JP4949659B2 - 駆動回路のテスト方法及び表示装置の駆動回路 - Google Patents

Description

本発明は、表示装置の駆動回路及びそのテスト方法に関し、特に駆動回路を精度よくテストすることができる表示装置の駆動回路及びそのテスト方法に関する。

一般に、液晶等の表示装置を駆動するための表示ドライバは、シフトレジスタ、データレジスタ、データラッチ、レベルシフタ、デジタルアナログコンバータ（Ｄ／Ａコンバータ）、出力アンプを有する。シフトレジスタは、ピクセル毎の入力ディジタル画像信号の階調データを順次シフトし、データレジスタが１走査ライン分の上記階調データを順次保持する。データラッチは、上記１走査ライン分の階調データをラッチし、これがレベルシフタによりレベル変換され、Ｄ／Ａコンバータにより、上記階調データがＤ／Ａ変換されて階調データに対応するアナログ信号に変換され、出力アンプにて適宜増幅され出力される。

ここで、表示ドライバは、１走査ライン分の各画素を駆動するため多数のＤ／Ａコンバータを有しており、これらが正常に動作することをテストするドライバのテストは非常に複雑になる。そこで、例えば、アナログ電圧リードと出力リードからの漏れ電流をできるだけ短時間でかつ広範囲にテストすることを目的とするドライバ回路のテスト方法が特許文献１に記載されている。

図９は、この特許文献１に記載のドライバ回路を示す図である。図９に示すように、ドライバ回路１０１は、電圧発生器１０７、これに接続されたリードＭ_ｉ、全リードＭ_ｉに接続された第１のスイッチング装置１０２、及び全リードＭ_ｉに接続されたＮ個の出力ステージＡ_Ｎを有する。Ｎ個の出力ステージＡ_Ｎは、それぞれ全リードＭ_ｉに接続されたマルチプレクスデバイス（以下、選択回路という。）１０４、マルチプレクスデバイス１０４に接続された増幅器１０５、及び選択回路１０４と増幅器１０５の間に接続され選択回路１０４の出力をＧＮＤに接続する第２のスイッチング装置１０３を有し、選択回路１０４にはディジタル信号Ｅ_Ｎが供給され、リードＭ_ｉのいずれかの信号を選択出力させる。

このドライバ回路のリード線Ｍ_ｉの隣接したリード線間のリークテストは、以下のようにして行われる。すなわち、Ｍ本のバス線を最高電位にチャージし、第１のスイッチング装置１０２により電圧発生器１０７からバス線Ｍ_ｉを切り離して全てのリード線Ｍ_ｉをフローティング状態にする。そして、第２のスイッチング装置１０３の１つを選択して出力ステージＡ_Ｎの１つをＧＮＤに接続し、ＧＮＤに接続した出力ステージに入力するディジタル信号Ｅ_ｉにより、いずれか一のリード線Ｍ_ｉをＧＮＤにスイッチングする。他の出力ステージの出力を見ることで、Ｍ_ｉとＭ_ｉ−１又はＭ_ｉとＭ_ｉ＋１の間のリークを検出する。このように、ドライバをディジタル信号によりテストすることができ、テスト時間を短縮化することができる。

ところで、リード線間のリークのテストの他、ドライバの機能テストには、例えば増幅器１０５の前段の選択回路（ＲＯＭ部）のスピード試験（スルーレート試験）により良品・不良品の判定が行なわれる。スピード試験では、出力レベルをある一定時間でサンプリングしてスルーレートが規定時間以上であるか否かを確認する。これにより、選択回路のオン抵抗の異常と出力アンプの駆動能力異常を検出することができる。この場合一般的には、電圧発生器１０７にて発生させた電圧のうち選択回路１０４にて所定の電圧を選択させ、増幅部（ＡＭＰ）１０５出力を観測することで行なわれている。
特開２００２−３０４１６４号公報

しかしながら、特許文献１に記載のテスト方法においては、先ず第１のスイッチング装置１０２を電圧発生器１０７に接続してある電位にチャージした後、第２のスイッチング装置１０３をオフし、次にリード線Ｍ_ｉの中の注目の一のリード線をディジタル信号Ｅ_ｉにて選択しＧＮＤに設定し、最後に他のリード線の電位を出力している出力ステージＡ_Ｎの電位をチェックする、という工程をリード線Ｍ_ｉの本数回繰り返す必要があり、テストに時間がかかる。

