JP2011055224A - フリップフロップ回路 - Google Patents
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Abstract
【課題】ハード量を増加させることがなく、データの転送方向を双方向化することのできる、集積回路装置を提供する。
【解決手段】各フリップフロップ回路は、選択回路22、第1ラッチ回路23、第2ラッチ回路24、第1トランスファーゲート12、及び制御回路を備える。データパス内にトランスファーゲートだけが介在するように、複数のフリップフロップ回路を接続する。これにより、ハード量の増加を抑制し、スキャン方向を双方向化することができる。
【選択図】図4A
【解決手段】各フリップフロップ回路は、選択回路22、第1ラッチ回路23、第2ラッチ回路24、第1トランスファーゲート12、及び制御回路を備える。データパス内にトランスファーゲートだけが介在するように、複数のフリップフロップ回路を接続する。これにより、ハード量の増加を抑制し、スキャン方向を双方向化することができる。
【選択図】図4A
Description
本発明は、フリップフロップ回路に関する。
集積回路には、故障が発生しているか否かをテストするために、スキャンパスが用いられることがある。スキャンパスは、例えば、チェーン状に接続された複数のフリップフロップ回路により実現される。例えば、テスト時には、複数のフリップフロップ回路の各々にテスト用のデータ(スキャンデータ)が転送される。各フリップフロップ回路は、スキャンデータを保持し、テスト対象である論理回路にスキャンデータを送る。その後、各フリップフロップ回路は、論理回路からスキャンデータに応じたデータを取得する。各フリップフロップ回路に保持されたデータは、転送され、読み出される。読み出されたデータに基づいて、論理回路が故障しているか否かが判定される。
スキャンパスに対する要求として、双方向化が挙げられる。すなわち、複数のフリップフロップ回路において、正逆両方向にデータを転送できることが求められている。スキャンパスの双方向化により、故障箇所の特定の容易化、及びテスト時間の短縮などが期待される。しかしながら、スキャンパスを双方化しようとすると、ハード量が増加してしまうことがある。また、配線が容易に配置できなくなることがある。
関連技術として、特許文献1(特開2004−53262号公報)に記載された双方向型スキャン回路が挙げられる。図1は、この文献に記載された双方向型スキャン回路を示す図である。このスキャンテスト回路においては、順方向のスキャンイン端子TIに与えられる第1のスキャンデータ、又は逆方向のスキャンイン端子RSIに与えられる第2のスキャンデータが、マルチプレクサで選択される。選択されたスキャンデータはスキャンF/Fにて保持された後、第1のスキャンデータは順方向のスキャンアウト端子Qに出力される。第2のスキャンデータは、逆方向のスキャンアウト端子RSOに出力される。このような構成によれば、スキャンパスの双方向化を図ることができる。しかし、このスキャンテスト回路では、各フリップフロップ間を接続する配線として、正方向用の配線と逆方向用の配線とが用いられる。2本の配線を用いなければならないため、配線が容易に配置できない。
別の関連技術として、特許文献2(特開平6−176593号公報)に記載されたフリップフロップ回路が挙げられる。図2は、このフリップフロップ回路を示す図である。図2に示されるように、このフリップフロップ回路は、7個のトランスファーゲート101、及び4個のインバータ回路102を備えている。このフリップフロップ回路では、端子113側から端子114側にデータを転送することが可能であるし、端子114側から端子113側に向けてデータを転送することも可能である。
尚、特許文献3(特開平8−279298号公報)にも、特許文献2に記載のフリップフロップ回路と同様の構成が開示されている。
しかしながら、特許文献2及び3に記載されたフリップフロップ回路では、多数のトランスファーゲートが必要である。すなわち、ハード量が増加してしまう、という問題点があった。
本発明に係るフリップフロップ回路は、第1入出力端と、第1端及び第2端を有し、前記第1端で前記第1入出力端に接続された、第1ラッチ回路と、第3端及び第4端を有し、前記第3端で前記第2端に接続された、第2ラッチ回路と、一端で前記第4端に接続された第1スイッチ回路と、前記第1スイッチ回路の他端に接続された、第2入出力端と、制御回路とを具備する。前記第1ラッチ回路は、前記第1端と前記第2端との間の導通及び非導通を切り替える、第2スイッチ回路と、前記第2端に接続され、前記第2端に供給された信号を保持する、第1ホールド部とを備える。前記第1ホールド部は、前記第2端に供給された信号を保持するか否かを切り替える、第3スイッチ回路を備える。前記第2ラッチ回路は、前記第3端と前記第4端との間の導通及び非道通を切り替える、第4スイッチ回路と、前記第4端に接続され、前記第4端に供給された信号を保持する、第2ホールド部とを備える。前記第2ホールド部は、前記第4端に供給された信号を保持するか否かを切り替える、第5スイッチ回路を備える。前記制御回路は、スキャン方向が第1方向に設定された場合に、前記第1スイッチ回路、前記第2スイッチ回路、及び前記第3スイッチ回路が同じタイミングで導通し、前記第4スイッチ回路及び前記第5スイッチ回路が、前記第1スイッチ回路とは逆のタイミングで導通するように、前記第1乃至第5のスイッチ回路を制御する。また、スキャン方向が第2方向に設定された場合に、前記第1スイッチ回路、前記第2スイッチ回路、及び前記第5スイッチ回路が同じタイミングで導通し、前記第3スイッチ回路及び前記第4スイッチ回路が、前記第1スイッチ回路とは逆のタイミングで導通するように、前記第1乃至第5のスイッチ回路を制御する。
