JP2003263890A - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

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JP2003263890A
JP2003263890A JP2002060640A JP2002060640A JP2003263890A JP 2003263890 A JP2003263890 A JP 2003263890A JP 2002060640 A JP2002060640 A JP 2002060640A JP 2002060640 A JP2002060640 A JP 2002060640A JP 2003263890 A JP2003263890 A JP 2003263890A
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Takayasu Hirai
敬康 平井
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Ricoh Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 回路面積及び配線面積の増大を伴わず、複数
のアドレスに対し同時にアクセス可能である半導体記憶
装置を提供する。 【解決手段】 各メモリセルの行選択がワードラインと
分割ワードラインの二段階に分けて行われる分割ワード
ライン方式の半導体記憶装置において、アドレス入力を
X[i:0],Y[j:0],Z[k:0]の3系統で
指定するとともに、分割ワードラインセレクタを選択す
る選択信号として2系統を設定し、列方向に並ぶ分割ワ
ードラインセレクタに対して、2系統の選択信号をそれ
ぞれ1行ずつ交互に接続して、2系統の選択信号の経路
のうちの1系統のみをイネーブルとすることにより、分
割ワードラインセレクタを選択する。そして、上記選択
信号を装置内で計8系統イネーブルとすることにより、
8アドレスに同時にアクセス可能である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体記憶装置、
特に、複数のアドレスに対して同時アクセスが可能な半
導体記憶装置に関する。
【0002】
【従来の技術】デジタルカラーコピア等のデジタル画像
出力装置では、一般的に、読み込み部からR(赤),G
(緑),B(青)のデータとして画像が取り込まれ、印
刷部に対してC(シアン),M(マゼンタ),Y(イエ
ロー)のデータとして出力される。このため、デジタル
画像出力装置での画像処理においては、画像データに対
して、RGB系の色空間からCMY系の色空間への座標
変換処理が施される。この座標変換処理に際しては、ス
キャナの入力特性とプロッタの出力特性とを考慮する必
要があり、座標変換値が単純な計算では求められないこ
とから、従来、3次元ルックアップテーブル(以下、L
UTと表記)を用いて座標変換処理を行うことが知られ
ている。しかしながら、LUTの構成には、R,G,B
データのビット幅次第で、膨大な容量が必要となる場合
がある。例えばR,G,Bデータがそれぞれ8ビット幅
で表現される場合、LUTの容量としては、2×28
×28ビットが必要となる。
【0003】従来では、LUTの容量を削減するため
に、色変換処理が次のように行なわれることが知られて
いる。図15に、従来の色変換処理部の構成を概略的に
あらわす。この色変換処理部90は、基本的な構成とし
て、色変換データメモリ領域91と、補正演算部92と
を有している。色変換データメモリ領域91には、あら
かじめ、R,G,Bの上位4ビットをアドレスとして、
そのアドレスに対応するC,M,Yのデータが書き込ま
れている。なお、色変換処理部90には、C,M,Y変
換用に3領域が用意されており、この中の色変換データ
メモリ領域91が、それぞれC変換、M変換あるいはY
変換用のLUTに相当する。
【0004】この色変換処理部90では、スキャナ(不
図示)からそれぞれ2進数で8ビットのデータとして取
り込まれたR,G,Bのデータのうち、まず、それぞれ
上位4ビットのデータを用いて、色変換データメモリ領
域91から、上位4ビットのデータにより指定されるア
ドレス及びそのアドレスを基準として選択される所定数
のアドレスに対応したデータが読み出される。このデー
タ読出しに際して用いる複数のアドレスを、アドレス
(z,y,x)を基準として選択する例を、図16に示
す。
【0005】R,G,Bの上位4ビットのデータにより
指定されるアドレス(z,y,x)を基準アドレスとし
て、C用メモリ領域にアクセスする場合には、まず、基
準アドレス(図16中の0に対応)と基準アドレスを構
成する値x,y,zのいずれか1つ若しくは複数に+1
加算されてなるアドレス(図16中の〜に対応)が
選択される。つまり、ここでは、基準アドレス(z,
y,x)を含み、1つの格子を規定するような8つのア
ドレスが選択される。そして、選択された複数のアドレ
スに対応するデータがC用メモリ領域から読み出され
る。読み出されたデータは、本来、R,G,Bデータの
上位4ビットのデータに基づくものであるため、Cのデ
ータについての大まかな情報である。
【0006】その後、更に詳細な情報を得るために、
R,G,Bのデータのうちの下位4ビットのデータが用
いられ、補正演算部92において補正演算処理が行われ
る。これにより、図16に示すような8つのアドレスで
規定される格子の中に本来含まれる、Cのデータについ
ての更に詳細な情報が得られ、色変換済みのデータが算
出される。
【0007】なお、M,Yのデータについても、Cのデ
ータと同様に、色変換処理部90において色変換処理が
施される。通常、このように、8つのアドレスに対応す
るデータが用いられるが、これに限定されることなく、
6アドレスのみが用いられる技術も知られている。
【0008】現状では、前述したような色変換データメ
