JP2011040985A - Ad変換器 - Google Patents
Ad変換器 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011040985A JP2011040985A JP2009186392A JP2009186392A JP2011040985A JP 2011040985 A JP2011040985 A JP 2011040985A JP 2009186392 A JP2009186392 A JP 2009186392A JP 2009186392 A JP2009186392 A JP 2009186392A JP 2011040985 A JP2011040985 A JP 2011040985A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- input signal
- circuit
- converter
- time interval
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Abstract
【課題】簡単な構成で特殊な電子部品を必要とせず、精度・安定性の高いA/D変換器を提供する。
【解決手段】入力信号源を切り替えるためのアナログマルチプレクサ2と、このアナログマルチプレクサ出力をサンプリングするスイッチ5と、サンプリングされた電圧信号を保持するコンデンサ6と、このコンデンサ6に充電された電荷を一定速度で放電させるための定電流回路7と、一定速度で放電する電荷を時間間隔信号に変換するコンパレータ回路8と、その時間間隔信号を計数しデジタル値を得るカウンタ9と、スイッチ5を制御するデジタルコントローラ10とを設け、入力信号値とその計測値とから演算により未知電圧のデジタル値を得られるようにする。
【選択図】図1
【解決手段】入力信号源を切り替えるためのアナログマルチプレクサ2と、このアナログマルチプレクサ出力をサンプリングするスイッチ5と、サンプリングされた電圧信号を保持するコンデンサ6と、このコンデンサ6に充電された電荷を一定速度で放電させるための定電流回路7と、一定速度で放電する電荷を時間間隔信号に変換するコンパレータ回路8と、その時間間隔信号を計数しデジタル値を得るカウンタ9と、スイッチ5を制御するデジタルコントローラ10とを設け、入力信号値とその計測値とから演算により未知電圧のデジタル値を得られるようにする。
【選択図】図1
Description
この発明は、アナログ信号をデジタル信号に変換するAD変換器、特に構成が単純で、特殊な半導体などのデバイスを必要とせず、かつ多品種少量生産に適するAD変換器に関する。
AD変換器は、高精度・高分解能(16ビット以上)を必要とする分野(温度測定制御や、ロードセル応用・圧力および引っ張り力測定装置)では、逐次比較型AD変換器またはデルタ・シグマ(Δ・Σ)型AD変換器が多用されている。この種のAD変換器は高い精度の2進数的比較動作を必要とし、製造工程上、素子のトリミングには、高度な設備と技術が必要であるため、量産と大量販売により、製造単価を下げる仕組みが必要となる。市販形態は、半導体集積回路である。
またユーザーサイドの問題として、それら半導体集積回路を製品に組み込む際の初期費用(プリント基板設計・製作費用など)を必要とする。最近の半導体集積技術は微少化に向かっているので、市販製品のサイズは、端子間隔で0.5mmが当たり前になりつつあり、手作業による組み込み(取り付け)を困難としている。それら半導体製品の試用と評価作業も容易ではない。
一方、この種の従来例として、例えば非特許文献1に示すような二重積分方式AD変換器がある。その概要構成を図3に示し、図4にその動作波形を示す。
測定時にスイッチSを図3の上側に倒して、測定すべき未知電圧VXの積分を開始すると、制御回路が動作してカウンタがクロックパルスの計数を開始する。このとき、積分器の出力は図4のように低下し始める。
測定時にスイッチSを図3の上側に倒して、測定すべき未知電圧VXの積分を開始すると、制御回路が動作してカウンタがクロックパルスの計数を開始する。このとき、積分器の出力は図4のように低下し始める。
クロックパルスの計数値が予め設定した値N1に達すると、制御回路がスイッチSを図3の下側に切り替えるので、基準電圧VSが積分器に入力される。積分器の出力が上昇して0に達すると、制御回路は積分器の動作を停止させる。この積分器の出力が0に戻るまでの時間N2は、測定すべき未知電圧VXに比例する。また、基準電圧VSはN1に比例するので、未知電圧VX=N2・VS/ N1なる演算により求めることができる。
「二重積分型A/D変換器」平成21年6月24日検索、インターネット<URL:http//www.mlab.ice.uec.ac.jp/mit/text/singou/Siryo/Supplement−1/node6.html>
しかしながら、上記二重積分方式AD変換器は、充電放電の両方で積分動作を行なうため、AD変換時間が長くなるという問題がある。
従って、この発明の課題は、二重積分方式AD変換器よりもAD変換動作を高速化するとともに、精度安定度を高めることにある。
