JP2005164338A5 - - Google Patents
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- 制御装置の制御対象を模擬するシミュレート手段と、
前記制御装置に入力するパターン信号と該パターン信号に応じて前記シミュレート手段から出力される出力信号との関係に基づいて、前記制御装置の動作を検査する検査手段とを備えた検査装置であって、
前記検査手段は、所定のタイミングで前記制御装置の動作を検査するものであり、前記制御装置の動作が正常であるとの判定が得られない場合には、所定回数のリトライ判定を行うことを特徴とする制御装置の検査装置。 - パターン信号を作成するパターン信号作成装置であって、
前記パターン信号作成装置によって作成された前記パターン信号を用いる装置の制御周期に基づいて、前記パターン信号を作成する第1の関数処理手段と、
前記制御周期とは異なる周期に基づいて、前記パターン信号を作成する第2の関数処理手段とを備えることを特徴とするパターン信号作成装置。 - 前記第2の関数処理手段は、複数の前記制御周期にわたる時間の周期に基づいて、前記パターン信号を作成することを特徴とする、請求項2に記載のパターン信号作成装置。
- 前記第2の関数処理手段は、前記制御周期毎の周期に基づいて、前記パターン信号を作成することを特徴とする、請求項3に記載のパターン信号作成装置。
- パターン信号を作成するパターン信号作成装置であって、
基準パターン信号に対する相関情報が指定された相関パターン信号を作成する場合に、該基準パターン信号と作成された該相関パターン信号とを同一画面上に表示する表示手段を備えることを特徴とするパターン信号作成装置。 - パターン信号を作成するパターン信号作成装置であって、
基準パターン信号に対する相関情報が指定された相関パターン信号が存在する場合に、該基準パターン信号と該相関パターン信号とを同一画面上に表示する表示手段と、
前記基準パターン信号の変更と連動させて該相関パターン信号を変更するパターン信号連動変更手段とを備え、
前記表示手段は、前記基準パターン信号の編集が行われた場合には、前記基準パターン信号とともに、前記パターン信号連動変更手段によって変更された前記相関パターン信号の再表示を行うことを特徴とするパターン信号作成装置。 - 制御装置にデータの出力を行わせるダイアグ機能の検査を行うための検査プログラムを作成する検査プログラム作成装置であって、
前記制御装置で処理される前記パターン信号を画面上に表示した状態で、前記ダイアグ機能の検査における設定を可能とすることを特徴とする検査プログラム作成装置。 - 前記ダイアグ機能の検査における設定とは、前記制御装置に対するデータ出力要求情報および該データ出力要求情報を前記制御装置に要求した場合におけるダイアグ機能の正常もしくは異常の判定条件であることを特徴とする、請求項7に記載の検査プログラム作成装置。
- 制御装置に入力するパターン信号と該パターン信号間の遷移条件とを含む子プロジェクトと、
前記子プロジェクトと前記子プロジェクト間の遷移条件とを含む親プロジェクトとを備えた検査プログラムを作成する検査プログラム作成装置であって、
前記子プロジェクトの編集画面と、前記親プロジェクトの編集画面とを同時に表示する表示手段と、
前記表示手段に表示された前記親プロジェクトの編集画面における前記子プロジェクトを選択すると、該選択された子プロジェクトの内容を前記子プロジェクトの編集画面に表示し、編集可能とする第1の編集手段と、
前記表示手段に表示された前記子プロジェクトの編集画面における前記子プロジェクトの内容を選択すると、該選択された前記子プロジェクトの内容の設定情報を新たな編集画面に表示し、編集可能とする第2の編集手段とを備えることを特徴とする検査プログラム作成装置。 - 制御装置に入力するパターン信号と該パターン信号に応じて前記制御装置の制御対象から出力される出力信号との関係に基づいて、前記制御装置の動作を検査する検査手段を備えた制御装置の検査装置であって、
前記検査手段は、前記パターン信号を実行しているときに他の前記パターン信号の実行に移行するためのパターン信号遷移条件が成立した場合に、該他の前記パターン信号の実行に移行することを特徴とする制御装置の検査装置。 - 制御装置の動作を検査する検査方法であって、
前記制御装置の制御対象を模擬するシミュレートステップと、
前記制御装置に入力するパターン信号と該パターン信号に応じて前記シミュレートステップで出力された出力信号との関係に基づいて、前記制御装置の動作を検査する検査ステップと、を含み、
