JP4730184B2 - テストシステム - Google Patents
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Description
ICテスタにより、TMDS信号を入力する被試験対象を試験するテストシステムにおいて、
前記ICテスタのパラレル出力をシリアル信号に変換するパラレル/シリアル変換器と、
このパラレル/シリアル変換器の出力を差動電流信号に変換すると共に、差動電流信号の振幅を変えて、前記被試験対象に出力する第1の差動電流ドライバと
を備えたことを特徴とするものである。
請求項2記載の発明は、請求項1記載の発明であって、
パラレル/シリアル変換器と第1の差動電流ドライバとの間に設けられ、パラレル/シリアル変換器の出力を所望時間遅延する遅延時間調整回路を具備したことを特徴とするものである。
請求項3記載の発明は、請求項1または2記載の発明であって、
第1の差動電流ドライバは、
パラレル/シリアル変換器のシリアル信号を差動信号にする差動増幅器と、
電流値が変えられる電流源と、
この電流源の電流を前記差動増幅器の差動信号により切り替えて、被試験対象に差動電流信号を出力する差動回路と、
を有することを特徴とするものである。
請求項4記載の発明は、請求項1〜3のいずれかに記載の発明であって、
ICテスタの出力によりクロックを発生し、パラレル/シリアル変換器に出力するクロック発生部と、
このクロック発生部の出力を差動電流信号に変換すると共に、差動電流信号の振幅を変えて、前記被試験対象に出力する第2の差動電流ドライバと
を設けたことを特徴とするものである。
請求項5記載の発明は、請求項4記載の発明であって、
クロック発生部と第2の差動電流ドライバとの間に設けられ、クロック発生部の出力と抵抗を介した比較電圧とを比較し、第2の差動電流ドライバに出力するコンパレータを具備したことを特徴とするものである。
請求項6記載の発明は、請求項1〜5のいずれかに記載の発明であって、
被試験対象は、HDMIレシーバであることを特徴とするものである。
第1の差動電流ドライバが差動電流信号の振幅を変え、被試験対象の入力振幅幅を変えることにより、規定された範囲内の入力振幅に対して、受信できるかどうかの試験を行うことができる。
3 DUT
4 パラレル/シリアル変換器
5 遅延時間調整回路
6,9 差動電流ドライバ
7 PLL
8 コンパレータ
A 差動増幅器
I 電流源
Q1,Q2 トランジスタ
R 抵抗
Claims (6)
- ICテスタにより、TMDS信号を入力する被試験対象を試験するテストシステムにおいて、
前記ICテスタのパラレル出力をシリアル信号に変換するパラレル/シリアル変換器と、
このパラレル/シリアル変換器の出力を差動電流信号に変換すると共に、差動電流信号の振幅を変えて、前記被試験対象に出力する第1の差動電流ドライバと
を備えたことを特徴とするテストシステム。 - パラレル/シリアル変換器と第1の差動電流ドライバとの間に設けられ、パラレル/シリアル変換器の出力を所望時間遅延する遅延時間調整回路を具備したことを特徴とする請求項1記載のテストシステム。
- 第1の差動電流ドライバは、
パラレル/シリアル変換器のシリアル信号を差動信号にする差動増幅器と、
電流値が変えられる電流源と、
この電流源の電流を前記差動増幅器の差動信号により切り替えて、被試験対象に差動電流信号を出力する差動回路と、
を有することを特徴とする請求項1または2記載のテストシステム。 - ICテスタの出力によりクロックを発生し、パラレル/シリアル変換器に出力するクロック発生部と、
このクロック発生部の出力を差動電流信号に変換すると共に、差動電流信号の振幅を変えて、前記被試験対象に出力する第2の差動電流ドライバと
を設けたことを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載のテストシステム。 - クロック発生部と第2の差動電流ドライバとの間に設けられ、クロック発生部の出力と抵抗を介した比較電圧とを比較し、第2の差動電流ドライバに出力するコンパレータを具備したことを特徴とする請求項4記載のテストシステム。
- 被試験対象は、HDMIレシーバであることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載のテストシステム。
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