JPH0224584A - テストパターン作成方法 - Google Patents
テストパターン作成方法Info
- Publication number
- JPH0224584A JPH0224584A JP63175811A JP17581188A JPH0224584A JP H0224584 A JPH0224584 A JP H0224584A JP 63175811 A JP63175811 A JP 63175811A JP 17581188 A JP17581188 A JP 17581188A JP H0224584 A JPH0224584 A JP H0224584A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- condition
- test pattern
- pattern
- conditions
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- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 21
- 238000004088 simulation Methods 0.000 claims abstract description 14
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims description 10
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 3
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Stored Programmes (AREA)
- Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はテストパターン作成方法に関し、特にパターン
発生の状況をみながら、その発生時の条件を自動的に変
更することにより、効率よくテストパターンの作成を行
うテストパターン作成方法に関する。
発生の状況をみながら、その発生時の条件を自動的に変
更することにより、効率よくテストパターンの作成を行
うテストパターン作成方法に関する。
従来のテストパターン作成方法においては、ある特定な
条件の下でテスＩ・パターン入力を発生させ、故障ジミ
レーションを行って評価し、必要があれば条件を変更し
てテストパターン発生を再実行し、満足するテストパタ
ーンが得られるまで、上記の工程を繰り返す方法が取ら
れていた。
条件の下でテスＩ・パターン入力を発生させ、故障ジミ
レーションを行って評価し、必要があれば条件を変更し
てテストパターン発生を再実行し、満足するテストパタ
ーンが得られるまで、上記の工程を繰り返す方法が取ら
れていた。
上述した従来のテストパターン作成方法は、−回の実行
ごとにパターン発生の効率を評価し、条件変更を検討す
るため、特に大規模回路で一回の実行が長時間になる場
合、効果の薄い条件で実行を続けてしまうという欠点が
ある。
ごとにパターン発生の効率を評価し、条件変更を検討す
るため、特に大規模回路で一回の実行が長時間になる場
合、効果の薄い条件で実行を続けてしまうという欠点が
ある。
また、条件を小刻みに変えてテストしたい場合などでは
、その条件毎に実行時間を分割して別々に実行を行う必
要があるという問題点がある。
、その条件毎に実行時間を分割して別々に実行を行う必
要があるという問題点がある。
本発明の目的は、パターン発生の状況を見ながら発生時
の条件を自動的に変更することにより、効率よくテスト
パターンを作成するテストパターン作成方法を提供する
ことにある。
の条件を自動的に変更することにより、効率よくテスト
パターンを作成するテストパターン作成方法を提供する
ことにある。
本発明のテストパターン作成方法は、論理回路のテスト
パターン作成方法において、外部から指定されたテスト
パターン発生時の条件群を条件スタックに取り込む条件
識別工程と、前記条件識別工程により識別された条件の
うちの任意の条件を設定する条件設定工程と、前記条件
設定工程により設定された条件により自動的にテストパ
ターン発生を行うパターン発生工程と、前記パターン発
生工程により発生したテストパターンの故障シミュレー
ションを行う故障シミュレーション工程と、前記故障シ
ュミレーション工程の結果により前記条件識別工程と他
の条件によるパターン発生への移行を判定する条件移行
判定工程とを含んで構成されている。
パターン作成方法において、外部から指定されたテスト
パターン発生時の条件群を条件スタックに取り込む条件
識別工程と、前記条件識別工程により識別された条件の
うちの任意の条件を設定する条件設定工程と、前記条件
設定工程により設定された条件により自動的にテストパ
ターン発生を行うパターン発生工程と、前記パターン発
生工程により発生したテストパターンの故障シミュレー
ションを行う故障シミュレーション工程と、前記故障シ
ュミレーション工程の結果により前記条件識別工程と他
の条件によるパターン発生への移行を判定する条件移行
判定工程とを含んで構成されている。
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第１、図は本発明の一実施例の流れ図である。
論理回路１に対するテストパターン発生において、対象
故障を仮定する範囲指定やビンの固定値設定などのパタ
ーン発生時の条件群２を条件識別工程３でスタックに入
力したのち、そのうちの任意の条件を条件設定工程４で
設定し、その条件によりパターン発生工程５によりテス
トパターン人力８を発生する。このテストパターン入力
８に対し、故障シミュレーション工程６で故障シミュレ
ーションを行う。この結果、例えば検出率を判定基準と
して条件群２の他の条件によるパターン発生に切り変え
るか否かの判定を条件移行判定工程７で行い、条件を切
り変える場合は条件設定工程４に戻りパターン発生を続
ける。以上を満足のいくまで繰り返すことにより、テス
トパターン９を作成する。設定条件の切り変え判定基準
としては、シミュレーション時間、検出率などがある。
故障を仮定する範囲指定やビンの固定値設定などのパタ
ーン発生時の条件群２を条件識別工程３でスタックに入
力したのち、そのうちの任意の条件を条件設定工程４で
設定し、その条件によりパターン発生工程５によりテス
トパターン人力８を発生する。このテストパターン入力
８に対し、故障シミュレーション工程６で故障シミュレ
ーションを行う。この結果、例えば検出率を判定基準と
して条件群２の他の条件によるパターン発生に切り変え
るか否かの判定を条件移行判定工程７で行い、条件を切
り変える場合は条件設定工程４に戻りパターン発生を続
ける。以上を満足のいくまで繰り返すことにより、テス
トパターン９を作成する。設定条件の切り変え判定基準
としては、シミュレーション時間、検出率などがある。
第２図は条件設定工程の一実施例のプログラムである。