また、上述の選択回路のスピード試験においては、選択回路１０４において出力電圧を選択する際の遅延時間（ROM speed）は増幅器１０５を介して出力されるため、その結果の判定が難しい。すなわち、スピード試験においては、選択回路１０４におけるオン抵抗と増幅部１０５の双方の特性が影響するので、切り分けが困難である。図１０は、従来のドライバ回路における増幅器の出力を示す模式図である。図９に示すように、スルーレートを測定するためには過渡的な期間にサンプリングを行わなくてはならず、本来の出力Ｖ_ＯＵＴ１がＶ_ＯＵＴ２であった場合に、ＡＭＰ（増幅器）の能力が低いのか、選択回路１０４のオン抵抗が高いのかが判別できない。

すなわち、選択回路１０４の出力を直接測定できないため、サンプリング点における判定規格を決めるのが難しい。また、選択回路１０４の増幅器１０５の入力側近傍に電流リークがある場合、そのトランジスタに印加する電圧がドロップしてしまい、この電流リークを発見することができない。更に、選択回路１０４におけるオン抵抗を出力のスルーレートに変えて電圧レベルで検出しているためなども上記課題の原因となる。

このように、駆動回路には様々な機能テストが必要であるものの、例えば特許文献１に記載のテスト方法では、リード線間のリークテストしか行うことができない。ドライバ回路におけるリード線間の特定のテストの他、駆動回路において上述の選択回路のスピード試験等の各種テストを正確かつ迅速に行なうことができれば、例えば高精度でかつ低コストの表示装置をより提供しやすくなる。

本発明にかかる駆動回路のテスト方法は、複数の階調電圧を生成する階調電圧生成部と、複数のトランジスタのオンオフを制御することで複数の階調電圧のうち１を選択する階調電圧選択回路とを含むＤ／Ａコンバータと、選択された階調電圧であるＤ／Ａコンバータの出力を増幅して表示装置に出力する増幅部と、テストスイッチと、を有し、Ｄ／Ａコンバータの出力端子は、増幅部の入力端子と接続されるとともに、テストスイッチを介して、増幅部の出力端子と接続される、表示装置の駆動回路のテスト方法である。Ｄ／Ａコンバータの出力端子と増幅部の出力端子との間に設けられたテストスイッチに、テスト信号を供給して、Ｄ／Ａコンバータの出力端子と増幅部の出力端子とを導通させるテストモードとし、２以上の多段に接続された複数のトランジスタを有し、初段のトランジスタが階調電圧生成部に接続され、最後段のトランジスタがＤ／Ａコンバータの出力端子に接続される階調電圧選択回路において、入力された制御信号に基づいて、階調電圧選択回路の各段のトランジスタを選択的にオンすることで、初段から最後段までの間で直列に接続された２以上のオン状態のトランジスタから構成される電流経路を生成するものであって、Ｄ／Ａコンバータの入力端子を、階調電圧を生成するための電圧を供給する第１の測定装置に接続し、電流経路に流れる電流を測定することでＤ／Ａコンバータのテストを実行する。そして、増幅部の出力端子に第１の電圧を供給し、階調電圧生成部が、第１の測定装置から供給される電圧に基づき生成した第２の電圧を、階調電圧選択回路に供給することで、第１の電圧と第２の電圧の電位差に応じた電流を電流経路に流し、テストスイッチを介して、電流経路に流れる電流値を測定することで、階調電圧選択回路を構成するトランジスタのオン抵抗を測定するものである。

本発明においては、増幅部を介さずテストスイッチを介してＤ／Ａコンバータの出力を出力端子に接続して測定することにより、増幅部の影響を受けない電流又は電圧の測定結果に基づきテストを実行することができ例えばＤ／Ａコンバータに含まれる選択回路のオン抵抗等を高精度に測定することができる。

本発明によれば、Ｄ／Ａコンバータの出力を直接観察することで、短時間で精度よく各種のテストを実行することができる汎用性ある表示装置の駆動回路及びそのテスト方法を提供することができる。

