigevorrichtung oder Displays werden Treiberschaltungen verwendet.
Aktiv-Matrix-Display (TFT-Displays) bestehen typischerweise aus einem Glas mit nach außen geführten Anschlüssen, an die Treiberschaltungen angeschlossen sind. Diese Treiberschaltungen wandeln die Bildsignale, die auf einem Display dargestellt werden sollen. Die Bildinformationen sind in Speichern als digitale Signale gespeichert. Diese digitalen Signale müssen in analoge Signale umgewandelt werden, so dass mittels einer analogen Spannung eine entsprechende Lichtstärke zur Anzeige gebracht werden kann. Die für diese Wandlung erforderlichen Digital-Analog-Konverter müssen digitale Signale in Spannungen umwandeln, die über einen Bereich von weniger als 20 mV bis zu mehr als 10 V gehen.
Anzeigeeinheiten werden als Module verkauft, die sich aus dem Aktiv-Matrix TFT-Displays und der Treiberschaltung zusammensetzen. Der Qualität der Treiber-IC's kommt dabei eine besondere Bedeutung zu. Da diese Treiberschaltungen mehrere hundert Anschlüsse der Anzeigevorrichtung treiben müssen, ist es sehr aufwendig diesen Treiber- Schaltkreis zu testen. Der Testvorgang für diese Treiberschaltungen hat einen entscheidenden Einfluss auf die Qualität der Anzeigevorrichtung und somit auch auf den Preis der Endgeräte. Deshalb sollte die Testzeit so niedrig wie möglich sein. Aufwendige Präzisionsmessgeräte für den Testvorgang wirken sich ebenfalls negativ auf den Preis der Endprodukte aus Nur mit einer sehr hohen Qualität jedes einzelnen Treiberschaltkreises können hohe Ausbeuten von Anzeigemodulen und deshalb auch niedrige Kosten bei den Endprodukten erreicht werden.
Da Treiberschaltkreise hauptsächlich aus einer großen Anzahl von Digital-Analog-Konvertern bestehen, kann die Qualität dieser Geräte nur garantiert werden, wenn diese Digital-Analog-Konverter ernsthaft getestet werden. Aufgrund der Digital-Analog Wandlung der digitalen Bildsignale lassen sich Standardtestmethoden für digitale Logik für diese Treiberschaltung nicht anwenden. Da sehr viele unterschiedliche Spannungswerte über einen großen Bereich erzeugt und getestet werden müssen, ist ein Test für die Treiberschaltkreise sehr aufwendig.
Einem Treiberschaltkreis werden typischerweise mehrere analoge Spannungen zugeführt, aus denen Auswahleinheiten Spannungen in Abhängigkeit von den digitalen Bildsignalen auswählen, die dann zu einem entsprechenden Ausgang des Treiberschaltkreises durchgeschaltet und verstärkt werden. Bspw. enthält ein Treiberschaltkreis 64 Leitungen auf denen analoge Spannungen anliegen und 400 Ausgangsstufen, wodurch wenigstens 25.600 einzelne analoge Spannungswerte getestet werden müssten.
Ein Test jedes einzelnen analogen Spannungswertes nimmt sehr viel Zeit in Anspruch, da jeder einzelne Wert programmiert und direkt überprüft werden muss Jede auswählbare analoge Spannung muss an jedem Ausgang der Treiberschaltung überprüft werden. Die hohe Anzahl von Ausgängen eines derartigen Treiberschaltkreises erfordert eine gleichzeitige parallele Messung von möglicherweise 400 und mehr analogen Ausgängen. Die Messung von vielen analogen Ausgängen mit einer Genauigkeit von 0,2 % des gesamten Spannungsbereichs erfordert sehr teures Testequipment. Ein derartiger funktioneller Test führt zu sehr hohen Testkosten und schlägt sich in einer sehr langen Testzeit nieder. Bei funktionellen Tests, wie dem eben beschriebenen, können auch Fehler auftreten, die bei der Herstellung der Wafer entstehen, die nicht oder nur zur unzuverlässig detektiert werden können. Kritische Defekte, wie bspw. Leckströme zwischen den Leitungen, die die analogen Spannungen führen und den Ausgangsleitungen können nur detektiert werden, wenn der eine Digital-Analog-Konverter für die M-Leitung eine Spannung führt, die sehr stark von der Spannung der Ausgangsleitung abweicht. Sogenannte funktionelle Tests sind bekannterweise nicht so aussagekräftig wie Testverfahren und -anordnungen, bei denen defektorientiert getestet wird.
