JP2006030079A - Lsiテスト装置およびlsiテスト方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 検査対象ブロック100のテスト回路101の出力を、テスト入力変換回路109によって通常入力と同じ論理に変換してテスト入力とし、検査対象ブロック100の出力を該検査対象ブロック100に接続されるFF103、106に伝達するために出力の回路を制御し、検査対象ブロック100に接続されるFF103、106を含めて検査対象ブロック100をテストすることで、別の方法でテストすることなしにFFと検査対象ブロックの間の実動作周波数テストを実現することができる。
【選択図】 図1
Description
図1は本発明の実施の形態1にかかるLSIテスト装置の概念を示す構成図である。
図において、100は検査対象である検査対象回路。101は検査対象回路100をテストするための信号を発生するパターン発生回路と、自己が発生したテスト信号と、検査対象回路100から出力された信号とを比較する比較回路を有するテスト回路である。
まず、テストデータ入力処理について説明する。
テスト回路101から出力されるデータは、検査対象回路100とFF群103の間の回路を通常と同じ動作をさせ、検査対象回路100にテストデータを伝達させるために、通常入力と同じ論理になるようにテスト入力変換回路109によって論理が変換され、セレクタ102を通してFF群103に入力され検査対象回路100に伝達される。
検査対象回路100から出力されたデータは、出力制御回路107で制御されたランダムロジックを通してFF群106に伝達される。このとき出力制御回路107によって前記データと同じデータ、またはテスト出力変換回路108が変換できるデータが、前記FF群106に入力される。前記FF群106に入力された前記データは、前記FF群106から出力されテスト用に分岐したパスを通り、変換回路108で、後段のテスト回路101において期待値と比較ができるデータに変換されてテスト回路101の入力データとなるように処理される。
テスト回路101に入力されたデータは、ここで期待値と比較され、比較結果の良否の判断がされる。このとき期待値比較のタイミングは、直接検査対象回路100をテストするときと比べて、FF群103、106の2サイクル分遅れることになる。
図2は図1を具体的に置き換えたもので、2つのパスからRAMにアクセスを行うことができる回路である。それぞれ検査対象回路100をRAM200、テスト回路をメモリBIST201、入力側のランダムロジックをアドレスデコーダ203と2つのパスからのアクセスを選択するセレクタ204、出力側のランダムロジックをRAM出力と接続されたセレクタ210とランダムロジック211とし、テスト出力変換回路を選択回路215として置き換えている。
TDIから出力されたライトデータWD0はセレクタ209、FF群207、セレクタ204を通してRAM200に入力される。このときセレクタ204の制御信号はテスト入力変換回路202から出力され、セレクタ209、FF208を通して入力される。
TWEからは「0」が出力されセレクタ209,FF群206,セレクタ204を通してRAM200に入力される。このときセレクタ204の制御信号はテスト入力変換回路202から出力され、セレクタ209,FF208を通して入力される。TADからはアドレスAD0が出力され、TCSからは「1」が出力されテスト入力変換回路202を通して通常入力と同じアドレスに変換され、アドレスはセレクタ209,FF群205,セレクタ204を通して前記RAM200に入力され、CSはアドレスデコーダ203を通して「1」が入力される。このときDOから前記RAM200のアドレスAD0に格納されているデータRD0がリードされる。リードされたデータRD0は出力制御回路212で制御されたセレクタ210を通してFF群213とFF群214とに伝達される。FF群213、FF群214から出力されたデータRD0は選択回路215でAD0によって選択されTDOに入力される。
入力されたデータRD0は期待値WD0と比較されて一致の良否が判定され、良否判定端子に良否信号が出力される。
図3はテスト方法を表すフローチャートであり、以下のステップからなる。
テスト回路101から出力されるテストデータを通常パスの検査対象回路の入力に接続されるFF群103に入力する。
検査対象回路(100)と前記FF群103の間に論理がある場合は、テスト入力変換回路109によってデータ変換を行ない、通常動作時にFFに入力される同じ論理のものを入力する。
前記FF群103出力が検査対象回路(100)に伝搬する。
検査対象回路(100)から出力されたデータが検査対象回路の出力と接続されているFF群106に入力される。
検査対象回路(100)と前記FF群106の間に論理がある場合は、前記の間のパスを使用して、前記FF群106に前記データと同じデータ、またはテスト回路で期待値比較ができるように、FF群か106ら出力されるデータを変換することができる(ステップ4で変換できる)データが前記FF群106に伝搬するように制御する。