このような課題を解決するため、請求項1の発明は、入力信号源を順次切り替えるためのアナログマルチプレクサと、前記入力信号にバイアスを与えるバイアス回路と、このバイアス回路出力をサンプリングするスイッチと、サンプリングされた電圧信号を保持するコンデンサと、このコンデンサに充電された電荷を一定速度で放電させるための定電流回路と、一定速度で放電する電荷を時間間隔信号に変換するコンパレータ回路と、その時間間隔信号を計数しデジタル値を得るカウンタと、前記スイッチを制御するデジタルコントローラとを備えたことを特徴とする。
請求項1の発明においては、前記入力信号源のサンプリングに対し影響を与えないようにするために、バッファアンプを設けることができ(請求項2の発明)、また、請求項1または2の発明においては、前記デジタルコントローラは、前記デジタル値を表示器を含む外部機器に出力するインターフェース回路を有することができ(請求項3の発明)、さらに、請求項1〜3のいずれかの発明においては、入力信号を第1の基準電圧,第2の基準電圧および未知電圧とし、この第1,第2の基準電圧とこれらの各時間間隔信号値とを用いて所定の演算を行ない、前記未知電圧のデジタル値を求めることができる(請求項4の発明)。
すなわち、この発明の特徴は、特に高速というわけではないが単純な構成であること、特殊な半導体デバイスなどを用いることなく、多品種少量生産装置への対応に適していることなどである。回路の核となる部分には分離部品を用い、時間間隔信号の長さを選択することが容易(コンデンサ容量Cおよび定電流値Iを変えることで可能)であるので、一つの回路中の定数変更のみで動作時間と分解能の選択が可能となる。そのため、比較的低いコストで高度な性能(16〜24ビット)からありふれた性能(16ビット以下)まで、幅広く対応可能である。また、パッケージ化された半導体式AD変換器に比べ、比較的低いコストで高度な性能からありふれた性能までを提供することができる。
この発明によれば、充電動作を急速に行なうことで、従来の二重積分型と比較して、変換動作時間をほぼ半減することができる。また、単純な構成であること、特殊な半導体などのデバイスを用いないので、少量生産装置への応用に適しているという利点もある。一方で、時間間隔信号を発生する部分にコンデンサを使っているため、環境、特に温度の影響を受け易く精度安定度が低い。そこで、基準データ入力量を基に、特性をリアルタイムで修正し、未知入力量を補正する構成とすることにより、精度安定度を向上させるようにしている。
図1はこの発明の実施の形態を示す構成図である。
同図において、1は入力信号源、2はマルチプレクサ、3はバイアス回路、4はバッファアンプ、5はサンプリングスイッチ(回路)、6はコンデンサ、7は定電流回路、8はコンパレータ、9はカウンタ、10はデジタルコントローラで、VHは最大基準電圧、VLは最小基準電圧、VXは未知電圧、VBはバイアス電圧を示す。なお、図1には明示されていないが、コンパレータ8からの時間間隔信号は、デジタルコントローラ10へ割り込み信号として与えるものとする。
同図において、1は入力信号源、2はマルチプレクサ、3はバイアス回路、4はバッファアンプ、5はサンプリングスイッチ(回路)、6はコンデンサ、7は定電流回路、8はコンパレータ、9はカウンタ、10はデジタルコントローラで、VHは最大基準電圧、VLは最小基準電圧、VXは未知電圧、VBはバイアス電圧を示す。なお、図1には明示されていないが、コンパレータ8からの時間間隔信号は、デジタルコントローラ10へ割り込み信号として与えるものとする。
ここに、バイアス回路3は入力信号に一定のバイアス電圧VBを与えて、入力信号のゼロ近辺を忠実にデジタル変換できるようにするとともに、内部的には片極性化することで外部的には正負極性(バイポーラ)動作を実現するために設けられる。また、バッファアンプ4は入力信号源1のサンプリングに対し、後段の回路に影響を与えないようにするために設けられる。なお、デジタルコントローラ10には、変換出力値としてのデジタル値を、表示器を含む外部機器に出力するインターフェース回路を設けることができる。バッファアンプやインターフェース回路は必要に応じて設けることができる。
図1の動作について、図2を参照して説明する。
いま、入力アナログ信号ViにバイアスVBを加えた電圧で、容量C(ファラッド)のコンデンサを充電すると、電荷は(Vi+VB)*C(クーロン)となる。式中の星印「*」は積(掛算)を示す(以下同様)。
いま、入力アナログ信号ViにバイアスVBを加えた電圧で、容量C(ファラッド)のコンデンサを充電すると、電荷は(Vi+VB)*C(クーロン)となる。式中の星印「*」は積(掛算)を示す(以下同様)。
この電圧(Vi+VB)が、コンパレータ8の基準電圧Vcpになるまでに放電される電気量は、電圧変化分*静電容量=(Vi+VB-Vcp)*C(クーロン)である。
そしてこの電荷量は、電流Iと放電に要する時間Tとの積分として計算することができる。電流一定の積分なので、放電される電荷はT*I(クーロン)である。つまり、
(Vi+VB-Vcp)*C=T*I(クーロン)となる。
そしてこの電荷量は、電流Iと放電に要する時間Tとの積分として計算することができる。電流一定の積分なので、放電される電荷はT*I(クーロン)である。つまり、
(Vi+VB-Vcp)*C=T*I(クーロン)となる。
上の式を、基準電圧VH、VLおよび未知電圧VXにそれぞれ適用することにより、次の3式を得る。
(VH+VB-Vcp)*C=TH*I…(1)
(VL+VB-Vcp)*C=TL*I…(2)
