JP2005101384A - 光起電力装置及びその製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】 この発明は、パターニング加工が容易な逆タイプ構造の集積型光起電力装置の製造方法を提供することをその課題とする。
【解決手段】 第1電極膜3と、光電変換層4と、第2電極膜5とを基板1の絶縁層2上に分割することなく順次積層形成した後、前記積層膜に第1電極膜3まで電気的に分離するに至る深い開溝71を設けるとともに、深い開溝71に平行に僅かの間隔を設けて、少なくとも第2電極膜5を分離する浅い開溝61を2つ設け、3つ以上の開溝が設けられた第2電極膜5をマスクとしてエッチング10により、光電変換層4を除去し、少なくとも1つの開溝61の底部に第1電極膜5を露出させ、前記深い開溝71内、或いは深い開溝上面を塞いで絶縁部材7を形成するとともに、第1の電極膜3が露出する開溝を充填し、深い開溝71を跨いで隣接素子上に延在する導電部材を形成する。
【選択図】 図2

Description

この発明は、集積型の光起電力装置及びその製造方法に関する。
複数の光電変換素子を一枚の基板上に形成し、これら複数の光電変換素子を基板上で直列に接続してなる所謂、集積型の光起電力装置が知られている。これら光起電力装置としては、現在、順タイプのものと逆タイプのものとが実用化されている。順タイプのものは、ガラス基板等の絶縁性及び透光性を有する基板上に、透光性導電膜とpin接合を含む非晶質シリコン、微結晶シリコン等の薄膜半導体膜からなる光電変換層と裏面電極膜とを積層してなる多数の光電変換素子を有し、隣合う光電変換素子間で一方の光電変換素子の透光性導電膜と他方の光電変換素子の裏面電極膜とを電気的に接続して、これらの多数の光電変換素子を直列的に集積化している。各光電変換素子において、基板、透光性導電膜を順次介して光が入射すると、薄膜半導体膜内で光起電力が発生し、それぞれの光電変換素子で発生した光起電力は裏面電極膜を介して直列的に相加されて外部に取り出される。
一方、逆タイプの光起電力装置は、ステンレス板等の金属板に絶縁膜を形成したもの、或いはプラスチック板等の絶縁性表面を有する基板上に、裏面電極膜とnip接合を含む非晶質シリコン、微結晶シリコン等の薄膜半導体膜からなる光電変換層と透光性導電膜とを積層してなる多数の光電変換素子を有し、隣合う光電変換素子間で一方の光電変換素子の透光性導電膜と他方の光電変換素子の裏面電極膜とを電気的に接続して、これらの多数の光電変換素子を直列的に集積化している。各光電変換素子において、透光性導電膜を介して光が入射すると、薄膜半導体膜内で光起電力が発生し、それぞれの光電変換素子で発生した光起電力は裏面電極膜を介して直列的に相加されて外部に取り出される。
集積型の光起電力装置の製造方法については、従来、一般にレーザ加工等のエネルギー照射による手法が用いられている。この手法は、熱的ダメージを防ぐために、素子側からではなくガラス基板側からエネルギー照射を行うなど、基板としてガラスなどの透明絶縁性基板に依存するところが大きく、金属性基板上にこのような集積型を形成する場合には、光電変換素子の分割と合わせて、光電変換素子と金属性基板との間の電気絶縁性の確保のために、メタルマスクによって電極層、半導体光電変換層を部分的に形成していく方法が用いられていた。
非透光性の基板を用いた光電変換装置において、集積化のための加工を主に光電変換層を形成した主面側から行う方法も提案されている(特許文献1参照)。
また、集積化の加工方法として、レーザ加工とエッチング技術を併用する方法も提案されている(特許文献2参照)。
特公平5−19990号公報 特公平5−60273号公報
上記した特許文献1には、レーザビームにより集積化を行う方法が開示されれいるが、この方法のままでは、光電変換層への熱的損傷による低抵抗領域の発生により、リーク電流が発生する懸念がある。
また、レーザ加工とエッチング技術を併用する方法では、1μm以下の膜厚である薄膜の厚さ方向の途中で加工を停止するような極めて厳密なレーザ加工条件の制御が必要とされ、プロセスウィンドウが狭いという問題があった。
この発明は、上記した従来の問題点に鑑みなされたものにして、パターニング加工が容易な逆タイプ構造の集積型光起電力装置の製造方法を提供することをその課題とする。
