CN101442312B - 模拟数字转换器 - Google Patents

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Abstract

一种模拟数字转换器，其包括误差放大器、斜波产生器以及计数电路。其中，误差放大器用以接收一输出电压与一参考电压，并利用所述输出电压与参考电压的差异值作一放大处理，以得到一第一电压与一第二电压。斜波产生器用以产生随时间上升的一斜波电压。计数电路用以比较该斜波电压与该第一电压以及比较该斜波电压与该第二电压，当所述斜波电压大于等于所述第一电压时，开始计数一数字值，并当所述斜波电压大于等于所述第二电压时，停止计数并输出所述数字值，且所输出的该数字值代表了该输出电压与该参考电压的差异值大小。

Description

模拟数字转换器
技术领域
本发明涉及一种电子电路的技术，且特别是涉及一种具有高精确模拟数字转换功能的模拟数字转换器。 
背景技术
平面显示器，例如：液晶显示器(LCD)，近年来已经被广泛地使用。液晶显示器具有消耗功率低、体积小、重量轻、分辨率高、色彩饱和度高及产品寿命长等优点，因而广泛地被应用在笔记型计算机或桌上型计算机的液晶屏幕及液晶电视(LCD TV)等与生活息息相关的电子产品。其中，液晶显示器的驱动电路更是影响液晶显示器质量及成本的关键元件。 
为了确保液晶显示器能够正常动作，液晶显示器驱动电路在封装时必须要做测试。目前，液晶显示器驱动电路，例如：源极驱动芯片，在封装测试时，会做芯片探针(Chip Probe，简称CP)测试。其中，在对源极驱动芯片作芯片探针测试时，由于源极驱动芯片所输出的模拟电压需要相当准确，故测试此源极驱动芯片需要使用非常精确而昂贵的模拟测试机台来测试每一个源极驱动芯片的接脚的电压。 
然而，随着液晶显示器的液晶显示面板尺寸越来越大，故源极驱动芯片的输出针脚数量也会越来越多。因此，芯片探针测试的工作量也会随之越来越大，故而发展出便宜而快速的测试装置以取代昂贵的测试机台已显得刻不容缓。 
发明内容
本发明的目的就是在提供一种模拟数字转换器，用低成本做到精确模拟数字转换，以达到降低测试成本的目的。 
本发明提出一种模拟数字转换器，包括误差放大器、斜波产生器，以及计数电路。其中，误差放大器用以接收一输出电压与一参考电压，并利用所述输出电压与参考电压的差异值作一放大处理，以得到一第一电压与一第二电压。斜波产生器用以产生随时间上升的一斜波电压。计数电路用以比较该斜波电压与该第一电压以及比较该斜波电压与该第二电压，当所述斜波电压大于等于所述第一电压时，开始计数一数字值，并当所述斜波电压大于等于所述第二电压时，停止计数并输出所述数字值，且所输出的该数字值代表了该输出电压与该参考电压的差异值大小。
在本发明的一实施例中，所述的模拟数字转换器还包括：一校正单元，具有一校正模式与一测试模式，用以当该校正单元处在该校正模式时，接收一第一校正电压与一第二校正电压，并据以提供至该误差放大器，而该误差放大器利用该第一校正电压与该第二校正电压的差异值作该放大处理，以得到该第一电压与该第二电压；其中，该校正单元根据该模拟数字转换器依据该第一校正电压与该第二校正电压所产生的该数字值，而决定是否对该模拟数字转换器作补偿，以消除该模拟数字转换器本身的误差。 
在本发明的一实施例中，当该校正单元处在该测试模式时，用以接收该输出电压与该参考电压，并据以提供至该误差放大器，而该误差放大器利用该输出电压与该参考电压的差异值作该放大处理，以得到该第一电压与该第二电压。 
在本发明的一实施例中，该校正单元依据外部的一数字测试机台所产生的一控制信号而决定其处在该校正模式或该测试模式。 
在本发明的一实施例中，该计数电路包括：一第一比较器，其第一输入端接收该斜波电压，其第二输入端接收该第一电压，当该斜波电压大于等于该第一电压时，其输出端输出一第一致能信号；一第二比较器，其第一输入端接收该斜波电压，其第二输入端接收该第二电压，当该斜波电压大于等于该第二电压时，其输出端输出一第二致能信号；以及一计数器，当该第一致能信号致能时，开始计数该数字值，当该第二致能信号致能时，停止计数并输出该数字值。 
在本发明的另一实施例中，该计数电路包括：一第一比较器，其第一输入端接收该斜波电压，其第二输入端接收该第一电压，当该斜波电压大于等于该第一电压时，其输出端输出一第一致能信号；一第二比较器，其第一输入端接收该斜波电压，其第二输入端接收该第二电压，当该斜波电压大于等于该第二电压时，其输出端输出一第二致能信号；一逻辑门，接收该第一致能信号以及该第二致能信号，输出一逻辑致能信号；以及一计数器，当该逻 辑致能信号致能时，开始计数该数字值，当该逻辑致能信号失能时，停止计数并输出该数字值。 
在本发明的一实施例中，该误差放大器包括：一全差动放大器，其正输入端接收该输出电压，其负输入端接收该参考电压，其正输出端输出该第一电压，而其负输出端输出该第二电压。 
