JP2005164440A - 半導体集積回路及び半導体集積回路のテスト方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 データとクロックとを重畳させた入力信号を受信する第1及び第2の入出力回路9、10と、第1及び第2の入出力回路9、10に接続し、第1及び第2の入出力回路内部の遅延クロックの基準周波数となる所定周期のクロック信号を供給するクロック供給回路16と、第1の入出力回路9と第2の入出力回路10との間に接続され、第1及び第2の入出力回路の遅延クロック位相差を検出する位相比較器11と、第1及び第2の入出力回路9、10に接続され、第1と第2の入出力回路の遅延クロックの遅延時間を制御し第1及び第2の入出力回路を相互にテストするビルトインテスト回路15と、を備える。
【選択図】 図1
Description
図2は、本発明の第1実施例による半導体集積回路1のブロック図である。図示した回路は、第1の入出力回路9と、第2の入出力回路10と、位相比較器11と、ビルトインテスト回路15(ΔφBIST)と、PLL16とを備える半導体集積回路1のインターフェース部である。
図3は、本発明の第2実施例による半導体集積回路1のブロック図である。図示した回路は、複数の入出力回路9、9a、9b、9nと、複数の位相比較器11、11a、11b、11nと、複数のレジスタ13、13a、13b、13nと、複数の遅延回路8、8a、8b、8nと、ビルトインテスト回路15(ΔφBIST)と、PLL16とを備える半導体集積回路1のインターフェース部である。
図5は、本発明の第3実施例としての半導体集積回路のブロック図である。半導体集積回路は、テストブロック31、テストブロック32、テストブロック33、テストブロック34、テストブロック35と、ビルトインテスト回路15と、PLL16とを備える。
図7は、本発明の第4実施例の半導体集積回路のテスト方法の流れ図である。半導体集積回路のテストは、位相比較工程S8と、判定処理S10、S11と、ビルトインテストとしてのエラーフラグ判定処理S13と、を備える。
2、3、4、5 入力端子
7、8 遅延回路
9、10 入出力回路
11 位相比較器
12、13 レジスタ
14 書換器
15 ビルトインテスト回路
16 フェイズロックドループ回路
17、18 外部信号
18 位相比較
19 入力回路
20 シリアルパラレル変換器
21 レシーバ
25 記憶領域
31、32、33、34、35 テストブロック
40 パラレル・イン・シリアル変換器
42 ドライバ
43、44、45 出力端子
47 セレクタ
55、58 出力回路
Claims (5)
- データとクロックとを重畳させた入力信号を受信する第1及び第2の入出力回路と、
前記第1及び第2の入出力回路に接続し、前記第1及び第2の入出力回路内部の遅延クロックの基準周波数となる所定周期のクロック信号を供給するクロック供給回路と、
前記第1の入出力回路と前記第2の入出力回路との間に接続され、前記第1及び第2の入出力回路の遅延クロック位相差を検出する位相比較器と、
前記第1及び第2の入出力回路に接続され、前記第1及び第2の入出力回路の前記遅延クロックの遅延時間を制御し前記第1及び第2の入出力回路を相互にテストするビルトインテスト回路と、
を備えることを特徴とする半導体集積回路。 - データとクロックとを重畳させた入力信号を受信する第1及び第2の入力回路と、
前記第1の入力回路に遅延クロックを供給する第1の遅延回路と、
前記第2の入力回路に遅延クロックを供給する第2の遅延回路と、
前記第1の遅延回路から出力する遅延クロックと前記第2の遅延回路から出力する遅延クロックとを比較し、位相差を検出する位相比較器と、
前記1の遅延回路から出力される前記遅延クロックの遅延量を記憶する第1のレジスタと、
前記2の遅延回路から出力される前記遅延クロックの遅延量を記憶する第2のレジスタと、
前記第1のレジスタ又は前記第2のレジスタに記憶された前記遅延量を書き換え、前記第1及び第2の遅延回路を相互にテストするビルトインテスト回路と、
を備えることを特徴とする半導体集積回路。 - 前記ビルトインテスト回路は、前記第1のレジスタへ所定の整数値Xを書き込み、前記第2のレジスタへ該整数値Xに所定の整数値αを加算したX+αの値を書き込み、前記第1の遅延回路から出力される遅延クロックの位相と、前記第2の遅延回路から出力される遅延クロックの位相とを前記位相比較器により比較し、その比較結果を記憶することを特徴とする請求項2に記載の半導体集積回路。
- 前記ビルトインテスト回路は、前記第1のレジスタへ所定の整数値Xを書き込み、前記第2のレジスタへ整数値Xに所定の整数値αを加算したX+αの値を書き込み、前記第1の遅延回路から出力される遅延クロックの位相と、前記第2の遅延回路から出力される遅延クロックの位相とを前記位相比較器により比較した比較結果を記憶し、前記αの値を増減して、前記第1の遅延回路から出力される遅延クロックの位相と、前記第2の遅延回路から出力される遅延クロックの位相とを前記位相比較器により比較した比較結果を記憶し、前記αの値増減を繰り返すことを特徴とする請求項2に記載の半導体集積回路。
- 第1のレジスタへ所定の整数値Xを書き込み、第2のレジスタへ整数値Xに所定の整数値αを加算したX+αの値を書き込み、第1の遅延回路から出力される遅延クロックの位相と、第2の遅延回路から出力される遅延クロックの位相とを位相比較器により比較した比較結果を記憶する位相比較工程と、
前記αの値を増減して、前記第1の遅延回路から出力される遅延クロックの位相と、前記第2の遅延回路から出力される遅延クロックの位相とを前記位相比較器により比較し、その比較結果が予め内部に記憶されている期待値に等しい場合には「一致」と判定し、期待値と等しくない場合には「不一致」と判定する判定工程と、
前記判定工程を繰り返し、前記αの値が所定の整数値βより大きく、且つ前記判定結果がすべて「一致」の場合には半導体集積回路を良品と判断し、前記判定結果の何れか1つでも「不一致」のときには前記半導体集積回路を不良品と判断するテスト工程と、
を備えることを特徴とする半導体集積回路のテスト方法。
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