JP2004164648A - ハイブリッドカスケードモデルベース予測制御システム - Google Patents

ハイブリッドカスケードモデルベース予測制御システム Download PDF

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Abstract

【課題】半導体基板の熱的プロセス装置、例えば垂直サーマルリアクタ用のハイブリッドカスケードMBPC(Model-Based Predictive Control)および従来の制御系を含む制御システムを提供すること。
【解決手段】効果的な動的線形モデルを達成するために、目標の温度制御範囲を、複数の温度副範囲に分割する。温度副範囲ごと、加熱ゾーンごとに、対応する動的モデルを識別する。温度ランプアップ/ダウン中に、制御系に、実際の温度に従って動的モデルを自動的に切り替えるファジー制御ロジックおよび推論エンジンを与える。熱電対(TC)による温度測定に障害が発生した時には、動的モデル計算に基づくソフトウェアのソフトセンサを使用して、制御系入力としての定位置で実際のTCサンプリングを置換する。その結果、TC障害がプロセス中に発生した時に、処理中の半導体基板をロスすることなく、プロセスを完了することができる。
【選択図】図1

Description

本発明は、たとえば半導体基板の処理に用いられるサーマルリアクタなどの装置を制御する入れ子になった制御ループを有するカスケード制御システムに関する。
半導体装置の製造においては、ウェーハサイズが大きくなり、集積回路の加工寸法の縮小化が続いている。ウェーハサイズがさらに大きくなり、加工寸法がさらに縮小されることに伴って、熱的プロセスにおける制御の改善が必要になってきている。ウェーハが処理される温度は、拡散プロセス、成膜プロセスおよび他の熱的プロセスに対して一次的な影響を有している。バッチ式の炉による処理は、バッチサイズが大きく、対応するウェーハ当たりの処理コストが低いので、熱的加工においては重要な役割を果たしている。
バッチ式の熱的プロセスは、温度制御の改善を達成すると同時に、装置の高い利用効率および大きいウェーハバッチサイズを維持することを目標としている。優れた温度制御に必要な要件には、ランプ中の温度均一性が高いランプレート、温度のオーバーシュートがほとんどまたは全くない短時間で達成される温度安定性、定常状態におけるより小さい誤差範囲、コントローラのパラメータのチューニングに関するより短いダウンタイムなどが含まれる。
従来の単一ループPID(Proportional-Integral-Derivative)コントローラでは、要求される温度制御性能を達成することができない。そのため、カスケード制御ループまたは入れ子になった制御ループを有するPIDコントローラが、改善された温度制御を提供する試みとして使用されてきた。しかし、これらおよび他の以前の手法には、複雑さおよび計算上の要件に関する事項に、実用上短所があった。
本発明は、上記およびその他の問題を解決するためになされたもので、通常の制御マイクロプロセッサで実施できる計算的に効率のよいハイブリッドカスケードMBPC制御システムを提供することを目的としている。
一実施の形態では、ハイブリッドカスケードMBPC制御システムが、外側制御ループにMBPC、内側制御ループに従来のコントローラを有する入れ子になった制御ループを有するカスケードタイプのシステムである。一実施の形態では、従来のコントローラが、PIDコントローラである。一実施の形態では、従来のコントローラが、H∞コントローラである。一実施の形態では、ハイブリッド制御システムで、単純化されたMBPC制御ループおよび堅牢な自動チューナを有する修正されたPIDループが使用される。MBPCは、主制御ループまたは外側制御ループとして機能し、PIDループは、スレーブ制御ループまたは内側制御ループとして使用される。
一実施の形態で、ハイブリッドカスケードMBPCを使用して、熱的プロセスリアクタを制御し、ここで、MBPCは、計画されたパドル制御セットポイント軌道と、パドルTCおよびスパイクTCに関する動的モデルの両方に従って、所望のスパイクTC制御セットポイントを生成する。熱的プロセスリアクタでは、ローカルシステムとして動作して、スパイク制御セットポイントの変化にすばやく追従することによって、PIDループが、要求されたスパイク制御セットポイントに達するために、ヒーターのパワーアクチュエータを制御するのに使用される。
PIDチューニングパラメータは、MBPCループに比較的弱く結合される。PID制御ループのサンプリング時間ts1は、MBPC制御ループのサンプリング時間ts2より短いことが好ましい。一実施の形態では、ts1が約1秒程度であり、ts2が約4秒程度である。一実施の形態では、動的モデルおよび静的モデルの両方に基づいて、PIDパラメータのチューニングが自動的に実現される。単一ループのMBPCと比較して、この制御方式のモデル次数および予測時間範囲(predictive time horizon)を著しく減らすことができると同時に、このモデルによって、実際のシステムの挙動が適切に記述され、予測される。一実施の形態では、モデルの導出が、ウェーハ処理の前に実行される。
一実施の形態では、期待される温度制御範囲[Tmin、Tmax]が、R個の温度副範囲([Tmin1、Tmax1]、[Tmin2、Tmax2]、...、[Tmin R、Tmax R]、ただし、Tmin=Tmin1、Tmax=Tmax R、かつTmax r-1=Tmin r)に分割される。これによって、各温度ゾーン内の動的挙動の適当な記述のために、線形動的モデルを使用することが可能になる。各副温度範囲および加熱ゾーンに対応して、2種類の動的線形モデルが、次式のように作成される。
Figure 2004164648
ここで、nは加熱ゾーン番号、rは温度副範囲、PdはパドルTCによって測定される温度、SpはスパイクTCによって測定される温度、Pwはシステムパワー出力、fnrおよびgnrは線形関数である。
一実施の形態では、式(1)の動的モデルが、MBPC制御およびソフトセンサ計算の両方に使用され、式(2)の動的モデルが、内側制御ループのソフトセンサ計算およびPIDパラメータ自動チューニングに使用される。
期待される温度制御範囲に対応して、静的多項式モデルが、次式のように作成される。
Figure 2004164648
ここで、hnは、静的多項式モデルである。一実施の形態では、静的モデルが、MBPCのリミッタ内で使用され、内側PIDパラメータ自動チューニングに使用される。
一実施の形態では、MBPC制御アルゴリズムによって、直観的なチューニングパラメータ(たとえば、ku、ks)が、制御則、軌道プランナおよびリミッタに組み込まれる。直観的なチューニングパラメータを使用して、動的制御性能と静的制御性能の両方を改善することができる。単純化されたMBPC制御構造および固定時間予測範囲によって、ウェーハ処理中のオンライン行列反転の必要性がなくなる。その結果、オンライン計算におけるオーバーヘッドが大幅に減る。この形で、ハイブリッドカスケードMBPC制御系アルゴリズムを、半導体製造産業で通常実際に使用されるマイクロプロセッサで実施することができる。
一実施の形態では、汎用軌道プランナをMBPC制御ループに追加して、温度制御セットポイント参照軌道を生成する。所望のランプレート(ramp rate)および温度範囲に基づいて、軌道プランナによって、温度範囲を2つの副範囲すなわち、高速ランプ(fast ramp)および低速ランプ(reduced ramp)に分割する。高速ランプ副範囲では、プランナによって、温度制御セットポイント参照軌道を生成して、MBPCが所望のランプレートを達成できるようにする。低速ランプ副範囲では、プランナによって、少なくとも1つの直観的チューニングパラメータが提供されて、所望の制御セットポイントに達するように温度ランプ速度が制御される。温度安定化時間およびオーバーシュートも制御される。これによって、異なるプロセスからのさまざまな温度制御要件を満たす柔軟な形がもたらされる。
温度ランプ範囲に、複数の温度副範囲が含まれる時に、MBPCは、その内部動的モデルを切り替え、その結果、ある瞬間に動作する動作モデルが、その瞬間の実際の温度副範囲に対応するようにする。一実施の形態では、MBPC制御ループに、ファジーロジックスイッチおよびファジー推論を追加して、ある温度副範囲から隣接する温度範囲に移る時の動的モデルの滑らかな推移を実現する。この場合に、ファジー推論は、制御システムに余分な混乱を引き起こさせることなく、ある動的モデルから他の動的モデルへ漸進的に変化させるのに効果的である。
一実施の形態で、静的モデルに基づく静的リミッタが、MBPCループ内に組み込まれる。このリミッタは、さまざまな制御条件(通常、高速ランプ/低速ランプ、ボート入/出、異なる負荷またはガスフローなど)の下で内側制御ループの正しい制御セットポイントをMBPCが生成するのを助ける。
一実施の形態で、内側制御ループのPIDコントローラに、パラメータ自動チューナおよび/またはアンチワインドアップ機能を設けて、PIDコントローラの堅牢性を高め、その使用法を単純化する。内側PIDは、MBPC制御ループによって生成されるスパイク制御セットポイントの変化に追従する。
一実施の形態では、ソフトウェア検出器および制御ロジックが、TC測定ハードウェア障害を検出するために含まれる。TCサンプリング障害が発生した時には、検出器および制御ロジックによって、動的モデル計算に基づく関連するソフト温度センサがオンにされる。その後、ソフトセンサが、制御システム入力としての定位置で実際のTCを置換するのに使用される。これによって、リアクタの動作がシャットダウンされなくなり、1つまたは複数の温度測定ハードウェアに係る障害の検出に起因するバッチプロセス全体のロスが減少する。
本発明に係る好ましい実施の形態を、以下に図面を参照して説明する。図1は、通常の垂直(縦型)サーマルリアクタ100を示す断面図である。垂直サーマルリアクタ100には、プロセス領域を区切る長い石英または炭化ケイ素のプロセスチューブ(反応管)110が含まれる。ウェーハボート150に収容され、支持および熱分離のためにペデスタル151に配置されたウェーハのバッチ152が、プロセスチューブ110に挿入される。プロセスチューブ110には、プロセスガスの入口111および出口112が含まれる。プロセスチューブ110は、複数のゾーンの電気加熱コイル121〜125を有する加熱エレメント(発熱体)120によって囲まれている。