(VX+VB-Vcp)*C=TX*I…(3)
ここにTH,TLおよびTXは、マルチプレクサ2が、それぞれVH、VLおよびVXを指している時、得られる時間間隔信号の長さである。
(VH+VB-Vcp)*C=TH*I…(1)
(VL+VB-Vcp)*C=TL*I…(2)
(VX+VB-Vcp)*C=TX*I…(3)
ここにTH,TLおよびTXは、マルチプレクサ2が、それぞれVH、VLおよびVXを指している時、得られる時間間隔信号の長さである。
上記3式から、VXは次の式で与えられる。
VX=[VH*(TX-TL)+VL*(TH-TX)]/(TH-TL)
=[(VH-VL)*(TX-TL)]/(TH-TL)+VL…(4)
上記(4)式は、基準電圧VHとVLを既知として、測定値TH、TLおよびTXから、未知量VXを求められることを示している。
VX=[VH*(TX-TL)+VL*(TH-TX)]/(TH-TL)
=[(VH-VL)*(TX-TL)]/(TH-TL)+VL…(4)
上記(4)式は、基準電圧VHとVLを既知として、測定値TH、TLおよびTXから、未知量VXを求められることを示している。
電子回路の要素である半導体増幅器のドリフトおよび感度変化、コンデンサ容量変化などは、長時間周期の現象であるのに対し、ここで問題とするVH,VLおよびVXを測定する短時間(1秒以下)では、一定と考えられる。従って (1),(2)および(3)式中のVB、Vcp、CおよびIは固定量と考えて良く、(1)〜(3)式はこれらを含む連立方程式と見なすことができる。
すなわち、装置を介して得られるデジタル値は、基準信号として入力する値も含め、実データは変動する。そこで、基準信号に対応するデジタル実データの変動原因は、本AD変換器の生の特性が変動しているからであると仮定し、この発明によるデジタルコントローラ10は、基準データ入力量を基に特性をリアルタイムで修正し、未知入力量を補正して得るようにている(上記(4)式)。つまり、この基準信号は、測量作業における水準点(ベンチマーク)に相当すると言うことができる。
1…入力信号源、2…マルチプレクサ、3…バイアス回路、4…バッファアンプ、5…サンプリングスイッチ(回路)、6…コンデンサ、7…定電流回路、8…コンパレータ、9…カウンタ、10…デジタルコントローラ、VH…最大基準電圧、VL…最小基準電圧、Vcp…基準電圧、VX…未知電圧、VB…バイアス電圧。
Claims (4)
- 入力信号源を順次切り替えるためのアナログマルチプレクサと、前記入力信号にバイアスを与えるバイアス回路と、このバイアス回路出力をサンプリングするスイッチと、サンプリングされた電圧信号を保持するコンデンサと、このコンデンサに充電された電荷を一定速度で放電させるための定電流回路と、一定速度で放電する電荷を時間間隔信号に変換するコンパレータ回路と、その時間間隔信号を計数しデジタル値を得るカウンタと、前記スイッチを制御するデジタルコントローラとを備えたことを特徴とするAD変換器。
- 前記入力信号源のサンプリングに対し影響を与えないようにするために、バッファアンプを設けることを特徴とする請求項1に記載のAD変換器。
- 前記デジタルコントローラは、前記デジタル値を表示器を含む外部機器に出力するインターフェース回路を有することを特徴とする請求項1または2に記載のAD変換器。
- 入力信号を第1の基準電圧,第2の基準電圧および未知電圧とし、この第1,第2の基準電圧とこれらの各時間間隔信号値とを用いて所定の演算を行ない、前記未知電圧のデジタル値を求めることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1つに記載のAD変換器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009186392A JP2011040985A (ja) | 2009-08-11 | 2009-08-11 | Ad変換器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009186392A JP2011040985A (ja) | 2009-08-11 | 2009-08-11 | Ad変換器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011040985A true JP2011040985A (ja) | 2011-02-24 |
Family
ID=43768304
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009186392A Pending JP2011040985A (ja) | 2009-08-11 | 2009-08-11 | Ad変換器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2011040985A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8854243B2 (en) | 2012-05-31 | 2014-10-07 | Fujitsu Limited | AD converter circuit and ad conversion method |