この発明は、絶縁表面を有する基板上に設けられた第1電極膜と、薄膜半導体からなる光電変換層と、この光電変換層上に形成された第2電極膜とを有する光電変換素子を複数直列に接続した集積型光起電力装置の製造方法であって、第1電極膜と、光電変換層と、第2電極膜とを基板の絶縁表面上に分割することなく順次積層形成した後、前記積層膜に第1電極膜まで電気的に分離するに至る深い開溝を設けるとともに、前記深い開溝に平行に僅かの間隔を設けて、少なくとも第2電極膜を分離する浅い開溝を少なくとも1つ以上設け、前記2つ以上の開溝が設けられた第2電極膜をマスクとしてエッチングにより、光電変換層を除去し、少なくとも1つの開溝の底部に前記第1電極膜を露出させ、前記深い開溝内、或いは深い開溝上面を塞いで絶縁部材を形成するとともに、第1の電極膜が露出する開溝を充填し、前記の深い開溝を跨いで隣接素子上に延在する導電部材を形成することを特徴とする。
前記エッチングは、CF4、或いはCF4とO2の混合ガスのプラズマに暴露することによるドライエッチングを用いればよい。
また、底部に前記第1電極膜を露出させる開溝は、鎖線状の開口部で形成されてすることもできる。
この発明によれば、マスク部材が不要であると共に、レーザ加工条件の制御に特別な厳密性を要しない簡略、且つ低コストの集積型光起電力装置の製造方法を提供することができる。
以下、この発明の実施形態につき図面を参照して説明する。図1はこの発明により製造した集積型光起電力装置を示す要部斜視図、図2は、この発明の実施形態にかかる集積型光起電力装置の製造方法を工程別に示す断面図である。
絶縁表面を有する基板1として、100mm×100mm×0.15mm(t)のステンレス基板に、0.01mmの膜厚のポリイミドを絶縁層2として、被着させた基板を用いる。この基板1の絶縁層2上に銀(Ag)、アルミニウム(Al)やアルミニウム(Al)の上にチタン(Ti)を積層した第1の電極3をスパッタ法により形成する。続いて、nip接合を有する微結晶シリコン或いは、非晶質シリコンなどの薄膜半導体からなる光電変換層4をプラズマCVD法により積層形成し、さらに、第2の電極となる透光性電極膜5として、酸化インジウム錫(ITO)をスパッタ法により形成する(図1(a)参照)。光電変換層4を、例えば、微結晶シリコン(μc−Si:H)で形成する場合は、プラズマCVD法により、第1の電極層31側から、膜厚50nm程度のn型μc−Si:H、膜厚2μm程度の真性(i型)μc−Si:H、膜厚15nm程度のp型μc−Si:Hを順次積層形成する。各層の成膜条件を表1に示す。
Figure 2005101384
次に、図2(b)に示すように、Q−sw付Nd:YAGレーザ(LB1)を第2電極膜としての透光性電極膜5上より照射し、第1電極膜3まで電気的に分離する深い開溝71を形成した。この際のレーザ照射条件を表2に示す。また、この時、開溝形成と同時に光電変換層に熱的損傷領域が形成されるが、この発明では後工程として、エッチングを行うので問題とならない。更に、この深い開溝は71は、この実施形態では、第1電極膜3を完全に分離するために、絶縁層2まで至る深さまで形成している。
次に、KrFエキシマレーザを(LB2)を透光性電極膜5上より照射し、深い開溝71から100μm間隔に平行して浅い開溝61、61を2つ形成した。この際のレーザ照射条件を表3に示す。また、この時、透光性電極膜5の分離と同時に、下地層である光電変換層表面が微結晶化(低抵抗化)するが、これも後工程のエッチングにより問題とならない。
Figure 2005101384
Figure 2005101384
次に、前記のレーザ加工で形成された透光性電極膜5のパターンをマスクとして、CF4とO2の混合ガスのプラズマ10に暴露して、ドライエッチングを施す。このドライエッチングにより、深い開溝71中における熱的損傷領域、及び浅い開溝61中における微結晶化領域を含む光電変換層4を除去して、第1電極3の表面を露出させる(図2(c)参照)。この時のドライエッチングの条件を表4に示す。
Figure 2005101384
上記した条件におけるプラズマ暴露時間は、30秒以上10分以内が望ましい。30秒以下では、光電変換層4が残留し、10分以上の長時間では、光電変換層4がサイドエッチングされ、透光性電極膜(第2電極膜)5が梁状に残されるため、この部分が不安定になりやすいためである。
続いて、深い開溝71に二酸化シリコン(SiO2)の微粉末を含む絶縁ペーストなどからなる電気的絶縁部材7を充填する。この充填は、充填時に粘性を有する絶縁材料をディスペンサーより押し出し、深い開溝71内に充填した後、オーブンで焼結させる。この方法は、絶縁材料をディスペンサーより押し出し、深い開溝71内に充填しており、スクリーン印刷等におけるマスクに相当するものがなく、これによる機械的損傷、或いは透光性電極膜5にピンホールを生じることがない。この電気的絶縁部材7により、隣接する素子間の電気的分離が確実に行える。その後、隣接素子間を電気的に分離する開溝71と非平行に設けられた比較的細幅のフィン8と、開溝71に隣接する開溝62を介して隣接素子の第1の電極3と電気的に接続する接続部とバスパー6とをAg粉末等の導電性粒子を含む導電性ペーストをディスペンサーから押し出して塗布し、その後、高温で焼成して、接続電極並びに集電極を形成する(図2(d)参照)。この実施形態では、3つの開溝71、61、61の内の中央の開溝に接続用の導電部材を充填し、深い開溝71を跨いで隣接素子上に延在する導電部材からなるフィン8を形成している。