本発明に係るシフトレジスタは、上述のフリップフロップ回路を複数備える。前記複数のフリップフロップ回路は、直列に接続されている。隣接する二つの前記フリップフロップ回路において、一方の前記フリップフロップ回路における前記第1入出力端が、他方の前記フリップフロップ回路における前記第2入出力端に接続されている。
本発明によれば、ハード量を増加させることなく、双方向にデータを転送することが可能なフリップフロップ回路が提供される。
以下、図面を参照しつつ、実施の形態について説明する。
(第1の実施形態)
図3は、本実施形態に係る集積回路装置50を示す概略図である。この集積回路装置50は、論理回路41、及びシフトレジスタ42を備えている。シフトレジスタ42は、論理回路41に故障が発生しているか否かをテストするために設けられており、論理回路41に接続されている。
図3は、本実施形態に係る集積回路装置50を示す概略図である。この集積回路装置50は、論理回路41、及びシフトレジスタ42を備えている。シフトレジスタ42は、論理回路41に故障が発生しているか否かをテストするために設けられており、論理回路41に接続されている。
図3に示されるように、シフトレジスタ42は、複数のフリップフロップ回路40を備えている。複数のフリップフロップ回路40の各々は、論理回路41に含まれる複数のテスト対象のノードの各々に、接続されている。各フリップフロップ回路40は、入出力端D、入出力端Q、入出力端SIR(第1入出力端)、入出力端SIL(第2入出力端)、モード選択信号入力端SM、方向制御信号入力端DIR、及びクロック入力端CLKを備えている。
入出力端D及び入出力端Qは、論理回路41とデータの入出力を行うために設けられている。入出力端D及び入出力端Qは、それぞれ、論理回路41に接続されている。
入出力端SIR及び入出力端SILは、データを転送するために設けられている。隣接する2つのフリップフロップ回路40間において、一方のフリップフロップ回路40の入出力端SILが、他方のフリップフロップ回路40の入出力端SIRに接続されている。すなわち、複数のフリップフロップ回路40は、直列に接続されている。また、シフトレジスタ42の一端に配置されたフリップフロップ回路40の入出力端SIRは、スキャンデータ入出力端SIN/SOTに接続されている。シフトレジスタ42の他端に配置されたフリップフロップ回路40の入出力端SILは、スキャンデータ入出力端SOT/SINに接続されている。
モード選択入出力端SMは、モード選択信号を受け入れるために設けられている。モード選択信号は、シフトレジスタ42の動作モードを決定する信号である。モード選択信号によって、シフトレジスタ42の動作が、第1モードと第2モードとの間で切り替えられる。第1モードに設定されている場合には、シフトレジスタ42内において、各フリップフロップ回路40に保持されたデータが転送される。一方、第2モードに設定されている場合には、各フリップフロップ回路40はデータを論理回路41に出力する。また、論理回路41から供給されたデータを取り込む。
方向制御信号入力端DIRは、方向制御信号を受け入れるために設けられている。方向制御信号は、データの転送方向を制御するための信号である。方向制御信号により、シフトレジスタ42におけるデータ転送方向は、正方向(第1方向)及び逆方向(第2方向)のどちらかに制御される。正方向に設定されている場合、シフトレジスタ42は、スキャンデータ入出力端SIN/SOTからスキャンデータ入出力端SOT/SIN側に向けて、スキャンデータを転送する。逆方向に設定されている場合、シフトレジスタ42は、スキャンデータ入出力端SOT/SIN側からスキャンデータ入出力端SIN/SOT側に向けて、スキャンデータを転送する。
クロック入力端CLKは、クロック信号を受け入れるために設けられている。シフトレジスタ42は、クロック信号の供給タイミングに基づいて、論理回路41との間のデータ入出力、又は、スキャンデータの転送を行う。
上述の集積回路装置50では、テスト時において、まず、モード選択信号により、第1モードに設定される。更に、方向制御信号により、データ転送方向が、正方向又は逆方向に設定される。ついで、スキャンデータが各フリップフロップ回路に転送される。その後、モード選択信号により、第2モードに設定される。そして、各フリップフロップ回路40が論理回路41との間でデータの入出力が行われる。各フリップフロップ回路40は、論理回路41から受け取ったデータを保持する。次いで、再び第1モードに設定される。データ転送方向は、正方向又は逆方向に設定される。そして、各フリップフロップ回路40に保持されたデータが転送され、論理回路41に故障が発生しているか否かが判定される。
