JP2005164338A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2005164338A5
JP2005164338A5 JP2003402159A JP2003402159A JP2005164338A5 JP 2005164338 A5 JP2005164338 A5 JP 2005164338A5 JP 2003402159 A JP2003402159 A JP 2003402159A JP 2003402159 A JP2003402159 A JP 2003402159A JP 2005164338 A5 JP2005164338 A5 JP 2005164338A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pattern signal
control device
inspection
creating
project
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2003402159A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005164338A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2003402159A priority Critical patent/JP2005164338A/ja
Priority claimed from JP2003402159A external-priority patent/JP2005164338A/ja
Priority to PCT/JP2004/017970 priority patent/WO2005054883A1/ja
Priority to US10/596,118 priority patent/US20080281549A1/en
Publication of JP2005164338A publication Critical patent/JP2005164338A/ja
Publication of JP2005164338A5 publication Critical patent/JP2005164338A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Claims (17)

  1. 制御装置の制御対象を模擬するシミュレート手段と、
    前記制御装置に入力するパターン信号と該パターン信号に応じて前記シミュレート手段から出力される出力信号との関係に基づいて、前記制御装置の動作を検査する検査手段とを備えた検査装置であって、
    前記検査手段は、所定のタイミングで前記制御装置の動作を検査するものであり、前記制御装置の動作が正常であるとの判定が得られない場合には、所定回数のリトライ判定を行うことを特徴とする制御装置の検査装置。
  2. パターン信号を作成するパターン信号作成装置であって、
    前記パターン信号作成装置によって作成された前記パターン信号を用いる装置の制御周期に基づいて、前記パターン信号を作成する第1の関数処理手段と、
    前記制御周期とは異なる周期に基づいて、前記パターン信号を作成する第2の関数処理手段とを備えることを特徴とするパターン信号作成装置。
  3. 前記第2の関数処理手段は、複数の前記制御周期にわたる時間の周期に基づいて、前記パターン信号を作成することを特徴とする、請求項2に記載のパターン信号作成装置。
  4. 前記第2の関数処理手段は、前記制御周期毎の周期に基づいて、前記パターン信号を作成することを特徴とする、請求項3に記載のパターン信号作成装置。
  5. パターン信号を作成するパターン信号作成装置であって、
    基準パターン信号に対する相関情報が指定された相関パターン信号を作成する場合に、該基準パターン信号と作成された該相関パターン信号とを同一画面上に表示する表示手段を備えることを特徴とするパターン信号作成装置。
  6. パターン信号を作成するパターン信号作成装置であって、
    基準パターン信号に対する相関情報が指定された相関パターン信号が存在する場合に、該基準パターン信号と該相関パターン信号とを同一画面上に表示する表示手段と、
    前記基準パターン信号の変更と連動させて該相関パターン信号を変更するパターン信号連動変更手段とを備え、
    前記表示手段は、前記基準パターン信号の編集が行われた場合には、前記基準パターン信号とともに、前記パターン信号連動変更手段によって変更された前記相関パターン信号の再表示を行うことを特徴とするパターン信号作成装置。
  7. 制御装置にデータの出力を行わせるダイアグ機能の検査を行うための検査プログラムを作成する検査プログラム作成装置であって、
    前記制御装置で処理される前記パターン信号を画面上に表示した状態で、前記ダイアグ機能の検査における設定を可能とすることを特徴とする検査プログラム作成装置。
  8. 前記ダイアグ機能の検査における設定とは、前記制御装置に対するデータ出力要求情報および該データ出力要求情報を前記制御装置に要求した場合におけるダイアグ機能の正常もしくは異常の判定条件であることを特徴とする、請求項7に記載の検査プログラム作成装置。
  9. 制御装置に入力するパターン信号と該パターン信号間の遷移条件とを含む子プロジェクトと、
    前記子プロジェクトと前記子プロジェクト間の遷移条件とを含む親プロジェクトとを備えた検査プログラムを作成する検査プログラム作成装置であって、
    前記子プロジェクトの編集画面と、前記親プロジェクトの編集画面とを同時に表示する表示手段と、
    前記表示手段に表示された前記親プロジェクトの編集画面における前記子プロジェクトを選択すると、該選択された子プロジェクトの内容を前記子プロジェクトの編集画面に表示し、編集可能とする第1の編集手段と、
    前記表示手段に表示された前記子プロジェクトの編集画面における前記子プロジェクトの内容を選択すると、該選択された前記子プロジェクトの内容の設定情報を新たな編集画面に表示し、編集可能とする第2の編集手段とを備えることを特徴とする検査プログラム作成装置。
