JP2006258694A - スキャンチェーンのホールドエラー解消方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 複数のデータ保持回路1a〜1fを接続したスキャンチェーンのホールドエラーを解消するスキャンチェーンのホールドエラー解消方法において、データ保持回路を接続する配線を、スキャンチェーンのホールドエラーを解消するための遅延素子として利用するように各データ保持回路のリオーダーを行う。
【選択図】 図1
Description
近年、デジタル回路の設計に際し、回路規模の増大に対応して設計効率を向上させるために、設計ツールを使用した自動設計が採用されている。また、設計された論理回路の動作試験を行うためのテスト回路の設計も自動で行われる。テスト回路を利用した動作試験の一手法として、フリップフロップ回路等のデータ保持回路を直列に接続したスキャンチェーンを構成し、各データ保持回路をシフトレジスタとして動作させることにより、各回路が正常に動作するか否かを判定するスキャンシフトテストが行われる。このようなスキャンシフトテストを効率的に行うためには、スキャンチェーンを構成する各フリップフロップ回路でセットアップエラー及びホールドエラーが発生しないようにすることが必要である。
図12(a)は、スキャンチェーンの別の従来例を示す。同図に示すスキャンFF3a〜3dは、出力端子Qでスキャンアウト端子を兼用するものである。そして、スキャンFF3aの出力端子Qは、スキャンFF3bのスキャンイン端子SIに接続されるとともに、バッファ回路2h,2iを介して論理セル4aに接続されている。
図5は、リオーダー後のスキャンチェーンを示す。すなわち、スキャンチェーンは、D→A→E→B→F→Cの順に接続され、各パスにホールド余裕値を確保した状態となる。
(1)スキャンチェーンのホールドエラーを解消するために、スキャンFF間の配線長による遅延を利用するように、スキャンチェーンのリオーダーを行う。従って、スキャンFF間にバッファを挿入することなく、ホールドエラーの解消あるいはエラー値の縮小を図ることができる。
(2)スキャンチェーンのホールドエラーを解消するために、スキャンFFの出力端子に接続される既存のバッファ回路あるいはインバータ回路をスキャンチェーンに取り込むように繋ぎ位置の変更を行う。従って、スキャンFF間に新たにバッファを挿入することなく、ホールドエラーの解消あるいはエラー値の縮小を図ることができる。
(3)スキャンチェーンのリオーダーを行った後、ホールドタイミングの再検証を行い、ホールドエラーが残っている個所にバッファ回路を挿入するので、ホールドエラーを解消するために挿入するバッファ回路の数を削減することができる。
(4)スキャンチェーンの繋ぎ位置の変更を行った後、ホールドタイミングの再検証を行い、ホールドエラーが残っている個所にバッファ回路を挿入するので、ホールドエラーを解消するために挿入するバッファ回路の数を削減することができる。
(5)スキャンチェーンのリオーダーを行い、さらに繋ぎ位置の変更を行うことにより、スキャンFF間に挿入するバッファの数を削減しながら、ホールドエラーを解消することができる。
(6)スキャンFF間に挿入するバッファ回路の数を削減することができるので、チップ面積の増大を防止することができる。
(7)スキャンFF間に挿入するバッファ回路の数を削減することができるので、ステップ17〜19の処理工数を削減することができる。
・フリップフロップ回路以外のデータ保持回路でスキャンチェーンを構成する場合にも応用可能である。
・リオーダー処理と繋ぎ位置変更処理を両方行って、ホールドエラーを解消するようにしてもよい。
・リオーダー処理と繋ぎ位置変更処理を両方行う場合、いずれを先に行ってもよい。
5a〜5c,8a〜8c インバータ回路
6a,6b バッファ回路
Claims (8)
- 複数のデータ保持回路を接続したスキャンチェーンのホールドエラーを解消するスキャンチェーンのホールドエラー解消方法において、