次いで、各フリップフロップ回路40の構成を詳細に説明する。
図4A及び図4Bは、各フリップフロップ回路40の構成を示す概略図である。図4A及び図4Bに示されるように、各フリップフロップ回路40は、選択回路22、第1ラッチ回路23、第2ラッチ回路24、第1トランスファーゲート12、及び制御回路27を備えている。図4Aには、選択回路22、第1ラッチ回路23、第2ラッチ回路24、及び第1トランスファーゲート12が描かれておいる。図4Bは、制御回路27の構成を示している。
まず、図4Aを参照して、選択回路22、第1ラッチ回路23、第2ラッチ回路24、及び第1トランスファーゲート12について説明する。
選択回路22は、入出力端D、入出力端SIR、モード選択信号入力端SM、及び第1ラッチ回路23に接続されている。選択回路22は、モード選択信号に応じて、入出力端D及び入出力端SIRの何れか一方を、第1ラッチ回路23と導通させる。具体的には、選択回路22は、トランスファーゲート1、トランスファーゲート2、及び反転回路3(インバータ)を備えている。反転回路3の入力端はモード選択信号入力端SMに接続されている。トランスファーゲート1は、入出力端Dと第1ラッチ回路23との間のオン/オフを切り替えるように配置されている。トランスファーゲート1の一方のゲートは、モード選択信号入力端SMに接続されており、他方のゲートは、反転回路3の出力端に接続されている。トランスファーゲート2は、入出力端SIRと第1ラッチ回路23との間のオン/オフを切り替えるように配置されている。トランスファーゲート2の一方のゲートは、モード選択信号入力端SMに接続されており、他方のゲートは、反転回路3の出力端に接続されている。トランスファーゲート1及びトランスファーゲート2は、一方がオンの場合に他方がオフになるように、構成されている。
第1ラッチ回路23は、選択回路22及び第2ラッチ回路24の間に配置されている。第1ラッチ回路23は、第1端31、第2端32、第2トランスファーゲート4、及び第1ホールド部25を備えている。第1端31は、選択回路22に接続されている。第2端32は、第2ラッチ回路24に接続されている。第2トランスファーゲート4は、第1端31と第2端32との間のオン/オフを切り替えるように、配置されている。第1ホールド部25は、第2端32に接続されている。
第1ホールド部25は、第2端32に供給された信号を保持する部分である。第1ホールド部25は、第1反転回路7、第2反転回路6、及び第3トランスファーゲート5を備えている。第1反転回路7の入力端は、第2端32に接続されている。第2反転回路6の入力端は、第1反転回路7の出力端に接続されている。第3トランスファーゲート5は、第2反転回路6の出力端と第2端との間のオン/オフを切り替えるように、配置されている。
第2ラッチ回路24は、第1ラッチ回路と第1トランスファーゲート12との間に配置されている。第2ラッチ回路24は、第3端33、第4端34、第4トランスファーゲート8、及び第2ホールド部26を備えている。第3端33は、第1ラッチ回路の第2端32に接続されている。第4端34は、第1トランスファーゲート12に接続されている。第4トランスファーゲート8は、第3端33と第4端34との間のオン/オフを切り替えるように、配置されている。第2ホールド部26は、第4端34に接続されている。
第2ホールド部26は、第4端34に供給された信号を保持する部分である。第2ホールド部26は、第3反転回路11、第4反転回路10、及び第5トランスファーゲート9を備えている。第3反転回路11の入力端は、第4端34に接続されている。第4反転回路10の入力端は、第3反転回路11の出力端に接続されている。第5トランスファーゲート9は、第4反転回路10の出力端と第4端34との間のオン/オフを切り替えるように、配置されている。
第1トランスファーゲート12は、第4端34と入出力端SILとの間のオン/オフを切り替えるように配置されている。また、入出力端Qは、第4端34に接続されている。
ここで、各トランスファーゲート(第1〜第5トランスファーゲート)のオン/オフは、制御回路27から供給される、制御信号群により、制御される。制御信号群は、第1制御信号CKB、第2制御信号CKT、第3制御信号SCKB、及び第4制御信号SCKTを含んでいる。第2制御信号CKTは、第1制御信号CKBの反転信号である。第4制御信号SCKTは、第3制御信号SCKBの反転信号である。第1トランスファーゲート12、第2トランスファーゲート4、及び第4トランスファーゲート8のオン/オフは、第1制御信号CKB及び第2制御信号CKTによって、制御される。尚、第1トランスファーゲート12がオン状態のときには、第2トランスファーゲート4がオン状態とされ、第4トランスファーゲート8がオフ状態とされる。一方、第3トランスファーゲート5及び第5トランスファーゲート9は、第3制御信号SCKB及び第4制御信号SCKTによって、制御される。第3トランスファーゲート5がオン状態の時には、第5トランスファーゲート9がオフ状態とされる。