以下、本発明を適用した具体的な実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。本実施の形態は、本発明を、表示装置を駆動するドライバであって、入力信号をデコードして階調電圧を選択する階調電圧選択回路のＯＮ抵抗を測定することで、階調電圧選択回路の良否判定（異常検出）を正確に行なうことができるドライバ回路に適用したものである。

具体的には、階調電圧選択回路の出力に接続されるＡＭＰ等の影響を受けることなくＯＮ抵抗を測定するため、階調電圧選択回路とＡＭＰとの間にスイッチ回路を設け、このスイッチ回路によってＡＭＰ等を階調電圧選択回路から切り離すことで、階調電圧選択回路のＯＮ抵抗を正確に測定するものである。

ここで、本実施の形態にかかるドライバ回路及びテスト方法の説明に先立ち、先ず、表示装置のドライバ回路について説明しておく。図１は、一般的なドライバ回路を示すブロック図であり、図２は、図１に示すドライバ回路に入力される各信号のタイミングチャートである。

図１に示すように、ドライバ回路１は、Ｓ１〜Ｓｎ信号を出力、すなわちｎ個の画素にデータを出力するものであって、シフトレジスタ２、データレジスタ３、データラッチ４、レベルシフタ５、Ｄ／Ａコンバータ６及び出力アンプ部７を有する。ドライバ回路１のシフトレジスタ２の出力は次段のドライバ回路にカスケード出力され、複数個のドライバ回路１がカスケード接続されることでデータ駆動回路（ソースドライバ）を構成する。シフトレジスタ２はｎ段のレジスタからなり、シフトスタートパルス及びクロックが供給され、スタートパルスをクロックのタイミングで順次シフトして図２に示すシフトパルス（Ｓ１）〜シフトパルス（Ｓｎ）とする。

データレジスタ３は、ｎ段のレジスタからなり、ディジタル画像信号（以下、データという。）が各レジスタにパラレルに供給され、シフトレジスタ２により供給されるシフトパルス（Ｓ１）〜シフトパルス（Ｓｎ）の例えば立ち下がりタイミングで各レジスタが順次データを保持する。

データラッチ４は、データレジスタ３の各レジスタ全てにデータの入力が終了するとデータラッチ信号が供給され、データレジスタ３の各レジスタに保持されている全データをラッチする。データラッチ４にてラッチされたデータは、レベルシフタ５により適宜レベルがシフトされる。

Ｄ／Ａコンバータ６は、レベルシフト後のデータをデコードして階調電圧を出力するものであり、後述する階調電圧生成部と階調電圧選択回路とを有する。階調電圧生成部に階調基準電圧が供給され、階調電圧選択回路により例えば６４階調の電圧を選択出力する。出力アンプ部７は、Ｄ／Ａコンバータ６の出力を増幅し出力信号Ｓ１〜Ｓｎとして出力する。データラッチ４に供給されるデータラッチ信号及び極性反転信号は出力アンプ部７にも供給され、データラッチ信号のタイミングで極性反転信号に応じた極性の出力を選択して出力する。

ここで、出力アンプ部７は、極性に応じた信号を増幅して出力するアンプ部と、このアンプ部の出力のオン・オフを制御するスイッチ（以下、オフスイッチという。）とを有している。このオフスイッチは、図２に示すように、データラッチ信号の立ち上がりから立下りまでの間、出力ハイインピーダンス期間として、アンプの極性に応じた出力をオフする。これは、Ｄ／Ａコンバータ６の遷移期間であり、電位が確定するまでは、このオフスイッチ（ＴＯＦＦＳＷ）をオフにしてハイインピーダンス（Ｈｉ−Ｚ）にすることができる。

このようなドライバ回路におけるＤ／Ａコンバータの異常検出をテストする際には、通常Ｄ／Ａコンバータ６に階調選択を行わせるテスト信号を供給し、そのときの出力アンプ部７の出力を測定することで行なわれる。しかしながらこの場合にはＤ／Ａコンバータ６の出力を直接測定することができず、出力アンプ部７を介してしかテスト結果が得られないため、上述したようにアンプの性能等により精度よくテストすることができない。そこで本実施の形態においては、出力アンプ部７を介さないでテスト結果を測定することで、正確にＤ／Ａコンバータの異常を検出するものである。

