JP2007106107A - 液晶ポリエステル銅張積層板 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】銅箔に樹脂層が積層された銅張積層板であって、該樹脂層が芳香族ジアミン由来の構造単位およびフェノール性水酸基を有する芳香族アミン由来の構造単位から選ばれる少なくとも一種の構造単位を全構造単位に対して10〜35モル%有する液晶ポリエステルを含み、該銅箔が300℃で熱処理後の引張弾性率が60GPa以下、破断点応力が150MPa以下の銅箔であることを特徴とする銅張積層板。
【選択図】なし
Description
中でも、絶縁樹脂層の材料に液晶ポリエステルを用いた銅張積層板は、液晶ポリエステルの持つ、優れた高周波特性、低吸水性等の性質から、エレクトロニクス基板材料として注目されている。
そこで、本発明者らは、このような異方性の問題を解決するために、既に芳香族液晶ポリエステルとハロゲン原子を含まない非プロトン性溶媒とを用いることを特徴とする液晶ポリエステル溶液及び当該溶液を用いた銅張積層板を提供している(特許文献1)。
さらに、近年、電子機器のメモリ容量の増加に伴い、電子機器筐体内に収納される銅張積層板では屈曲部が増え、かつ屈曲部を形成する二つの面のなす角度が小さくなってきている。また銅張積層板は電子機器駆動部の稼動部分等、配線が必要とされる場所にも広く使用されていることから、高頻度の使用にも耐えられるよう、より屈曲性の良好な銅張積層板が求められている。
1.銅箔に樹脂層が積層された銅張積層板であって、該樹脂層が芳香族ジアミン由来の構造単位およびフェノール性水酸基を有する芳香族アミン由来の構造単位から選ばれる少なくとも一種の構造単位を全構造単位に対して10〜35モル%有する液晶ポリエステルを含む樹脂層であり、該銅箔が300℃で熱処理後の引張弾性率が60GPa以下、破断点応力が150MPa以下の銅箔であることを特徴とする銅張積層板
2.液晶ポリエステルが、以下の式(1)、(2)および(3)で示される構造単位を含み、全構造単位の合計[(1)+(2)+(3)]に対して、式(1)で示される構造単位が30〜80モル%、式(2)で示される構造単位が10〜35モル%、式(3)で示される構造単位が10〜35モル%である上記1項記載の銅張積層板
(1)−O−Ar1−CO−
(2)−CO−Ar2−CO−
(3)−X−Ar3−Y−
(式中、Ar1は、フェニレン、ナフチレンまたはビフェニレンを表し、Ar2は、フェニレン、ナフチレン、ビフェニレンまたは複数の芳香族基が縮合してなる2価の基を表し、Ar3はフェニレンまたは複数の芳香族基が縮合してなる2価の基を表し、Xは−NH−を表わし、Yは、−O−または−NH−を表わす。)
3.式(1)で示される構造単位が、p−ヒドロキシ安息香酸、2−ヒドロキシ−6−ナフトエ酸および4−ヒドロキシ−4’−ビフェニルカルボン酸からなる群から選ばれる1つあるいは2つ以上の芳香族ヒドロキシカルボン酸から誘導される構造単位であり、
式(2)で示される構造単位が、テレフタル酸、イソフタル酸、2,6−ナフタレンジカルボン酸およびジフェニルエーテル−4,4’−ジカルボン酸からなる群から選ばれる1つあるいは2つ以上の芳香族ジカルボン酸から誘導される構造単位であり、
式(3)で示される構造単位が3−アミノフェノール、4−アミノフェノール、1,4−フェニレンジアミンおよび1,3−フェニレンジアミンからなる群から選ばれる1つあるいは2つ以上の化合物から誘導される構造単位であることを特徴とする上記2項に記載の銅張積層板
4.式(1)で示される構造単位が2−ヒドロキシ−6−ナフトエ酸由来の構造単位であり、
式(2)で示される構造単位がイソフタル酸由来の構造単位であり、
式(3)で示される構造単位が4−アミノフェノール由来の構造単位であることを特徴とする上記2項または3項に記載の銅張積層板
を提供するものである。
