JP2005221824A - 光走査装置および画像形成装置 - Google Patents

Abstract

【課題】隣接する受光部分の端辺に角度を持たせたレーザビーム検出器を、被走査面の画像領域外に複数配置することによって、ビーム光束の温度変動等による走査状態の変動を算出し、色ずれや倍率誤差のない高精度な画像出力を得る。
【解決手段】辺縁が副走査方向と平行な辺を持つ受光部ａと、辺縁が副走査方向と非平行な辺（角度θ）を持つ受光部ｂとからなるレーザビーム検出器１と、辺縁が副走査方向と平行な辺を持つ受光部ａ’のレーザビーム検出器２とから構成される。受光部ａと受光部ａ’間の走査時間の差から主走査による倍率誤差を求める。同時に、受光部ａと受光部ｂ間での走査時間の変動から副走査方向の位置ずれを求める。
【選択図】図２

Description

本発明は、光走査装置および画像形成装置に関し、特に、レーザプリンタ、ファクシミリ、デジタル複写機等の光走査光学系の走査位置ずれ検知と補正に関する。

高精細化、カラー化、高速化への要求が高まり、色別に感光体を並列配置したタンデム方式や複数のビーム光束を偏向走査し、異なる被走査面上に導いて書込を行うマルチレーザ光学系が採用されている。

しかし、各被走査面に対する複数の光源毎に光学系を形成すると、走査結像光学系の部品点数が増加する。その場合、個々の部品の取り付け誤差が積み上がり、各ステーションでも倍率誤差や走査線傾きを招くことになる。また、タンデム方式では各ステーション間での位置関係のずれにより、色ずれや走査線ピッチずれが生じる。

従来は、被走査面の画像領域外部にレーザビーム検出器を設け、副走査方向の位置ずれの検出を行っていた（例えば、特許文献１を参照）。

特開２００１−２８１５７２号公報

しかし、温度変動等の外乱要因によって、また倍率誤差等による主走査時間の変動によって、レーザビーム検出器の出力信号から算出される副走査位置ずれに倍率誤差による影響が加わることになる。従って、上記した方法では副走査位置ずれのみを求めることができなかった。

そこで、被走査面の上流側と下流側にレーザビーム検出器を設けることによって、上下流間の主走査時間を測定することによって、倍率誤差を求めておく。そして、各ビーム光束内の隣接する端辺が角度をもつ受光部間でのレーザビームの通過時間から、倍率誤差による影響分を除いた検出器で生じた副走査位置ずれを求めることができる。主走査倍率の変動するような光学系においても、より精度良く副走査ずれを算出することができる。

求められた副走査ずれを解消するために光学素子を制御することにより、色ずれや副走査ピッチずれ等の画質劣化を抑えることができる。

レーザビームの走査状態の所望のパラメータにあわせて、各検出器内のそれぞれの受光素子から該当の出力データを選択し、各箇所でのパラメータを算出する演算部を有している。これにより、受光素子の共用が可能となり、検出器を削減することができ、装置の小型化や取付工数の削減をすることができる。また、演算部の入出力回路および記憶部分も削減することが可能となるので、検出器の削減や演算部の電子回路および記憶部分の軽減による消費電力の低減さらなる高速化が可能となる。

今後、より高精細化が求められる中で、より厳密な光スポット位置ずれ及びビームスポット形状を実現していくためには、異なる被走査面のビームスポット位置ずれを補正し、合わせていく必要がある。

本発明の目的は、隣接する受光部分の端辺に角度を持たせたレーザビーム検出器を、被走査面の画像領域外に複数配置することによって、ビーム光束の温度変動等による走査状態の変動を算出し、各検出器から得られる出力データから走査状態の変動による誤差部分を取り除いたより精度の高い所望のパラメータ値を得ることができ、このデータを元に、各光学素子に適切な制御を行い、色ずれや倍率誤差のない高精度な画像出力を得ることが可能となる光走査装置および画像形成装置を提供することにある。

また、ジッターや位置ずれの発生をおさえた画像を得ることもできる。各検出器内のそれぞれの受光素子の出力データを適時選択する機能を有することによって、所望のパラメータに対する複数の成分の影響を同時に観測したデータより求めることができるので、より検出精度を向上することができる。

また、隣接してレーザビーム検出器を設けることにより、隣接した局所的な範囲での主走査時間の変動を測定でき、離れて設置する場合よりも、レーザビーム検出器内における主走査時間の変動をより精度良く算出することができる。