図３は、本実施の形態にかかるドライバ回路のＤ／Ａコンバータから出力までを示す図である。出力アンプ部の影響を取り除く方法としては、図３（ａ）に示すように、Ｄ／Ａコンバータの階調電圧選択回路１１に接続される出力アンプ部７の入力と、出力アンプ部７の出力ＯＵＴとを、例えばＭＯＳトランジスタからなるテストスイッチ（Ｔ_{ＴＥＳＴＳＷ}）２０ａを介してバイパスする。テストスイッチ２０ａは、制御信号（ＴＥＳＴ端子）を有し、その導通（オン・オフ）を制御することができるものとする。このテストスイッチ２０ａをＯＮすることで、出力アンプ部７の入力と出力ＯＵＴとを直接接続することができ、階調電圧選択回路１１の出力を直接測定することができる。

Ｄ／Ａコンバータは、例えば階調電圧γ１〜γ４を生成する階調電圧生成部１２と、この階調電圧γ１〜γ４を選択出力する階調電圧選択回路１１とから構成される。階調電圧選択回路１１は、入力信号に応じて所望の階調電圧を選択する複数個のスイッチ（トランジスタ）からなり、これらのＯＮ抵抗を正確に測定することで、Ｄ／Ａコンバータの良否判定を行なうことができる。出力アンプ部７は、ＡＭＰ７ａとＡＭＰ７ａの出力のオン・オフを制御するオフスイッチ（ＴＯＦＦＳＷ）７ｂとを有する。オフスイッチ７ｂは、上述したように、通常動作モードにおいて階調電圧選択回路１１の出力が安定するまでの間、ＡＭＰ７ａの出力をハイインピーダンスにするものである。

例えば、スイッチＴＳＥＬ１、ＴＳＥＬ２のトランジスタをオンしてセレクタがγ１の階調電圧を選択した時のオン抵抗を測定する場合は、テストスイッチ２０ａにテスト信号ＴＥＳＴを入力して階調電圧選択回路１１とＡＭＰ７ａの間のノードをテストスイッチ２０ａを介し出力端子ＯＵＴへ接続する。このことにより、テストスイッチ２０ａをオン状態にし、オフスイッチ７ｂをオフ（出力Ｈｉ−Ｚ）状態とする。この場合の等価回路を図３（ｂ）に示す。階調電圧γ１と出力ＶＯＵＴに印加する電圧関係をＶ_γ１＞Ｖ_ＯＵＴとし、測定しない階調電源入力（γ２〜４）は、開放（オープン）にする。この場合、階調電圧選択回路１１のオン抵抗は、下記式で求めることができる。
Ｉ_{ＳＥＬ＿ＯＮ}＝（Ｖ_ＯＵＴ−Ｖ_γ１）／（Ｒ_{ＯＮ＿ＳＥＬ１}＋Ｒ_{ＯＮ＿ＳＥＬ２}＋Ｒ_{ＯＮ＿ＴＥＳＴＳＷ}）

Ｉ_{ＳＥＬ＿ＯＮ}は測定電流であり、Ｒ_{ＯＮ＿ＳＥＬ１}、Ｒ_{ＯＮ＿ＳＥＬ２}、Ｒ_{ＯＮ＿ＴＥＳＴＳＷ}は、それぞれスイッチトランジスタＴ_ＳＥＬ１、Ｔ_ＳＥＬ２、テストスイッチ２０ａのオン抵抗を示す。この場合、階調電圧選択回路１１に使用しているスイッチトランジスタのオン抵抗は、Ｐｃｈの場合数百ｋΩである。これに対し、テストスイッチ２０ａのオン抵抗は数十Ωと非常に小さいので測定精度にほとんど影響を与えない。また、ＡＭＰ７ａの入力からオフスイッチ７ｂ間は、ショートされているので出力アンプ部７は測定に影響を与えない。よって階調電圧選択回路１１のオン抵抗を正確に測定することができる。なお、オフスイッチ７ｂを削除又は使用せず、ＡＭＰ７ａにテスト信号を供給し、テスト時にその出力をハイインピーダンスとすることでテストを行なうようにしてもよい。