前記FF群106の出力データをテスト回路101に入力する。
前記データが直接期待値として使用できない場合は、テスト出力変換回路108によってテスト回路101が期待値と期待値比較ができるようにデータを変換してからテスト回路101に入力する。
テスト回路(101)に入力された、検査対象回路(200)から出力されたデータを期待値と比較照合し、結果の良否を判定する。
また、非スキャン設計ブロック100と接続される入力側のFF群103の間と、非スキャン設計ブロック100と、この非スキャン設計ブロック100に接続される出力側FF106の間に存在するランダムロジック104,105のテストを、テストできるため前記ランダムロジック104,105の故障をスキャンテストで検出するための観測FFと制御FFなどの構成を削減することができ、回路の占有面積の削減を行うことができる。
101 テスト回路
102,209 テスト入力用セレクタ
103,205〜208 入力側FF群
104 入力側検査対象回路周辺回路
105 出力側検査対象回路周辺回路
106,213,214 出力側FF群
107,212 出力制御回路
108 テスト出力変換回路
109,202 テスト入力変換回路
200 RAM
201 メモリBIST
203 アドレスデコーダ
215 テスト出力選択回路
Claims (11)
- 検査対象となる検査対象回路に既知のテストデータを入力し、該検査対象回路から出力されたテストデータと上記既知のテストデータとの一致を比較することにより前記検査対象回路の検査を行なうLSIテスト装置において、
第1の検査対象回路と、第1のフリップフロップ群と第1のランダムロジックとを含む第2の検査対象回路を備え、
前記第1のフリップフロップ群の出力が第1のランダムロジックと接続され、前記第1のランダムロジックの出力が前記第1の検査対象回路に接続され、
前記第1の検査対象回路の検証を行なうテスト手段と、
非テスト時には通常入力信号である第1のデータを選択し、テスト時には前記テスト手段から出力されるテストデータを第2のデータとして選択して前記第1のフリップフロップ群に出力するデータ選択手段と、
前記第1のフリップフロップ群と前記第1の検査対象回路間の前記第1のランダムロジックのすべてのパスを活性化させるように、前記テスト手段から出力されるテストデータである第2のデータを、前記通常入力信号である第1のデータと同一の論理になるように変換して出力する論理変換手段と、
を備えたことを特徴とするLSIテスト装置。 - 検査対象となる検査対象回路に既知のテストデータを入力し、該検査対象回路から出力されたテストデータと上記既知のテストデータとの一致を比較することにより前記検査対象回路の検査を行なうLSIテスト装置において、
第1の検査対象回路と、第2のフリップフロップ群と第2のランダムロジックとを含む第3の検査対象回路を備え、
前記第1の検査対象回路の出力が前記第2のランダムロジックに接続され、前記第2のランダムロジックの出力が前記第2のフリップフロップ群に接続され、前記第1の検査対象回路と第2のフリップフロップ群間の前記第2のランダムロジックのすべてのパスを活性化させるように、前記第2のフリップフロップ群に第1の検査対象回路の出力を伝えるように前記第2のランダムロジックを制御する出力制御手段と、
を備えたことを特徴とするLSIテスト装置。 - 請求項2記載のLSIテスト装置において、
前記第1の検査対象回路の検証を行なうテスト手段と、
前記第2のフリップフロップ群から出力される複数のデータを、前記テスト手段で、その期待値と比較を行うことができるように順次選択し、前記テスト手段に選択したデータを出力するテスト出力選択手段を、
備えたことを特徴とするLSIテスト装置。 - 請求項1記載のLSIテスト装置において、
前記第3の検査対象回路をテストするテスト手段が該テスト手段の期待値と期待値比較ができるように、前記第2のフリップフロップ群から出力されるデータを変換するデータ変換手段を、
備えたことを特徴とするLSIテスト装置。 - 検査対象となる検査対象回路に既知のテストデータを入力し、該検査対象回路から出力されたテストデータと上記既知のテストデータとの一致を比較することにより前記検査対象回路の検査を行なうLSIテスト装置において、
第1の検査対象回路と、第2のフリップフロップ群を含む第3の検査対象回路を備え、
前記第1の検査対象回路の出力が前記第2のフリップフロップ群に接続され、
前記第1の検査対象回路を検証するテスト手段と、
前記第2のフリップフロップ群から出力される複数のデータを、前記テスト手段で、その期待値と比較を行うことができるように順次選択し、前記テスト手段に選択したデータを出力するテスト出力選択手段を、
備えたことを特徴とするLSIテスト装置。 - 請求項1記載のLSIテスト装置において、