次に、図4Bを参照して、制御回路27の構成について説明する。制御回路27は、方向制御信号に応じて、第3制御信号SCKBと第1制御信号CKBとの関係を切り替える回路である。データの転送方向が正方向に設定される場合、方向制御信号として、「0」に対応する信号が供給される。この場合、制御回路27は、第1制御信号CKBと論理レベルが同じ信号を、第3制御信号SCKBとして出力する。一方、方向制御信号として「1」に対応する信号が供給された場合には、転送方向が逆方向に設定される。この場合、制御回路27は、第1制御信号CKBとは論理レベルが逆である信号を、第3制御信号SCKBとして出力する。
具体的には、図4Bに示されるように、制御回路27は、クロック入力端CLK及び方向制御信号入力端DIRに接続されている。制御回路27は、第5反転回路13、第6反転回路14、選択部28、及び第7反転回路19を備えている。
第5反転回路13の入力端は、クロック入力端CLKに接続されている。第5反転回路13は、クロック入力端CKから供給されたクロック信号を反転させ、第1制御信号CKBとして出力する。第6反転回路14の入力端は、第5反転回路13の出力端に接続されている。第6反転回路14は、第1制御信号CKBを反転させ、第2制御信号CKTとして出力する。
選択部28は、第8反転回路15、第1NAND回路16、第2NAND回路17、及び第3NAND回路18を備えている。第8反転回路15の入力端は、方向制御信号入力端DIRに接続されている。第1NAND回路16では、一方の入力端が第5反転回路13の出力端に接続され、他方の入力端が第8反転回路15の出力端に接続されている。第2NAND回路17では、一方の入力端がクロック入力端CLKに接続され、他方の入力端が方向制御信号入力端DIRに接続されている。第3NAND回路18では、一方の入力端が第1NAND回路16の出力端に接続され、他方の入力端が第2NAND回路17の出力端に接続されている。第3NAND回路18は、出力端から、第3制御信号SCKBを出力する。
第7反転回路19の入力端は、第3NAND回路18の出力端に接続されている。第7反転回路19は、第3制御信号SCKBを反転させ、第4制御信号SCKTとして出力する。
以上説明した構成により、方向制御信号として「0」に対応する信号が供給された場合には、制御回路27は、第3制御信号SCKBとして、第1制御信号CKBと論理レベルが同じ信号を出力する。また、方向制御信号「1」に対応する信号が供給された場合には、制御回路27は、第3制御信号SCKBとして、第1制御信号CKBと論理レベルが逆である信号を、出力する。
続いて、各フリップフロップ回路の動作方法について説明する。
まず、第1モードにおける動作について説明する。すなわち、シフトレジスタ42においてスキャンデータが転送される場合の動作について説明する。この場合、各フリップフロップ回路40には、モード選択信号として、ハイレベル「1」に対応する信号が供給される。この場合、選択回路22では、トランスファーゲート1がオフ状態になり、トランスファーゲート2がオン状態になる。すなわち、入出力端SIRと第1ラッチ回路23の第1端31とが、導通する。
ここで、まず、データ転送方向が正方向(入出力端SIRから入出力端SILへ向かう方向)に設定されている場合の動作について説明する。データ転送方向が正方向に設定される場合、方向制御信号として、ロウレベル(「0」)に対応する信号が、供給される。この場合、入出力端SIRがスキャンデータの入力端として機能し、入出力端SILがスキャンデータの出力端として機能する。
図5は、データ転送方向が正方向に設定されている場合の動作を示すタイミングチャートである。図5において、横軸は時間を示している。また、縦軸は、クロック信号CK、第1制御信号CKB、第2制御信号CKT、第3制御信号SCKB、第4制御信号SCKT、入出力端SIR、第2端32、第4端34(入出力端Q)、及び入出力端SILにおける信号のレベルを示している。
図5に示されるように、期間aでは、クロック信号CKとして、ハイレベル(「1」に対応する信号)が供給されている。また、期間aに続く期間bでは、クロック信号CKとして、ローレベル(「0」に対応する信号)が供給されている。また、期間bに続く期間cでは、クロック信号CKとして、「1」に対応する信号が供給されている。期間cに続く期間dでは、クロック信号CKとして、「0」に対応する信号が供給されている。
ここで、方向制御信号として「0」に対応する信号が供給されている場合、第2制御信号CKT、及び第4制御信号SCKTが、クロック信号CKと同じ論理レベルになる。また、第1制御信号CKB及び第3制御信号SCKBが、クロック信号CKとは逆の論理レベルになる。クロック信号CKのレベルが「0」である場合(期間b)には、第2トランスファーゲート4、第1トランスファーゲート12、及び第3トランスファーゲート5が、オンになる。一方、第4トランスファーゲート8及び第5トランスファーゲート9は、オフになる。