また、出力アンプ部７の出力ＯＵＴに、第２の電圧としてのγ１とは異なる第１の電圧としての、例えば電源電位ＶＤＤを供給する。このことにより階調電圧選択回路１１の出力とγ１との電位に差を設ける。テストスイッチ２０ａは、テストモードの際にはオンされ階調電圧選択回路１１の出力が電源電位ＶＤＤとされる。上述と同様に、スイッチＴ_ＳＥＬ１、Ｔ_ＳＥＬ２をオンして階調電圧γ１を選択した場合、Ｖ_γ＜ＶＤＤとしているため、階調電圧γ１の電源側へ電流Ｉ_{ＳＥＬ＿ＯＮ}が流れ、これを測定することで、出力アンプ部７の影響を受けることなく階調電圧選択回路１１のＯＮ抵抗を測定することができる。また、テストスイッチ２０ａのＯＮ抵抗は、階調電圧選択回路１１を構成するスイッチトランジスタのＯＮ抵抗に比して十分小さく、測定精度に影響を与えることはない。

以上の概念を利用したＤ／Ａコンバータ又は階調電圧選択回路のテスト方法について更に具体的に説明する。図４は、本実施の形態にかかるドライバのテスト装置を示す図である。図４に示すように、Ｄ／Ａコンバータ６は、測定回路（ＬＳＴテスタ）３０ａに接続される。この測定回路３０ａは、プログラマブルＤＣ電源となっており、本実施の形態においては、８つのＤＣ電源３１_１〜３１_８（３１_ｋ）を有し８つのＤＣ電圧を供給することができる。

また、シフトレジスタ２、データレジスタ３、データラッチ４、レベルシフタ５は、それぞれ測定回路３０ｂに接続される。測定回路３０ｂは、パターンジェネレータとなっており、シフトレジスタ２に供給するスタートパルス及びクロック、データレジスタ３に供給するデータ、データラッチに供給するデータラッチ及び極性反転信号を生成し供給する。また、テスト信号を生成し、テストスイッチ２０に供給する。

更に出力アンプ部７の出力には測定回路３０ｃが接続される。テストスイッチ２０がテスト信号によりオンされることで出力アンプ部７の入力と出力とが接続され、階調電圧選択回路１１の出力が出力アンプ部７を介さず測定回路３０ｃにテストスイッチ２０を介して接続される。測定回路３０ｃは、ＤＣテストユニットであり、ＤＣリレースイッチ３３ａ、３３ｂと、電圧発生電流測定回路（ＶＳＩＭ）３４と、電流発生電圧測定回路（ＩＳＶＭ）３５とを有する。ＤＣリレースイッチ３３ａにより所定の出力端子に対応する出力と測定回路３０ｃとを接続し、ＤＣリレースイッチ３３ｂにより電圧発生電流測定回路３４と電流発生電圧測定回路３５とを切り替え制御し、電圧を発生させ電流を測定したり、電流を発生させ電圧を測定したりすることができる。

Ｄ／Ａコンバータ６は、階調電圧選択回路１１及び階調電圧生成部１２を有する。本実施の形態においては、６４階調の階調電圧を生成し選択出力するものとする。この場合、例えば階調電圧生成部１２は６３の抵抗Ｒ０〜Ｒ６２からなり測定回路３０ａより供給されるＤＣ電源を抵抗分割により６４階調の階調電圧を生成する。本実施の形態には、ＤＣ電源Ｖ０〜Ｖ７を供給する８つのＤＣ電源３１_１〜３_８（３１_ｋ）と、各ＤＣ電源３１_ｋと階調電圧生成部１２とを接続するリレースイッチ３２_１〜３２_８（３２_ｋ）を有するものとする。このリレースイッチ３２_ｋを適宜オン・オフすることで階調電圧生成部１２に所定のＤＣ電源Ｖ０〜Ｖ７を供給することができる。階調電圧選択回路１１は、６４の端子ＧＭＡ０〜ＧＭＡ６３を有し、階調電圧生成部１２の抵抗Ｒ０〜Ｒ６２の各端部とこのＧＭＡ０〜ＧＭＡ６３とが接続され、レベルシフタ５から供給される入力データに基づき６４階調のいずれかの階調電圧Ｖ_０〜Ｖ_６３（Ｖ_ｎ）を選択して出力する。この出力は、上述したように、テストスイッチ２０を介して測定装置３０ｃに接続されることでＤ／Ａコンバータ６の階調電圧選択回路１１を構成するトランジスタのＯＮ抵抗を測定することができる。