各ゾーンには、1つまたは複数の温度センサが設けられている。図1では、各ゾーンに、スパイク熱電対(TC)130および「プロファイル」またはパドル熱電対(TC)140が設けられている。スパイクTC130によって、スパイク温度に対応するスパイクTC信号が生成される。パドルTCによって、パドル温度に対応するパドルTC信号が生成される。スパイクTC130は、プロセスチューブ110の外で、発熱体120の比較的近くに配置され、パドルTC140は、プロセスチューブ110の中で、比較的ウェーハの近くに配置される。
温度制御に電気抵抗発熱体120を使用する垂直リアクタシステム100は、電気抵抗発熱体120が熱を吸収せず、生成するだけなので、本来非線形系である。さらに、発熱体120、プロセスチューブ110およびウェーハバッチ152の大きい物理的体積と、比較的高い熱量または熱容量に起因して、垂直サーマルリアクタ100は、長い時定数または遅延時間を示す。これは、加熱コイル121〜125の1つまたは複数のパワー入力を増やした後に、より高い温度での新しい定常状態が達成されるまでに、比較的長い時間を要することを意味する。リアクタ温度が、制御セットポイントより高い時には、コントローラではなくリアクタの設計および温度に依存するレートでの冷却が発生する。オーバーシュートの場合には、システムが制御セットポイントまで冷えるのに、特に自然冷却レートが低い低温で、比較的長い時間を要する。
歴史的に、サーマルリアクタの温度は、PID制御アルゴリズムを使用して、スパイクTC制御ループによって制御されてきた。パドルTCを使用して、静的モードで炉をプロファイリングすることによって、静的条件の下でのパドルTCとスパイクTCとの間の関係が確立され、プロファイルテーブルに格納された。そのようなプロファイリング手順が、定期的な間隔でまたは保守の後に実行されていた。パドルTCは、実際のウェーハ温度に関するより関係のある読みを与えるので、時間のかかるプロファイリング手順を不要にする、パドルTC制御ループを使用することが望まれてきた。
図2は、従来のパドルTC制御ループを使用する制御システム200を示すブロック図である。制御システム200では、加算器210によって、パドル制御セットポイントPdsetおよび実際のパドル温度Pdを基に誤差信号EsPdが計算される。誤差信号EsPdに基づいて、PIDコントローラ220によって、パワー出力信号Pwが生成され、このパワー出力信号Pwは、図示されていないサイリスタユニットを介して、加熱エレメント230に提供される。チューブおよびウェーハは、符号240によって示されている。ディジタルフィルタ260を含むフィードバックループ250によって、実際のパドルTC信号が加算器210に提供される。しかし、図2に示されたものなどのパドルTC制御ループは、非常に強い非線形の挙動および長い時定数を有するので、動的条件の下での許容可能な性能を有する安定した制御ループを達成することは、困難または不可能である。
図3は、従来のカスケードコントローラ300を示すブロック図である。従来のカスケードコントローラ300では、スパイク温度を入力として用いて、内側のスパイク温度制御ループPIDコントローラを使用して、加熱エレメントを制御する。パドルTC温度を入力として用いる追加の外側ループは、スパイク温度制御ループに与えられる時間依存のセットポイントを生成するのに使用される。カスケードコントローラ300では、スパイクTC温度が、内側ループ370内のPIDコントローラ340によって制御される。
誤差信号EsSpが、加算器330によってPIDコントローラ340に提供される。誤差信号EsSpは、スパイクTC制御セットポイントSpsetおよび実際のスパイク温度Spに基づく信号である。PIDコントローラ340は、パワー出力信号Pwを提供し、このパワー出力信号Pwは、チューブおよびウェーハ360を加熱するために、図示されていないサイリスタユニットを介して加熱エレメント350に提供される。追加された外側の制御ループ380内の第2PIDコントローラ320によって、スパイク制御セットポイントSpsetが生成される。第2PIDコントローラ320は、加算器310からパドル誤差信号EsPdを受け取り、このパドル誤差信号EsPdは、パドル制御セットポイントPdsetおよび実際のパドル温度Pdを基に計算される。フィードバックループ370および380には、それぞれスプリアスデータを除去するディジタルフィルタ371および381が含まれる。
通常の熱的プロセスは、スタンバイ温度で開始され、この温度で、ウェーハがサーマルリアクタにロードされる。ロードの後に、サーマルリアクタを、酸化、アニール、ドライブ、またはCVDの所望の処理温度まで加熱する。処理を行った後に、サーマルリアクタが、スタンバイ温度まで冷却され、ウェーハがアンロードされる。スタンバイ温度、ランプアップ/ダウンレート、および処理温度が、適切な範囲にセットされた場合に、許容可能な温度制御性能を、カスケードPIDコントローラ300を使用することによって、処理中に達成することができる。
しかし、カスケードPIDコントローラ300の性能を最適化するために、PIDパラメータなどのコントローラパラメータをチューニングするために、かなりのオフライン時間が必要になることがしばしばである。カスケードコントローラのチューニングは、科学よりも技術であることがしばしばであり、通常は非常に時間がかかる。最適なチューニングパラメータの選択は、制御されるプロセスの動的挙動、コントローラの目的、およびチューニング手順のオペレータによる理解を含むさまざまな要因に依存する。カスケードPIDコントローラについて、内側ループおよび外側ループのチューニングが、強く結合され、これによって、チューニングの複雑さが増える。
PIDパラメータのチューニングのほかに、長時間の遅延を扱うために、カスケードPIDコントローラの外側のまたは「プロファイル」PID制御ループによる制約がある。そのために、「プロファイリングテーブル」を必要とする。プロファイリングテーブルの生成には、長時間のオフライン機器の時間を必要とする手順が含まれる。オフライン時間は、有用なウェーハ処理に使用することができないので、製造コストが高くなる。
最近の制御技術およびシステム識別の進歩に伴って、たとえばMBPC(Model-Based Predictive Controller)などのより高度な制御システムが開発された。しかし、これらのより高度な制御方法は、しばしば、計算が複雑であり、通常は、オンライン処理中にマトリックス反転を必要とする。
図4は、MBPC410を含む単一ループ制御システム400を示すブロック図である。MBPC410は、入力としてパドル制御セットポイントPdsetを受け取る。MBPC410は、入力として、それぞれフィードバックループ440および450を介して、実際のスパイク温度Spと、実際のパドル温度Pdも受け取る。MBPC410によって、パワー出力信号Pwが生成され、このパワー出力信号Pwが、図示されていないサイリスタユニットを介して、チューブおよびウェーハ430を加熱する加熱エレメント420に供給される。フィードバックループ440および450には、それぞれディジタルフィルタ441および451が含まれる。スパイク温度の使用は、任意選択である。
MBPC410では、制御されるプロセスの複雑な動的モデルを使用して、オンライン最適制御を提供するために目的関数を最小化することによって、予測制御信号を計算する。MBPC410内では、チューニングが、カスケードPIDコントローラと比較してかなり簡単であり、MBPC410を、遅延時間に関して補償することができる。MBPC410では、制御されるシステムの制約の扱いが、概念上単純であり、多変数制御が、計算的には複雑であるが、概念上は簡単である。MBPC410は、通常は、動的モデルに依存するが、これは、従来のPIDコントローラでは不要であった。通常、MBPC410は、特に制約が検討される時に、比較的大量の計算リソースを必要とする。このことは、制御プロセッサが必要な計算リソースを提供できない時に、実用上問題を引き起こす可能性がある。
図5Aは、外側制御ループ内に外側ループコントローラ501、内側制御ループ内に内側ループコントローラ502を有するハイブリッドカスケードコントローラを示すブロック図である。外側ループコントローラ501は、加算器530の非反転入力に、内側ループコントローラ502の制御セットポイントを提供する。加算器530の出力は、誤差信号であり、これは、内側ループコントローラ502の制御入力に提供される。内側ループコントローラ502の制御出力は、装置509に提供される。装置509の1つまたは複数の内側ループセンサからのセンサ出力505が、フィルタ507の入力に提供される。フィルタ507からの出力が、加算器530の反転入力に提供される。
装置509の1つまたは複数の外側ループセンサからのセンサ出力506が、第2のフィルタ508の入力に提供される。第2のフィルタ508の出力が、外側ループコントローラ501の入力に提供される。フィルタ507および508を、省略することができる。一実施の形態では、内側ループセンサ(センサ出力505に対応する)が、装置509の第1部分503の1つまたは複数の動作パラメータを測定する傾向を有する。一実施の形態では、外側ループセンサ(センサ出力506に対応する)が、装置509の第2部分504の1つまたは複数の動作パラメータを測定する傾向を有する。一実施の形態では、第1部分503が、第2部分504よりも速く、内側ループコントローラ502の制御出力の変化に応答する。
一実施の形態では、センサ出力505が、センサ出力506に対応するセンサよりも比較的速いが、比較的低い精度で、ある所望のパラメータに応答する傾向があるセンサに対応する。一実施の形態では、センサ出力506が、センサ出力505に対応するセンサよりも比較的より遅いが、比較的正確に応答するセンサに対応する。したがって、一実施の形態では、センサ出力505を使用する内側ループコントローラ502が、装置509のある変化に比較的速いが比較的低い精度で応答することができる。
センサ出力506を使用する外側ループコントローラ501は、装置509のある変化に対して比較的遅いが、ある所望のパラメータに対して比較的正確に応答することができる。一実施の形態では、外側ループコントローラ501が、内側ループコントローラ502のセットポイントを生成して、装置509の制御特性を改善するように構成される。一実施の形態では、内側ループコントローラ502に、PIDコントローラなどの従来のコントローラが含まれる。一実施の形態では、外側ループコントローラに、予測型コントローラが含まれる。一実施の形態では、外側ループコントローラに、MBPCが含まれる。
