JP2006210930A - 薄膜トランジスタ、その製造方法及びそれを備えた平板表示装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】ゲート電極と、ゲート電極と絶縁されたソース電極及びドレイン電極と、ゲート電極と絶縁され、前記ソース電極及び前記ドレイン電極と電気的に接続された有機半導体層と、前記ゲート電極を前記ソース電極及び前記ドレイン電極と、または前記有機半導体層と絶縁させる絶縁層と、を備え、前記有機半導体層のうちチャネル領域の反対側の領域と接触し、チャネル領域の反対側の領域に移動した電荷を、チャネル領域の反対側の領域に固定させうる官能基を有する化合物を含むチャネル形成促進層を備える薄膜トランジスタである。
【選択図】図1
Description
シリコンオキシドからなる基板上にAuを1000Åの厚さに蒸着して、所定のパターンを有するAuゲート電極を形成した後、前記Auゲート電極の上部にSiO2を1500Åの厚さに蒸着して絶縁層を形成した。その後、Auを1000Åの厚さに蒸着してAuソース電極及びAuドレイン電極を形成した後、前記ソース及びドレイン電極を覆うように、700Åの厚さのペンタセン層を形成して、ペンタセン有機半導体層を形成した。その後、前記有機半導体層の上部に300Åの厚さにAlq3を蒸着して、電子受容基を有するチャネル形成促進層を形成し、本発明に係る有機TFTを製造した。前記有機TFTをサンプル1と称する。
前記実施例のうち、前記有機半導体層の上部に、Alq3からなるチャネル形成促進層を形成していないという点を除いては、前記実施例と同じ方法を利用して有機TFTを製造した。前記有機TFTをサンプル2と称する。
<電荷移動度及びオン/オフ電流特性の評価>
前記サンプル1及び2に対して、電荷移動度の特性及びオン/オフ電流の特性をHP4156C半導体パラメータ分析器を利用して評価した。電荷移動度の特性評価条件は、次の通りであった:Vds(ソース−ドレイン間電圧)=−5V、飽和異常のVg(ゲート電圧)に対するId1/2フローティングで飽和異常を計算した。一方、オン/オフ電流特性の評価条件は、次の通りであった:ドレイン電圧 Vd=−5V及び−60V、ゲート電圧の変化範囲=20V(オフである場合である)〜−60V(オンである場合である)、ゲート電圧の変化量=1V。
2、12、22 ゲート電極、
3、13、23 絶縁層、
5、15、25 有機半導体層、
4a、14a、24a ソース電極、
4b、14b、24b ドレイン電極、
5a チャネル領域、
5b チャネル領域の反対側の領域、
7、17、27 チャネル形成促進層、
20 TFT、
28 画素定義膜、
30 有機発光素子、
31 画素電極、
32 有機発光膜、
33 対向電極。
Claims (19)
- ゲート電極と、
前記ゲート電極と絶縁されたソース電極及びドレイン電極と、
前記ゲート電極と絶縁され、前記ソース電極及び前記ドレイン電極と電気的に接続された有機半導体層と、
前記ゲート電極を前記ソース電極及びドレイン電極と、または有機半導体層と絶縁させる絶縁層と、を備え、
前記有機半導体層のうちチャネル領域の反対側の領域と接触し、前記チャネル領域の反対側の領域に移動した電荷を、前記チャネル領域の反対側の領域に固定させうる官能基を有する化合物を含むチャネル形成促進層を備えることを特徴とする薄膜トランジスタ。 - 前記チャネル領域で正孔が移動して、前記チャネル領域の反対側の領域に電子が移動する場合、前記チャネル形成促進層は、電子受容基を有する化合物を含むことを特徴とする請求項1に記載の薄膜トランジスタ。
- 前記電子受容基を有する化合物は、−NO2、−CN、−C(=O)−、−COO−、−C(=O)−O−C(=O)−、−CONH−、−SO−、−SO2−、−C(=O)−C(=O)−、=N−、−F、−Cl、−I、C1−10ハロアルキル基及びC5−10ハロアリール基からなる群から選択された一つ以上を含む芳香族化合物であることを特徴とする請求項2に記載の薄膜トランジスタ。
- 前記芳香族化合物は、5員、6員及び7員炭素環及び複素環からなる群から選択された一つ以上を有し、前記炭素環または複素環は、互いに融合されるか、または単一結合またはエテニレン基で連結されるか、金属元素と配位結合を形成していることを特徴とする請求項3に記載の薄膜トランジスタ。
- 前記電子受容基を有する化合物は、2,4,7−トリニトロフルオレン、4−ニトロアニリン、2,4−ジニトロアニリン、5−ニトロアントラニロニトリル、2,4−ジニトロジフェニルアミン、1,5−ジニトロナフタレン、4−ニトロビフェニル、4−ジメチルアミノ−4’−ニトロスチルベン、1,4−ジシアノベンゼン、9,10−ジシアノアントラセン、1,2,4,5−テトラシアノベンゼン、3,5−ジニトロベンゾニトリル、3,4,9,10−ペリレンテトラカルボン酸二無水物、N,N’−ビス(2,5−ジ−t−ブチルフェニル)−3,4,9,10−ペリレンジカルボキシイミド、テトラクロロフタル酸無水物、テトラクロロフタロニトリル、テトラフルオロ−1,4−ベンゾキノン、ナフトキノン、アントラキノン、フェナントレンキノン、1,10−フェナントロリン−5,6−ジオン、フェナジン、キノキサリン、2,3,6,7−テトラクロロキノキサリン及びトリス−8−ヒドロキシキノリンアルミニウム(Alq3)からなる群から選択された一つ以上であることを特徴とする請求項2に記載の薄膜トランジスタ。