次に、このように構成されたテスト回路のテスト方法について説明する。テストは、測定回路（パターンジェネレータ）３０ｂにより入力データを生成して階調電圧選択回路１１に所定の階調電圧を選択させ、それを測定回路（ＤＣテストユニット）３０ｃで測定することで行なわれる。この際、測定回路（プログラマブルＤＣ電源）３０ａのＤＣ電源リレースイッチ３２_ｋを適宜オン・オフして各ＤＣ電源Ｖ０〜Ｖ７を階調電圧生成部１２へ供給する。図５は、ＤＣ電源Ｖ０〜Ｖ７を供給するリレースイッチ３２_１〜３２_８のオン・オフの一例を示す図である。また、図６及び図７は、図５に示すＤＣ電源リレースイッチ３２_ｋのオン・オフに従って上記の方法により階調電圧選択回路１１のオン抵抗の異常検出をテストするテスト方法を示すフローチャートである。また、図８は、階調電圧（階調数Ｍ＝０〜ｍ）について各出力端子ｋ（出力端子数ｋ＝１〜Ａとする）を出力した場合の良否判定方法を示すフローチャートである。

なお、本実施の形態においては、階調電圧選択回路１１のＯＮ抵抗を測定するものであるが、ドライバの他の部位、他の動作テストを先に実行してから本テストを行うようにしてもよい。本実施の形態にかかるテストは、図６に示すように、先ずドライバ及び測定回路を初期化する（ステップＳ１）。初期化においては、ドライバに供給するデバイス電源をＯＦＦし、プログラマブルＤＣ電源リレースイッチ３２_ｋをオフし、更にＤＣテストユニット３０ｃのＤＣリレースイッチ３２ａ、３２ｂをオフする。

次に、デバイス電源、ＤＣ電源を設定する（ステップＳ２）。最初にデバイス電源をオンし（ステップＳ３）、ＤＣ電源３１_ｋをオンする（ステップＳ４）。次に、先ずＶ０リレースイッチをオンする（ステップＳ５）。そして、測定回路３０ｂから０階調Ｖ_０を選択する階調データを入力すると共にテスト信号ＴＥＳＴによりテストモードに設定する（ステップＳ６）。例えば、テストスイッチ２０がＰチャンネルトランジスタからなる場合は、テスト信号をＬレベルにしてテストスイッチ２０をオンとする。

次に、階調電圧Ｖ_０を各出力端子から出力させる（ステップＳ７）。なお、ステップＳ７の処理の詳細は後述する。ステップＳ７の処理が終了したら、図７に示すように、階調数ｍ＝１とし（ステップＳ８）、図５にしたがって、Ｖ０〜Ｖ７リレースイッチ３２_ｋをオン・オフする。すなわち、例えば階調電圧Ｖ_１〜Ｖ_８まで（ｍ＝１〜８）のテストをする場合は、Ｖ０リレースイッチ３２_１をオフし（ステップＳ９）、Ｖ１リレースイッチ３２_２をＯＮ（ステップＳ１１）とする。そして、ｍ＝８まで階調電圧を選択させる階調データを入力してステップＳ７の処理を実行する動作を繰り返す（ステップＳ１２〜ステップＳ１４）。

ｍ＝９になったら図５に従ってＶ０〜Ｖ７のリレースイッチ３２_ｋを切り替える。すなわち、Ｖ１リレースイッチ３２_２をオフし（ステップＳ１５）、Ｖ２リレースイッチ３２_３をオンし（ステップＳ１６）、階調電圧生成部１２にＤＣ電圧Ｖ２を供給する。そして、階調電圧Ｖ９〜Ｖ２３までを測定する（ステップＳ１７〜ステップＳ２０）。これらの動作を階調電圧Ｖ_ｍに応じて図５に従ってＶ０〜Ｖ７のリレースイッチ３２_ｋを適宜オン・オフし、階調電圧Ｖ_６３までのテストを実行する（〜ステップＳ４２）。そして、全ての階調電圧Ｖ_ｍについての結果に基づき良否判定を実行する（ステップＳ４３）。最後にデバイス電源をオフし、ＤＣ電源リレースイッチ３２_ｋをオフし、ＤＣテストユニットのＤＣリレースイッチ３３ａ、３３ｂをオフしてテストを終了する。なお、ステップＳ４３にて良品と判断されたものについて他のテストを続けて実施するようにしてもよい。