図5Bは、外側制御ループでMBPC520、内側制御ループで従来のコントローラ540を使用する、ハイブリッドカスケード熱的プロセス装置コントローラ500を示すブロック図である。カスケードコントローラ500は、図5Aに示したハイブリッドカスケード制御システムの一実施の形態である。MBPC520は、入力としてパドル制御セットポイント温度Pdsetと、実際のパドル温度Pdを、フィードバックループ580を介して受け取る。一実施の形態では、フィードバックループ580に、ディジタルフィルタ581が含まれる。
MBPC520は、モデル計算のための入力として、入力572を介して実際のスパイク温度を受け取る。MBPC520は、出力として、スパイクTC制御セットポイントSpsetを計算する。加算器530は、スパイクTC制御セットポイントから、ディジタルフィルタ571によって提供される、フィードバックループ570を介して受け取られる実際のスパイクTC温度Spを差し引くことによって、スパイク誤差信号EsSpを計算する。スパイク誤差信号EsSpは、従来のコントローラ540に提供され、従来のコントローラ540は、パワー出力信号Pwを生成し、このパワー出力信号Pwは、チューブおよびウェーハ560を加熱するために、図示されていないサイリスタユニットを介して加熱エレメント550に供給される。内側制御ループのサンプリング時間ts1は、外側MBPC制御ループのサンプリング時間ts2より短いことが好ましい。一実施の形態では、ts1が1秒の範囲であり、ts2が4秒の範囲である。従来のコントローラ540は、PIDコントローラ、H∞コントローラなどを使用して実施することができる。
名前から分かるように、MBPC520は、制御される装置のモデルに基づく。熱的プロセスリアクタでは、MBPC520が、通常は、垂直サーマルリアクタの異なる熱ゾーンに対応する複数のモデルに依存する。最も単純なモデルは、式(3)に従って、定常状態条件の下で、スパイクTC温度とパドルTC温度との間の関係を表す、静的モデルである。一実施の形態では、静的モデルが、指定された温度範囲でのスパイクTC温度とパドルTC温度との間の関係を表す4次多項式モデルに基づく。
動的モデルでは、システムの動的応答が記述される。動的パドルモデルによって、式(1)によるスパイクTC温度の関数としてのパドルTC温度が与えられ、動的スパイクモデルによって、式(2)によるパワー出力およびパドルTC温度の関数としてのスパイクTC温度が与えられる。温度範囲を複数の温度副範囲に分割することによって、1組の線形動的モデルを得ることができる。これによって、必要な計算が単純になる。さまざまなモデルは、以下に説明するとおり、測定手順から実験的に獲得される。
図6は、ハイブリッド制御システム501を示すブロック図である。ハイブリッド制御システム501は、制御システム500の実施の形態である。制御システム501では、従来のコントローラ540が、PIDコントローラ542に基づいている。
図7は、垂直サーマルリアクタ100が、ハイブリッドカスケード制御システム501によって制御される、垂直サーマルリアクタシステム700を示す図である。垂直サーマルリアクタシステム700では、プロセスチューブ110が、複数ゾーンの電気加熱コイルを含む加熱エレメント120によって囲まれている。各ゾーンには、スパイクTC130および「プロファイル」またはパドルTC140が設けられている。スパイクTCは、処理チューブの外側で加熱エレメントの比較的近くに配置され、パドルTCは、チューブの内側で比較的ウェーハの近くに配置されている。
パドル制御セットポイントPdsetおよび実際のパドル温度Pdが、MBPC720(MBPC520の実施の形態に対応する)に供給され、MBPC720によって、スパイク制御セットポイントSpsetが生成される。加算器730によって、スパイク制御セットポイントSpsetと、インバータ732を介して加算器730に提供される実際のスパイク温度とを使用して、スパイクTC誤差信号が計算される。PIDコントローラ740によって、スパイク誤差信号を使用してパワー出力信号が生成され、このパワー出力信号は、加熱エレメント120を制御するパワーを提供するために、パワーアクチュエータ750に提供される。
1.モデル識別のための実験設計およびデータ収集
識別テスト設計は、優れたモデル識別およびMBPC設計において重要な役割を演じる。識別方法の正しい実践では、MBPCモデル識別のための単一変数のステップテストまたは有限インパルステストが使用される。これらのテストは、手動で実行される。これらの方法の利点は、システムの動的応答が、直観的な形で記述されることである。ステップテストまたは有限インパルステストの短所の1つが、これらのテストからのデータに、プロセスの多変数特性に関する十分な情報が含まれない場合があることである。その理由は、ステップ信号またはパルス信号によって、プロセスの十分な動的挙動が誘発されない場合があるからである。
上記のステップテストまたはインパルステストの第2の短所は、非常に時間がかかる可能性があることである。一般的な識別方法の上で述べた短所を避けるために、MBPC720の識別手順中に、内側ループPID制御ループ740が積極的に使用される。モデル識別中に使用されるPID定数は、垂直サーマルリアクタの前の制御経験に基づく値である。その場合に、この内側ループPIDコントローラ740を使用して、モデル識別およびデータ収集のレシピを使用することによって、システム識別を自動的に実行することができる。システムの動的挙動を誘発する信号は、実際の制御信号であり、条件は、実際のプロセス条件に似ている。この場合に、PIDコントローラ740は、スパイクTC温度をその限界内に保つのに役立つ。これらの内側閉ループデータに基づくモデルによって、システム700の性能および安定性マージンが強化される。
一実施の形態で、モデリングデータ収集が、図8に示された制御方式を使用することによって達成される。図8では、モデル識別用の温度制御セットポイントが、軌道計画ユニット800に提供され、軌道計画ユニット800によって、たとえば制御されるランプアップレートなど、時間依存スパイクTC制御セットポイント温度Spsetが作成される。加算器810によって、スパイク制御セットポイントSpsetと、ディジタルフィルタ851を備えるフィードバックループ850を介して受け取られる実際のスパイク温度を使用して、スパイク誤差信号Esが計算される。さらに、PIDコントローラ820によって、スパイク誤差信号Esを使用してパワー出力Pw信号を計算し、このパワー出力Pw信号が、チューブおよびウェーハ840を加熱するために、図示されていないサイリスタユニットを介して加熱エレメント830に供給される。
垂直サーマルリアクタに関する例の識別制御プロセスシーケンス(すなわち、「レシピ」)は、室温で開始され、図8に示した構成を有するPIDコントローラを使用して、10℃/分のランプレート(すなわち、時間に対する変化レート)でランプアップし、約45分間、200℃、400℃、600℃、800℃および最後に1000℃でスパイク温度を安定化する。スリップを防ぐために、最後のステップ中のランプレートは、5℃/分である。モデル識別およびデータ収集レシピの実行中に、得られた実際のスパイク温度信号およびパドル温度信号(それぞれ図9〜11に図示)およびパワー出力信号を、モデリングのために記録し、保管する。
レシピから収集されたデータを、モデル識別およびデータ収集レシピの5つの安定化温度に対応する5つのデータサブセットに分割する。各サブセットは、ランプアップ期間の初めから始まり、次のランプアップ期間の直前で終わる。
データが開ループ制御で収集される従来技術のモデル識別方法とは違って、本発明では、データが、図7および8に示された閉ループ制御で収集される。したがって、収集されたデータは、通常は、スプリアスデータがなく、したがって、スプリアスデータ点を除去するのに必要なデータの前処理は、ほとんどまたは全く不要である。
2.モデルの構造
2.1静的モデル
ゾーンごとに、静的モデルを導出する。識別レシピの安定化温度ごとに、スパイクTC温度およびパドルTC温度の両方について少なくとも1つの値を抽出する。図9〜11に示した例では、5つの、これらの値の対を使用して、例えば多項式当てはめ、最小二乗当てはめなどのパラメータ推定技法を使用して、静的モデルのパラメータを推定する。一実施の形態では、静的モデルのモデル式は下記のとおりである。
Figure 2004164648
ここで、nはゾーン番号、snqは判定される静的モデルパラメータ、qは静的モデルの次数である。式(4)によるモデルによって、所望の温度範囲におけるスパイク温度Spとパドル温度Pd間の関係が、適切に表わされる。
2.2 動的モデル
ゾーンごとに、スパイクTCおよびパドルTCの各データサブセットから動的モデルを導出する。これは、この例では、5つのゾーンおよび5つの温度副範囲の場合に、25個の動的パドル線形モデルおよび25個の動的スパイク線形モデルが使用されることを意味する。状況に応じて、任意の数の加熱ゾーンおよび温度副範囲を選択できることは、当業者に明白であろう。一実施の形態では、線形最小二乗アルゴリズムが使用される。動的線形モデルのモデル式は、次のようになる。
Figure 2004164648
ここで、nはゾーン番号、rは温度範囲番号、tは離散時間インデックス、anrlおよびbnrmはパドルモデルパラメータ、lおよびmはパドルモデルのモデル次数、cnrx、dnryおよびpnrzはスパイクモデルパラメータである。さらに、x、yおよびzは、スパイクモデルのモデル次数であり、enrpおよびenrsはモデル誤差または外乱である。通常、1次および2次の近似(m=1または2)が、式(5)のモデルに適当であるが、式(6)のモデルの次数は、通常は20以上(たとえばl=28)が適切である。
モデルの確認は、測定されたモデル出力と計算されたモデル出力の視覚的比較、シミュレーション、残差分析、相互相関分析などによって行うことができる。
3.モデル抽出の数学
静的モデルおよび動的モデルの両方のパラメータの抽出に使用される方法には、線形最小二乗問題(LLS)を解くことが含まれる。これは、いわゆる正規方程式を介するか、QR分解を介して行うことができる。QR分解を介する方法では、通常は、より多くの計算が必要になるが、数値的により安定している傾向がある。ほとんどの場合に、正規方程式を解くことによって、よりよい結果が与えられるが、次数が高い場合には、QR分解を使用する方が安全である。
LLS問題を解く方法を、以下に説明する。A・x=bと定義される連立方程式が与えられ、Aが行列であり、xおよびbがベクトルである場合に、線形最小二乗問題は、下式を最小にするベクトルxを見つけることになる。
Figure 2004164648