前記データ保持回路を接続する配線を、スキャンチェーンのホールドエラーを解消するための遅延素子として利用するように各データ保持回路のリオーダー処理を行うことを特徴とするスキャンチェーンのホールドエラー解消方法。 - 複数のデータ保持回路を接続したスキャンチェーンのホールドエラーを解消するスキャンチェーンのホールドエラー解消方法において、
前記データ保持回路のスキャンアウト端子に接続される遅延素子を、スキャンチェーンのホールドエラーを解消するための遅延素子として利用するように、各データ保持回路を接続する配線の繋ぎ位置を変更することを特徴とするスキャンチェーンのホールドエラー解消方法。 - 複数のデータ保持回路を接続したスキャンチェーンのホールドエラーを解消するスキャンチェーンのホールドエラー解消方法において、
前記スキャンチェーンのホールドエラー個所とホールドエラー値を検出する処理と、
前記データ保持回路を接続する配線を、前記ホールドエラー値を縮小するための遅延素子として利用するように各データ保持回路のリオーダーを行うリオーダー処理と、
前記リオーダー処理後のホールドエラーを解消するように、前記データ保持回路間に遅延素子を挿入する処理と
を行うことを特徴とするスキャンチェーンのホールドエラー解消方法。 - 複数のデータ保持回路を接続したスキャンチェーンのホールドエラーを解消するスキャンチェーンのホールドエラー解消方法において、
前記スキャンチェーンのホールドエラー個所とホールドエラー値を検出する処理と、
前記データ保持回路のスキャンアウト端子に接続される遅延素子を、前記ホールドエラー値を縮小するための遅延素子として利用するように、各データ保持回路を接続する配線の繋ぎ位置を変更する繋ぎ位置変更処理と、
前記繋ぎ位置変更処理後のホールドエラーを解消するように、前記データ保持回路間に遅延素子を挿入する処理と
を行うことを特徴とするスキャンチェーンのホールドエラー解消方法。 - 複数のデータ保持回路を接続したスキャンチェーンのホールドエラーを解消するスキャンチェーンのホールドエラー解消方法において、
前記スキャンチェーンのホールドエラー個所とホールドエラー値を検出する処理と、
前記データ保持回路を接続する配線を、前記ホールドエラー値を縮小するための遅延素子として利用するように各データ保持回路のリオーダーを行うリオーダー処理と、
前記リオーダー処理後のホールドエラー個所とホールドエラー値を再検出する再検出処理と、
前記データ保持回路のスキャンアウト端子に接続される遅延素子を、前記再検出処理で検出されたホールドエラー値を解消するための遅延素子として利用するように、各データ保持回路を接続する配線の繋ぎ位置を変更する繋ぎ位置変更処理と、
前記繋ぎ位置変更処理後のホールドエラーを解消するように、前記データ保持回路間に遅延素子を挿入する処理と
を行うことを特徴とするスキャンチェーンのホールドエラー解消方法。 - 前記リオーダー処理は、前記データ保持回路間のすべての仮想配線のホールドエラー値及びホールド余裕値を算出し、その算出結果に基づいてホールドエラーが解消する仮想配線にしたがってリオーダーすることを特徴とする請求項1、3または5記載のスキャンチェーンのホールドエラー解消方法。
- 前記繋ぎ位置変更処理は、前記データ保持回路のスキャンアウト端子に接続される既存の遅延素子を検出し、前記ホールドエラー値に基づいて所要の遅延素子がスキャンチェーン上の遅延素子となるように繋ぎ位置を変更することを特徴とする請求項4または5記載のスキャンチェーンのホールドエラー解消方法。
- 前記繋ぎ位置変更処理は、既存の遅延素子がインバータ回路であるとき、偶数段のインバータ回路が前記スキャンチェーン上の遅延素子となるように繋ぎ位置を変更することを特徴とする請求項7記載のスキャンチェーンのホールドエラー解消方法。
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