CN1967277A - 集成电路测试器 - Google Patents

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CN1967277A CNA2006101486205A CN200610148620A CN1967277A CN 1967277 A CN1967277 A CN 1967277A CN A2006101486205 A CNA2006101486205 A CN A2006101486205A CN 200610148620 A CN200610148620 A CN 200610148620A CN 1967277 A CN1967277 A CN 1967277A
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Abstract

本发明披露了一种集成电路测试器，用于不须采测试程序以设定偏移电压，即可供应适当的偏移电压，而能够抑制超过范围的情形。本发明是对于将受测试对象的输出减去偏移电压以进行测定的集成电路测试器加以改良。本装置的特征为具备电压测定单元，以测定受测试对象的输出；以及电压产生单元，以根据该电压测定单元的测定结果而产生偏移电压。

Description

集成电路测试器
技术领域
本发明涉及对受测试对象例如液晶驱动装置的集成电路进行测试的测试器；并且涉及即使对受测试对象供应或抽取电流，仍可正确地进行测定的集成电路测试器。
背景技术
液晶驱动装置从多支接脚输出多阶段(多阶层)电压，以驱动液晶显示器。测试此种液晶驱动装置的集成电路测试器已披露于例如日本公开专利公报第2002-98738号公报等；以下参照图1说明。
在图1中，受测试对象(以下略称DUT；Device Under Test)1为液晶驱动装置，从多支接脚输出多阶段电压。电压产生单元2输出因应DUT1的多阶段电压的偏移电压。偏移减算器3装设于DUT1的每支输出接脚，用以输入电压产生单元2的输出，并将DUT1的多阶段电压与电压产生单元2的电压二者间的电压差加以放大后再输出。开关4与偏移减算器3并列设置。A/D转换器5将偏移减算器3或开关4的输出加以输入。
以下说明如前述的装置的操作。于DUT1的输出在A/D转换器5的输入范围内时，将开关4切换为[ON]。而DUT1依未图标的信号产生单元所输入的输入模式，以输出阶段电压；再经由开关4，输入到A/D转换器5。A/D转换器5将所输入的电压转换成数字数据，未图标的计算单元即依该数字数据，以判断DUT1是否良好。
另外，于DUT1的输出在A/D转换器5的输入范围外时，将开关4切换为[OFF]，电压产生单元2将输出偏移电压。而DUT1依未图标的信号产生单元所输入的输入模式，以输出阶段电压。偏移减算器3从DUT1的输出将偏移电压减去之后，输出到A/D转换器5。A/D转换器5将所输入的电压转换成数字数据，未图标的计算单元即依该数字数据与偏移电压值，以判断DUT1是否良好。
然而，如前述的装置存在有以下的问题。首先，DUT1的输出电压的约略值必须是已知。若未施行适当的偏移电压设定等，测定电压会超出A/D转换器5的输入范围之外。并且，偏移电压值必须于测试程序中设定。
发明内容
本发明所欲解决的课题，在于实现一种集成电路测试器，用于不须采测试程序而设定偏移电压，即可供应适当的偏移电压，而能够抑制超过范围的情形。
为了实现本发明的上述目的，本发明提供了一种集成电路测试器，将受测试对象的输出减去偏移电压，以进行测定；其包括：电压测定单元，用以测定该受测试对象的输出；以及电压产生单元，用以依据该电压测定单元的测定结果，产生该偏移电压。
本发明还提供了一种集成电路测试器，将受测试对象的输出减去偏移电压，以进行测定；其包括：电压测定单元，用以测定该受测试对象的输出；电压产生单元，用以产生该偏移电压；以及控制单元，用以依据该电压测定单元的测定结果，设定该电压产生单元的偏移电压。
本发明还提供了一种集成电路测试器，将受测试对象的输出减去偏移电压，而藉由A/D转换器于狭小的测定范围内进行测定；其包括：电压测定单元，于宽广的测定范围内，测定该受测试对象的输出；电压产生单元，产生该偏移电压；以及控制单元，依据该电压测定单元的测定结果，设定该电压产生单元的偏移电压。
