JP4320733B2 - 半導体試験装置 - Google Patents
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また、部品点数が増加して構成が複雑になるとともに、コスト高になるという問題もある。
試験信号として正負極性の差動信号とシングル信号をDUTに印加する半導体試験装置において、
これら試験信号のタイミング校正手段として、
差動信号のクロスポイント検出およびシングル信号と基準電圧との比較を行う共通のアナログコンパレータと、
互いに連動して切換制御されることにより前記差動信号とシングル信号を選択する2個の選択回路を具備し、
前記差動信号選択にあたっては一方の選択回路から正極性差動信号が選択出力されて他方の選択回路から負極性差動信号が選択出力され、
前記シングル信号選択にあたっては一方の選択回路からシングル信号が選択出力されて他方の選択回路から基準電圧が選択出力されることを特徴とする。
200 半導体試験装置
210 パターン信号発生器
220 可変遅延回路
230 差動ピンドライバ
240 シングルピンドライバ
300 タイミング校正回路
301 正極性差動信号リレートーナメント
302,305,311 アナログコンパレータ
303 負極性差動信号リレートーナメント
304 シングルリレートーナメント
307 フリップフロップ
308 デジタルコンパレータ
306,309,310 マルチプレクサ
Claims (1)
- 試験信号として正負極性の差動信号とシングル信号をDUTに印加する半導体試験装置において、
これら試験信号のタイミング校正手段として、
差動信号のクロスポイント検出およびシングル信号と基準電圧との比較を行う共通のアナログコンパレータと、
互いに連動して切換制御されることにより前記差動信号とシングル信号を選択する2個の選択回路を具備し、
前記差動信号選択にあたっては一方の選択回路から正極性差動信号が選択出力されて他方の選択回路から負極性差動信号が選択出力され、
前記シングル信号選択にあたっては一方の選択回路からシングル信号が選択出力されて他方の選択回路から基準電圧が選択出力されることを特徴とする半導体試験装置。
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