5.銅張積層板の製造方法であって、芳香族ジアミン由来の構造単位およびフェノール性水酸基を有する芳香族アミン由来の構造単位から選ばれる少なくとも一種の構造単位を全構造単位に対して10〜35モル%含む液晶ポリエステルを溶媒に溶解して得られた液晶ポリエステル溶液を銅箔に塗布または流延し、該溶媒を除去し、250℃〜350℃の範囲で加熱することを特徴とする上記1項に記載の銅張積層板の製造方法
6.溶媒が非プロトン性溶媒である上記5項に記載される銅張積層板の製造方法
本発明の銅張積層板の樹脂層に含まれる液晶ポリエステルは、サーモトロピック液晶ポリマーと呼ばれるポリエステルであり、450℃以下の温度で光学的に異方性を示す溶融体を形成するものであり、芳香族ジアミン由来の構造単位およびフェノール性水酸基を有する芳香族アミン由来の構造単位から選ばれる少なくとも一種の構造単位を全構造単位の合計に対して10〜35モル%含むものである。
(1)−O−Ar1−CO−
(2)−CO−Ar2−CO−
(3)−X−Ar3−Y−
(式中、Ar1は、フェニレン、ナフチレンまたはビフェニレンを表し、Ar2は、フェニレン、ナフチレン、ビフェニレンまたは複数の芳香族基が縮合してなる2価の基を表し、Ar3はフェニレンまたは複数の芳香族基が縮合してなる2価の基を表し、Xは−NH−を表わし、Yは、−O−または−NH−を表わす。)
なお、ここで、「複数の芳香族基が縮合してなる2価の基」とは、以下の式(4)で表される2価の基を表すものである。
(式中、Ar10、Ar20はそれぞれ独立に、フェニレンまたはナフタレンを表し、Zは−CH2−、−C(CH3)2−、−C(CF3)2−、−CO−、−SO2−、−O−または−S−を表す。nは1以上4以下の整数であり、nが2以上である場合、複数あるAr20は同一でも異なっていてもよく、複数あるZは同一でも異なっていてもよい。)
フェノール性水酸基のエステル形成性誘導体としては、例えば、エステル交換反応によりエステル基を生成するように、フェノール性水酸基がカルボン酸類とエステルを形成しているものなどが挙げられる。
アミノ基のアミド形成性誘導体としては、例えば、縮合反応によりアミド基を生成するように、アミノ基がカルボン酸類とアミド基を形成しているものなどが挙げられる。
全構造単位の合計[(1)+(2)+(3)]に対して、構造単位(1)は30〜80モル%であることが好ましく、40〜70モル%であることがより好ましく、45〜65モル%であることがさらに好ましい。構造単位(1)が、上記の範囲であると、得られるポリエステルが液晶性を示し、さらに後述する液晶ポリエステル溶液を得る際に、該液晶ポリエステルの溶媒に対する溶解性が向上するため、好ましい。
全構造単位に対して、構造単位(2)は10〜35モル%であることが好ましく、15〜30モル%であることがより好ましく、17.5〜27.5モル%であることがさらに好ましい。構造単位(2)が上記の範囲であると、得られるポリエステルが液晶性と溶媒に対する溶解性が向上することから好ましい。
全構造単位の合計[(1)+(2)+(3)]に対して、構造単位(3)は、10〜35モル%であることが好ましく、15〜30モル%であることがより好ましく、17.5〜27.5モル%であることがさらに好ましい。構造単位(3)が上記の範囲が好ましい理由は、上記構造単位(2)と同様である。
構造単位(3)は構造単位(2)と実質的に等量であることが好ましいが、液晶ポリエステルを製造する際に、構造単位(3)を誘導する化合物と構造単位(2)を誘導する芳香族ジカルボン酸の使用モル当量を、構造単位(3)を誘導する化合物/構造単位(2)を誘導する芳香族ジカルボン酸で表して、0.9/1.0〜1.1/1.0の範囲とすることにより、液晶ポリエステルの重合度を制御することもできる。
これらの触媒の中で、N,N-ジメチルアミノピリジン、N―メチルイミダゾールなどの窒素原子を2個以上含む複素環状化合物が好ましく使用される(特開2002−146003参照)