附图说明
图1示出了现有的集成电路测试器的构成图。
图2示出了本发明的第1实施例的构成图。
图3示出了本发明的第2实施例的构成图。
图4示出了本发明的第3实施例的构成图。
图5示出了本发明的第4实施例的构成图。
附图符号说明
1～受测试对象
2～电压产生单元
3～偏移减算器
4～开关
5～A/D转换器
6～电压测定单元
7，71，72，73～控制单元
21～基准电压源单元
22～多任务器
23～D/A转换器
61～比较器
62～A/D转换器
VH，VL～比较电压
V1，V2，V3～基准电压
具体实施方式
以下结合图详细说明本发明。
(实施例1)
图2示出了本发明的第1实施例的构成图。在此，与图1相同部份则标以同一标号，并省略其说明。
于图2中，电压测定单元6将DUT1的每支接脚的输出与A/D转换器5加以比较，于宽广的测定范围进行粗略的测定。控制单元7则输入电压测定单元6的测定结果，以设定电压产生单元2的偏移电压，再将A/D转换器5的输出加以输入。
以下说明如前述的装置的操作。于不须进行高精度的测定时，将开关器4切换为[ON]，扩大A/D转换器5的输入范围，并扩大测定范围。由于A/D转换器5的输出位数不变，以致于测定精度降低。而DUT1依未图标的信号产生单元所输入的输入模式，以输出阶段电压；经由开关4，输入到A/D转换器5。A/D转换器5将所输入的电压转换成数字数据，以判断DUT1是否良好。至于良好与否的判断，是进行DUT1的输出是否在希望的期望值范围内的判断或接脚间的变动的判断等。
另外，必须进行高精度的测定时，将开关4切换为[OFF]，缩小A/D转换器5的输入范围，并缩小测定范围。而DUT1依未图标的信号产生单元所输入的输入模式，以输出阶段电压。电压测定单元6将该DUT1的输出加以粗略测定，并输出到控制单元7。控制单元7依电压测定单元6的测定结果，以设定偏移电压予电压产生单元2。电压产生单元2输出偏移电压，偏移减算器3从DUT1的输出将偏移电压减去之后，输出到A/D转换器5。A/D转换器5将所输入的电压转换成数字数据。控制单元7藉由该数字数据与偏移电压值以求出DUT1的输出，以判断DUT1是否良好。
如前述，电压测定单元6将DUT1的输出于宽广的测定范围进行粗略的测定。由于控制单元7依该测定结果而设定偏移电压予电压产生单元2，因此不须采测试程序以设定偏移电压，即可供应适当的偏移电压，而能够抑制超过范围的情形。
另外，由于可缩小A/D转换器5所要求的测定范围，因此即使是精度低的A/D转换器5亦可进行高精度的测定。
此外，由于DUT1的输出是模拟信号，故须有一段趋稳时间。因此，以A/D转换器5进行测定之前，用电压测定单元6测定电压，并使电压产生单元2输出一偏移电压。亦即在不影响测试时间下，进行偏移电压的设定。
(实施例2)
图3示出了第2实施例的构成图。在此，与图2相同部份亦标以同一标号，并省略其说明。
于图3中，基准电压源单元21与多任务器22取代图2所示的电压产生单元2，二者成为电压产生单元。基准电压源单元21由多个基准电压源所形成，输出相异的基准电压V1～V3。多任务器22选择基准电压源单元21的相异的基准电压V1～V3，以作为偏移电压而输出到偏移减算器3。装设两比较器61以取代电压测定单元6，成为电压测定单元，以将DUT1的每支接脚的输出与比较电压VH、VL(V3＞VH＞V2＞VL＞V1)分别进行比较。控制单元71取代控制单元7而设置，其将比较器61的结果输入，并切换多任务器22，以指示偏移电压，还输入A/D转换器5的输出。
如前述的装置的操作与图2所示的装置约略相同，以下说明其相异点。两比较器61对于DUT1的输出是否在用以选择基准电压V1～V3的电压范围内，进行测定。亦即，DUT1的输出在比较器61的比较电压VH、VL二者间时，控制单元71使多任务器22选择基准电压源单元21的基准电压V2；DUT1的输出较比较电压VH为大时，控制单元71使多任务器22选择基准电压V3；DUT1的输出较比较电压VL为小时，控制单元71使多任务器22选择基准电压V1。之后，多任务器22再将偏移电压加以输出到偏移减算器3。
