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Claims (32)

  1. a)多孔性金属基材;
    b)中間多孔性金属層、ここで中間多孔性金属層はパラジウムを含み、かつ中間多孔性金属層は多孔性金属基材の上に存在する;および
    c)高密度水素選択膜、ここで高密度水素選択膜は中間多孔性金属層の上に存在する;を含有してなる複合ガス分離モジュール。
  2. 多孔性金属基材がステンレス鋼またはクロムおよびニッケルを含む合金である請求項1記載の複合ガス分離モジュール。
  3. 合金がモリブデンをさらに含んでなる請求項記載の複合ガス分離モジュール。
  4. 中間多孔性金属層がパラジウムおよび第IB族金属を含んでなる請求項1記載の複合ガス分離モジュール。
  5. 第IB族金属が銀または銅である請求項記載の複合ガス分離モジュール。
  6. 中間多孔性金属層がパラジウムおよび第IB族金属の交互層を含んでなる請求項記載の複合ガス分離モジュール。
  7. 中間多孔性金属層が少なくとも約5ミクロンの厚さである請求項1記載の複合ガス分離モジュール。
  8. 中間多孔性金属層が約1〜約10ミクロンの厚さである請求項1記載の複合ガス分離モジュール。
  9. 中間多孔性金属層の平均孔サイズが多孔性金属基材の平均孔サイズよりも小さい請求項1記載の複合ガス分離モジュール。
  10. 中間多孔性金属層が、頂部側および底部側を有し、中間多孔性金属層が、底部側の多孔性金属基材に直接隣接し、かつ頂部側の高密度水素選択膜に直接的に隣接する請求項1記載の複合ガス分離モジュール。
  11. 高密度水素選択膜がパラジウムまたはその合金を含んでなる請求項1記載の複合ガス分離モジュール。
  12. 孔性金属基材に結合し、中間多孔性金属層の下に存在するセラミックの層をさらに含有してなる請求項1記載の複合ガス分離モジュール。
  13. a)中間多孔性金属層を多孔性金属基材上に適用する工程、ここで中間多孔性金属層はパラジウムを含む;および,
    b)高密度水素選択膜を中間多孔性金属層上に適用する工程、それにより複合ガス分離モジュールを形成する工程
    を含む、複合ガス分離モジュールの製造方法。
  14. 中間多孔性金属層を適用する前に多孔性金属基材の表面を酸化する工程または多孔性金属基材を表面活性化する工程をさらに含む請求項13記載の方法。
  15. 多孔性金属基材を表面活性化する工程が、水素選択金属の核で多孔性金属基材をシーディングすることを含む請求項14記載の方法。
  16. 中間多孔性金属層が無電解メッキにより適用される請求項13記載の方法。
  17. 中間多孔性金属層がパラジウムおよび第IB族金属を含む請求項13記載の方法。
  18. IB族の金属が銀または銅である請求項17記載の方法。
  19. 中間多孔性金属層が、多孔性金属基材上にパラジウムおよび第IB族金属の交互層を堆積させることにより適用される請求項17記載の方法。
  20. 高密度水素選択膜を中間多孔性金属層上に適用する前に、中間多孔性金属層の表面を研磨し、それにより研磨基材を形成する工程をさらに含む請求項13記載の方法。
  21. 高密度水素選択膜を中間多孔性金属層上に適用する前に、中間多孔性金属層上に水素選択金属を堆積させ、それにより被覆基材を形成する工程、および被覆基材の表面を研磨し、それにより研磨基材を形成する工程をさらに含む請求項13記載の方法。
  22. 高密度水素選択膜を適用する工程が、パラジウムまたはその合金を中間多孔性金属層上に堆積することを含む請求項13記載の方法。
  23. 高密度水素選択膜が、銅、銀、金、白金、ルテニウム、ロジウム、イットリウム、セリウムおよびインジウムからなる群より選ばれる少なくとも1つの金属と合金化されたパラジウムを含む請求項13記載の方法。
  24. 高密度水素選択膜を適用する工程が、無電解メッキ、電解メッキ、熱蒸着、化学蒸着、噴霧蒸着、スパッタコーティング、電子線蒸発、イオンビーム蒸発および噴霧熱分解からなる群より選ばれる方法により水素選択金属を堆積させることを含む請求項13記載の方法。
  25. 請求項13記載の方法により製造された複合ガス分離モジュール。
  26. 水素ガス含有ガス流を複合ガス分離モジュールに指向させる工程を含み、複合ガス分離モジュールは:
    a)多孔性金属基材;
    b)中間多孔性金属層、ここで、中間多孔性金属はパラジウムを含み、かつ中間多孔性金属層は多孔性金属基材上に存在する;および
    c)高密度水素選択膜、ここで、高密度水素選択膜は中間多孔性金属層上に存在する;を含み、
    それにより、水素ガスは高密度水素選択膜を通過することによってガス流から少なくとも部分的に分配される、水素ガス含有ガス流から水素ガスを選択的に分離する方法。
  27. 水素ガス製造反応体を反応させてガス流を生じさせる工程をさらに含む請求項26記載の方法。
  28. セラミックの層が多孔性金属基材に結合し、中間多孔性金属層の下に存在する請求項26記載の方法。
  29. 中間多孔性金属層がパラジウムおよび第IB族金属の交互層を含む請求項26記載の方法。
  30. IB族の金属が銀または銅である請求項26記載の方法。
  31. 中間多孔性金属層が約4〜約8ミクロンの厚さである請求項26記載の方法。
  32. 高密度水素選択膜がパラジウムまたはその合金を含む請求項26記載の方法。
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