在本发明的一实施例中，该误差放大器还包括：一第一电容，一端接收该输出电压，另一端耦接该全差动放大器的正输入端；一第二电容，一端接收该参考电压，另一端耦接该全差动放大器的负输入端；一第三电容，耦接在该全差动放大器的正输入端与负输出端之间；以及一第四电容，耦接在该全差动放大器的负输入端与正输出端之间。 
为使本发明的上述和其它目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并结合附图详细说明如下。 
附图说明
图1示出了本发明一实施例的测试装置的电路方块图。 
图2示出了本发明一实施例的模拟数字转换器的电路方块图。 
图3A与图3B分别示出了本发明一实施例的计数电路的电路方块图。 
图4示出了本发明一实施例的误差放大器的电路方块图。 
图5示出了本发明一实施例的测试装置的配置图。 
附图符号说明 
100：测试装置 
101：选择电路 
102：参考电压产生电路 
103：模拟数字转换器 
104：显示器驱动电路 
105：数字测试机台 
VREF：参考电压 
pin1、pin2：显示器驱动电路的输出垫 
Vs：选择电路的输出电压 
VAL：数字值 
Vc1：第一校正电压 
Vc2：第二校正电压 
CS：控制信号 
201：误差放大器 
202：斜波产生器 
203：计数电路 
204：校正单元 
V1：第一电压 
V2：第二电压 
Vramp：斜波电压 
301：第一比较器 
302：第二比较器 
303：计数器 
EN1：第一致能信号 
EN2：第二致能信号 
304：逻辑门 
405：全差动放大器 
C401～C404：电容 
具体实施方式
图1示出了本发明一实施例的测试装置100的电路方块图。请参考图1，此测试装置100包括选择电路101、参考电压产生电路102以及模拟数字转换器103。而为了要方便说明本发明所要阐述的精神，在此图1中还示出了一个待测的显示器驱动电路104与一台数字测试机台105。其中，在此假设显示器驱动电路104为液晶显示器所使用的源极驱动器(source driver)，且数字测试机台105是用以输出已知的测试数据至此待测的源极驱动器104，藉此，测试装置100再据以进行测试后以将其测试结果输出至数字测试机台105，这样数字测试机台105即可判断出此待测的源极驱动器104的良窳。 
另外，在本实施例中，假设此源极驱动器104的输出电压范围为0～14V，且此源极驱动器104的每个通道所接收的像素数据为8位，故相邻两灰阶的驱动电压间的差异即为14V/256＝54.7mV。 
在本实施例中，当测试装置100要进行测试时，源极驱动器104的每个信道接收由数字测试机台105输出的相同的像素数据，因此，在理想的情况下，此源极驱动器104的每一个信道所输出的电压应该相同。举例来说，假设上述所输入的像素数据为128，故源极驱动器104的每一个通道的输出垫所输出的电压应当会落在7V左右。再者，假设上述所输入的像素数据为64，故源极驱动器104的每一个输出垫所输出的电压应当会落在3.5V左右。 
上述的假设仅限以说明使用，亦即实际上的源极驱动器104并不一定是线性输出，其仍有可能必须经由例如GAMMA修正或穿透率修正等等。 
一般而言，判断一个源极驱动器104是否符合规格，其输出电压是否准确并非为最重要的判断依据，而是其输出电压的一致性，也就是说，在相同像素数据下，在其每个接脚的输出电压是否非常相近。 
在本实施例中，参考电压产生电路102耦接源极驱动器104的第1与第2个输出垫pin1与pin2，来用以产生一个参考电压VREF。一般而言，参考电压产生电路102例如可以依据输出垫pin1与pin2的输出电压的极性而择一作为上述的参考电压VREF，或将输出垫pin1与pin2所输出的电压作平均以作为上述的参考电压VREF。 
选择电路101包括多数个输入端与一个输出端，其中选择电路101的输入端分别耦接源极驱动器104的多个输出垫，以选择上述输出垫的其中之一电连接到选择电路101的输出端。模拟数字转换器103耦接选择电路101的输出端，并根据选择电路101的输出端所输出的输出电压Vs与参考电压产生电路102所产生的参考电压VREF而产生一个数字值VAL。 
故依据上述可知，若利用上述实施例的测试装置100来进行测试时，其只需要利用数字测试机台105来用以判读上述的数字值VAL后，即可知道源极驱动器104的输出垫间的电压误差。由于本测试装置100的参考电压是由待测的源极驱动器104本身所产生，如此，外部便不需要提供精准而昂贵的模拟测试机台来产生精确的参考电压，且也不需利用模拟测试机台对源极驱动器104的每个输出通道进行精确的测量，故本实施例所提供的测试装置100便可大大地降低测试成本。 
虽然上述实施例提供了一种测试装置100的实施型态，但本领域技术人员应当可知，要做到准确的模拟数字转换器103并不容易。故在此提供一个模拟数字转换器103的实施例，以便于本领域技术人员能够据以实施上述实施例所提出的测试装置100。 