于此例中，由于偏移电压依据基准电压源的固定电压，因此不易受到漂移或渐趋稳定期间等的影响，而较容易提高精度。
(实施例3)
图4示出了第3实施例的构成图。在此，与图2相同部份亦标以同一标号，并省略其说明。
于图4中，设置D/A转换器23以取代电压产生单元2，将偏移电压输出到偏移减算器3。A/D转换器62则取代电压测定单元6而设置，并于宽广的测定范围内，以低精度将DUT1的每支接脚的输出加以测定。控制单元72取代控制单元7而设置，将A/D转换器62的测定结果输入，并设定D/A转换器23的偏移电压，也将A/D转换器5的输出加以输入。
如前述的装置的操作，由于仅是将电压产生单元2改为D/A转换器23，并将电压测定单元6改为A/D转换器62，而与图2所示的装置的操作相同，因此省略其说明。
(实施例4)
图5示出了第4实施例的构成图。在此，与图2所示装置相同的部份亦标以同一标号，并省略其说明。
于图5中，与图2相异地未设置电压测定单元6；另外，控制单元73取代控制单元7而设置，以控制开关4及A/D转换器5，并输入A/D转换器5的输出；于此同时，也设定电压产生单元2的偏移电压。
于前述的装置中，于不须进行高精度的测定时的操作与图2所示装置相同，故省略其说明。而于必须进行高精度的测定时，控制单元73将开关4切换为[ON]，并扩大A/D转换器5的输入范围，也扩大测定范围。之后，DUT1依未图标的信号产生单元所输入的输入模式，以输出阶段电压。A/D转换器5再经由开关4，测定该DUT1的输出，并将其输出到控制单元73。控制单元73将偏移电压设定予电压产生单元2。此时，控制单元73将开关4切换为[OFF]，并缩小A/D转换器5的输入范围，也缩小测定范围。电压产生单元2输出偏移电压；偏移减算器3从DUT1的输出将偏移电压减去之后，输出到A/D转换器5。A/D转换器5将所输入的电压转换成数字数据，以输出到控制单元73。
接着，于输入至DUT1的输入模式产生变化的情形时，控制单元73再度将开关4切换为[ON]，并扩大A/D转换器5的输入范围；A/D转换器5经由开关4测定DUT1的输出，并将其输出到控制单元73。控制单元73将偏移电压设定予电压产生单元2。此时，控制单元73将开关4切换为[OFF]，并缩小A/D转换器5的输入范围。电压产生单元2输出偏移电压；偏移减算器3从DUT1的输出将偏移电压减去之后，输出到A/D转换器5。A/D转换器5将所输入的电压转换成数字数据，以输出到控制单元73。反复进行如前述的操作，控制单元73再藉由偏移减去而得的数字数据与偏移电压值，以判断DUT1是否良好。
与此例中，由于A/D转换器5亦进行电压的测定，以设定偏移电压，因此不须设置电压测定单元。亦即，能够以低廉的价格构成。
其次，本发明并不限定于此；关于DUT1的例子，虽提示进行电压输出的液晶驱动装置，但亦可采用进行多阶段电流输出的有机EL(ElectronicLuminescent)驱动装置。此时，将I/V转换器设置于DUT1的输出段，以将输出电流转换成电压。
另外，所提示的构成虽系以偏移减算器3减去偏移电压，但若偏移电压为负电压时，亦可采用加算器的构成。
另外，所提示的构成虽是以电压测定单元6将DUT1的输出加以输出到控制单元7，而以控制单元7将偏移电压设定予电压产生单元2，但亦可由电压测定单元6直接设定偏移电压予电压产生单元2。此时，为使控制单元7取得DUT1的输出值，电压测定单元6当然必须将测定结果输出到控制单元7。
另外，所提示的构成虽采用两比较器61进行测定，但亦可采用多个比较器61而构成。例如，只要基准电压源单元21的基准电压V1～V3的数量增加时，即装置多数个比较器61，以使测定可一次进行。
另外，所提示的构成虽依DUT1的每支接脚而设置偏移减算器3、开关4、A/D转换器5、电压测定单元6；然而，亦可采用用来选择DUT1的接脚的扫描仪，藉由一组偏移减算器3、开关4、A/D转换器5、电压测定单元6，以进行测定。
另外，所提示的构成虽是以控制单元7、71～73进行DUT1良好与否的判断，但亦可藉由其它计算单元或数字比较器，以判断是否良好。此时，控制单元依电压测定单元的输出，仅进行电压产生单元的偏移电压的设定。而在采用数字比较器时，则于加上偏移电压值后，用数字比较器将其数值和预期值二者加以比较。