図5に示されるように、入出力端SIRからのスキャンデータ信号が、期間aにおいて「0」から「1」に変化し、期間cにおいて「1」から「0」に戻ったとする。
図6Aは、クロック信号CKが「0」である場合の動作を示す図である。すなわち、図6Aは、期間bにおける動作を示す図である。図6Aに示されるように、クロック信号CKが「0」である場合、第1トランスファーゲート12、第2トランスファーゲート4、及び第5トランスファーゲート9がオン状態になり、第3トランスファーゲート5及び第4トランスファーゲート8がオフ状態になる。従って、入出力端SIRから供給されたスキャンデータ信号は、第2トランスファーゲート4を通過し、第1ラッチ回路23の第2端32に取り込まれる。尚、第3トランスファーゲート5がオフ状態になるため、第2反転回路6の出力信号が、取り込まれたスキャンデータ信号と干渉することはない。また、このとき、第2ラッチ回路24の第4端34に保持されていた信号は、第1トランスファーゲート12を介して、入出力端SILに出力される。
続いて、期間cにおける動作について説明する。図6Bは、クロック信号が「1」である場合の動作を示す図であり、期間cにおける動作を示す図である。図6Bに示されるように、期間cでは、第1トランスファーゲート12、第2トランスファーゲート4、及び第5トランスファーゲート9がオフ状態になり、第3トランスファーゲート5及び第4トランスファーゲート8がオン状態になる。従って、第1ラッチ回路23では、取り込んだスキャンデータが確定される(保持し続けられる)。また、第1ラッチ回路23に保持されていたスキャンデータ信号は、第4トランスファーゲート8を通過し、第2ラッチ回路24の第4端34に取り込まれる。
期間cにおいて第2ラッチ回路24に取り込まれたスキャンデータ信号は、期間cに続く期間dにおいて、入出力端SILから出力される。
すなわち、データ転送方向が正方向に設定されている場合には、第1ラッチ回路23がマスターラッチとして機能し、第2ラッチ回路24がスレーブラッチとして機能する。これにより、入出力端SIRから供給されたスキャンデータ信号が、入出力端SILから出力される。すなわち、スキャンデータは、入出力端SIR側から入出力端SIL側へ転送される。
次に、データ転送方向が逆方向に設定されている場合の動作について説明する。方向制御信号としてハイレベル(「1」)に対応する信号が供給された場合に、データ転送方向が逆方向に設定される。この場合、入出力端SILがスキャンデータの入力端として機能し、入出力端SIRがスキャンデータの出力端として機能する。
図7は、データ転送方向が逆方向に設定されている場合の動作を示すタイミングチャートである。図7において、横軸は時間を示している。また、縦軸は、クロック信号CK、第1制御信号CKB、第2制御信号CKT、第3制御信号SCKB、第4制御信号SCKT、入出力端SIR、第2端32、第4端34(入出力端Q)、及び入出力端SILにおける信号のレベルを示している。
図7に示されるように、期間aでは、クロック信号CKとして、ハイレベル(「1」に対応する信号)が供給されている。また、期間aに続く期間bでは、クロック信号CKとして、ローレベル(「0」に対応する信号)が供給されている。また、期間bに続く期間cでは、クロック信号CKとして、「1」に対応する信号が供給されている。
ここで、方向制御信号として「1」に対応する信号が供給されている場合には、第2制御信号CKT及び第3制御信号SCKBが、クロック信号CKと同じ論理レベルになる。また、第1制御信号CKB及び第4制御信号SCKTが、クロック信号CKとは逆の論理レベルになる。その結果、クロック信号CKのレベルが「0」である場合(期間b、d)には、第1トランスファーゲート12、第2トランスファーゲート4、及び第3トランスファーゲート5が、オンになる。一方、第4トランスファーゲート8及び第5トランスファーゲート9は、オフになる。逆に、クロック信号CKのレベルが「1」である場合(期間a、c)には、第1トランスファーゲート12、第2トランスファーゲート4、及び第3トランスファーゲート5が、オフになる。一方、第4トランスファーゲート8及び第5トランスファーゲート9は、オンになる。
図7に示されるように、入出力端SILからのスキャンデータ信号が、期間aにおいて「0」から「1」に変化し、期間cにおいて「1」から「0」に戻ったとする。
図8Aは、クロック信号CKが「0」である場合の動作を示す図である。すなわち、図8Aは、期間bにおける動作を示す図である。図8Aに示されるように、クロック信号CKが「0」である場合、第1トランスファーゲート12、第2トランスファーゲート4、及び第3トランスファーゲート5がオン状態になり、第4トランスファーゲート8及び第5トランスファーゲート9がオフ状態になる。従って、入出力端SILから供給されたスキャンデータ信号は、第1トランスファーゲート12を通過し、第2ラッチ回路24の第4端34に取り込まれる。この際、第5トランスファーゲート9がオフ状態になるため、第4反転回路10の出力信号が、スキャンデータ信号と干渉することはない。また、第1ラッチ回路23の第2端32に保持されているデータが、第2トランスファーゲート4を介して、入出力端SIRに出力される。