これらのペーストの塗布はペーストをノズルより射出するディスペンサーを使用し、スクリーン印刷のようなマスク部材による機械的損傷を受けないようにした。このようにして、図1に示す集積型光起電力装置が得られる。
前記の深い開溝71及び浅い開溝61の形成には、上記の第1の実施形態に示すように、レーザビームの波長を変える方法もあるが、同波長のレーザビームのエネルギー密度、或いはパルス発振のレーザビームならば、照射パルス回数を変えても可能である。
また、上記した第1の実施形態においては、浅い開溝61は、透光性電極膜5を完全に除去する程度で、光電変換層4はあまり除去する深さにはなっていない。浅い開溝61を第1の電極3が露出する程度にレーザビームで除去するように構成しても良い。この時のこの際のレーザ照射条件を表5に示す。このレーザビームの除去で有る程度の光電変換層4を除去し、その後、透光性電極膜5をマスクとして、CF4とO2の混合ガスのプラズマに暴露して、ドライエッチングを施す。このドライエッチングにより、深い開溝71、浅い開溝中における熱的損傷領域、及び浅い開溝61中における微結晶化領域を含む光電変換層4を除去して、第1電極3の表面を露出させるように構成しても良い。
Figure 2005101384
また、ドライエッチングの代わりにウェットエッチングを用いても良い。
更に、上記した第1の実施形態においては、深い開溝71をレーザビームで形成したが、ウォータジェット加工により形成して良い。このウォータージェットの加工条件は、圧力:10Mpa、ノズル径:0.15mm、流量:0.44リットル/min、加工速度:0.5m/min、噴射距離:40mmである。
また、浅い開溝61もウォータージェットの加工条件を制御することにより形成することができる。
更に、上記した第1の実施形態においては、隣接する光電変換素子の第1の電極4と接続するため、浅い開溝は、溝状に形成しているが、深い開溝に沿って、複数の点状の開口を設け、この開口部を介して電気的接続を行うように構成しても良い。
尚、上記実施形態においては、光電変換層4として、内部にnip接合を有する微結晶シリコンまたは非晶質シリコンを用いたが他の薄膜半導体を用いても良い。例えば、多結晶シリコン、CdS、CuInSe2などの薄膜半導体を用いても良い。
この発明により製造した集積型光起電力装置を示す要部斜視図である。 この発明の実施形態にかかる集積型光起電力装置の製造方法を工程別に示す断面図である。
符号の説明
1 基板
2 絶縁層
3 第1の電極
4 光電変換層
5 透光性電極膜(第2の電極)
6 バスバー
7 電気的絶縁部材
8 フィン
61 浅い開溝
71 深い開溝

Claims (3)

  1. 絶縁表面を有する基板上に設けられた第1電極膜と、薄膜半導体からなる光電変換層と、この光電変換層上に形成された第2電極膜とを有する光電変換素子を複数直列に接続した集積型光起電力装置の製造方法であって、第1電極膜と、光電変換層と、第2電極膜とを基板の絶縁表面上に分割することなく順次積層形成した後、前記積層膜に第1電極膜まで電気的に分離するに至る深い開溝を設けるとともに、前記深い開溝に平行に僅かの間隔を設けて、少なくとも第2電極膜を分離する浅い開溝を少なくとも1つ以上設け、前記2つ以上の開溝が設けられた第2電極膜をマスクとしてエッチングにより、光電変換層を除去し、少なくとも1つの開溝の底部に前記第1電極膜を露出させ、前記深い開溝内、或いは深い開溝上面を塞いで絶縁部材を形成するとともに、第1の電極膜が露出する開溝を充填し、前記の深い開溝を跨いで隣接素子上に延在する導電部材を形成することを特徴とする集積型光起電力装置の製造方法。
  2. 前記エッチングは、CF4、或いはCF4とO2の混合ガスのプラズマに暴露することによるドライエッチングであることを特徴とする請求項1に記載の集積型光起電力装置の製造方法。
  3. 底部に前記第1電極膜を露出させる開溝は、鎖線状の開口部で形成されていることを特徴とする請求項1に記載の集積型光起電力装置の製造方法。
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