次に、ステップＳ７の処理の詳細について説明する。ここでは、本実施の形態にかかるドライバの出力端子数ｋ＝Ａ個である場合について説明する。先ず、例えばカウンタのカウント値ｋ＝０とすることで初期化し（ステップＳ５１）、全出力端子について以下の測定を実行する（ステップＳ５２）。すなわち、先ず、現在の出力ＯＵＴ_ｋに接続される測定回路３０ｃのＤＣリレースイッチ３３ａ、３３ｂをオンし、ＶＳＩＭモードとする（ステップＳ５３）。そして、出力ＯＵＴ_ｋからの電流値を測定する（ステップＳ５４）。この電流値が規格より大きい場合（ステップＳ５５：ＹＥＳ）、出力ＯＵＴ_ｋに接続される測定回路３０ｃのＤＣリレースイッチ３３ａ、３３ｂをオフし（ステップＳ５６）、ｋをインクリメントし（ステップＳ５７）、ｋが出力端子数Ａに達するまで各出力ＯＵＴ_ｋからの電流値が規格より大きいか否かを順次判定していく。一方。ステップＳ５５において、測定電流値が規格より小さい場合、すなわち階調電圧選択回路１１のＯＮ抵抗が大きい場合には不良の判定をし（ステップＳ５８）。各位電源・スイッチをオフしてテストを終了する（ステップＳ５９）。また、ｋが出力端子数Ａに達した場合には処理（ＳＵＢ１処理）を終了し次の工程（ステップＳ８、Ｓ１４、Ｓ２０、Ｓ２６、Ｓ３２、Ｓ３８、Ｓ３８又はＳ４３）へ進む。

本実施の形態においては、Ｄ／Ａコンバータ６の階調電圧選択回路１１の出力にテストスイッチ２０を設け、階調電圧選択回路１１の出力を直接測定できるようにしたので、出力アンプ部７の影響を受けることなく、階調電圧選択回路１１のＯＮ抵抗を正確に測定することができる。また、出力アンプ部７の前段部における各種テストについてもテストスイッチ２０をオンするのみで同様にＤ／Ａコンバータ６の出力を直接測定することができ、更にテストスイッチ２０は、テストモードの間はオンとしておくのみでよく、極めて簡単な構成かつ簡単な制御で汎用性が高いテスト回路を構成することができる。

なお、本発明は上述した実施の形態のみに限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能であることは勿論である。例えば図４においては、階調電圧選択回路１１の出力電流を測定するものとしたが、電圧を測定するようにしてもよい。また、テストスイッチ２０を介して階調電圧選択回路１１に電源電圧等を与え、階調電圧生成部１２に接続される測定回路３０ｂにより電流等を測定するようにしてもよい。更に、本実施の形態においては、階調電圧選択回路のＯＮ抵抗の異常を検出するスピード試験について説明したが、その他、ＬＳＩテスタを利用して出力ピン間のリークテスト等、その他の機能テストを実行することも可能である。この場合、テストの間、ドライバ側は、テスト信号をアクティブにしたままでよく、上述の従来技術のように、各スイッチをオン・オフ制御する必要がなく、テスト時間を短縮化することが可能である。

一般的なドライバ回路を示すブロック図である。 図１に示すドライバ回路に入力される各信号のタイミングチャートである。 本発明の実施の形態にかかるドライバ回路のＤ／Ａコンバータから出力までを示す図である。 図３に示す本発明の実施の形態にかかるドライバのテスト装置の一具体例を示す図である。 本発明の実施の形態にかかるドライバのテストにおいてＤＣ電源Ｖ０〜Ｖ７を供給するリレースイッチのオン・オフ制御の一例を示す図である。 図５に示すＤＣ電源リレースイッチのオン・オフ制御に従って階調電圧選択回路のオン抵抗の異常検出をテストするテスト方法を示すフローチャートである。 同じく、階調電圧選択回路のオン抵抗の異常検出をテストするテスト方法を示すフローチャートである。 一の階調電圧について、各出力端子の出力結果に基づき良否判定を行なう方法を示すフローチャートである。 特許文献１に記載のドライバ回路を示す図である。 従来のドライバ回路における増幅器の出力を示す模式図である。