続いて、期間cにおける動作について説明する。図8Bは、クロック信号が「1」である場合の動作を示す図であり、期間cにおける動作を示す図である。図8Bに示されるように、期間cでは、第1トランスファーゲート12、第2トランスファーゲート4、及び第3トランスファーゲート5がオフ状態になり、第4トランスファーゲート8及び第5トランスファーゲート9がオン状態になる。従って、第2ラッチ回路24では、第4端34に供給されていたスキャンデータ信号が確定される(保持し続けられる)。また、第4端に保持されたスキャンデータ信号は、第4トランスファーゲート8を通過し、第1ラッチ回路23に取り込まれる。
期間cにおいて第1ラッチ回路23に取り込まれたスキャンデータ信号は、期間cに続く期間dにおいて、入出力端SIRから出力される。
すなわち、データ転送方向が逆方向に設定されている場合には、第2ラッチ回路24がマスターラッチとして機能し、第1ラッチ回路23がスレーブラッチとして機能する。これにより、入出力端SILから供給されたスキャンデータ信号が、入出力端SIRから出力される。すなわち、スキャンデータ信号は、入出力端SIL側から入出力端SIR側へ転送される。
以上説明したように、本実施形態によれば、方向制御信号により、データ転送方向が、正方向と逆方向との間で切り替えられる。ここで、本実施形態では、入出力端SIRと入出力端SILとの間に、反転回路が介在していない。すなわち、入出力端SIRと入出力端SILとの間に形成されるデータパスが、トランスファーゲート回路だけで構成されている。そのため、必要なトランスファーゲートの数を少なくすることができる。例えば、特許文献2(特開平6−176593号公報)及び特許文献3(特開平8−279298号公報)に記載されたフリップフロップでは、7個のトランスファーゲートが必要である(図2参照)。これに対して、本実施形態では、トランスファーゲートは4個でよい。従って、集積回路装置におけるハード量を少なくすることができる。また、入出力端SIRと入出力端SILとの間におけるデータパスは1本でよいので、配線を容易に配置することが可能である。その結果、集積回路装置をより高集積化することができる。
(第2の実施形態)
続いて、第2の実施形態について説明する。本実施形態では、第1の実施形態に対して、制御回路27の構成が変更されている。その他の点については、第1の実施形態と同様とすることができるので、詳細な説明は省略する。
続いて、第2の実施形態について説明する。本実施形態では、第1の実施形態に対して、制御回路27の構成が変更されている。その他の点については、第1の実施形態と同様とすることができるので、詳細な説明は省略する。
図9は、本実施形態における制御回路27の構成を示す図である。本実施形態においては、制御回路27に含まれる選択部28の構成が、第1の実施形態と異なっている。その他の点については、第1の実施形態と同様である。
すなわち、本実施形態では、選択部28が、第6トランスファーゲート20及び第7トランスファーゲート21を備えている。第6トランスファーゲート20は、第5反転回路13の出力端と第7反転回路19の入力端との間のオン/オフを切り替えるように、配置されている。第7トランスファーゲート21は、第8反転回路15の出力端と第7反転回路19の入力端との間のオン/オフを切り替えるように、配置されている。第6トランスファーゲート20及び第7トランスファーゲート21のオン/オフは、方向制御信号及び方向制御信号の反転信号によって、制御される。第6トランスファーゲート20がオンの場合、第7トランスファーゲートがオフ状態とされる。
本実施形態においても、制御回路27は、方向制御信号に応じて、第3制御信号SCKBと第1制御信号CKBとの関係を切り替える。すなわち、データの転送方向が正方向に設定されている場合(方向制御信号として「0」に対応する信号が供給された場合)、制御回路27は、第1制御信号CKBと論理レベルが同じ信号を、第3制御信号SCKBとして出力する。一方、転送方向が逆方向に設定される場合(方向制御信号として「1」に対応する信号が供給されている場合)、制御回路27は、第1制御信号CKBとは論理レベルが逆である信号を、第3制御信号SCKBとして出力する。
本実施形態のような構成を採用しても、第1の実施形態と同様の作用効果を奏することが可能である。
1 :トランスファーゲート
2 :トランスファーゲート
3 :反転回路
4 :第2トランスファーゲート
5 :第3トランスファーゲート
6 :第2反転回路
7 :第1反転回路
8 :第4トランスファーゲート
9 :第5トランスファーゲート
10:第4反転回路
11:第3反転回路
12:第1トランスファーゲート
13:第5反転回路
14:第6反転回路
15:第8反転回路
16:第1NAND回路
17:第2NAND回路
18:第3NAND回路
19:第7反転回路
20:第6トランスファーゲート
21:第7トランスファーゲート
22:選択回路
23:第1ラッチ回路
24:第2ラッチ回路