また、被走査面の両端に、隣接したレーザビーム検出器を設けることによって、両端のレーザビーム検出器の対となる受光部間での主走査時間差から倍率誤差を求めることが可能であり、前半と後半の走査時間差から、両端での副走査方向の位置ずれ差から走査線の傾きを正確に検出することができ、組み付け工程の削減や装置の小型化が図られる。

また、装置内に温度変動が生じたとしても、各受光素子は同一基板内にあるので、温度差はほとんどなく、各受光素子の温度差による出力電圧変動はほとんど生じない。

本発明は、複数の光源装置と、光源装置から放射されたレーザビームを主走査方向に偏向走査する偏向走査手段と、各光源装置からのレーザビームを各々に対応した被走査面に向かって集光する複数の走査結像手段と、各走査結像手段における走査方向のビーム位置検出を行うレーザビーム検出器とを備える光走査装置において、前記レーザビーム検出器は、少なくとも辺縁が角度を有する複数の受光部を有するレーザビーム検出器１と、前記複数の受光部のいずれかの受光部に平行な辺縁を有する受光部を有したレーザビーム検出器２とからなることを最も主要な特徴とする。

請求項１では、副走査方向のビーム位置を精度よく検出できる（平行部のデータから主走査の変化量による走査時間の変動分を算出し、副走査の位置の検出精度を向上できる）。受光部ａと受光部ｂ間での走査時間から主走査方向の変化分を考慮して、副走査方向の位置検出精度を向上することができる。また、各検出器を構成する受光素子の出力データを適宜組み合わせることによって、各検出器における副走査位置ずれ、走査ピッチずれ、倍率誤差等の光走査状態のパラメータについて、他の要因による受光素子間での走査時間の増減に関する寄与分を算出することができる。また、１回の光走査から同時に複数の走査状態に関するパラメータを得ることができるので、異なる光走査による走査状態の変動の恐れがなくなる。全幅の倍率誤差よりレーザビーム検出器１の非平行受光部間の倍率誤差を予測するのは精度が悪いため、全幅倍率誤差変化に対する、レーザビーム検出器１の非平行受光部間の倍率誤差のテーブル（相関データ表）を用意すると精度が上がる。

請求項２では、画像領域の両端に被走査面を配置することによって、開始端、終端の２点同期を行い、主走査方向の倍率誤差を検出しながら、全体倍率の補正（クロック補正）と副走査位置の補正を共用することができる。レーザビームの走査に対して、同時に同一箇所の全体倍率と副走査ずれを求められ、位置ずれについてより精度良く検出を行うことができる。少ない検出器で構成することができ、コスト削減と装置の小型化、省電力化をしつつ、高画質化を図ることができる。

請求項３では、検出部の時間差によって、走査時における副走査方向の位置ずれを検知しているので、倍率誤差によって走査時間そのものが変化してしまうと正しい副走査方向の位置ずれを算出することができなくなる。そこで、予め算出式を設定することによって、レーザビーム検出器の検出時間から副走査位置の変化量を一意的に求めることができ、迅速なフィードバック制御を行うための補正量の算出を行うことができる。また、経時変化や温度変化等による算出式のパラメータの変動を、装置稼働時の位置決め補正等によって、随時更新しておくことで、その時々で適切な副走査位置の変化等を算出でき、よりずれのない画像を得ることができる。

請求項４では、高価なＰＤ等で構成されるレーザビーム検出器の個数を減らすことができるので、コスト削減が図れる。また、検出器からの受光素子の出力端子数も減少するので、演算部のデータ処理とモニタリング及び記憶部を簡略化することができる。よって、演算部のコストを削減でき、それに伴う消費電力の軽減も図ることができる。

請求項５では、各走査光学系間での副走査方向のビーム位置を所定値にすることによって、出力画像の色づれを低減できる。また、従来に比べ、主走査方向の倍率誤差の影響を排除して副走査位置ずれを求め、適切な補正量を走査位置可変手段である光学素子（ミラーや液晶偏向素子素子、光源のプリズム）に与えることができるので、装置に余計な付加がかからず、補正による新たな位置ずれの発生を防ぐことができる。

請求項６では、請求項１に対し、走査両端での倍率誤差から主走査変化分を差し引くのではレーザビーム検出器１での非平行な受光部間（短い距離）での主走査変化成分を算出するのは困難である。このため、請求項１ではテーブルを用意したがコストアップになる。このため、平行な受光部を非平行な受光部に近接し、倍率誤差変化を検知する精度を向上する。隣接しているため、装置内の温度ばらつきによる検出器間での温度差がなく、受光部の出力レベルに違いが出てくる恐れもない。