图2示出了本发明一实施例的模拟数字转换器103的电路方块图。请一并参考图1及图2，模拟数字转换器103包括误差放大器201、斜波产生器202、计数电路203，以及校正单元204。其中，误差放大器201的正端用以接收选择电路101的输出端所输出的输出电压Vs，而误差放大器201的负端则用以接收参考电压产生电路102所产生的参考电压VREF。以理想的情况来 说，源极驱动器104的各输出垫间所输出的电压差异会很小，故通过误差放大器201将上述输出电压Vs与参考电压VREF的差异值作放大处理后会得到一差动对信号，其包括第一电压V1及第二电压V2。另外，本实施例的斜波产生器202会产生随时间上升的斜波电压Vramp，例如为锯齿波或三角波。 
在本实施例中，当斜波电压Vramp大于等于第一电压V1时，计数电路203便开始计数数字值VAL，并当斜波电压Vramp大于等于第二电压V2时，计数电路203便停止计数并输出上述数字值VAL。其中，当此数字值VAL越大时，代表了选择电路101所选择的输出垫的输出电压Vs与参考电压VREF的差距越大，亦即代表此源极驱动器104的质量很差，而当此数字值VAL越小时，代表了选择电路101所选择的输出垫的输出电压Vs与参考电压VREF的差距越小，亦即代表此源极驱动器104的质量很好。 
此外，校正单元204具有校正模式与测试模式，其中此校正单元204依据数字测试机台105所输出的控制信号CS，而决定其处在校正模式或测试模式，并当校正单元204处在校正模式时，其会接收数字测试机台105所提供的第一校正电压Vc1与第二校正电压Vc2，并据以提供至误差放大器201的正端及负端，而误差放大器201此时会利用第一校正电压Vc1与第二校正电压Vc2的差异值作放大处理，以得到上述的第一电压V1与第二电压V2。接着，校正单元204会根据模拟数字转换器103依据第一校正电压Vc1与第二校正电压Vc2所产生的数字值VAL，而决定是否对模拟数字转换器103作补偿，以消除模拟数字转换器103本身的误差。 
在本实施例中，第一校正电压Vc1与第二校正电压Vc2可通过使用者对数字测试机台105作定义，故而可知的是，第一校正电压Vc1与第二校正电压Vc2是已知的数值，所以模拟数字转换器103此时依据第一校正电压Vc1与第二校正电压Vc2所产生的数字值VAL即可事先预知。故当模拟数字转换器103依据第一校正电压Vc1与第二校正电压Vc2实际所产生的数字值VAL与上述预先知道的数字值VAL不同时，即可知晓模拟数字转换器103本身有误差，此时校正单元204便会对模拟数字转换器103作补偿，以消除模拟数字转换器103本身的误差。 
而值得一提的是，若当模拟数字转换器103本身相当精准时，亦即模拟数字转换器103本身并没有误差，此时模拟数字转换器103就不需加入校正单元204。 
另外，当校正单元204对模拟数字转换器103作补偿，以消除模拟数字转换器103本身的误差后，数字测试机台105便会再次输出控制信号CS，以致使校正单元204处在测试模式，故此时校正单元204就会接收选择电路101的输出端所输出的输出电压Vs与上述的参考电压VREF，并据以提供至误差放大器201的正端及负端，这样本发明所提出的测试装置100便可精准的测量源极驱动器104的所有输出垫间的电压误差。 
图3A与图3B分别示出了本发明一实施例的计数电路203的电路方块图。请先参考图3A，图3A的计数电路203包括第一比较器301、第二比较器302，以及计数器303。其中，第一比较器301及第二比较器302的正端接收上述的斜波电压Vramp，第一比较器301及第二比较器302的负端分别接收上述的第一电压V1及第二电压V2，而第一比较器301及第二比较器302的输出端则分别输出第一致能信号EN1及第二致能信号EN2，以当第一致能信号EN1致能时，亦即为逻辑高电平，计数器303便会开始计数数字值VAL，并当第二致能信号EN2致能时，计数器303会停止计数并输出数字值VAL。 
接下来，请再参考图3B，图3B与图3A所披露的计数电路203的结构类似，其差别在于计数器303与第一、第二比较器301、302之间多了一个逻辑门304。依据计数电路203的运作方式来说，此逻辑门304应使用异或门(XOR gate)，以当异或门304的输出为逻辑高电平时，则表示斜波电压Vramp提升到大于第一电压V1，此时计数器303便开始计数数字值VAL，并当异或门304的输出由逻辑高电平转为逻辑低电平时，则表示斜波电压Vramp提升到大于第二电压V2，此时计数器303便停止计数并输出数字值VAL。 
然而，本领域技术人员应当可知，若斜波电压Vramp与第一、第二电压V1、V2所耦接的第一、第二比较器301、302的正负端点不同时，所选用的逻辑门也会随之改变，故本发明应当不以所例举的异或门为限。 
在本实施例可以清楚地看出，模拟数字转换器103虽然难以达到像一般模拟数字转换器能进行快速的模拟数字转换，但是本实施例的模拟数字转换器103可以做到非常精准的模拟数字转换，相当于以时间换取模拟数字转换的准确性。故可以预期的是，本实施例的模拟数字转换器103的电路尺寸将会非常小，故其制作成本将会非常的低廉。 