前記検査ステップは、所定のタイミングで前記制御装置の動作を検査するものであり、前記制御装置の動作が正常であるとの判定が得られない場合には、所定回数のリトライ判定を行うことを特徴とする制御装置の検査方法。 - パターン信号を作成する方法であって、
前記パターン信号を用いる装置の制御周期に基づいて、前記パターン信号を作成する第1の関数処理ステップと、
前記制御周期とは異なる周期に基づいて、前記パターン信号を作成する第2の関数処理ステップと、
を備えることを特徴とするパターン信号作成方法。 - パターン信号を作成する方法であって、
基準パターン信号を作成するステップと、
該基準パターン信号に対する相関情報が指定された相関パターン信号を作成するステップと、
該基準パターン信号と該相関パターン信号とを同一画面上に表示する表示ステップと、
を備えることを特徴とするパターン信号作成方法。 - パターン信号を作成する方法であって、
基準パターン信号に対する相関情報が指定された相関パターン信号が存在する場合に、該基準パターン信号と該相関パターン信号とを同一画面上に表示する表示ステップと、
前記基準パターン信号の変更と連動させて該相関パターン信号を変更するパターン信号連動変更ステップと、
前記基準パターン信号の編集が行われた場合には、前記基準パターン信号とともに、前記パターン信号連動変更ステップで変更された前記相関パターン信号の再表示を行うステップと、
を備えることを特徴とするパターン信号作成方法。 - 制御装置にデータの出力を行わせるダイアグ機能の検査を行うための検査プログラムを作成する検査プログラム作成方法であって、
前記制御装置で処理される前記パターン信号を画面上に表示するステップと、
前記ダイアグ機能の検査における設定を可能とするステップと、
を備えることを特徴とする検査プログラム作成方法。 - 制御装置に入力するパターン信号と該パターン信号間の遷移条件とを含む子プロジェクトと、前記子プロジェクトと前記子プロジェクト間の遷移条件とを含む親プロジェクトとを備えた検査プログラムを作成する検査プログラム作成方法であって、
前記子プロジェクトの編集画面と、前記親プロジェクトの編集画面とを同時に表示する表示ステップと、
前記表示ステップで表示された前記親プロジェクトの編集画面における前記子プロジェクトを選択すると、該選択された子プロジェクトの内容を前記子プロジェクトの編集画面に表示し、編集可能とする第1の編集ステップと、
前記表示ステップで表示された前記子プロジェクトの編集画面における前記子プロジェクトの内容を選択すると、該選択された前記子プロジェクトの内容の設定情報を新たな編集画面に表示し、編集可能とする第2の編集ステップと、
を備えることを特徴とする検査プログラム作成方法。 - 制御装置に入力するパターン信号と該パターン信号に応じて前記制御装置の制御対象から出力される出力信号との関係に基づいて、前記制御装置の動作を検査する制御装置の検査方法であって、
前記パターン信号を実行するステップと、
前記実行しているときに他の前記パターン信号の実行に移行するためのパターン信号遷移条件が成立した場合に、該他の前記パターン信号の実行に移行するステップと、
を備えることを特徴とする制御装置の検査方法。
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US5438513A (en) * | 1993-11-19 | 1995-08-01 | Chrysler Corporation | Automotive electronics test system |
US5442738A (en) * | 1993-12-03 | 1995-08-15 | Motorola, Inc. | Computer display representing structure |
JP4439046B2 (ja) * | 1999-10-22 | 2010-03-24 | クラリオン株式会社 | オーディオ機器自動測定装置、ネットワークシステム、オーディオ機器自動測定用データ処理・制御装置、自動測定処理・制御用プログラムの記録媒体 |
JP2003114254A (ja) * | 2001-10-04 | 2003-04-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 検査方法および検査装置 |
JP2003270300A (ja) * | 2002-03-14 | 2003-09-25 | Ricoh Co Ltd | 検査装置および方法 |
JP4247517B2 (ja) * | 2002-11-15 | 2009-04-02 | 富士通テン株式会社 | 波形編集用プログラム、波形編集装置、及び波形編集方法 |
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