該触媒は、通常、モノマー類の投入時に投入され、アシル化後も除去することは必ずしも必要ではなく、該触媒を除去しない場合にはそのままエステル交換・アミド交換による重合を行うことができる。
液晶ポリエステルの製造は、例えば、回分装置、連続装置等を用いて行うことができる。
フィラーとしては、例えば、エポキシ樹脂粉末、メラミン樹脂粉末、尿素樹脂粉末、ベンゾグアナミン樹脂粉末、スチレン樹脂などの有機系フィラー、シリカ、アルミナ、酸化チタン、ジルコニア、カオリン、炭酸カルシウム、燐酸カルシウムなどの無機フィラー等が挙げられる。
添加剤としては、公知のカップリング剤、沈降防止剤、紫外線吸収剤、熱安定剤等が挙げられる。
上記のようにして得られた液晶ポリエステルを、溶媒に溶解して、得られた液晶ポリエステル溶液を銅箔に塗布または銅箔上に流延して、該溶媒を除去し、加熱処理することにより、本発明の銅張積層板を得ることができる。
上記液晶ポリエステル溶液に含まれる液晶ポリエステルの量が少ないと、生産効率が低下する傾向があり、多いと溶解が困難となる傾向がある。
これらの無機フィラーは2種以上が含有されていても良い。
また、シランカップリング剤は、液晶ポリエステル溶液に無機フィラーを含有させた後に別途添加し、均一に攪拌することにより処理してもよい。
本発明の銅張積層板における銅箔は、300℃で熱処理後の引張弾性率が60GPa以下であり、破断点応力が150MPa以下である銅箔である。該引張弾性率に係る下限としては、実用的な範囲で10GPa以上であり、20GPa以上であると好ましい。該破断点応力に係る下限としては、実用的な範囲で20MPa以上であると好ましく、30MPa以上であると特に好ましい。
本発明に用いられる銅箔の種類としては、電解銅箔、圧延銅箔のいずれであってもよいが、上記の特性の銅箔を得るためには、当業分野で周知であるHigh Temperature Elongation (高温高伸び銅箔 以下「HTE銅箔」と略す)や圧延銅箔として市販されている銅箔から、JIS C2151で規定される手法にて引張弾性率と破断点応力を求めて、選択することができる。
また、銅張積層板において、樹脂層の厚みを銅箔の厚みで除した値は0.6〜20の範囲内にあることが好ましい。
まず、液晶ポリエステル溶液を銅箔上に塗布または流延する。かかる方法としては、例えば、ローラーコート法、ディップコート法、スプレイコート法、スピナーコート法、カーテンコート法、スロットコート法、スクリーン印刷法等の各種手段が挙げられる。
攪拌装置、トルクメータ、窒素導入管、温度計及び還流冷却器を備えた反応器に、2−ヒドロキシ−6−ナフトエ酸941g(5.0モル)、4−アミノフェノール273g(2.5モル)、イソフタル酸415.3g(2.5モル)および無水酢酸1123g(11モル)を仕込んだ。反応器内を十分に窒素ガスで置換した後、窒素ガス気流下で15分かけて150℃まで昇温し、温度を保持して3時間還流させた。
その後、留出する副生酢酸および未反応の無水酢酸を留去しながら、170分かけて320℃まで昇温し、トルクの上昇が認められる時点を反応終了とみなし、内容物を取り出した。取り出した樹脂は粗粉砕機で粉砕した。得られた樹脂粉末の一部を偏光顕微鏡観察において10℃/分で昇温し観察した結果、200℃で液晶相特有のシュリーレン模様を示した。
製造例で得られた粗粉砕後の樹脂粉末を窒素雰囲気下250℃で3時間保持し、固相で重合反応を進めた。固相重合後の液晶ポリエステルを取り出し、解砕して液晶ポリエステル粉末を得た。次いで、得られた液晶ポリエステル粉末8gをN−メチル−2−ピロリドン92gに加え、160℃に加熱し完全に溶解し褐色透明な溶液が得られた。この溶液を攪拌および脱泡し、液晶ポリエステル溶液を得た。