KR20150009111A (ko) * | 2013-07-15 | 2015-01-26 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 스위치드 커패시터 회로 및 그에 따른 아날로그-디지털 변환 장치와 씨모스 이미지 센서 |
CN106840440A (zh) * | 2017-03-03 | 2017-06-13 | 成都信息工程大学 | 一种基于mcu内部比较器的温度采集器及温度采集方法 |
-
2009
- 2009-08-11 JP JP2009186392A patent/JP2011040985A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8854243B2 (en) | 2012-05-31 | 2014-10-07 | Fujitsu Limited | AD converter circuit and ad conversion method |
KR20150009111A (ko) * | 2013-07-15 | 2015-01-26 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 스위치드 커패시터 회로 및 그에 따른 아날로그-디지털 변환 장치와 씨모스 이미지 센서 |
KR101979662B1 (ko) * | 2013-07-15 | 2019-05-17 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 스위치드 커패시터 회로 및 그에 따른 아날로그-디지털 변환 장치와 씨모스 이미지 센서 |
CN106840440A (zh) * | 2017-03-03 | 2017-06-13 | 成都信息工程大学 | 一种基于mcu内部比较器的温度采集器及温度采集方法 |
CN106840440B (zh) * | 2017-03-03 | 2023-07-28 | 成都信息工程大学 | 一种基于mcu内部比较器的温度采集器及温度采集方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN101578526B (zh) | 积分时间和/或电容测量系统、方法及设备 | |
CN103441764B (zh) | 一种电流频率转换电路 | |
US6979995B2 (en) | Frequency measuring circuit and resonant pressure sensor type differential pressure/pressure transmitter using the frequency measuring unit | |
US11022487B2 (en) | Optical sensor arrangement and method for light sensing | |
JP6270403B2 (ja) | 半導体装置及び電子制御装置 | |
CN108693400B (zh) | 一种双斜分数阶积分式模数转换器 | |
EP2966455A1 (en) | Electronic measurement circuit for a capacitive sensor | |
US20130271308A1 (en) | Single slope ad converter circuit provided with compartor for comparing ramp voltage with analog input voltage | |
EP3059553A1 (en) | Electronic measurement circuit | |
JP2011040985A (ja) | Ad変換器 | |
JP5675299B2 (ja) | パルス長計測回路 | |
TW201729543A (zh) | 阻抗至數位轉換器、阻抗至數位轉換裝置及方法 | |
US11936396B2 (en) | AD converter with self-calibration function | |
JP2012124774A (ja) | Ad変換装置およびda変換装置 | |
EP3296709B1 (en) | Temperature-to-digital converter | |
US9859887B2 (en) | Impedance-to-digital converter, impedance-to-digital converting device, and method for adjustment of impedance-to-digital converting device | |
JP2013015444A (ja) | 信号処理装置、信号処理方法、及び信号処理プログラム | |
TWI414796B (zh) | 電容量測裝置及其方法 | |
JP4775214B2 (ja) | Σδad変換回路 | |
CN106257839B (zh) | 传感器装置以及检测方法 | |
JP2012112873A (ja) | 周波数計測回路 | |
JP5447979B2 (ja) | 温度測定器 | |
JP5190969B2 (ja) | 電圧増倍回路 | |
KR20170014668A (ko) | 정전용량 변화측정장치 | |
JP2015031680A (ja) | 周波数検出器 |