行列Aが正則である(すなわち、Aの逆行列が存在する)場合に、この問題は、一意の解を有する。
3.1 正規方程式を介するLLSの解法
LLS問題を解く直接の方法は、正規方程式を介する方法である。関数が最小値を持つ場合に、その最小値での導関数は0である。したがって、ψ(x)は、dψ(x)/dx=0であるか、
Figure 2004164648

である場合に最小値を有する。ここで、ATは、Aの逆行列である。これは、下式のように、いわゆるガウス正規方程式をもたらす。
Figure 2004164648

これらの式から、xを下式によって計算することができる。
Figure 2004164648
3.2 QR分解を介するLLSの解法
LLS問題を解くもう1つの方法が、QR分解を介する方法である。このアルゴリズムでは、行列Aが、直交行列Qおよび上三角行列Rの積として表される。
Figure 2004164648

行列AのQR分解は、Aの各列のハウスホルダ鏡映Hを計算することによって計算することができる。k番目の列のハウスホルダ鏡映Hkは、次のように計算することができる。
Figure 2004164648

ここで、aijは、行列Aの第i行第j列の要素、nは、列の数、Iは、単位行列である。
行列QおよびRは、次のように計算することができる。
Figure 2004164648
m行n列の行列Aについて、mがnより大きい場合に、上三角行列Rの最後のm−n行は、完全に0である。
行列AがA=QRとして表されるとすると、LLS分解を、次のように表すことができる。
Figure 2004164648
Qは直交行列であるので、式(18)のようになる。
Figure 2004164648

yおよびRは既知であるので、xを計算することができる。Rが上三角行列であるので、これは、単純に後退代入を介して行われる。例として、3×3行列の解を、下式に示す。
Figure 2004164648

この式は、一番下の行から始まる後退代入を介して解くことができる。
Figure 2004164648

QR分解を使用してLLS問題を解く時には、直交行列Qが、通常は明示的に計算されない。その代わりに、下記の初期条件でRおよびyを再帰アルゴリズムで計算する。
Figure 2004164648
次に、Rの列ごとに、ベクトルwを計算する。このベクトルを用いて、次式に従ってRおよびyを更新する。
Figure 2004164648
ここで、Rkは、Rの第k列である。これを、Rのすべての列について繰り返す。LLS問題の解は、下で説明するように、後退代入を介して計算することができる。
4.動的モデルの抽出
MBPCの動的モデル(式(5)および(6)に示されたもの)は、次式によって表すことができる。
Figure 2004164648
Figure 2004164648
Figure 2004164648

上記のように定義したモデル構造では、モデル次数と1組の入力データおよび出力データを与えれば、モデルのパラメータが、いわゆる損失関数を最小化することによって見つかる。しばしば使用される損失関数は、下記の二乗誤差の合計である。
Figure 2004164648
ここで、Nは、入力サンプルおよび出力サンプルの個数、εは、下記のように測定された出力と予測された出力の間の差として定義される予測誤差ベクトルである。
Figure 2004164648

式を単純にするために、次のように定義される行列ΦおよびベクトルYを使用する。
Figure 2004164648
損失関数は、次のようになる。
Figure 2004164648