請求項７では、被走査面の両端にそれぞれ設置した非平行な受光部をもつレーザビーム検出器を設け、各レーザビーム検出器の受光部のいづれかが平行な位置関係にあるので、倍率誤差を求めつつ、両端の副走査位置ずれを正確に求めることができ、走査線の傾きを算出できる。これにより、各色の走査線が傾くことによって縦線ゆらぎについても補正を行うことができ、より高画質化を図ることができる。

請求項８では、請求項１〜７の光走査装置を用いることによって、色づれ等の少ない良好な画像出力を得ることができる。

以下、発明の実施の形態について図面により詳細に説明する。

図１は、本発明の光走査装置の一例を示す。光走査装置は、４色（シアン、マゼンタ、イエロー、ブラック）の走査結像光学系を有し、各色に相当するレーザビームが感光体に集光する図を示している。

図１の光源１０は、半導体レーザとカップリングレンズとシリンドリカルレンズから構成される光源部を４組有している。各レーザビームから放射された光束は、カップリングレンズにより平行光束あるいは弱い発散性もしくは収束性の光束に変換され、シリンドリカルレンズにより、副走査方向に収束され、偏向走査手段であるポリゴンミラー１２の偏向反射面の主走査方向に長い線像として結像される。

ポリゴンミラー１２で偏向走査されたビーム光束は、走査結像光学系を構成するｆθレンズの第一レンズ１４を透過し、折返しミラー１６で反射され、ｆθレンズの第二レンズ１７を透過し、ハーフミラー１８を透過または反射する。透過した一方の光束は被走査面であるドラム状の感光体２０Ｋ上に光スポットを形成し、矢印方向に走査される。反射された他方の光束はレーザビームを検知するＰ１Ｋ（上流側）とＰ２Ｋ（下流側）へ反射される。ｆθレンズは材質が非球面形状が容易かつ低コストなプラスティックからなる。他の色についても同様の構成でそれぞれの感光体面上にビームスポットを結像させる。

これらの感光体の静電潜像は、それぞれに対応した色のトナーによって可視化され中間転写ベルト２１上に転写される。定着によって、各色のトナーは重ね合わされてカラー画像を得る。

温度変動等によって、レーザビームの副走査ずれが生じ、走査線間隔がずれるようなときに、走査線を補正する手段である液晶偏向素子１５が設置されている。液晶偏向素子１５を電気的に制御することによりレーザビームの射出方向を任意に偏向することができる素子である。

レーザビーム検出器から得られた結果をフィードバックする位置可変手段として、光学素子（液晶偏向素子、走査レンズ、ミラー、光源のプリズムなど）の姿勢を制御することによって、走査位置や副走査間隔、倍率誤差、走査線傾きの補正が可能となる。

図２は、本発明のレーザビーム検出器の構成の一例を示し、レーザビーム検出器は平行な対となる受光部を持つ。レーザビーム検出器１は、辺縁が副走査方向と平行な辺を持つ受光部ａと、辺縁が副走査方向と非平行な辺（角度θ）を持つ受光部ｂとから構成され、レーザビーム検出器２は、辺縁が副走査方向と平行な辺を持つ受光部ａ’から構成される。

そして、平行部（受光部ａと受光部ａ’）間での走査時間の差から主走査による倍率誤差を求めることができる。同時に、主走査時間の変化量から、レーザビーム検出器１の隣接する辺縁の角度θをなす受光部ａと受光部ｂ間での走査時間の変動から主走査方向の変化分を考慮して、副走査方向の位置検出精度を向上することができる。

開始端、終端の二点同期に対応しており、全体倍率の補正（クロック補正）と副走査位置の補正を共用できる。各検出器を構成する受光素子の出力データを適宜組み合わせることによって、各検出器における副走査位置ずれ、走査ピッチずれ、倍率誤差等の光走査状態のパラメータについて、他の要因による受光素子間での走査時間の増減に関する寄与分を算出することができる。

また、１回の光走査から同時に複数の走査状態に関するパラメータを得ることができるので、異なる光走査による走査状態の変動のおそれがなくなる。

位置決めのときに、あらかじめ記憶した時間差と副走査ずれのテーブルまたは関係式を、後述する計測したΔｔ２（主走査倍率ずれにより生じる時間差）について参照することによって、副走査位置ずれを求めることもできる。