ここで得られた液晶ポリエステル溶液に無機フィラーとしてホウ酸アルミニウム(アルボレックスM20C:四国化成社製、比重3.0g/cm3)を液晶ポリエステルに対し19.6重量%になるように加え、分散・脱泡を行った後に、表面粗さ2.1μmの電解銅箔(三井金属鉱業社製:3EC−M3S−HTE:厚さ18μm)上にフィルムアプリケーターを用いてキャストし、ホットプレート上で80℃、1時間乾燥した。窒素雰囲気下熱風オーブン中で昇温速度5℃/分で30℃からはじめて300℃まで加熱し、その温度で1時間保持する熱処理を行った。得られた樹脂層の厚さは25μmであった。
室温に戻したのち、屈曲性をJIS C6471(R=0.38、4.9N)に基づき測定した。
また、得られた銅張積層板の10mm幅の剥離試験片を切出し、50mm/分の剥離速度にて90°剥離強度を測定することで銅張積層板の縦方向(MD)と横方向(TD)の異方性を評価した。
また、使用した銅箔について、熱処理前後の引張弾性率および破断点応力を島津製作所製オートグラフAG−5000DによりJIS C2151に基づいて評価した。
熱処理前の引張弾性率は66GPa、破断点応力は405MPaであった。一方、300℃、1時間窒素雰囲気下での熱処理後の銅箔の引張弾性率は43GPa、破断点応力は54MPaであった。尚、引張試験機の速度は5mm/minであった。
これらの結果を表1に示す。
銅箔として、表面粗さ2.1μmの電解銅箔(古河サーキットフォイル社製:F2−WS:厚さ18μm)を使用した以外は、実施例1と同様にして試験を行った。
銅箔の引張弾性率および破断点応力を評価したところ、熱処理前の引張弾性率は82GPa、破断点応力は147MPaであり、熱処理後の引張弾性率は59GPa、破断点応力は119MPaであった。
結果を表1に示す。
銅箔として、表面粗さ1.4μmの電解銅箔(日本電解社製:HLB:厚さ18μm)を使用した以外は、実施例1と同様にして試験を行った。
熱処理前後の銅箔の引張弾性率および破断点応力を評価したところ、熱処理前の引張弾性率は59GPa、破断点応力は508MPaであり、熱処理後の引張弾性率は32GPa、破断点応力は58MPaであった。
結果を表1に示す。
銅箔として、表面粗さ3.6μmの圧延銅箔(福田金属箔粉社製:RCF−T5B−HPC:厚さ18μm)を使用した以外は、実施例1と同様にして試験を行った。
熱処理前後の銅箔の引張弾性率および破断点応力を評価したところ、熱処理前の引張弾性率は73GPa、破断点応力は408MPaであり、熱処理後の銅箔の引張弾性率は23GPa、破断点応力は62MPaであった。
結果を表1に示す。
銅箔として、表面粗さ0.7μmの圧延銅箔(日鉱マテリアルズ社製:BHY−22B−T:厚さ18μm)を使用した以外は、実施例1と同様にして試験を行った。
熱処理前後の銅箔の引張弾性率および破断点応力を評価したところ、熱処理前の引張弾性率は79GPa、破断点応力は437MPaであり、熱処理後の銅箔の引張弾性率は34Pa、破断点応力は62MPaであった。
結果を表1に示す。
製造例で得られた粗粉砕後の樹脂粉末を窒素雰囲気下250℃で3時間保持し、固相で重合反応を進めた。固相重合後の液晶ポリエステルを取り出し、解砕して液晶ポリエステル粉末を得た。次いで、得られた液晶ポリエステル粉末8gをN−メチル−2−ピロリドン92gに加え、160℃に加熱し完全に溶解し褐色透明な溶液が得られた。この溶液を攪拌および脱泡し、液晶ポリエステル溶液を得た。
得られた液晶ポリエステル溶液に表面粗さ2.1μmの電解銅箔(古河サーキットフォイル社製:F2−WS:厚さ18μm)上にフィルムアプリケーターを用いてキャストし、ホットプレート上で80℃、1時間乾燥した。窒素雰囲気下熱風オーブン中で昇温速度5℃/分で30℃からはじめて300℃まで加熱し、その温度で1時間保持する熱処理を行った。樹脂層の厚みは13μmであった。
次いで実施例1と同様にして、屈曲性を試験した。結果を表1に示す。
銅箔として、表面粗さ1.4μmの電解銅箔(日本電解社製:HLB:厚さ18μm)を使用し、実施例6と同様の実験を行った。