ここで、θは、θnrpまたはθnrsと等しい。
この損失関数の最小化は、線形最小二乗問題を解くことによって達成することができる。
5.静的モデルの抽出
式(4)の静的モデルのパラメータは、入力データおよび出力データのグループを使用する多項式当てはめによって得られる。したがって、式(4)を、次のように書き直すことができる。
Figure 2004164648

ここで、kは、入力および出力のシーケンスのk番目の値である。
識別問題を、下記のように定式化することができる。入力信号および出力信号Spn=[Spn(1)、Spn(2)、...、Spn(k)]T、Pdn=[Pdn(1)、Pdn(2)、...、Pdn(k)]Tと、モデル次数qを与えられて、パラメータの適当な値Sn=[snq、...、sn1、sn0Tを見つける。まず、バンデルモンド行列Vを構成する。
Figure 2004164648

次に、下記の最小二乗問題を解くことによって、パラメータを推定する。
Figure 2004164648

この式は、次のように表すことができる。
Figure 2004164648

ここで、識別問題が、線形最小二乗問題になり、したがって、多項式あてはめのパラメータは、次式として計算することができる。
Figure 2004164648

代替案では、QR分解アルゴリズムを使用して、多項式当てはめのパラメータを見つけることができる。

モデルの確認は、測定されたモデル出力と計算されたモデル出力の視覚的比較、シミュレーション、残差分析、相互相関分析などによって行うことができる。
6.MBPC構造
図12は、図5に示したMBPC520に対応するMBPCの一実施の形態に係る内部構造を、MBPC1200として詳細に示す。MBPC1200には、MBPCアルゴリズムモジュール1230、軌道計画モジュール1220、MBPC出力ファジー推論モジュール1240およびMBPC静的モデルリミッタ1250が含まれる。MBPCアルゴリズムモジュール1230には、式(5)の動的モデルに基づく実際のモデリングを実行するモデリングモジュール1231およびオプティマイザモジュール1232が含まれる。
MBPC1200への入力は、パドル制御セットポイント温度Pdsetおよび実際のパドル温度Pdである。パドル制御セットポイント温度は、軌道計画モジュール1220に供給され、実際のパドル温度Pdは、過去の入出力を格納するためにメモリ1210に提供される。メモリ1210によって、MBPCアルゴリズムモジュール1230への入力が提供される。モデルに関する追加入力に、実際のスパイク温度が含まれる。軌道計画モジュール1220によって、予測範囲に分布するN個のパドル制御セットポイントPdset(1、...、N)が生成され、ここで、Pdset(1)は、現在の瞬間の制御セットポイントであり、Pdset(N)は、最も遠い将来の予測制御セットポイントである。これらの制御セットポイントPdset(1、...、N)が、加算器1222の第1入力に提供される。
さらに、モデリングされるパドル値P〜dfr(1、...、N)は、MBPC制御アルゴリズムモジュール1230による出力として提供されるが、信号線1233を介して加算器1222の第2入力に提供される。加算器1222によって、誤差信号Es(1、...、N)が計算され、この信号は、MBPCアルゴリズムモジュール1230のオプティマイザモジュール1232に提供される。オプティマイザモジュール1232によって、制約1236を使用して式(35)によって表されるコスト関数1235を最小にすることによって、モデル出力が最適化される。モデリングされた予測パドル制御セットポイント温度P〜dfr(1、...、N)と、軌道プランナ1220からの実際のパドル制御セットポイント温度Pdset(1、...、N)の間の最小二乗誤差が、予測範囲にわたって最小化される。予測パドル制御セットポイント温度は、予測値が実際の値に接近するように、外乱モデル(式(35)の最後の項)を使用することによって最適化される。
スパイク訂正値ΔSpを、式(45)に従って計算する。モデリングされる値P〜dfr(1、...、N)を、メモリ1210に提供する。スパイク訂正値ΔSpを、MBPCアルゴリズムからスパイク出力計算モジュール1212に提供して、式(46)に従って、モデリングされるスパイク制御セットポイントSpset(1)を計算する。モデリングされるスパイク制御セットポイントSpset(1)を、MBPC出力ファジーイ推論モジュール1240に提供する。モデリングされるスパイク制御セットポイント値が、出力リミッタ1250に提供され、出力が、式(54)に従って制限される。これらのアルゴリズムは、下で詳細に説明する。
6.1 MBPCアルゴリズム
式(5)として表した動的線形モデルに基づいて、予測制御アルゴリズムによって、次式で定義されるコスト関数Jを最小にすることによって、制御戦略ΔSpset(t)を計算する。
Figure 2004164648

ここで、NおよびNuは、予測範囲であり、kuおよびksは、重みパラメータであり、Pdset(t+k)は、軌道プランナによって生成されるk番目のパドル制御セットポイントである。さらに、P〜d(t+k|t)は、時刻tのk番目のモデル予測出力であり、下記の2つの寄与の組合せ結果とみなすことができる。
Figure 2004164648

ここで、P〜dfr(t+k|t)は、自由応答であり、P〜dfo(t+k|t)は、強制振動応答である。これらの間で、P〜dfr(t+k|t)を、次式として式(6)から直接に計算することができる。
Figure 2004164648

ここで、
Figure 2004164648

は、外乱モデル出力であり、
Figure 2004164648

である。
ここで、次の式(38)が成立する。
Figure 2004164648

ここで、giは、式(5)からのモデルのモジュールステップ応答の係数であり、
Figure 2004164648
として得ることができる。ここで、ajおよびbjは、式(5)からの係数である。

行列表記を使用することによって、式(38)、(36)および(35)を、下式のように、表すことができる。
Figure 2004164648

ΔSpに関してJを最小化する、すなわち
Figure 2004164648

によって、ΔSpが、最適の解を示す。
Figure 2004164648

ここで、Iは単位行列であり、反転される行列(kuTG+ksI)は、Nu×Nuの次元を有する。Nuの値は1である必要はないが、Nu=1である時に式(43)が、制御則として単純化されることに留意することが有益である。
Figure 2004164648

式(44)に式(39)を代入すると、次式が得られる。
Figure 2004164648

一実施の形態で、MBPCによって、「リシーディングホリズン」(receding horizon)制御原理が使用され、この原理では、最初の要素ΔSp(t|t)だけが、MBPC出力の計算に必要である。
Figure 2004164648

次のサンプリングの瞬間(t+1)に、この手順全体が繰り返される。
6.2 軌道計画
パドルTC制御セットポイントに接近する所望の速度を制御するために、軌道プランナを使用する。一実施の形態では、実際のパドル温度Pdが、所望のパドル制御セットポイントPdwから範囲δ以内に接近する時に、軌道プランナによってランプレートが下げられる。
Figure 2004164648

ここで、rpは所望のランプレート、δは安定化範囲、αは軌道参照時定数である。軌道参照の例を図14に示す。δおよびαの両方が、ランプレートrpに関係し、これに依存し、次式によって別々に定義される。
Figure 2004164648

ここで、krは、比例定数であり、ksは、式(44)の制御則にも使用される安定化時間制御の定数である。
定数krおよびksの値をセットすることによって、パラメータδおよびαを選択し、調整して、さまざまな状況の下で最適の制御をもたらすことができる。図14から分かるように、ksをチューニングすることによって、異なる軌道が達成され、これによって、コントローラの積極性を制御する自然な形がもたらされる。ksを増やすことは、αを増やすことに似ており、低速であるがより堅牢なコントローラにつながる。したがって、ksは、αよりも直接的で直観的な、システム安定化に関するチューニングパラメータである。同様に、krは、δよりも直接的で直観的な、システム安定化に関するチューニングパラメータである。
6.3 ファジー論理を使用することによるMBPC出力推論
所望の温度レベルへの温度ランプアップ/ダウンの制御中に、特に定義された温度副範囲の縁に近い時に、温度が、複数の異なる温度副範囲を横切る場合がある。MBPCは、ある温度副範囲に有効な動的モデルから、別の隣接する温度副範囲に有効な動的モデルに切り替える必要がある。一実施の形態では、ファジー論理ソフトウェアアルゴリズムを使用して、MBPCが、モデルの間で切り替える必要がある時に、制御システムに外乱を導入することなく、その出力が滑らかな推移を有することを保証する。
ファジー集合は、図15に示されているように定義される。高木/菅野のファジールールフォーマットによれば、このファジー規則は、次のように記述される。
1:IF パドルTCが温度副範囲Smin内にある:Sp1 set(t)=Spr1(t)
R2:IF パドルTCが温度副範囲S2内にある:Sp2 set(t)=Spr2(t)
...
m:IF パドルTCが温度副範囲Smax内にある:Spm set(t)=Sprm(t)
ここで、Smin、S2、...、Smaxは、図15で定義されたファジー集合であり、Sprmは、異なるモデルからのMBPC出力式(46)の明確な(crisp)値である。
ファジー推論およびCOA(center of area)非ファジー化演算子を使用することによって、MBPCの出力を、次式として計算することができる。
Figure 2004164648