Claims (7)

1.一种集成电路测试器，将受测试对象的输出减去偏移电压，以进行测定；其特征为包括：
电压测定单元，用以测定该受测试对象的输出；以及
电压产生单元，用以依据该电压测定单元的测定结果，产生该偏移电压。
2.一种集成电路测试器，将受测试对象的输出减去偏移电压，以进行测定；其特征为包括：
电压测定单元，用以测定该受测试对象的输出；
电压产生单元，用以产生该偏移电压；以及
控制单元，用以依据该电压测定单元的测定结果，设定该电压产生单元的偏移电压。
3.如权利要求1或2所述的集成电路测试器，其中，该电压测定单元于宽广的测定范围内，测定受测试对象的输出；而于狭小的测定范围内，对于受测试对象的输出减去偏移电压所得的电压加以测定。
4.一种集成电路测试器，将受测试对象的输出减去偏移电压，而藉由A/D转换器于狭小的测定范围内进行测定；其特征为包括：
电压测定单元，于宽广的测定范围内，测定该受测试对象的输出；
电压产生单元，产生该偏移电压；以及
控制单元，依据该电压测定单元的测定结果，设定该电压产生单元的偏移电压。
5.如权利要求1、2、4中任一权利要求所述的集成电路测试器，其中，该电压测定单元是A/D转换器，该电压产生单元则是D/A转换器。
6.如权利要求1、2、4中任一权利要求所述的集成电路测试器，其中，该受测试对象是液晶驱动装置。
7.如权利要求1、2、4中任一权利要求所述的集成电路测试器，其中，该受测试对象的输出路线上设置有I/V转换器，用以将电流转换成电压。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110728935A (zh) * 2019-09-29 2020-01-24 昆山国显光电有限公司 显示面板的检测方法及检测装置

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4569647B2 (ja) * 2008-03-18 2010-10-27 ソニー株式会社 Ａｄ変換装置、ａｄ変換方法、固体撮像素子、およびカメラシステム

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0568135U (ja) * 1992-02-20 1993-09-10 横河電機株式会社 Ｄａ変換器のテスト装置
JPH06213970A (ja) * 1992-11-30 1994-08-05 Yokogawa Electric Corp Ｉｃテスト装置
JPH11112344A (ja) * 1997-09-30 1999-04-23 Nec Corp 減算回路を備える低電圧ａ／ｄ変換器
JP2002098738A (ja) * 2000-09-27 2002-04-05 Yokogawa Electric Corp Ｉｃテスタ
JP3983123B2 (ja) * 2002-07-11 2007-09-26 シャープ株式会社 半導体検査装置及び半導体検査方法
US6639539B1 (en) * 2002-10-22 2003-10-28 Bei Technologies, Inc. System and method for extending the dynamic range of an analog-to-digital converter
JP2005229257A (ja) * 2004-02-12 2005-08-25 Toshiba Corp アナログ／デジタルコンバータおよびそれを搭載したマイクロコンピュータ
JP2005265612A (ja) * 2004-03-18 2005-09-29 Kawasaki Microelectronics Kk テスト回路
JP2005300287A (ja) * 2004-04-09 2005-10-27 Yokogawa Electric Corp Ｉｃテスタ

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110728935A (zh) * 2019-09-29 2020-01-24 昆山国显光电有限公司 显示面板的检测方法及检测装置

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