  10. 御装置に入力するパターン信号と該パターン信号に応じて前記制御装置の制御対象から出力される出力信号との関係に基づいて、前記制御装置の動作を検査する検査手段を備えた制御装置の検査装置であって、
    前記検査手段は、前記パターン信号を実行しているときに他の前記パターン信号の実行に移行するためのパターン信号遷移条件が成立した場合に、該他の前記パターン信号の実行に移行することを特徴とする制御装置の検査装置。
  11. 制御装置の動作を検査する検査方法であって、
    前記制御装置の制御対象を模擬するシミュレートステップと、
    前記制御装置に入力するパターン信号と該パターン信号に応じて前記シミュレートステップで出力された出力信号との関係に基づいて、前記制御装置の動作を検査する検査ステップと、を含み、
    前記検査ステップは、所定のタイミングで前記制御装置の動作を検査するものであり、前記制御装置の動作が正常であるとの判定が得られない場合には、所定回数のリトライ判定を行うことを特徴とする制御装置の検査方法。
  12. パターン信号を作成する方法であって、
    前記パターン信号を用いる装置の制御周期に基づいて、前記パターン信号を作成する第1の関数処理ステップと、
    前記制御周期とは異なる周期に基づいて、前記パターン信号を作成する第2の関数処理ステップと、
    を備えることを特徴とするパターン信号作成方法。
  13. パターン信号を作成する方法であって、
    基準パターン信号を作成するステップと、
    該基準パターン信号に対する相関情報が指定された相関パターン信号を作成するステップと、
    該基準パターン信号と該相関パターン信号とを同一画面上に表示する表示ステップと、
    を備えることを特徴とするパターン信号作成方法。
  14. パターン信号を作成する方法であって、
    基準パターン信号に対する相関情報が指定された相関パターン信号が存在する場合に、該基準パターン信号と該相関パターン信号とを同一画面上に表示する表示ステップと、
    前記基準パターン信号の変更と連動させて該相関パターン信号を変更するパターン信号連動変更ステップと、
    前記基準パターン信号の編集が行われた場合には、前記基準パターン信号とともに、前記パターン信号連動変更ステップで変更された前記相関パターン信号の再表示を行うステップと、
    を備えることを特徴とするパターン信号作成方法。
  15. 制御装置にデータの出力を行わせるダイアグ機能の検査を行うための検査プログラムを作成する検査プログラム作成方法であって、
    前記制御装置で処理される前記パターン信号を画面上に表示するステップと、
    前記ダイアグ機能の検査における設定を可能とするステップと、
    を備えることを特徴とする検査プログラム作成方法。
  16. 制御装置に入力するパターン信号と該パターン信号間の遷移条件とを含む子プロジェクトと、前記子プロジェクトと前記子プロジェクト間の遷移条件とを含む親プロジェクトとを備えた検査プログラムを作成する検査プログラム作成方法であって、
    前記子プロジェクトの編集画面と、前記親プロジェクトの編集画面とを同時に表示する表示ステップと、
    前記表示ステップで表示された前記親プロジェクトの編集画面における前記子プロジェクトを選択すると、該選択された子プロジェクトの内容を前記子プロジェクトの編集画面に表示し、編集可能とする第1の編集ステップと、
    前記表示ステップで表示された前記子プロジェクトの編集画面における前記子プロジェクトの内容を選択すると、該選択された前記子プロジェクトの内容の設定情報を新たな編集画面に表示し、編集可能とする第2の編集ステップと、
    を備えることを特徴とする検査プログラム作成方法。
  17. 制御装置に入力するパターン信号と該パターン信号に応じて前記制御装置の制御対象から出力される出力信号との関係に基づいて、前記制御装置の動作を検査する制御装置の検査方法であって、
    前記パターン信号を実行するステップと、
    前記実行しているときに他の前記パターン信号の実行に移行するためのパターン信号遷移条件が成立した場合に、該他の前記パターン信号の実行に移行するステップと、
    を備えることを特徴とする制御装置の検査方法。
JP2003402159A 2003-12-01 2003-12-01 制御装置の検査装置、パターン信号作成装置及び検査プログラム生成装置 Pending JP2005164338A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003402159A JP2005164338A (ja) 2003-12-01 2003-12-01 制御装置の検査装置、パターン信号作成装置及び検査プログラム生成装置
PCT/JP2004/017970 WO2005054883A1 (ja) 2003-12-01 2004-11-26 制御装置の検査装置、パターン信号作成装置及び検査プログラム生成装置
US10/596,118 US20080281549A1 (en) 2003-12-01 2004-11-26 Test Apparatus for Control Unit, Pattern Signal Creating Apparatus, and Test Program Generating Apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003402159A JP2005164338A (ja) 2003-12-01 2003-12-01 制御装置の検査装置、パターン信号作成装置及び検査プログラム生成装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005164338A JP2005164338A (ja) 2005-06-23
JP2005164338A5 true JP2005164338A5 (ja) 2007-01-25