ここで、nはゾーン番号、mはファジールール番号、Spn set(t)はゾーンnのスパイク制御セットポイント、μi(i=1、2、...、m)は、図10で定義されたファジーメンバシップ関数であり、数学的には次式によって表される。
Figure 2004164648

ここで、[Tmin、Tmax]は、所望の温度制御範囲であり、ΔTは、メンバシップ関数の特性を表すパラメータである。
Figure 2004164648

ここで、j=2、...、m−1は、副温度制御範囲であり、T1=Tminである。
Figure 2004164648
6.4 MBPC出力リミッタ
ハイブリッドカスケードMBPCおよびPID制御方式は、内側ループ処理変化性の外乱効果が減るという点で、単一ループ系に対する重要な利点を有する。しかし、そのような方式は、いくつかの概念的な問題が示され、内側ループPIDが、MBPCによって生成される制御セットポイントに追従するのに十分に高速でない場合に、貧弱な動的性能しか得られない可能性がある。さらに、リアクタシステムが変更されるか、外乱を与えられる(たとえば、ボート入/出、リアクタのドアが開いている時、異なるランプレートおよびロードサイズなど)場合に、モデルの不一致が現れる可能性がある。これらの場合に、MBPCが、正しく機能するために、その制御努力の限度を知る必要があるという事実から、概念的な問題が生じる。これらの問題を扱うために、静的モデルに基づくリミッタをMBPC制御ループに追加する。リミッタは、次式によって定義される。
Figure 2004164648

ここで、Spnは式(30)によって計算され、ΔTはモデルの出力不一致を補償する調整可能な温度定数であり、kuは制御則の式(45)でも使用されるチューニングパラメータである。kuをチューニングすることによって、温度の均一性を改善することができる(図20に図示)。
図16から、パドルTCとスパイクTCとの間の動的関係および静的関係の両方が、異なる温度レベルで変化することがわかる。動的関係は、特に低温の範囲で、静的関係と異なる。これらの差は、サーマルリアクタの温度非線形性から生じる。
式(54)を使用することによって、システムの非線形性および外乱によって引き起こされる不確定要因が、MBPC制御ループ内で制限され、これによって、MBPCが、内側PID制御ループにとって適度な制御セットポイントを必ず生成できることが保証され、ハイブリッドカスケードMBPC制御システムの安定性、制御マージン、および堅牢性が高まる。
7.PID設計
PIDループは、外側MBPC制御ループと協調して働く内側制御ループである。PIDコントローラのチューニングパラメータ(たとえば制御利得)は、垂直サーマルリアクタにおける蓄積された制御の経験および開ループ識別分析に基づくものである。PIDコントローラは、モデリング(図8)および通常の制御(図6、18および19)の両方に使用される。図13は、PIDコントローラの構造を示すブロック図である。PIDアルゴリズムは、数学的には次式によって表される。
Figure 2004164648
ここで、
Pw(t):パワー出力
δ:比例帯
s(t):Spset(t)−Sp(t)=スパイク誤差
Spset(t):スパイクセットポイント
Sp(t):スパイクサンプリング温度
s:サンプリング周期(1秒)
i:積分時定数
d:微分時定数
s(t):Sp(t−1)−Sp(t)=スパイクTC変化レート
G:特殊なパワー制御用の全般的な利得
式(55)の右辺の第1、第2および第3の項は、比例動作、積分動作および微分動作を表している。
図13に、PIDコントローラ1300の構造を示す。この構造は、式(55)の構造を反映したものである。PIDコントローラ1300では、数学的に下式(57)によって表される誤差信号Esが、リミッタ1302に提供される。リミッタ1302を通過した後に、制限された誤差信号が、微分動作モジュール1320、積分動作モジュール1340および比例動作モジュール1360に提供される。微分動作モジュール1320内では、誤差信号の変化レートが、ブロック1322で判定される。その後、可変でありブロック1328で計算されるkdの値を使用して、ブロック1324で、微分動作が計算される。計算された微分動作は、数学的に式(59)によって表される出力リミッタ1326を通る。
積分動作モジュール1340では、積分定数kiを、ブロック1348で計算し、ブロック1342に適用する。ブロック1344で合計される。次に、計算された積分動作を、数学的に式(58)によって表される出力リミッタ1346に通す。一実施の形態では、微分動作モジュールの出力Doutも、フィードバック信号線1331によって示されているように、積分動作の計算の入力として使用される。このフィードバックの目的は、ランプアップ中およびランプダウン中の改善された制御を達成することである。微分動作モジュール1320および積分動作モジュール1340の両方の出力が、比例動作モジュール1360に提供される。比例動作モジュール1360では、ブロック1366で計算される比例定数kpを使用して、ブロック1362で比例動作を計算する。その後、出力信号Pwが、式(60)によって表される出力リミッタ1364を通過する。
PIDパラメータkd、kiおよびkpは、次式に従って、ブロック1328、1348および1368で計算される。
Figure 2004164648