Aufgabe der Erfindung ist es deshalb eine Treiberschaltung bereit zu stellen, die innerhalb kurzer Zeit und mit sehr hoher Fehlerabdeckung zu testen ist.
Diese Aufgabe wird dadurch gelöst, dass eine Anordnung zur Ansteuerung von Anzeigevorrichtungen mit M Leitungen vorgesehen ist, die mit wenigstens einer Multiplexeinrichtung und an eine erste Schaltvorrichtung gekoppelt sind, die ein Unterbrechen einer Spannungszufuhr zu den M Leitungen ermöglicht und mit wenigstens einer an die M Leitungen gekoppelten zweiten Schaltvorrichtung mittels derer wenigstens eine der M Leitungen auf ein festlegbares Potential schaltbar ist.
Grundlegender Gedanke diese erfindungsgemäßen Anordnung ist ein defektorientierter Test und ein dafür ausgerichtetes Verfahren. Mittels zusätzlicher Testhardware, die der Ansteuervorrichtung oder Treiberschaltung zugefügt wird, ist es möglich, den Bedarf von sehr vielen einzelnen analogen Messungen Zu vermeiden, wobei die Fehlerabdeckung jedoch gleich hoch bleibt und sogar verbessert wird.
Dazu wird in die M-Leitungen eine erste Schaltvorrichtung eingefügt. Diese erste Schaltvorrichtung unterbricht die Spannungszufuhr, so dass eine bereits dort anliegende Spannung nicht mehr getrieben wird und so lange gehalten wird, bis mögliche Leckströme oder parasitären Kapazitäten eine Entladung nach sich ziehen. Die analogen Spannungen auf den M-Leitungen sind über Multiplexeinrichtungen auswählbar. Die Multiplexeinrichtungen werden von digitalen Signalen angesteuert. Mittels dieser digitalen Signale, die die darzustellende Bildinformation enthalten, wird die als idealer Schalter fungierende Multiplexeinrichtung derart beeinflusst, dass eine ausgewählte Spannung auf den M-Leitungen zu einem Ausgang N durchgeschaltet wird.
Erfindungsgemäß ist eine zweite Schaltvorrichtung vorgesehen, mittels derer die durch die Multiplexeinrichtung ausgewählte Spannung auf ein auswählbares Testbezugspotential schaltbar ist. Dieses auswählbare oder festlegbare Testbezugspotential ist vorzugsweise als Masse vorgesehen. Diese zweite Schaltvorrichtung verbindet die von der Multiplexeinrichtung durchgeschaltete Spannung mit einem festlegbaren Testbezugspotential. Mittels dieser zweiten Schaltvorrichtung ist es möglich, die nach dem Öffnen der ersten Schaltvorrichtung nicht mehr getriebenen M-Leitungen durch Steuerung der Multiplexeinrichtung zu der zweiten Schaltvorrichtung durchzuschalten, die die somit ausgewählte Leitung M auf ein festgelegtes Potential schaltet. Dieses Potential stellt sich im Normalfall auf der ausgewählten Leitung ein und lässt sich einfach und unaufwendig überwachen. Liegt dieses festgelegte Potential nicht auf der ausgewählten Leitung an, ist von einer fehlerhafter Treiberschaltung auszugehen. Dadurch ist ein einfaches Testen auf die Funktionsfähigkeit der Treiberschaltung möglich. Mögliche Leckströme zwischen unterschiedlichen M-Leitungen können einfach detektiert werden, da bei Auswahl einer speziellen Leitung MI und deren Durchschalten auf die zweite Schaltvorrichtung bei Vorliegen eines Leckstromes, dieser Leckstrom über die zweite Leitung abfließen könnte, so dass beim Überwachen des Ausgangs N oder der ausgewählten Leitung MI und der mit dieser fehlerhaft verbundene weiteren Leitung nicht der erforderliche Pegel anliegen würde.
In einer bevorzugten Ausführungsform der erfinderischen Ansteuerungsschaltung sind die M Leitungen mit AN Ausgangsstufen gekoppelt. In den Ausgangsstufen AN befindet sich neben der Multiplexeinrichtung auch eine Verstärkereinheit. Dieser Verstärker mit einstellbarem Verstärkungsfaktor ist hochohmig auf der Eingangsseite ausgelegt, wodurch es ermöglicht wird, den entsprechenden Ausgang mit entsprechender Stärke zu treiben. Die zweite Schaltvorrichtung ist vorzugsweise in wenigstens einer Ausgangsstufe angeordnet. Dadurch erreicht man, dass die vorhandenen Multiplexeinrichtungen effektiv genutzt werden.
In einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung ist die erste Schaltvorrichtung derart ausgeführt, das ein separates Unterbrechen der M Leitungen ermöglicht wird Dadurch wird beim Test ein weiterer Freiheitsgrad eingeführt.
Es lassen sich mittels der erfindungsgemäßen Treiberschaltung Leckströme zwischen einzelnen Leitungen der M-Leitungen detektieren. Ebenso ist eine Fehlauswahl der Multiplexeinrichtungen detektierbar, bspw. wenn vorgesehen ist, Leitung M1 auszuwählen, obwohl M2 ausgewählt wurde.
Bei einem zu hohen Durchgangswiderstand eines Schalters in der Multiplexeinrichtung, lässt sich ebenso feststellen, dass die Spannung der Leitung M nicht oder mit Verzögerung durchgeschaltet wird. Weiterhin lassen sich Leckströme zwischen einer M-Leitung und einem Ausgang N detektieren. Dabei erweist sich ein Test insofern als schwierig, da der Leckstrom nur dann auftritt, wenn die entsprechende Multiplexeinrichtung auch die entsprechende M-Leitung ausgewählt hat. Mittels dieser zusätzlichen Tests ist eine erhöhte Testabdeckung möglich.
Erfindungsgemäß werden die M-Leitungen mit einer Spannung getrieben, die bspw. ein digitales Signal 1 darstellt. Mittels der ersten Schaltvorrichtung werden die M-Leitungen von der Spannungsversorgung getrennt und in einen Tristate-Zustand versetzt.
Durch die Anordnung der zweiten Schaltvorrichtung in wenigstens einigen der Ausgangsstufen wird es ermöglicht, alle M-Leitungen der Reihe nach auf ein Testbezugspotential zu schalten. Nachdem die erste Schaltvorrichtung geöffnet wurde, behalten die M-Leitungen ihren Spannungswert für eine gewisse Zeit bis interne parasitäre Kapazitäten eine Entladung nach sich ziehen. Demzufolge ist am Ausgang N für diese Zeit der gleiche Spannungswert messbar, wie auf der Leitung M. Durch das nun folgende Schließen aller zweiten Schaltvorrichtungen ist es möglich, wenigstens einige die M-Leitungen auf das Testbezugspotential zu schalten und an den M-Leitungen zu kontrollieren, welche der M-Leitungen auf Null geschaltet werden. Falls ein Leckstrom zwischen einer auf das Testbezugspotential geschalteten Leitung und einer nichtgetriebenen Leitung M existiert, wird die nichtgetriebene Leitung M auch auf das Testbezugspotential geschaltet.
In einer vorzugsweisen Anordnung zum Testen dieser Treiberschaltungen werden in einem Testmodus die M-Leitungen alle miteinander verbunden und mit einer gemeinsamen gleichen Spannung getrieben. Nachdem sich eine Spannung auf diesen Leitungen aufgebaut hat, wird die erste Schaltvorrichtung geöffnet und alle Leitungen führen die selbe Spannung. In den Ausgangsstufen in denen keine zweiten Schaltvorrichtungen angeordnet sind, lässt sich am Ausgang N die auf den M-Leitungen eingestellte Spannung überprüfen. An den Ausgängen N der Ausgangsstufen in denen die zweiten Schaltvorrichtungen vorhanden sind und in denen die zweiten Schaltvorrichtungen geschlossen sind, lässt sich überprüfen, ob die Ausgänge auf das Testbezugspotential geschaltet sind oder nicht. Gleichzeitig lässt sich an den übrigen nicht mit zweiten Schaltvorrichtungen versehenen Ausgangsstufen überprüfen, ob auch von diesen Ausgangsstufen die Ausgänge auf das Testbezugspotential geschaltet werden. Daraus kann man ableiten, dass zwischen entsprechend ausgewählten Leitungen M ein Kurzschluss vorherrschen könnte.