Family

ID=34650002

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003402159A Pending JP2005164338A (ja) 2003-12-01 2003-12-01 制御装置の検査装置、パターン信号作成装置及び検査プログラム生成装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20080281549A1 (ja)
JP (1) JP2005164338A (ja)
WO (1) WO2005054883A1 (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4619941B2 (ja) * 2005-12-26 2011-01-26 富士通テン株式会社 信号パターン作成装置
JP5052519B2 (ja) * 2006-09-29 2012-10-17 富士通テン株式会社 シミュレーション装置、シミュレーションシステム及びシミュレーション方法
US20120192158A1 (en) * 2010-11-22 2012-07-26 Carlo Amalfitano Model Based Verification Using Forward and Reverse Traversal of Variable Time Line
JP6263163B2 (ja) * 2015-12-21 2018-01-17 アンリツ株式会社 シーケンス発生装置、それを用いた誤り率測定装置、及びシーケンス発生方法
JP6765554B2 (ja) * 2018-12-12 2020-10-07 三菱電機株式会社 ソフトウェア試験装置、ソフトウェア試験方法、および、ソフトウェア試験プログラム
CN112131063B (zh) * 2020-09-29 2023-10-24 中国银行股份有限公司 重试方法及装置、计算机设备及计算机可读存储介质

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4954948A (en) * 1986-12-29 1990-09-04 Motorola, Inc. Microprocessor operating system for sequentially executing subtasks
JPH0224584A (ja) * 1988-07-13 1990-01-26 Nec Corp テストパターン作成方法
US5307290A (en) * 1988-10-18 1994-04-26 Fiat Auto S.P.A. System for the automatic testing, preferably on a bench, of electronic control systems which are intended to be fitted in vehicles
JPH0416782A (ja) * 1990-05-11 1992-01-21 Fujitsu Ltd Lsi試験方法とその試験装置
JPH0432784A (ja) * 1990-05-29 1992-02-04 Mitsubishi Electric Corp テストプログラムジエネレータ
DE4121637C2 (de) * 1991-06-29 1997-04-24 Bosch Gmbh Robert Verfahren zur Prüfung von Steuergeräten und Prüfeinrichtung zur Durchführung des Verfahrens
JPH07129645A (ja) * 1993-10-29 1995-05-19 Nec Corp タイムチャートの波形表示方法
US5438513A (en) * 1993-11-19 1995-08-01 Chrysler Corporation Automotive electronics test system
US5442738A (en) * 1993-12-03 1995-08-15 Motorola, Inc. Computer display representing structure
JP4439046B2 (ja) * 1999-10-22 2010-03-24 クラリオン株式会社 オーディオ機器自動測定装置、ネットワークシステム、オーディオ機器自動測定用データ処理・制御装置、自動測定処理・制御用プログラムの記録媒体
JP2003114254A (ja) * 2001-10-04 2003-04-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd 検査方法および検査装置
JP2003270300A (ja) * 2002-03-14 2003-09-25 Ricoh Co Ltd 検査装置および方法
JP4247517B2 (ja) * 2002-11-15 2009-04-02 富士通テン株式会社 波形編集用プログラム、波形編集装置、及び波形編集方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2006244073A (ja) 半導体設計装置
JP2002063050A (ja) 制御プログラム開発支援装置
JP2000082094A (ja) 半導体集積回路設計検証システム
US7031899B2 (en) System for characterizing simulated circuit logic and behavior
JP2005164338A5 (ja)
JP6305252B2 (ja) 目視検査技能向上支援システム及びこれを用いた目視検査技能向上支援方法並びに目視検査技能向上支援システム用プログラム
TW201310181A (zh) 多工測試程序管理方法與系統
CN104408542A (zh) 质量建模与图形化缺陷录入方法及系统
US5319579A (en) Simulation of human performance of a process operation procedure
JP2008065555A (ja) 画像処理装置の機能診断方法及び機能診断システム
JP2003044114A (ja) 検査システム
JP3873137B2 (ja) 被検査デバイスの入出力信号波形の再表示方法およびシステム
WO2005054883A1 (ja) 制御装置の検査装置、パターン信号作成装置及び検査プログラム生成装置
JP2007205817A (ja) レーダ情報処理装置の試験装置
JP2001350646A (ja) 半導体試験システム
US7027070B2 (en) Systems and methods for manipulating a graphical display of a printed circuit board model for an automated x-ray inspection system
US20020178402A1 (en) System and method for software diagnosis
JPH09259006A (ja) プログラム評価システム
JP2013096854A (ja) 自動二輪車のシフトシミュレーションシステム、および自動二輪車のシフトフィーリング予測方法
JP2009063567A (ja) 半導体試験システム
JP3532461B2 (ja) A/t試験装置の計測方法
JP2004028831A (ja) パターン欠陥解析支援装置およびパターン欠陥解析支援プログラム
JP2000276224A (ja) 制御プログラムの検査方法および装置ならびにその検査プログラムの自動生成方法および装置
JP2004220390A (ja) 画面制御定義の自動生成方法及び装置
JP2002024053A (ja) ログ機能を搭載した汎用検査システム