ここで、
Figure 2004164648

であり、Spset(T)は、式(3)に従って静的モデルを使用することによって計算され、kp0、kp1、kp2、ki0、ki1およびki2は、システム利得および時定数に関連する所定の定数である。Tdsは、遅延時間である。
minおよびTmaxは、温度制御範囲の温度の上限および下限である。動的モデルおよび静的モデルを識別した後に、動的モデルおよび静的モデルの両方の分析を実行することによって、kp_max、kp_min、ki_max、ki_minおよびTdsを再判定し、修正することができる。与えられたサーマルリアクタについて、製造後または使用中における個々のリアクタに対するオンラインチューニングの追加なしに、これらのパラメータを設計段階および開発段階で事前に決定することができる。
アンチワインドアップおよび積分飽和に関して、下記の線形リミッタが、PIDコントローラ1300に含まれ、次式によって定義される。
Figure 2004164648
式(57)から(60)を使用することによって、内側ループPIDの動的応答が、安定し、所望の速度の応答がもたらされる。この制御結果は、図9および図10に示したモデリングデータセットから分かる。PIDコントローラによって制御される閉ループデータから導出される動的モデルに基づく外側ループMBPCの設計によって、温度システムの制御マージンおよび安定性が大幅に向上する。
8.TC測定障害の検出および修復
図1から、この制御システムが、2グループの温度測定センサすなわち、1)パドルTCおよび2)スパイクTCを有することがわかる。一実施の形態では、各グループに、5つのサンプリング回路が含まれ、各回路が特定の加熱ゾーンに対応している。バッチプロセス中に、温度制御システム内のソフトウェア検出器によって、TC測定値を監視し、障害があるか否かを判定する。1つまたは複数のTCハードウェア障害が検出された場合に、制御ロジックによって、TC入力を、実際のサンプリング測定値から、式(5)または(6)の動的モデルに基づいて計算される対応するソフト計算値に切り替える。ソフトセンサを使用することによって、ソフトセンサによる温度制御特性が、通常の温度制御と実質的に同等になる。これによって、リアクタの動作が、TC測定ハードウェア障害により、シャットダウンすることがなくなる。この手順によるプロセスは、バッチプロセス全体をロスすることなく継続することができる。
図18は、パドルTC障害に関するMBPC安全制御システムを示すブロック図である。この図は、図6に類似し、類似する部分が、類似する符号によって示されている。さらに、図18には、スパイク温度に基づいてパドル温度をモデリングするソフトセンサパドル1810が示されている。さらに、TC障害検出モジュールおよびスイッチ1820が設けられている。パドルTCの障害が検出された時には、そのパドルTCの実際のパドル温度が、加算器530に提供されず、スパイク値に基づくモデリングされたパドル温度が使用される。
図19は、同様に、スパイクTC障害に関するMBPC安全制御システムを示すブロック図である。図19には、ソフトセンサスパイク1910が示されており、これによって、パドル温度Pdおよびパワー出力Pwに基づいてスパイク温度がモデリングされる。さらに、TC障害検出およびスイッチ1920が設けられている。スパイクTCについて障害が検出された時には、そのTCの実際のスパイク温度が、加算器530の入力およびMBPC520に提供されず、その代わりに、モデリングされたスパイク温度が、その目的に使用される。
9.MBPCパラメータチューニング
外側ループMBPC制御を伴う内側ループPID制御の存在によって、制御システムが堅牢になり、多くの場合に、パラメータチューニングを設計段階中に実行することだけが必要になる。炉のシステムのわずかな変化に関して、多くの場合、追加のパラメータチューニングを省略することができる。動的モデルおよび静的モデルの両方が、内側ループPIDコントローラによって制御される閉ループデータから導出されるので、内側ループの低速化または高速化によって、外側MBPCループの性能が大幅に低下することはない。この場合、内側ループと外側ループのチューニングは、強くは結合されない。
内側ループの設計では、パラメータチューニングを自動的に実現することができる(式(56)に示されている)。制御の柔軟性に関して、外側MBPCループ設計で、動的ランプアップにおける温度の均一性(図20に図示)および安定化時間(図21に図示)の調整のために2つのパラメータ(kuおよびks)が設けられる。kuおよびksの両方が、式(45)によって表される制御則に組み込まれている。さらに、kuは、MBPC出力リミッタの式(54)にも含まれ、ksは、軌道プランナの式(49)に含まれる。kuおよびksの両方が、時定数のような挙動をする。したがって、kuまたはksの増減は、制御システムの時定数の変更に類似し、これによって、システムの応答が低速または高速になる。kuの主な影響は、ランプアップ中またはランプダウン中の動的温度の均一性に対する影響であり、ksの主な影響は、安定化時間制御に対する影響である。チューニングルールは、次のように要約し、単純化することができる。
・kuを増やすと、ランプアップ速度が遅くなる。
・kuを減らすと、ランプアップ速度が速くなる。
・ksを増やすと、安定化時間が長くなる。
・ksを減らすと、安定化時間が短くなる。
本発明を、特定の実施の形態に関して説明したが、当業者は、他の実施の形態を思い浮かべるであろう。例えば、ハイブリッドカスケードMBPCを使用することにより、垂直熱的プロセスリアクタだけではなく、多数の線形および/または非線形の装置を制御することができる。したがって、本発明には、請求項で定義される本発明に係る技術的思想から逸脱しない範囲の形態のすべてが含まれることを理解されたい。
スパイク熱電対およびパドル熱電対を有する垂直サーマルリアクタを示す断面図である。 従来の技術に係る単一ループのパドルPID制御系を示すブロック図である。 入れ子になったPID制御ループを使用する従来の技術に係るカスケードPID制御系を示すブロック図である。 従来の技術に係る単一ループのMBPC制御系を示すブロック図である。 外側ループと内側ループを有する入れ子になった制御ループを有するハイブリッドカスケード制御系を示すブロック図である。 熱的プロセス装置を制御する、MBPC外側ループと従来のコントローラの内側ループとを有する入れ子になった制御ループを有するハイブリッドカスケードMBPC制御系を示すブロック図である。 MBPCおよびPIDコントローラに基づくハイブリッドMBPC制御系を示すブロック図である。 ハイブリッドカスケードMBPC/PID制御系を有する垂直サーマルリアクタを示す図である。 モデル識別に使用されるMBPC構成を示すブロック図である。 図8に示したモデル構成用のMBPC構成による5つの異なる温度レベルでのステップでスパイクTC温度が制御されるモデリングサンプルデータセット1を示すグラフである。 図9に示したサンプルデータセット1に対応する、パドルTC温度の自由応答結果を示すモデリングサンプルデータセット2を示すグラフである。 図9に示したサンプルデータセット1に対応する、記録されたパワー出力を示すモデリングサンプルデータセット3を示すグラフである。 軌道プランナ、ファジー推論エンジンおよび静的モデルリミッタを有するMBPCの構造を示すブロック図である。 自動チューナおよびアンチワインドアップモジュールを有するPIDコントローラの構造を示すブロック図である。 パドルTC制御セットポイント軌道プランナによって使用される、温度制御セットポイント生成の原理を示すグラフである。 複数の動的モデル出力の間での滑らかな推移のためにファジー推論エンジンに使用されるファジー集合の定義を示すグラフである。 垂直サーマルリアクタの非線形性を示す、パドルTCとスパイクTCの間の動的関係および静的関係を示すグラフである。 温度制御される様々な範囲で、ランプアップの均一性および定常状態の温度変動が比較的小さいことを示す、ハイブリッドカスケードMBPCおよびPIDコントローラによる通常の制御結果を示すグラフである。 障害を発生したパドルTCからの信号が、スパイクTC入力に基づくソフトウェア信号に置換される、安全性制御系1を示すブロック図である。 障害を発生したスパイクTCからの信号が、パドルTC入力信号およびパワー制御信号に基づくソフトウェア信号に置換される、安全性制御系2を示すブロック図である。 ランプアップ中の温度の均一性を示すグラフである。 異なるシステムの安定化時間の達成に関するMBPCパラメータKsの影響を示すグラフである。
符号の説明
500 ハイブリッドカスケード熱的プロセス装置コントローラ
501 外側ループコントローラ
502 内側ループコントローラ
503 第1部分
504 第2部分
505 センサ出力
506 センサ出力
507 フィルタ
508 フィルタ
509 装置
530 加算器
570 フィードバックループ
580 フィードバックループ

Claims (44)