初回の条件設定時には条件群をすべて条件スタックに格
納し、条件を一つ取り出してパターン発生工程で参照で
きる形式に設定する。いったん、故障シミュレーション
が行われた時点以降の条件設定時には、条件以降フラグ
が立っている時は条件スタックから次の条件を取り出し
て設定し直し、スタックが空になった時はパターン発生
終了フラグを立てる。また、条件以降フラグが立ってい
ない時は何もしない。
納し、条件を一つ取り出してパターン発生工程で参照で
きる形式に設定する。いったん、故障シミュレーション
が行われた時点以降の条件設定時には、条件以降フラグ
が立っている時は条件スタックから次の条件を取り出し
て設定し直し、スタックが空になった時はパターン発生
終了フラグを立てる。また、条件以降フラグが立ってい
ない時は何もしない。
ここでは条件をすべて設定し終えたらパターン発生を終
了する。スタックによる実施例を述べたが、条件を繰り
返し設定し続けることのできるようにプログラムコント
ロールによる実行も可能である。
了する。スタックによる実施例を述べたが、条件を繰り
返し設定し続けることのできるようにプログラムコント
ロールによる実行も可能である。
第３図は条件移行判定工程７の流れ図である。
故障シミュレーション６の結果、満足のいくパターン発
生ができた時、あるいは終了条件を満たした時、条件移
行フラグを立て、それ以外の時は条件移行フラグをオフ
にする。
生ができた時、あるいは終了条件を満たした時、条件移
行フラグを立て、それ以外の時は条件移行フラグをオフ
にする。
以上説明したように、本発明はパターン発生の状況を見
ながら発生時の条件を自動的に変更することにより、効
率よくテストパターンを作成するという効果を有する。
ながら発生時の条件を自動的に変更することにより、効
率よくテストパターンを作成するという効果を有する。
第１図は本発明の一実施例の流れ図、第２図は条件設定
工程の処理概要図、第３図は条件移行判定工程の流れ図
である。 １・・・・・・論理回路、２・・・・・・パターン発生
条件群、３・・・・・・条件識別工程、４・・・・・・
条件設定工程、５・・・・・・パターン発生工程、６・
・・・・・故障シミュレーション工程、７・・・・・・
条件移行判定工程、８・・・・・・テストパターン入力
、９・・・・・・テストパターン。 代理人 弁理士 内 原 晋 」 区 第 ＥＬＳＥ。
工程の処理概要図、第３図は条件移行判定工程の流れ図
である。 １・・・・・・論理回路、２・・・・・・パターン発生
条件群、３・・・・・・条件識別工程、４・・・・・・
条件設定工程、５・・・・・・パターン発生工程、６・
・・・・・故障シミュレーション工程、７・・・・・・
条件移行判定工程、８・・・・・・テストパターン入力
、９・・・・・・テストパターン。 代理人 弁理士 内 原 晋 」 区 第 ＥＬＳＥ。
Claims (1)
- 論理回路のテストパターン作成方法において、外部から
指定されたテストパターン発生時の条件群を条件スタッ
クに取り込む条件識別工程と、前記条件識別工程により
識別された条件のうちの任意の条件を設定する条件設定
工程と、前記条件設定工程により設定された条件により
自動的にテストパターン発生を行うパターン発生工程と
、前記パターン発生工程により発生したテストパターン
の故障シミュレーションを行う故障シミュレーション工
程と、前記故障シュミレーション工程の結果により前記
条件識別工程と他の条件によるパターン発生への移行を
判定する条件移行判定工程とを含むことを特徴とするテ
ストパターン作成方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63175811A JPH0224584A (ja) | 1988-07-13 | 1988-07-13 | テストパターン作成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63175811A JPH0224584A (ja) | 1988-07-13 | 1988-07-13 | テストパターン作成方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0224584A true JPH0224584A (ja) | 1990-01-26 |
Family
ID=16002647
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63175811A Pending JPH0224584A (ja) | 1988-07-13 | 1988-07-13 | テストパターン作成方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0224584A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005054883A1 (ja) * | 2003-12-01 | 2005-06-16 | Fujitsu Ten Limited | 制御装置の検査装置、パターン信号作成装置及び検査プログラム生成装置 |
| US7290187B2 (en) | 2004-08-04 | 2007-10-30 | International Business Machines Corporation | Segmented algorithmic pattern generator |
| JP2010222136A (ja) * | 2009-03-25 | 2010-10-07 | Hitachi Ltd | 乗客コンベア |
-
1988
- 1988-07-13 JP JP63175811A patent/JPH0224584A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005054883A1 (ja) * | 2003-12-01 | 2005-06-16 | Fujitsu Ten Limited | 制御装置の検査装置、パターン信号作成装置及び検査プログラム生成装置 |
| US7290187B2 (en) | 2004-08-04 | 2007-10-30 | International Business Machines Corporation | Segmented algorithmic pattern generator |
| US7490281B2 (en) | 2004-08-04 | 2009-02-10 | International Business Machines Corporation | Segmented algorithmic pattern generator |
| JP2010222136A (ja) * | 2009-03-25 | 2010-10-07 | Hitachi Ltd | 乗客コンベア |
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