JP4684942B2 - 半導体装置及び観測用フリップフロップの配置方法 - Google Patents
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Description
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。実施の形態1にかかる半導体装置1のブロック図を図1に示す。図1に示すように、半導体装置1は、論理回路11、入出力バッファ12、13、機能ブロック141〜14nを有している。
実施の形態2にかかる半導体装置は、実施の形態1にかかる半導体装置と実質的に同じものである。しかしながら、実施の形態1と実施の形態2とでは、機能ブロックの挿入方法が異なる。実施の形態1では、DFT回路の挿入工程において、機能ブロックを使用したスキャンチェーン回路を生成した。これに対して、実施の形態2では、予め設定された場所にのみ機能ブロックを使用する。
11 論理回路
12、13 入出力バッファ
14、141〜14n 機能ブロック
15 観測用フリップフロップ
16 信号伝達部
16a バッファ
201〜204 D型フリップフロップ
Claims (8)
- 半導体装置内の信号配線の状態を観測する機能ブロックを有する半導体装置であって、
前記機能ブロックは、入力される前記信号配線の状態を伝達して出力する信号伝達部と、
前記信号伝達部の入力端子と前記信号伝達部の出力端子とのいずれか一方と入力端子が接続され、出力端子が前記信号伝達部の出力端子と独立して設けられ、前記入力端子が接続された端子の状態を記憶する観測用フリップフロップとを有する半導体装置。 - 前記機能ブロックは、1つの配置単位として半導体装置内に配置されることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
- 前記信号伝達部は、バッファ回路又は反転回路を有していることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
- 前記観測用フリップフロップは、前記信号伝達部の入力端子又は出力端子と接続される第1の入力端子と、他の観測用フリップフロップの出力と接続される第2の入力端子とを有し、第1のモードでは、前記第1の入力端子に入力される状態を記憶し、第2のモードでは、前記第2の入力端子の状態を記憶することを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
- 半導体装置内の信号配線の状態を観測する観測用フリップフロップの配置方法であって、
前記観測用フリップフロップは、
入力される前記信号配線の状態を伝達して出力する信号伝達部と、
前記信号伝達部の入力端子と前記信号伝達部の出力端子とのいずれか一方と入力端子が接続され、出力端子が前記信号伝達部の出力端子と独立して設けられ、前記入力端子が接続された端子の状態を記憶する観測用フリップフロップとを有する機能ブロックとして配置され、
前記信号伝達部を介して前記信号配線を結線する観測用フリップフロップの配置方法。 - 前記機能ブロックは、1つの配置単位として半導体装置内に配置されることを特徴とする請求項5に記載の観測用フリップフロップの配置方法。
- 前記信号伝達部は、バッファ回路又は反転回路を有していることを特徴とする請求項5に記載の観測用フリップフロップの配置方法。
- 前記機能ブロックは、予め配置された信号の遅延時間を調整する信号遅延調整素子の置換によって配置されることを特徴とする請求項5又は6に記載の観測用フリップフロップの配置方法。
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