図３は、本発明のレーザビーム検出器の他の構成例を示す。図３において、隣接する辺縁が角度θなす受光部ａと受光部ｂからなるレーザビーム検出器１と、前記レーザビーム検出器の受光部ａと平行な受光部ａ’を有するレーザビーム検出器２からなり、それぞれ、書き込み前の走査領域と書き込み終了後の走査領域にレーザビーム検出器が配置されているとする。

このとき、平行部（受光部ａと受光部ａ’）間での走査時間の差から主走査による倍率誤差を求めることができる。同時に、検出された主走査時間の変化量から、主走査方向の変化分を考慮してレーザビーム検出器１の受光部ａと受光部ｂ間での走査時間の変動に修正を加え、副走査の位置ずれを求めることによって、副走査方向の位置検出精度を向上することができる。開始端、終端の二点同期に対応しており、全体倍率の補正（クロック補正）と副走査位置の補正を共用できる。

図４は、倍率誤差による主走査時間の変動を考慮し、走査位置変化を検出する方法の一例を説明する図である。

受光部間での検出時間差によって、走査時における副走査方向の位置ずれを検知しているので、倍率誤差によって走査時間そのものが変化してしまうと正しい副走査方向の位置ずれを算出することができなくなる。

被走査面の書き込み前走査領域のレーザビーム検出器ＰＤ１と書き込み終了後走査領域のレーザビーム検出器ＰＤ２を設けたときに、主走査方向に対して垂直な端辺と主走査方向の幅をもつ同一形状のＰＤ１−ａとＰＤ２−ａのビーム光束の出力タイミングのずれ量と検出時間幅から、主走査時間を求めることができる。

各ビーム光束出力器の検出素子の出力データを、選択して組み合わせ光走査状態のパラメータを算出することができる。位置決め時に記憶したパラメータ基準値と比較することによって、温度変動等による走査状態のパラメータを求めることができる。

検出器の受光素子ＰＤ１−ａとＰＤ１−ｂ間の受光部間で検知した予定走査時間がｔ１、位置決め検出時にあらかじめ記憶していたレーザビーム検出器１とレーザビーム検出器２間の基準走査時間がＴ、レーザビーム検出器１とレーザビーム検出器２間の実測走査時間が（Ｔ＋ΔＴ）であるとき、
主走査倍率誤差による検出時間ずれΔｔ１は、
Δｔ１＝ｔ１＊ΔＴ／（Ｔ＋ΔＴ）
となり、主走査倍率誤差による実測検出時間の増加分Δｔ１の寄与分だけ副走査方向にシフトしていると検出してしまう。
隣接する端辺の角度θであり、ビーム光束の走査速度をｖとすると、レーザビーム検出器１での副走査方向の補正位置ずれ量ΔＨは、以下の式となる。
ΔＨ＝ｖ＊Δｔ１＊ａｔａｎθ
＝ｖ＊ｔ１＊ΔＴ／（Ｔ＋ΔＴ）＊ａｔａｎθ

図５は、複数の走査結像手段で、レーザビーム検出器を共用して走査ビーム位置検出を行う一例の概略を示す。

複数の走査結像手段の各レーザビーム検出箇所から、折返しミラーや光ファイバ等の光学素子を用いて、レーザビーム検出器を共用できるように配備し、レーザビーム検出器で時系列に配備することによって、各レーザビーム検出箇所の状態を、少ない検出器で検出することができる。これにより、高価なＰＤの部品点数の削減を図ることができる。また、ＰＤの検出信号の数も削減することができる。

主走査倍率ずれによる走査時間差を取り除き算出した副走査位置ずれ量を、複数の走査結像手段系についてそれぞれ算出する。基準となる走査走査手段の副走査方向のビーム位置に対して、その他の走査走査手段の副走査方向のビーム位置の補正量を算出し、それぞれの光学素子（液晶偏向素子、光源の楔形プリズム）の制御量を演算部で算出し補正を行い、色ずれのない良好な画像出力を得ることができる。

複数の走査光学系からなる場合に、全体の光学系の光学素子の補正量が最も少ないものを基準とするように、随時基準を変更することによって、光学素子に余計な付加をかけることがない。

本発明の光走査装置において、走査位置可変手段として、液晶偏向素子、折返しミラーのチルト調整、ビーム合成する光源モジュール、楔形プリズムなどの手段のうち少なくとも一つを用いることにより、走査線の重ね合わせ状態のずれを、それぞれの光ビーム毎に補正することができ、走査線の重ね合わせを適切に行うことができる。