  1. プロセス室を有するサーマルリアクタの温度制御システムであって、
    従来のコントローラを含み、該従来のコントローラの入力としてスパイク温度センサ信号を使用する第1制御ループであって、前記サーマルリアクタの加熱エレメントへのパワーを制御する出力信号を提供し、前記スパイク温度センサが前記加熱エレメントの近くに配置され、前記プロセス室から離隔されて位置する第1制御ループと、
    モデルベース予測制御器(Model-Based Predictive Controller:MBPC)を含み、該MBPCの入力としてパドル温度センサ信号を使用する第2制御ループであって、前記第1制御ループ内の従来のコントローラの入力として使用されるスパイク温度制御セットポイントを出力として提供するとともに、前記パドル温度センサが加熱エレメントから離隔され、前記プロセス室の内部または近くに配置されている第2制御ループと
    を含んで構成されていることを特徴とする温度制御システム。
  2. 前記従来のコントローラが、H∞コントローラであることを特徴とする請求項1に記載の温度制御システム。
  3. 前記従来のコントローラが、PIDコントローラであることを特徴とする請求項1に記載の温度制御システム。
  4. 前記従来のコントローラが、前記PIDコントローラを含み、
    前記温度制御システムが、さらに、温度制御セットポイントと該温度制御セットポイントのランプレートとの関数として、1つまたは複数のPIDパラメータを調整するPID自動チューニング機構を含むことを特徴とする請求項3に記載の温度制御システム。
  5. 前記サーマルリアクタの1つまたは複数の安定化温度へのランプアップを実行するモデル識別レシピの実行中に、前記従来のコントローラを使用して閉ループ制御を適用する、モデル識別およびデータ収集モジュールを、さらに含むことを特徴とする請求項1に記載の温度制御システム。
  6. 前記MBPCが、前記サーマルリアクタの熱的応答特性を表す1つまたは複数の線形動的モデルを備えていることを特徴とする請求項1に記載の温度制御システム。
  7. 前記線形動的モデルが、1つまたは複数の温度副範囲における前記熱的応答特性を表すものであることを特徴とする請求項6に記載の温度制御システム。
  8. 第1温度副範囲で動作する第1線形動的モデルから、第2温度副範囲で動作する第2線形動的モデルへの比較的滑らかな推移を行わせるために、ファジー制御ロジックが適用されることを特徴とする請求項7に記載の温度制御システム。
  9. 前記MBPCが、一定の温度制御セットポイントに接近する時に、指定されたランプレートを自動的に下げる軌道プランナを含むことを特徴とする請求項1に記載の温度制御システム。
  10. 前記MBPCの出力が、静的モデルによって制限され、該静的モデルが、比較的定常状態条件におけるスパイク温度とパドル温度との間の関係を表すものであることを特徴とする請求項1に記載の温度制御システム。
  11. 前記静的モデルが、4次モデルであることを特徴とする請求項10に記載の温度制御システム。
  12. 障害を発生した温度センサからの信号が、少なくとも機能している温度センサから得られるデータからソフトセンサモジュールによって計算されるソフトセンサ信号によって置換されることを特徴とする請求項1に記載の温度制御システム。
  13. 前記ソフトセンサモジュールが、動的モデルを含むものであることを特徴とする請求項12に記載の温度制御システム。
  14. 装置を制御する従来のコントローラを含む第1制御ループであって、前記従来のコントローラが、前記装置の1つまたは複数の動作パラメータを感知するように構成された少なくとも1つの第1センサからセンサデータを受け取るように構成された第1制御ループと、
    モデルベース予測制御器(Model-Based Predictive Controller:MBPC)を含む第2制御ループであって、該MBPCが、前記従来のコントローラに制御セットポイントを提供するように構成され、さらに、前記装置の1つまたは複数の動作パラメータを感知する少なくとも1つの第2センサからセンサデータを受け取るように構成されている第2制御ループと
    を含んで構成されていることを特徴とする制御システム。
  15. 前記従来のコントローラが、H∞コントローラであることを特徴とする請求項14に記載の制御システム。
  16. 前記従来のコントローラが、PIDコントローラであることを特徴とする請求項14に記載の制御システム。
  17. 前記従来のコントローラが、線形コントローラであることを特徴とする請求項14に記載の制御システム。
  18. 前記従来のコントローラが、PIDコントローラを含み、前記制御システムが、さらに、前記制御セットポイントの関数として、前記PIDコントローラの制御パラメータを調整するように構成されたPID自動チューニング機構を含むことを特徴とする請求項14に記載の制御システム。
  19. 前記MBPCが、制御される所望の装置の特性を表す1つまたは複数の線形動的モデルを備えていることを特徴とする請求項14に記載の制御システム。
  20. 前記1つまたは複数の線形動的モデルの少なくとも1つが、制御セットポイント副範囲に対応することを特徴とする請求項19に記載の制御システム。
  21. 第1制御セットポイント副範囲で動作する第1線形動的モデルから、第2制御セットポイント副範囲で動作する第2線形動的モデルへの比較的滑らかな推移を生じさせるためのファジー制御ロジックを、さらに含むことを特徴とする請求項14に記載の制御システム。
  22. 前記MBPCが、前記制御セットポイントの変化の時間レートを制御するための軌道プランナを含むことを特徴とする請求項14に記載の制御システム。
  23. 前記MBPCの出力が、定常状態の条件における前記第1センサと前記第2センサとの間の関係を表すように構成された静的モデルによって制限されることを特徴とする請求項14に記載の制御システム。
  24. 前記静的モデルが、少なくとも2次のモデルを含むことを特徴とする請求項23に記載の制御システム。
  25. 少なくとも前記第2センサによって生成されるデータから、前記第1センサの出力を近似するソフトセンサモデルを、さらに含むことを特徴とする請求項14に記載の制御システム。
  26. 少なくとも前記第1センサによって生成されるデータから、前記第2センサの出力を近似するソフトセンサモデルを、さらに含むことを特徴とする請求項14に記載の制御システム。
  27. 前記第1センサが、熱的プロセスリアクタ内のスパイク温度センサを含み、前記第2センサが、前記熱的プロセスリアクタ内のパドル温度センサを含むことを特徴とする請求項14に記載の制御システム。
  28. 装置を制御する方法であって、
    第1コントローラが、前記装置の1つまたは複数の動作パラメータを感知するように構成された少なくとも1つの第1センサからセンサデータを受け取るように構成され、前記第1コントローラから前記装置に制御入力を提供するステップと、
    前記装置の1つまたは複数の動作パラメータを感知するように構成された少なくとも1つの第2センサからセンサデータを受け取るとともに、前記装置に関する制御プロセスシーケンスを受け取るように構成されたモデルベース予測制御器(Model-Based Predictive Controller:MBPC)によって計算された制御セットポイントを、前記第1コントローラに提供するステップと
    を含むことを特徴とする制御方法。
  29. 前記第1コントローラが、H∞コントローラであることを特徴とする請求項28に記載の制御方法。
  30. 前記第1コントローラが、PIDコントローラであることを特徴とする請求項28に記載の制御方法。
  31. 前記第1コントローラが、線形コントローラであることを特徴とする請求項28に記載の制御方法。
  32. 前記第1コントローラが、PIDコントローラを含み、前記制御方法が、さらに、前記制御セットポイントの関数として、前記PIDコントローラの制御パラメータを調整するステップを含むことを特徴とする請求項28に記載の制御方法。
  33. 前記装置の特徴を表す1つまたは複数の線形動的モデルを計算するステップと、前記1つまたは複数の線形動的モデルを前記MBPCに提供するステップとを、さらに含むことを特徴とする請求項28に記載の制御方法。
  34. 複数の制御セットポイント副範囲を選択するステップをさらに含み、それぞれの前記副範囲が、少なくとも1つの線形動的モデルに対応することを特徴とする請求項28に記載の制御方法。
  35. 第1線形動的モデルから第2線形動的モデルに推移するために、ファジーロジックを使用することを、さらに含むことを特徴とする請求項28に記載の制御方法。
  36. 前記制御セットポイントの変化のレートを制御するために、前記MBPC内で軌道をプラニングするステップを、さらに含むことを特徴とする請求項28に記載の制御方法。
  37. 比較的定常状態の条件下で、前記第1センサと前記第2センサとの間の関係を表すように構成された静的モデルに従って、前記MBPCの出力を制限することを、さらに含むことを特徴とする請求項28に記載の制御方法。
  38. 前記第1センサの障害を検出するステップと、
    前記第1センサを置換するために、前記ソフトセンサモデルが、少なくとも前記第2センサによって生成されたデータを使用して前記第1センサの推定を計算するソフトセンサモデルを使用するステップとを、をさらに含むことを特徴とする請求項28に記載の制御方法。
  39. 前記第2センサの障害を検出するステップと、
    前記第2センサを置換するために、少なくとも前記第1センサによって生成されたデータを使用して前記第2センサの推定を計算するソフトセンサモデルを使用するステップと
    をさらに含むことを特徴とする請求項28に記載の制御方法。
  40. 前記制御セットポイントが、熱的プロセスリアクタの温度制御セットポイントに対応することを特徴とする請求項28に記載の制御方法。
  41. 前記第1センサが、温度センサに対応することを特徴とする請求項40に記載の制御方法。
  42. 熱的プロセス室を有する装置を制御するシステムであって、
    従来のコントローラおよび従来のコントローラの入力としての第1センサ信号を含む第1制御ループであって、プロセス室内の動作パラメータを調整するためにプロセス室外のアクチュエータを制御する出力信号を提供するとともに、第1センサが、動作パラメータを測定するように構成され、前記第1センサが、前記アクチュエータの近くに配置され、前記プロセス室から離隔されて位置する第1制御ループと、
    モデルベース予測制御器(Model-Based Predictive Controller:MBPC)を含み、該MBPCの入力として第2センサ信号を使用する第2制御ループであって、前記第1ループ内の前記従来のコントローラの入力として使用される出力信号を提供し、第2センサが、動作パラメータを測定するように構成され、かつ、前記アクチュエータから離隔され、前記プロセス室の内部または付近に配置されている第2制御ループと
    を含んで構成されていることを特徴とする制御システム。
  43. 前記プロセス室が熱的プロセス室であり、前記第1センサおよび前記第2センサが温度センサであり、前記アクチュエータが熱源であり、前記装置を制御することが、前記熱的プロセス室の温度を制御することであることを特徴とする請求項42に記載の制御システム。
  44. 熱的プロセス装置を制御するシステムであって、
    スパイク熱電対センサフィードバックを使用するとともに、制御セットポイントに対応する装置の閉ループフィードバック制御手段と、
    少なくとも1つのパドル熱電対センサからの少なくともセンサデータおよび制御プロセスシーケンスから前記制御セットポイントを計算するように構成されたモデルベース予測制御器(Model-Based Predictive Controller)と
    を含んで構成されていることを特徴とする制御システム。
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