图4示出了本发明一实施例的误差放大器201的电路方块图。请参考图4，误差放大器201包括全差动放大器405以及第一、第二、第三与第四电 容C401～C404。其中，第一电容C401的一端接收上述输出电压Vs，而其另一端耦接全差动放大器405的正输入端。第二电容C402的一端接收上述参考电压VREF，而其另一端耦接全差动放大器405的负输入端。第三电容C403耦接于全差动放大器405的正输入端与负输出端之间，而第四电容C404则耦接于全差动放大器405的负输入端与正输出端之间。其中，全差动放大器405的正输出端与负输出端用以各别输出第一与第二电压V1、V2。 
图5示出了本发明一实施例的测试装置的配置图。请参考图5，由上述几个实施例的叙述不难发现，本实施例的测试装置100可以整合于芯片上，以作内建自我测试(Build-In Self-Test)。在本实施例中，测试装置100配置在每个芯片(die)附近的切割线(Scribe Line)上，而一般的源极驱动芯片宽度大约为14500um，且切割线的宽度约为80um。如此，这样的尺寸足以将本发明的测试装置100实施于芯片上作内建自我测试。故当测试装置100进行测试完毕后，便可将此测试装置100在芯片进行切割时将其割除即可，因此不需增加芯片面积。 
综上所述，本发明所提出的模拟数字转换器至少具有下列好处： 
1.可以做到极度精确的模拟数字转换；以及 
2.容易内建在面积小的芯片中，以应用在集成电路的内建式自我测试(BIST)上，这样即可减少许多不必要的测试成本。 
虽然本发明已经以较佳实施例披露如上，但其并非用以限定本发明，本领域技术人员，在不脱离本发明精神和范围的前提下，当可作若干的更改与修饰，因此本发明的保护范围应以本发明的权利要求为准。 

Claims (8)

1.一种模拟数字转换器，包括：
一误差放大器，用以接收一输出电压与一参考电压，并利用该输出电压与该参考电压的差异值作一放大处理，以得到一第一电压与一第二电压；
一斜波产生器，用以产生随时间上升的一斜波电压；以及
一计数电路，用以比较该斜波电压与该第一电压以及比较该斜波电压与该第二电压，当该斜波电压大于等于该第一电压时，开始计数一数字值，并当该斜波电压大于等于该第二电压时，停止计数并输出该数字值，且所输出的该数字值代表了该输出电压与该参考电压的差异值大小。
2.如权利要求1所述的模拟数字转换器，还包括：
一校正单元，具有一校正模式与一测试模式，用以当该校正单元处在该校正模式时，接收一第一校正电压与一第二校正电压，并据以提供至该误差放大器，而该误差放大器利用该第一校正电压与该第二校正电压的差异值作该放大处理，以得到该第一电压与该第二电压；
其中，该校正单元根据该模拟数字转换器依据该第一校正电压与该第二校正电压所产生的该数字值，而决定是否对该模拟数字转换器作补偿，以消除该模拟数字转换器本身的误差。
3.如权利要求2所述的模拟数字转换器，其中当该校正单元处在该测试模式时，用以接收该输出电压与该参考电压，并据以提供至该误差放大器，而该误差放大器利用该输出电压与该参考电压的差异值作该放大处理，以得到该第一电压与该第二电压。
4.如权利要求3所述的模拟数字转换器，其中该校正单元依据外部的一数字测试机台所产生的一控制信号而决定其处在该校正模式或该测试模式。
5.如权利要求1所述的模拟数字转换器，其中该计数电路包括：
一第一比较器，其第一输入端接收该斜波电压，其第二输入端接收该第一电压，当该斜波电压大于等于该第一电压时，其输出端输出一第一致能信号；
一第二比较器，其第一输入端接收该斜波电压，其第二输入端接收该第二电压，当该斜波电压大于等于该第二电压时，其输出端输出一第二致能信号；以及
一计数器，当该第一致能信号致能时，开始计数该数字值，当该第二致能信号致能时，停止计数并输出该数字值。
6.如权利要求1所述的模拟数字转换器，其中该计数电路包括：
一第一比较器，其第一输入端接收该斜波电压，其第二输入端接收该第一电压，当该斜波电压大于等于该第一电压时，其输出端输出一第一致能信号；
一第二比较器，其第一输入端接收该斜波电压，其第二输入端接收该第二电压，当该斜波电压大于等于该第二电压时，其输出端输出一第二致能信号；
一逻辑门，接收该第一致能信号以及该第二致能信号，输出一逻辑致能信号；以及
一计数器，当该逻辑致能信号致能时，开始计数该数字值，当该逻辑致能信号失能时，停止计数并输出该数字值。
7.如权利要求1所述的模拟数字转换器，其中该误差放大器包括：
一全差动放大器，其正输入端接收该输出电压，其负输入端接收该参考电压，其正输出端输出该第一电压，而其负输出端输出该第二电压。
8.如权利要求7所述的模拟数字转换器，其中该误差放大器还包括：
一第一电容，一端接收该输出电压，另一端耦接该全差动放大器的正输入端；
一第二电容，一端接收该参考电压，另一端耦接该全差动放大器的负输入端；
一第三电容，耦接在该全差动放大器的正输入端与负输出端之间；以及