図１に一例と示すように、走査位置可変手段として、液晶光学素子を用いることによって、副走査方向の位置ずれや各光線の副走査間隔を補正することができる。また、折返しミラーのチルト角を制御することによって、走査線の傾きを補正することができる。

また、図６に示す特許第３４８７５５０号「マルチビーム光学装置」記載のビーム合成する光源モジュールを用いて、光軸を回転軸として光源モジュールを回転させ、被走査面上における副走査方向の走査線ピッチのずれ量を所定値に補正することができる。

図７に楔形プリズムを用いた被走査面上での副走査位置補正の概略図を示す。光源から射出された光ビームは、光路上に設置された頂角ａを有する楔形プリズムによって、光ビームの射出方向が傾けられる。そこで、光軸方向を回転軸として楔形レンズをγ回転させた場合、被走査面上の光スポットの位置は、γ回転角に応じて、副走査方向に位置を変えることができる。これにより、各光ビームの副走査位置を個別に補正することができ、トナーパターンにより検知された走査線同士の重ねずれを修正することができる。

図８は、隣接して設けたレーザビーム検出器１、２の構成例を示す。図２に対し、走査両端での倍率誤差から主走査変化分を差し引くのではレーザビーム検出器１での非平行な受光部間（短い距離）での主走査変化成分を算出するのは困難である。このため、図２ではテーブルを用意したがコストアップになる。このため、図８では、平行な受光部を非平行な受光部に近接して、倍率誤差変化を検知する精度を向上させる。

全幅の倍率誤差よりレーザビーム検出器１の非平行受光部間の倍率誤差を予測するのは精度が悪いため、全幅倍率誤差変化に対する、レーザビーム検出器１の非平行受光部間の倍率誤差のテーブル（相関データ表）を用意すると精度が上がる。

被走査面の両側に設けるよりも、局所的な変動を的確に捉えることが可能となる。これにより、組み付け工程の削減や装置の小型化を図られる。また、装置内に温度変動が生じたとしても、各受光素子は同一基板内にあるので、温度差はほとんどなく、各受光素子の温度差による出力電圧変動はほとんど生じない。また検出装置の取り付け箇所を減らすことができる。

図９は、被走査面の両端にそれぞれ非平行な受光部を有するレーザビーム検出器を設けた場合の検出例を示す。光走査状態のパラメータの内、副走査位置ずれの算出方法について説明する。

図９の被走査面の上流側と下流側のビーム光束検出器を、目標とする被走査面の画像領域外に設置したときに、主走査方向に対して垂直な端辺と主走査方向の幅をもつ同一形状の受光素子ＰＤ１−ａ、ＰＤ２−ａのビーム光束の出力タイミングのずれ量から、素子間の主走査時間Ｔ’を求める。また、検出器内の受光素子間の検出時間差ｔ、ｔ’が検出される。ここで、副走査倍率ずれにより生じる時間差Δｔ１、主走査倍率ずれにより生じる時間差Δｔ２とする。

位置決め検出時にあらかじめ記憶していた出力タイミングのずれ量基準Ｔと両検出器の同一形状の受光素子間の主走査時間Ｔ’から、主走査倍率ずれにより生じる時間差Δｔ２は、
Δｔ２＝ｔ＊Ｔ’／Ｔ
検出器内の受光素子間の検出時間差をｔ、ｔ’の関係は、
ｔ’＝ｔ＋Δｔ１＋Δｔ２
よって、副走査倍率ずれにより生じる時間差Δｔ１
Δｔ１＝ｔ’−ｔ＊（１＋Ｔ’／Ｔ）
隣接する端辺の角度θであり、ビーム光束の走査速度をｖとすると、
検出器の間での副走査位置ずれΔＨは以下の式となる。

ΔＨ＝ｖ＊Δｔ１＊ａｔａｎθ
＝ｖ＊（ｔ’−ｔ＊（１＋Ｔ’／Ｔ））＊ａｔａｎθ
両端での副走査ずれの差違によって、走査線の傾きを正確に検出することができる。

図１０は、本発明を利用した画像形成装置を示す。光走査装置１０５から、各色の感光体２０Ｙ，２０Ｍ，２０Ｃ，２０Ｋが併設されており、レーザビームＬ１〜Ｌ４がそれぞれビームスポットをなして潜像を形成する。現像装置１０６を経て中間転写ベルト２１に転写される。転写ローラにはローラ１０２により搬送されている。中間転写ベルト２１は各色の画像を順次重ね合わせて転写して、中間転写ベルト２１上にカラー画像を形成するようになっている。その後、給紙トレイ１１１から転写紙が矢印ＣＣ方向に搬送されカラー画像が転写される。カラー画像が転写された転写紙は、定着器１１４により定着処理され、フルカラー画像として排紙される。