- 前記チャネル領域に電子が移動して、前記チャネル領域の反対側の領域に正孔が移動する場合、前記チャネル形成促進層は、電子供与基を有する化合物を含むことを特徴とする請求項1に記載の薄膜トランジスタ。
- 前記電子供与基を有する化合物は、水素、C1−10アルキル基、C5−10アリール基、−NR1R2基、−OR3基及び−SiR4R5R6基からなる群から選択された一つ以上を含む芳香族化合物及びビニル系化合物であり、この際前記R1、R2、R3、R4、R5及びR6は、それぞれ独立して、水素、C1−10アルキル基またはC5−10アリール基であることを特徴とする請求項6に記載の薄膜トランジスタ。
- 前記芳香族化合物は、5員、6員及び7員の炭素環及び複素環からなる群から選択された一つ以上を有し、前記炭素環または複素環は、互いに融合されるか、または単結合または二重結合で連結されていることを特徴とする請求項7に記載の薄膜トランジスタ。
- 前記電子供与基を有する化合物は、ポリ(3,4−エチレンジオキシチオフェン)、テトラフェニルエチレン、アズレン、1,2,3,4−テトラフェニル−1,3−シクロペンタジエン及びビス(エチレンジチオ)テトラチアフルバレンからなる群から選択された一つ以上であることを特徴とする請求項6に記載の薄膜トランジスタ。
- 基板、ゲート電極、絶縁層、ソース電極及びドレイン電極、有機半導体層、並びにチャネル形成促進層をこの順に備えることを特徴とする請求項1〜9のいずれか1項に記載の薄膜トランジスタ。
- 基板、ゲート電極、絶縁層、有機半導体層、ソース電極及びドレイン電極、並びにチャネル形成促進層をこの順に備えることを特徴とする請求項1〜9のいずれか1項に記載の薄膜トランジスタ。
- 基板、ソース電極及びドレイン電極、チャネル形成促進層、有機半導体層、絶縁層、並びにゲート電極をこの順に備えることを特徴とする請求項1〜9のいずれか1項に記載の薄膜トランジスタ。
- 前記ソース電極及び前記ドレイン電極と前記有機半導体層とが直接接触するように、前記チャネル形成促進層が所定のパターンを有することを特徴とする請求項12に記載の薄膜トランジスタ。
- 基板、チャネル形成促進層、ソース電極及びドレイン電極、有機半導体層、絶縁層、並びにゲート電極をこの順に備えることを特徴とする請求項1〜9のいずれか1項に記載の薄膜トランジスタ。
- 基板上に備えられたゲート電極を覆うように絶縁層を形成する工程と、
前記絶縁層の上部のうち、前記ゲート電極の両端に対応する所定の位置にソース電極及びドレイン電極を形成する工程と、
前記ソース電極及び前記ドレイン電極の上部に有機半導体層を形成する工程と、
前記有機半導体層のうちチャネル領域の反対側の領域と接触するようにチャネル形成促進層を形成する工程と、を含むことを特徴とする薄膜トランジスタの製造方法。 - 基板上に備えられたゲート電極を覆うように絶縁層を形成する工程と、
前記絶縁層の上部に有機半導体層を形成する工程と、
前記有機半導体層の上部のうち、前記ゲート電極に対応する所定の位置にソース電極及びドレイン電極を形成する工程と、
前記有機半導体層のうちチャネル領域の反対側の領域と接触するようにチャネル形成促進層を形成する工程と、を含むことを特徴とする薄膜トランジスタの製造方法。 - 基板上に備えられたソース電極及びドレイン電極の上部にチャネル形成促進層を形成する工程と、
前記チャネル形成促進層の上部に有機半導体層を形成する工程と、
前記有機半導体層を覆うように絶縁層を形成する工程と、
前記絶縁層の上部のうち、前記ソース電極及び前記ドレイン電極に対応する所定の位置にゲート電極を形成する工程と、を含むことを特徴とする薄膜トランジスタの製造方法。 - 基板上にチャネル形成促進層を形成する工程と、
前記チャネル形成促進層の上部にソース電極及びドレイン電極を形成する工程と、
前記ソース電極及び前記ドレイン電極の上部に有機半導体層を形成する工程と、
前記有機半導体層を覆うように絶縁層を形成する工程と、
前記絶縁層の上部のうち、前記ソース電極及び前記ドレイン電極に対応する所定の位置にゲート電極を形成する工程と、を含むことを特徴とする薄膜トランジスタの製造方法。 - 請求項1〜14のいずれか1項に記載の薄膜トランジスタを各画素に備え、前記薄膜トランジスタのソース電極またはドレイン電極に画素電極が接続されてなることを特徴とする平板表示装置。
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