一第四电容，耦接在该全差动放大器的负输入端与正输出端之间。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102006013000A1 (de) * 2006-03-22 2007-09-27 Conti Temic Microelectronic Gmbh Verfahren und Anordnung zum digitalen Übermitteln eines analogen Messsignals
US7804438B2 (en) * 2008-05-02 2010-09-28 Alexander Krymski Image sensors and dual ramp analog-to-digital converters and methods
JP2010096785A (ja) * 2008-10-14 2010-04-30 Nec Electronics Corp 表示駆動回路及びテスト方法
WO2011064623A1 (en) * 2009-11-30 2011-06-03 Freescale Semiconductor, Inc. Integrated circuit comprising reference voltage generation circuitry and electronic device
TWI502207B (zh) * 2011-02-14 2015-10-01 Au Optronics Corp 用來測試面板上所連結之複數個訊號傳輸線之電性連接狀態的方法以及相關的積體電路與顯示面板模組
US8542053B2 (en) 2011-04-22 2013-09-24 National Yunlin University Of Science And Technology High-linearity testing stimulus signal generator
CN104052262B (zh) * 2013-03-15 2018-02-13 英特赛尔美国有限公司 用于电源集成电路的数字电压补偿
US9118245B2 (en) 2013-03-15 2015-08-25 Intersil Americas LLC Digital voltage compensation for power supply integrated circuits
AU2014241142B2 (en) 2013-03-27 2017-09-28 Mercury Mission Systems, Llc LCD source driver feedback system and method
CN104237661B (zh) * 2013-06-14 2017-06-09 英华达（上海）科技有限公司 可自动切换检测电压的检测系统及其电压校准检测方法
KR102320425B1 (ko) * 2014-12-24 2021-11-03 엘지디스플레이 주식회사 표시장치 및 데이터 구동부
TWI703549B (zh) * 2018-03-08 2020-09-01 瑞鼎科技股份有限公司 應用於顯示裝置之電壓校正電路及電壓校正方法
TWI743972B (zh) * 2020-09-01 2021-10-21 瑞昱半導體股份有限公司 快閃式類比數位轉換器與校正方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN86202816U (zh) * 1986-05-02 1988-06-15 南京师范大学 廉价的多功能模数转换接口
US20040095266A1 (en) * 2002-11-14 2004-05-20 Kent Kernahan Power converter circuitry and method

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5285152A (en) * 1992-03-23 1994-02-08 Ministar Peripherals International Limited Apparatus and methods for testing circuit board interconnect integrity
US5610553A (en) * 1993-03-02 1997-03-11 Kirn; Larry Switching amplifier with impedance transformation output stage
US5554986A (en) * 1994-05-03 1996-09-10 Unitrode Corporation Digital to analog coverter having multiple resistor ladder stages