本発明の光走査装置を用いて画像形成装置を構成することによって、温度変動に伴う倍率誤差等の変動を加味した副走査位置ずれ補正を行うことができ、色づれ等の少ない良好な画像出力を得ることができる。

本発明の光走査装置の一例を示す。 本発明のレーザビーム検出器の第１の構成例を示す。 本発明のレーザビーム検出器の第２の構成例を示す。 実施例１のレーザビーム検出器を用いて、副走査方向の位置ずれの検出を説明する図である。 複数の走査結像手段がレーザビーム検出器を共用して走査ビーム位置の検出を行う図である。 ビーム合成光源モジュールを示す。 楔形プリズムを用いた被走査面上での副走査位置補正の概略図を示す。 本発明のレーザビーム検出器の第３の構成例を示す。 実施例２のレーザビーム検出器を用いて、副走査方向の位置ずれの検出を説明する図である。 画像形成装置を示す。

符号の説明

１０ 光源
１２ ポリゴンミラー
１４ 第一レンズ
１５ 液晶偏向素子
１６ 折返しミラー
１７ 第二レンズ
１８ ハーフミラー
２０ 感光体
２１ 中間転写ベルト

Claims (8)

1. 複数の光源装置と、光源装置から放射されたレーザビームを主走査方向に偏向走査する偏向走査手段と、各光源装置からのレーザビームを各々に対応した被走査面に向かって集光する複数の走査結像手段と、各走査結像手段における走査方向のビーム位置検出を行うレーザビーム検出器とを備える光走査装置において、前記レーザビーム検出器は、少なくとも辺縁が角度を有する複数の受光部を有するレーザビーム検出器１と、前記複数の受光部のいずれかの受光部に平行な辺縁を有する受光部を有したレーザビーム検出器２とからなることを特徴とする光走査装置。
2. 請求項１記載の光走査装置において、レーザビーム検出器１とレーザビーム検出器２は、書き込み開始前の走査領域と書き込み終了後の走査領域とに分けて設けられていることを特徴とする光走査装置。
3. 請求項１または２記載の光走査装置において、前記レーザビーム検出器１とレーザビーム検出器２における主走査方向の倍率誤差の影響による副走査位置ずれ補正量ΔＨを以下の式で算出することを特徴とする光走査装置。
   ΔＨ＝ｖ×ｔ１×ΔＴ／（Ｔ＋ΔＴ）×ａｔａｎθ
   ここで、
   レーザビーム検出器１とレーザビーム検出器２間の予定走査時間をＴ
   レーザビーム検出器１とレーザビーム検出器２間の実測走査時間を（Ｔ＋ΔＴ）
   レーザビーム検出器１内の受光部間で検知された実測走査時間をｔ１
   レーザビームの線速をｖ、レーザビーム検出器の受光部の辺縁がなす角をθとする
4. 請求項１、２または３記載の光走査装置において、前記レーザビーム検出器は、複数の走査結像手段で共用して配備し、時系列で走査ビーム位置を検出することを特徴とする光走査装置。
5. 請求項１、２または３記載の光走査装置において、前記各走査結像手段のいずれかに被走査面における副走査方向の走査位置を可変にする走査位置可変手段を備え、前記レーザビーム検出器での検出結果に基づいて制御することを特徴とする光走査装置。
6. 請求項１記載の光走査装置において、レーザビーム検出器１とレーザビーム検出器２の対は、隣接して設けられていることを特徴とする光走査装置。
7. 複数の光源装置と、光源装置から放射されたレーザビームを主走査方向に偏向走査する偏向走査手段と、各光源装置からのレーザビームを各々に対応した被走査面に向かって集光する複数の走査結像手段と、各走査結像手段における走査方向のビーム位置検出を行うレーザビーム検出器とを備える光走査装置において、前記レーザビーム検出器は、少なくとも辺縁が角度を有する複数の受光部を有し、書き込み開始前の走査領域と書き込み終了後の走査領域とに配備したレーザビーム検出器１とレーザビーム検出器２とからなり、それぞれの走査時間変化量から走査線の傾き変化を検出することを特徴とする光走査装置。
8. 請求項１乃至７のいずれか１つに記載の光走査装置を具備したことを特徴とする画像形成装置。

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