前記第1の検査対象回路は、
データ格納機能を有するRAM、ROM、CPU、DSPからなる非スキャン設計のハードマクロコアである、
または、データ格納機能を有さないPLL、ADコンバータ、DAコンバータからなる非スキャン設計のハードマクロコア回路である、
ことを特徴とするLSIテスト装置。 - 請求項1記載のLSIテスト装置において、
前記第3の検査対象回路をテストするテスト手段が出力するテストデータと、前記第1の検査対象回路をテストするテスト手段が出力するテストデータとが同じであり、前記第3の検査対象回路をテストするテスト手段が比較する期待値と、前記第1の検査対象回路をテストするテスト手段が比較する期待値とが同じであり、前記第3の検査対象回路をテストするテスト手段の期待値比較タイミングが、前記第1の検査対象回路をテストするテスト手段の期待値比較タイミングと比べて、前記第2のフリップフロップ群を経由する分の2サイクル遅い、半導体集積回路に内蔵された回路、または、半導体集積回路外の装置により、前記テスト手段を構成した、
ことを特徴とするLSIテスト装置。 - 第1の検査対象回路と、第1のフリップフロップ群と第1のランダムロジックと、第2のフリップフロップ群と第2のランダムロジックとを含む第2の検査対象回路と、第1のフリップフロップ群の出力が第1のランダムロジックと接続され、第1のランダムロジックが第1の検査対象回路に接続され、第1の検査対象回路の出力が第2のランダムロジックに接続され、第2のランダムロジックの出力が第2のフリップフロップ群に接続され、
第1の検査対象回路と、第1のフリップフロップ群と第1のランダムロジックと、第2のフリップフロップ群と第2のランダムロジックとを含むLSI回路のテスト方法であって、
非テスト時に前記第2の検査対象回路から出力される第1のデータを選択する工程と、
テスト時にテストデータを第2のデータとして選択する工程と、
第1のフリップフロップから第1のランダムロジックを通して第1の検査対象回路へデータを出力する工程と、
第1の検査対象回路の出力データを第2のランダムロジックを通して第2のフリップフロップ群へ出力する工程と、
前記第2のフリップフロップ群の出力データを第2の検査対象回路をテストするテスト手段へ入力する工程と、
前記テスト手段に入力されたデータを期待値と比較して、データの良否を判断する工程と、
を含むことを特徴とするLSIテスト方法。 - 請求項8記載のLSIテスト方法において、
テスト時に、前記テスト手段から出力されるテストデータを第1のデータと同一の論理となるように論理変換して出力し、前記第1のランダムロジックのすべてのパスを活性化させる工程を、
含むことを特徴とするLSIテスト方法。 - 請求項7記載のLSIテスト方法において、
前記第1の検査対象回路の出力データを第2のフリップフロップ群へ出力する工程において、
前記第2のランダムロジックのすべてのパスを活性化させる工程を含む、
ことを特徴とするLSIテスト方法。 - 請求項8記載のLSIテスト方法において、
前記第2のフリップフロップ群の出力データを前記テスト手段へ入力する工程において、
前記テスト手段が該記テスト手段の有する期待値と第2のフリップフロップ群から出力されるデータとを比較するために、前記第2のフリップフロップ群から出力されるデータを変換する工程を含む、
ことを特徴とするLSIテスト方法。
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JP2004211938A JP2006030079A (ja) | 2004-07-20 | 2004-07-20 | Lsiテスト装置およびlsiテスト方法 |
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---|---|---|---|---|
JP2007322150A (ja) * | 2006-05-30 | 2007-12-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体装置 |
JP2011027566A (ja) * | 2009-07-27 | 2011-02-10 | Nec Corp | Lsi、及びそのテストデータ設定方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0238979A (ja) * | 1988-07-29 | 1990-02-08 | Fujitsu Ltd | 試験装置 |
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2004
- 2004-07-20 JP JP2004211938A patent/JP2006030079A/ja active Pending
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