25:第1ホールド部
26:第2ホールド部
27:制御回路
28:選択部
31:第1端
32:第2端
33:第3端
34:第4端
40:フリップフロップ回路
41:論理回路
42:シフトレジスタ
50:集積回路装置
2 :トランスファーゲート
3 :反転回路
4 :第2トランスファーゲート
5 :第3トランスファーゲート
6 :第2反転回路
7 :第1反転回路
8 :第4トランスファーゲート
9 :第5トランスファーゲート
10:第4反転回路
11:第3反転回路
12:第1トランスファーゲート
13:第5反転回路
14:第6反転回路
15:第8反転回路
16:第1NAND回路
17:第2NAND回路
18:第3NAND回路
19:第7反転回路
20:第6トランスファーゲート
21:第7トランスファーゲート
22:選択回路
23:第1ラッチ回路
24:第2ラッチ回路
25:第1ホールド部
26:第2ホールド部
27:制御回路
28:選択部
31:第1端
32:第2端
33:第3端
34:第4端
40:フリップフロップ回路
41:論理回路
42:シフトレジスタ
50:集積回路装置
Claims (7)
- 第1入出力端と、
第1端及び第2端を有し、前記第1端で前記第1入出力端に接続された、第1ラッチ回路と、
第3端及び第4端を有し、前記第3端で前記第2端に接続された、第2ラッチ回路と、
一端で前記第4端に接続された第1スイッチ回路と、
前記第1スイッチ回路の他端に接続された、第2入出力端と、
制御回路と、
を具備し、
前記第1ラッチ回路は、
前記第1端と前記第2端との間の導通及び非導通を切り替える、第2スイッチ回路と、
前記第2端に接続され、前記第2端に供給された信号を保持する、第1ホールド部とを備え、
前記第1ホールド部は、前記第2端に供給された信号を保持するか否かを切り替える、第3スイッチ回路を備え、
前記第2ラッチ回路は、
前記第3端と前記第4端との間の導通及び非道通を切り替える、第4スイッチ回路と、
前記第4端に接続され、前記第4端に供給された信号を保持する、第2ホールド部とを備え、
前記第2ホールド部は、前記第4端に供給された信号を保持するか否かを切り替える、第5スイッチ回路を備え、
前記制御回路は、
スキャン方向が第1方向に設定された場合に、前記第1スイッチ回路、前記第2スイッチ回路、及び前記第3スイッチ回路が同じタイミングで導通し、前記第4スイッチ回路及び前記第5スイッチ回路が、前記第1スイッチ回路とは逆のタイミングで導通するように、前記第1乃至第5のスイッチ回路を制御し、
スキャン方向が第2方向に設定された場合に、前記第1スイッチ回路、前記第2スイッチ回路、及び前記第5スイッチ回路が同じタイミングで導通し、前記第3スイッチ回路及び前記第4スイッチ回路が、前記第1スイッチ回路とは逆のタイミングで導通するように、前記第1乃至第5のスイッチ回路を制御する
フリップフロップ回路。 - 請求項1に記載されたフリップフロップ回路であって、
前記第1ホールド部は、更に、第1反転回路、及び第2反転回路を備え、
前記第1反転回路の入力端は、前記第2端に接続され、
前記第2反転回路の入力端は、前記第1反転回路の出力端に接続され、
前記第2反転回路の出力端は、前記第3スイッチ回路の一端に接続され、
前記第3スイッチ回路の他端は、前記1反転回路の入力端に接続され、
前記第2ホールド部は、更に、第3反転回路、及び第4反転回路を備え、
前記第3反転回路の入力端は、前記第4端に接続され、
前記第4反転回路の入力端は、前記第3反転回路の出力端に接続され、
前記第4反転回路の出力端は、前記第5スイッチ回路の一端に接続され、
前記第5スイッチ回路の他端は、前記3反転回路の入力端に接続されている
フリップフロップ回路。 - 請求項1又は2に記載されたフリップフロップ回路であって、
前記第1乃至第5スイッチ回路は、それぞれ、トランスファーゲートである
フリップフロップ回路。 - 請求項1乃至3のいずれかに記載されたフリップフロップ回路であって、
前記制御回路は、
クロック信号が供給されるクロック入力端と、
方向制御信号が供給される方向制御信号入力端と、
入力端が前記クロック入力端に接続され、前記クロック信号の反転信号を第1制御信号CKBとして出力する、第5反転回路と、
入力端が前記第5反転回路の出力端に接続され、前記第1制御信号CKBの反転信号を第2制御信号CKTとして出力する、第6反転回路と、
前記方向制御信号に基づいて、前記クロック信号と前記第1制御信号CKBのうちのどちらかを選択し、選択された信号を第3制御信号SCKBとして出力する、選択部と、
前記第3制御信号SCKBの反転信号を第4制御信号SCKTとして出力する、第7反転回路とを備え、
前記第1スイッチ回路、前記第2スイッチ回路、及び前記第4スイッチ回路は、前記第1制御信号CKB及び前記第2制御信号CKTによって導通及び非導通が切り替えられ、
前記第3スイッチ回路及び前記第5スイッチ回路は、前記第3制御信号SCKB及び前記第4制御信号SCKTによって導通及び非導通が切り替えられる
フリップフロップ回路。 - 請求項4に記載されたフリップフロップ回路であって、
前記制御回路は、