US5508958A (en) * 1994-09-29 1996-04-16 Intel Corporation Method and apparatus for sensing the state of floating gate memory cells by applying a variable gate voltage
TW329002B (en) * 1996-06-05 1998-04-01 Zenshin Test Co Apparatus and method for inspecting a LCD substrate
US6097326A (en) * 1998-05-26 2000-08-01 National Semiconductor Corporation Algorithmic analog-to-digital converter with reduced differential non-linearity and method
KR100304955B1 (ko) * 1998-08-20 2001-09-24 김영환 디지털/아날로그변환기
WO2000033465A1 (de) * 1998-12-03 2000-06-08 Continental Teves Ag & Co. Ohg Schaltungsanordnung zum testen eines a/d-wandlers für sicherheitskritische anwendungen
US6255979B1 (en) * 1999-02-24 2001-07-03 Intel Corporation CMOS flash analog to digital converter compensation
JP3437152B2 (ja) * 2000-07-28 2003-08-18 ウインテスト株式会社 有機ｅｌディスプレイの評価装置および評価方法
DE60102213T2 (de) * 2000-12-29 2005-03-10 Stmicroelectronics S.R.L., Agrate Brianza Proportionale integrale Digitalsteuerschaltung
US7518646B2 (en) * 2001-03-26 2009-04-14 Panavision Imaging Llc Image sensor ADC and CDS per column
US6670904B1 (en) * 2002-08-22 2003-12-30 Micron Technology, Inc. Double-ramp ADC for CMOS sensors
US6753801B2 (en) * 2002-08-23 2004-06-22 Micron Technology, Inc. Fully differential reference driver for pipeline analog to digital converter
US6784824B1 (en) * 2002-08-29 2004-08-31 Xilinx, Inc. Analog-to-digital converter which is substantially independent of capacitor mismatch
US6870495B1 (en) * 2004-02-18 2005-03-22 Micron Technology, Inc. Double throughput analog to digital converter
US7129782B2 (en) * 2004-03-30 2006-10-31 Intel Corporation Fully differential amplifier with start up circuit
US6958720B1 (en) * 2004-04-22 2005-10-25 National Semiconductor Corporation Fine string compensation to minimize digital to analog converter differential nonlinearity error
JP2007043433A (ja) * 2005-08-03 2007-02-15 Renesas Technology Corp 半導体集積回路装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN86202816U (zh) * 1986-05-02 1988-06-15 南京师范大学 廉价的多功能模数转换接口
US20040095266A1 (en) * 2002-11-14 2004-05-20 Kent Kernahan Power converter circuitry and method

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