Vorteil dieser erfindungsgemäßen Anordnung ist, dass die Treiberschaltung für eine Anzeigeeinrichtung fast ausschließlich digital getestet werden kann, wodurch sich die Testzeit signifikant verringert. Gleichzeitig benötigt man für einen digitalen Test weitaus einfachere Test- und Messgeräte als für analoge Messungen. Aufgrund des digitalen Testsignals lassen sich sehr viele Testzustände realisieren, wodurch eine sehr hohe Fehlerabdeckung erreichbar ist. Aufgrund des digitalen Charakters der Testmethode ist die ganze Testanordnung sehr robust gegen Störungen durch elektromagnetische Einstrahlung.
Die Aufgabe wird ebenfalls durch eine Anzeigevorrichtung mit einer Treiberschaltung gelöst, bei der die N-Ausgänge der Treiberschaltung mit N Anschlüssen der Anzeigevorrichtung verbunden sind.
Des weiteren wird die Aufgabe auch durch ein Verfahren zum Testen von Treiberschaltungen gelöst, bei dem der Treiberschaltung wenigstens eine Spannung auf M Leitungen zugerührt wird und bei dem die M Leitungen mit einer ersten Schaltvorrichtung gekoppelt werden und mittels der ersten Schaltvorrichtung die Spannungszufuhr zu den M Leitungen unterbrochen wird und bei dem mit wenigstens einer Multiplexeinrichtung die mit den M Leitungen gekoppelt ist, eine der M Leitungen ausgewählt wird, und bei dem mit einer zweiten Schaltvorrichtungen die zugeführte Spannung auf der ausgewählten Leitung auf ein Testbezugspotential geschaltet wird.
Die Erfindung wird nun anhand von in den Zeichnungen dargestellten Ausführungsbeispielen näher beschrieben und erläutert.
Es zeigen:
Fig. 1
eine Prinzipschaltung einer erfindungsgemäßen Treiberschaltung.
Fig.2
eine detaillierte Schaltungsanordnung einer erfindungsgemäßen Treiberschaltung
Fig.3
eine Anordnung zum Treiben einer Anzeigevorrichtung.
Fig. 1 zeigt die M-Leitungen, die auch als Spannungsbus verstanden werden können. Dabei umfassen die M-Leitungen bei einem 6 Bit D/A Wandler in der Regel 64 einzelne Leitungen. Die M-Leitungen sind mit der ersten Schaltvorrichtung 2 gekoppelt. Diese erste Schaltvorrichtung 2 ermöglicht ein Unterbrechen der Spannungszufuhr zu den M-Leitungen. An diese M-Leitungen sind N Ausgangsstufen AN angeschlossen, wobei jede Ausgangsstufe AN mit wenigstens einem Teil der M-Leitungen verbunden ist. In der Regel sind jedoch alle M-Leitungen mit jeder Ausgangsstufe AN verbunden, da jeder Anschluss einer Anzeigevorrichtung mit jeder Spannung versorgt werden muss, um in dem entsprechenden Anzeigenbereich eine Bildinformation darzustellen. In den Ausgangstufen AN sind jeweils Multiplexeinrichtungen 4 vorhanden. Diese Multiplexeinrichtungen 4 sind zur Auswahl einer der anliegenden Spannungen, die über die M-Leitungen zugeführt werden, vorgesehen. Die Multiplexeinrichtungen 4 sind mit einem Verstärker 5 gekoppelt, der die ausgewählte Spannung an den Ausgang N weiterleitet. In wenigstens einer Ausgangsstufe AN ist eine zweite Schaltvorrichtung 3 vorgesehen. Diese zweite Schaltvorrichtung 3 ist dazu vorgesehen, das zur Ausgangsstufe AN durchgeschaltete Potential auf ein Testbezugspotential zu schalten.
Diese zweite Schaltvorrichtung 3 kann auch in allen Ausgangsstufen AN angeordnet sein. Ebenso ist es denkbar, dass die zweiten Schaltvorrichtungen 3 in den Ausgangsstufen AN auf unterschiedliche Testbezugspotentiale schalten. Die zweiten Schaltvorrichtungen können auch außerhalb der Ausgangsstufen angeordnet sein. Auch die Multiplexeinrichtungen 4 können außerhalb der Ausgangsstufen angeordnet sein.