符号の説明

１ ドライバ回路
２ シフトレジスタ
３ データレジスタ
４ データラッチ
５ レベルシフタ
６ Ｄ／Ａコンバータ
７ 出力アンプ部
７ａ ＡＭＰ
７ｂ オフスイッチ
１１ 階調電圧選択回路
１２ 階調電圧生成部
２０，２０ａ テストスイッチ
３０ａ，３０ｂ，３０ｃ 測定回路
３１_１〜３１_８（３１_ｋ） ＤＣ電源
３２_１〜３２_８（３２_ｋ），３３ａ，３３ｂ リレースイッチ
３４ 電圧発生電流測定回路
３５ 電流発生電圧測定回路

Claims (3)

1. 複数の階調電圧を生成する階調電圧生成部と、複数のトランジスタのオンオフを制御することで複数の階調電圧のうち１を選択する階調電圧選択回路とを含むＤ／Ａコンバータと、
   選択された階調電圧である前記Ｄ／Ａコンバータの出力を増幅して表示装置に出力する増幅部と、
   テストスイッチと、を有し、
   前記Ｄ／Ａコンバータの出力端子は、前記増幅部の入力端子と接続されるとともに、前記テストスイッチを介して、前記増幅部の出力端子と接続される、
   表示装置の駆動回路のテスト方法であって、
   前記Ｄ／Ａコンバータの出力端子と前記増幅部の出力端子との間に設けられた前記テストスイッチに、テスト信号を供給して、前記Ｄ／Ａコンバータの出力端子と前記増幅部の出力端子とを導通させるテストモードとし、
   ２以上の多段に接続された複数の前記トランジスタを有し、初段の前記トランジスタが前記階調電圧生成部に接続され、最後段の前記トランジスタが前記Ｄ／Ａコンバータの出力端子に接続される前記階調電圧選択回路において、入力された制御信号に基づいて、前記階調電圧選択回路の各段の前記トランジスタを選択的にオンすることで、前記初段から前記最後段までの間で直列に接続された２以上のオン状態の前記トランジスタから構成される電流経路を生成し、
   前記Ｄ／Ａコンバータの入力端子を、階調電圧を生成するための電圧を供給する第１の測定装置に接続し、前記電流経路に流れる電流を測定することで前記Ｄ／Ａコンバータのテストを実行するものであり、
   前記増幅部の前記出力端子に第１の電圧を供給し、
   前記階調電圧生成部が、前記第１の測定装置から供給される電圧に基づき生成した第２の電圧を、前記階調電圧選択回路に供給することで、前記第１の電圧と前記第２の電圧の電位差に応じた電流を前記電流経路に流し、
   前記テストスイッチを介して、前記電流経路に流れる電流値を測定することで、前記階調電圧選択回路を構成する前記トランジスタのオン抵抗を測定する駆動回路のテスト方法。
2. 前記テストモード時には、前記増幅部を構成するアンプ部の出力端子と前記増幅部の前記出力端子との間に設けられたオフスイッチをオフにすることで当該増幅部の出力をハイインピーダンスにする
   ことを特徴とする請求項１記載の駆動回路のテスト方法。
3. 階調電圧を生成するための電圧を供給する第１の測定装置により前記Ｄ／Ａコンバータの階調電圧生成部にて複数の階調電圧を生成させ、
   所定の階調電圧を選択出力させるための第２の測定装置により、前記Ｄ／Ａコンバータの前記階調電圧選択回路にて前記階調電圧生成部が生成した複数の階調電圧から所定の階調電圧を選択出力させ、
   前記増幅部の前記出力端子に接続された第３の測定装置により、前記階調電圧選択回路にて選択出力される階調電圧に基づき前記階調電圧選択回路の動作をテストする
   ことを特徴とする請求項１又は２記載の駆動回路のテスト方法。

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