結果を表1に示す。
銅箔として、表面粗さ3.6μmの圧延銅箔(福田金属箔粉社製:RCF−T5B−HPC:厚さ18μm)を使用した以外は、実施例6と同様の実験を行った。
結果を表1に示す。
銅箔として、表面粗さ0.7μmの圧延銅箔(日鉱マテリアルズ社製:BHY−22B−T:厚さ18μm)を使用した以外は、実施例6と同様の実験を行った。
結果を表1に示す。
銅箔として、表面粗さ2.5μmの電解銅箔(三井金属鉱業:SQ−VLP:厚さ18μm)を使用した以外は、実施例1と同様にして試験を行った。
熱処理前後の銅箔の引張弾性率および破断点応力を評価したところ、熱処理前の引張弾性率は74GPa、破断点応力は497MPaであり、熱処理後の銅箔の引張弾性率は77GPa、破断点応力は371MPaであった。
結果を表1に示す。
Claims (6)
- 銅箔に樹脂層が積層された銅張積層板であって、該樹脂層が芳香族ジアミン由来の構造単位およびフェノール性水酸基を有する芳香族アミン由来の構造単位から選ばれる少なくとも一種の構造単位を全構造単位の合計に対して10〜35モル%有する液晶ポリエステルを含む樹脂層であり、該銅箔が300℃で熱処理後の引張弾性率が60GPa以下、破断点応力が150MPa以下の銅箔であることを特徴とする銅張積層板。
- 液晶ポリエステルが、以下の式(1)、(2)および(3)で示される構造単位を含み、全構造単位の合計[(1)+(2)+(3)]に対して、式(1)で示される構造単位が30〜80モル%、式(2)で示される構造単位が10〜35モル%、式(3)で示される構造単位が10〜35モル%である請求項1記載の銅張積層板。
(1)−O−Ar1−CO−
(2)−CO−Ar2−CO−
(3)−X−Ar3−Y−
(式中、Ar1は、フェニレン、ナフチレンまたはビフェニレンを表し、Ar2は、フェニレン、ナフチレン、ビフェニレンまたは複数の芳香族基が縮合してなる2価の基を表し、Ar3はフェニレンまたは複数の芳香族基が縮合してなる2価の基を表し、Xは−NH−を表わし、Yは、−O−または−NH−を表わす。) - 式(1)で示される構造単位が、p−ヒドロキシ安息香酸、2−ヒドロキシ−6−ナフトエ酸および4−ヒドロキシ−4’−ビフェニルカルボン酸からなる群から選ばれる1つあるいは2つ以上の芳香族ヒドロキシカルボン酸から誘導される構造単位であり、
式(2)で示される構造単位が、テレフタル酸、イソフタル酸、2,6−ナフタレンジカルボン酸およびジフェニルエーテル−4,4’−ジカルボン酸からなる群から選ばれる1つあるいは2つ以上の芳香族ジカルボン酸から誘導される構造単位であり、
式(3)で示される構造単位が3−アミノフェノール、4−アミノフェノール、1,4−フェニレンジアミンおよび1,3−フェニレンジアミンからなる群から選ばれる1つあるいは2つ以上の化合物から誘導される構造単位であることを特徴とする請求項2記載の銅張積層板。 - 式(1)で示される構造単位が2−ヒドロキシ−6−ナフトエ酸由来の構造単位であり、式(2)で示される構造単位がイソフタル酸由来の構造単位であり、
式(3)で示される構造単位が4−アミノフェノール由来の構造単位であることを特徴とする請求項2または3に記載の銅張積層板。 - 銅張積層板の製造方法であって、芳香族ジアミン由来の構造単位およびフェノール性水酸基を有する芳香族アミン由来の構造単位から選ばれる少なくとも一種の構造単位を全構造単位の合計に対して10〜35モル%含む液晶ポリエステルを溶媒に溶解して得られた液晶ポリエステル溶液を銅箔に塗布または流延し、該溶媒を除去し、250℃〜350℃の範囲で加熱することを特徴とする請求項1に記載の銅張積層板の製造方法。
- 溶媒が非プロトン性溶媒である請求項5記載の銅張積層板の製造方法。
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