前記方向制御信号を反転させ、反転方向制御信号として出力する、第8反転回路と、
一方の入力端に前記第1制御信号CKBが供給され、他方の入力端に前記反転方向制御信号が供給され、出力端から第1NAND出力信号を出力する、第1NAND回路と、
一方の入力端に前記クロック信号が供給され、他方の入力端に前記方向制御信号が供給され、出力端から第2NAND出力信号を出力する、第2NAND回路と、
一方の入力端に前記第1NAND出力信号が供給され、他方の入力端に前記第2NAND出力信号が供給され、出力端から前記第3制御信号SCKBを出力する、第3NAND回路とを備えている
フリップフロップ回路。 - 請求項4に記載されたフリップフロップ回路であって、
前記制御回路は、
第3制御信号SCKBを出力する第3制御信号出力端と、
前記第5反転回路の出力端と前記第3制御信号出力端との間の導通及び非導通を切り替える、第6スイッチ回路と、
前記クロック入力端と前記第3制御信号出力端との間の導通及び非導通を切り替える、第7スイッチ回路とを備え、
前記第6スイッチ回路及び前記第7スイッチ回路は、前記方向制御信号によって、導通及び非導通が切り替えられ、
前記第6スイッチ回路は、前記第7スイッチ回路とは、逆のタイミングで導通状態になるように、制御される
フリップフロップ回路。 - 複数の、請求項1乃至6の何れかに記載されたフリップフロップ回路、
を具備し、
前記複数のフリップフロップ回路は、直列に接続されており、
隣接する二つの前記フリップフロップ回路において、一方の前記フリップフロップ回路における前記第1入出力端が、他方の前記フリップフロップ回路における前記第2入出力端に接続されている
シフトレジスタ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009201891A JP2011055224A (ja) | 2009-09-01 | 2009-09-01 | フリップフロップ回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009201891A JP2011055224A (ja) | 2009-09-01 | 2009-09-01 | フリップフロップ回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011055224A true JP2011055224A (ja) | 2011-03-17 |
Family
ID=43943785
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009201891A Withdrawn JP2011055224A (ja) | 2009-09-01 | 2009-09-01 | フリップフロップ回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2011055224A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103680375A (zh) * | 2012-08-29 | 2014-03-26 | 凌巨科技股份有限公司 | 双向扫描驱动电路 |
US9742383B2 (en) | 2015-09-11 | 2017-08-22 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor integrated circuit |
CN114978152A (zh) * | 2022-05-10 | 2022-08-30 | 上海韬润半导体有限公司 | 锁存电路及包括其的数字模拟转换器 |
-
2009
- 2009-09-01 JP JP2009201891A patent/JP2011055224A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103680375A (zh) * | 2012-08-29 | 2014-03-26 | 凌巨科技股份有限公司 | 双向扫描驱动电路 |
CN103680375B (zh) * | 2012-08-29 | 2016-07-13 | 凌巨科技股份有限公司 | 双向扫描驱动电路 |
US9742383B2 (en) | 2015-09-11 | 2017-08-22 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor integrated circuit |
US10187043B2 (en) | 2015-09-11 | 2019-01-22 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor integrated circuit |
CN114978152A (zh) * | 2022-05-10 | 2022-08-30 | 上海韬润半导体有限公司 | 锁存电路及包括其的数字模拟转换器 |
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