JP4660115B2 - テストモード設定回路 - Google Patents
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Description
また、通常動作用外部入出力端子は、テストモード時にはリセット信号によって強制的に入力端子として制御されることによって、テストモード設定信号を入力するテストモード設定用端子として用いることができる。また、通常動作モード時に、内部の制御信号によって出力端子として制御される場合に、リセット信号によって入力端子として制御されないようにすることによって、リセット期間にその端子がハイインピーダンスにはならず、その端子に接続された内部回路に貫通電流が流れることを防止できる。
図1は、本発明の第1の実施形態におけるテストモード設定回路を示す図である。図1において、1は通常外部入力端子で、テストモード設定用端子と共用されたテストモード設定用端子兼用通常外部入力端子であり、リセット時は、テストモード設定用端子として使用する。2はクロック信号CLKを入力するクロック端子である。3はリセット信号RSTを入力するリセット端子で、本実施形態においては、入力値がlow(ロー)レベル時はリセット動作を行い、入力値がhigh(ハイ)レベル時はリセット解除を行うものとする。4は、ロード/ホールド(LOAD/HOLD)付きフリップフロップで、リセット信号RSTにてLOAD/HOLD動作の制御が行われ、LH端子にlowレベル(リセット時)が入力されると、テストモード設定用端子兼用通常外部入力端子1から入力された値(信号)がクロックCLKの立ち上がりでロード(LOAD)され、LH端子にhighレベル(リセット解除時)が入力されると、テストモード設定用端子兼用通常外部入力端子1から入力された値をホールド(HOLD)する。この時、DATAIが変化しても、またクロックCLKが変化してもフリップフロップ4の出力は変化しない。
図3は、本発明の第2の実施形態におけるテストモード設定回路を示す図である。また、図4は本実施形態における通常動作モード時のテストモード設定回路の動作を示すタイミング図である。
図5は、本発明の第3の実施形態におけるテストモード設定回路を示す図である。また、図6は本実施形態におけるテストモード設定回路の動作を示すタイミング図である。
図7は、本発明の第4の実施形態におけるテストモード設定回路を示す図である。また、図8は本実施形態における通常動作モード時のテストモード設定回路の動作を示すタイミング図である。
図9は、本発明の第5の実施形態におけるテストモード設定回路を示す図である。また、図10は本実施形態におけるテストモード設定回路の動作を示すタイミング図である。
2 クロック端子
3 リセット端子
4 LOAD/HOLD付きフリップフロップ
6 テスト端子
7 ノイズ除去制御回路
8 テストモード設定用端子兼用通常外部入出力端子
9 入出力コントロール部
10 機能ブロックからの出力信号
11 入出力コントロール信号
12 制御回路
13 制御回路12の出力信号
14 制御回路
15 制御回路14の出力信号
Claims (2)
- 半導体集積回路装置の通常動作用外部入出力端子と共用したテストモード設定用端子と、前記半導体集積回路装置の内部回路に接続されたテストモード設定信号線と、前記テストモード設定用端子から入力されるテストモード設定信号と前記半導体集積回路装置のリセット端子から入力されるリセット信号とを入力し、前記テストモード設定信号を前記リセット信号の解除に応答して保持し前記テストモード設定信号線へ出力するテストモード設定信号保持回路とを備え、
前記テストモード設定用端子と共用される前記通常動作用外部入出力端子は、内部の制御信号によって入力端子および出力端子として制御されるとともに、テストモード時には前記リセット信号によって強制的に入力端子として制御され、通常動作モード時には前記リセット信号によって制御されないようにしたテストモード設定回路。 - 通常動作モード時に前記テストモード設定用端子から前記テストモード設定信号保持回路へ入力される信号を固定する制御回路を設けた請求項1記載のテストモード設定回路。
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JP2005331311A JP2005331311A (ja) | 2005-12-02 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US11550685B2 (en) | 2019-11-05 | 2023-01-10 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Mode controller and integrated circuit chip including the same |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH0792243A (ja) * | 1993-09-22 | 1995-04-07 | Nec Corp | 半導体装置 |
JPH09145803A (ja) * | 1995-11-22 | 1997-06-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | テストモード設定回路 |
JPH11166958A (ja) * | 1997-12-03 | 1999-06-22 | Toshiba Corp | 半導体集積回路装置 |
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- 2004-05-19 JP JP2004148637A patent/JP4660115B2/ja not_active Expired - Fee Related
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