In Fig.2 ist die eben beschriebene Schaltungsanordnung detaillierter dargestellt. Die Leitungen M1 bis Mi werden von einem Spannunerator 7 mit einer oder mehreren Spannungen versorgt. Diese Leitungen M1 bis Mi werden allen Ausgangsstufen A1 bis AN zugeführt. Diese Leitungen M1 bis Mi werden in den Ausgangsstufen jeweils der Multiplexeinrichtungen 4 zugeführt. Diese Multiplexeinrichtungen 4 schalten in Abhängigkeit eines digitalen Signals E1 bis EN eine entsprechende Spannung zur Ausgangsstufe AN durch. Die erste Schaltvorrichtung 2 ist in der Lage die Leitungen M1 bis Mi separat voneinander zu unterbrechen. Sie ist gegebenenfalls auch in der Lage die Leitungen M1 bis Mi miteinander zu verbinden und somit zu ermöglichen allen Leitungen M1 bis Mi eine Spannung zuzuführen.
Fig.3 zeigt ein Aktiv-Matrix-TFT-Display, welches typischerweise aus einem Displayglas 10 besteht, mit herausgeführten Anschlüssen 13. Die Sourcetreiber 11 und Gatetreiber 12 steuern dabei jeweils die Anschlüsse 13 an. Die Sourcetreiber 11 weisen typischerweise mehrere hundert Ausgänge auf, mittels derer auf den Anschlüssen 13 am Display 10 ein analoger Spannungswert eingestellt wird.

Claims (10)

  1. Anordnung zur Ansteuerung einer Anzeigevorrichtung
    mit M Leitungen, die mit wenigstens einer Multiplexeinrichtung (4) und an eine erste Schaltvorrichtung (2) gekoppelt sind, die ein Unterbrechen einer Spannungszufuhr zu den M Leitungen ermöglicht und mit wenigstens einer an die M Leitungen gekoppelten zweiten Schaltvorrichtung (3), mittels derer wenigstens eine der M Leitungen auf ein festlegbares Potential schaltbar ist.
  2. Anordnung nach Anspruch 1,
    dadurch gekennzeichnet, dass die M Leitungen mit AN Ausgangsstufen gekoppelt sind, die wenigstens eine Multiplexeinrichtung (4) und wenigstens eine Verstärkereinheit (5) enthalten und in wenigstens einer Ausgangsstufe (AN) eine zweite Schaltvorrichtung (3) vorgesehen ist, um die Ausgangsstufe (AN) auf ein festlegbares Potential zu schalten.
  3. Anordnung nach Anspruch 1,
    dadurch gekennzeichnet, dass zweite Schaltvorrichtungen (3) in allen Ausgangsstufen AN enthalten sind.
  4. Anordnung nach Anspruch 1,
    dadurch gekennzeichnet, dass die von einem digitalen Signal steuerbare Multiplexeinrichtung (4) vorgesehen ist, eine auf den M Leitungen anliegende Spannung zur Ausgangsstufe AN durchzuschalten.
  5. Anordnung nach Anspruch 1,
    dadurch gekennzeichnet, dass die zweite Schaltvorrichtung (3) in der Ausgangsstufe (AN) die von der Multiplexeinrichtung (4) ausgewählte Leitung M auf ein Testbezugspotential schaltet.
  6. Anordnung nach Anspruch 1,
    dadurch gekennzeichnet, dass die erste Schaltvorrichtung (2) in einem Testmodus die M Leitungen mit einem gemeinsamen Potential verbindet und von diesem Potential trennt.
  7. Anordnung nach Anspruch 1,
    dadurch gekennzeichnet, dass ein Spannungsgenerator wenigstens eine Spannung zur Zuführung zu den M Leitungen generiert.
  8. Anordnung nach Anspruch 1,
    dadurch gekennzeichnet, dass die Schaltvorrichtungen (2,3) separat steuerbar sind.
  9. Anzeigevorrichtung mit einer Treiberschaltung nach den Ansprüchen 1 bis 8, bei der die Ausgangsstufen (AN) mit N Anschlüssen einer Anzeigevorrichtung verbunden sind.
  10. Verfahren zum Testen einer Treiberschaltung, bei dem der Treiberschaltung wenigstens eine Spannung auf M Leitungen zugeführt wird und bei der die M Leitungen mit einer ersten Schaltvorrichtung (2) gekoppelt werden und mittels der ersten Schaltvorrichtung (2) die Spannungszufuhr zu den M Leitungen unterbrochen wird und bei dem mit wenigstens einer Multiplexeinrichtung, die mit den M Leitungen gekoppelt ist, eine der M Leitungen ausgewählt wird,
    und bei dem mit einer zweiten Schaltvorrichtungen (3) die zugerührte Spannung auf der ausgewählten Leitung auf ein Testbezugspotential geschaltet wird.
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