モリ領域が、複数のRAMにより構成されることが一般
的である。図17に、従来知られたRAMの一例を概略
的に示す。ここでは、RAMとして、メモリセルの行選
択がワードラインと分割ワードラインとの二段階に分け
て断層的に行われる分割ワードライン方式のスタティッ
クRAMを取り上げる。
【0009】このRAM100は、互いに同じセル構造
を有する複数(第1〜第aブロック)のメモリアレイ1
01を有するもので、各メモリアレイ101では、c本
のワードラインWLが、それぞれ、分割ワードラインセ
レクタ102を通じて分割ワードラインDWLにつなが
り、各分割ワードラインDWLに対して、1ビット単位
をなすb個のメモリセル(図中、MCと表記)103が
接続されている。メモリセル103は、同じ列アドレス
毎に、その一端側でプリチャージ回路104に接続され
たビットライン対BL,BLBの間に接続されている。
また、ビットライン対BL,BLBは、列ゲート105
を通じてデータライン対DL,DLBと接続されてい
る。更に、データライン対DL,DLBは、センスアン
プ106及びライトバッファ107を通じて、データ入
出力回路108につながっている。
【0010】RAM100では、各メモリアレイ101
に含まれるメモリセル103に対するデータ読出し・書
込みを含む各種の動作が、外部信号(CEB,WEB,
ADD[h:0])に応じてアドレス入力回路111及
び内部制御回路112から行デコーダ109及び列デコ
ーダ110を介して送られるアドレス及び制御信号に基
づき制御される。これに関連して、列ゲート105の開
閉は、列デコーダ110から出力される選択信号G[a
‐1:0]によって制御される。動作時には、ゲート信
号として、第1〜aのメモリアレイ101に対し、G
[0]〜G[a‐1]まで1本ずつ入力される。そし
て、a本のゲート信号ラインのうちの1本がイネーブル
となることにより、a個のメモリアレイ101から1つ
のメモリアレイのみが選択される。
【0011】かかる構成を備えたRAM100では、各
メモリアレイ101について、1本の分割ワードライン
DWLに接続されるb個のメモリセル103で1ワード
単位となるため、総容量は、 (a×c)ワード×bビット となる。図17では、アドレス入力回路111の入力端
子としてADD[h:0]が規定されているが、その入
力端子をアドレスX[i:0],アドレスY[j:
0],アドレスZ[k:0]の3系統で指定することも
可能である(但し、hは2以上)。この場合には、例え
ば、アドレスXを行デコーダ109でデコードし、アド
レスY,Zを列デコーダ110でデコードする。
【0012】ここで、i=j=k=1である場合には、
c=4,a=16となるが、これに関連して、図18の
(a)に、それぞれ1ワード単位でブロック化され、
(a×c)ワードの記憶領域を構成するRAMに対する
アドレス割付の一例を示す。1ワードに対応する1つの
ブロック115は、図18の(b)に示すように、1個
の分割ワードラインセレクタ102と、それに接続する
b個のメモリセルを備えた分割ワードラインDWLとか
らなる構成に相当する。
【0013】更に、アドレス入力端子X[i:0],Y
[j:0],Z[k:0]から入力されるアドレスを、
(z,y,x)と表わす。アドレス(z,y,x)に基
づき、そのアドレスと、そのアドレスを構成する値z,
y,xのうちの1つ若しくは複数が+1加算されたアド
レスとからなる計8つのアドレス(図16参照)に対応
するデータを同時に使用する場合、i=j=k=1にお
いて、例えば(z,y,x)=(00,00,01)の
ときには、図18の(a)に示す0〜が付された計8
つのブロックに対応するデータが同時に必要とされる。
なお、(z,y,x)=(00,00,01)は、Z
[1]=Z[0]=0,Y[1]=Y[0]=0,X
[1]=0,X[0]=1を意味する。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図17
に示す構成を備えた従来のRAM100では、指定され
た8つのアドレスが互いに隣接したブロック115(図
18の(a)参照)に対応し、同じビットライン対B
L,BLBを共有するため、8アドレス分のデータを1
サイクルで同時に読み出すことができない。8アドレス
分のデータを同時に使用可能とするには、例えば、8つ
のRAMを用い、各RAMの同じアドレスに同じデータ
を書き込み、読出し時には各RAMのそれぞれ別アドレ
スからデータを出力させることが考えられるが、この場
合には、当然ながら、全体的なチップ面積が大きくな
る。
【0015】また、これとは別に、8アドレス分のデー
タを同時に使用可能とするために、それぞれ図18の
(a)に示すRAMの1/8の容量(a×c=4×2)
をもつ図17で示されるRAMを、8個用いる方法が考
えられる。図19の(a)は、図18の(a)に示す
X、Y、Zアドレスで指定されるブロック115を、a
×c=4×2の容量のRAM8個のブロック115に割
り振った図である。このように割り振れば、同時にアク
セスする8アドレスのブロック115が、8個のRAM
に1ブロックずつ配置される。例えば図19の(a)に
示す0〜は、図18の(a)に示す0〜に対応して
いる。これらの8個のRAMに対し、例えば0〜の組
合わせのような8アドレスに同時にアクセスするために
は、図19の(b)に示すように、8個のRAMの外部
の周辺回路でアドレスをデコードすればよい。
【0016】このような構成によれば、RAMの総容量
を変更することなく、8アドレス分のデータを同時に使
用することが可能である。しかしながら、この場合に
は、RAMを8つのブロック群に分割するに伴い、各ブ
ロック群には専用の制御回路が必要となり、RAM内部
の制御回路が重複する。また、8つのブロック群と外部
のアドレスデコーダとを接続するための配線領域も必要
となるため、全体的な面積が大きくなる。
【0017】更に、8つのアドレスに同時にアクセスす
るには、データを送受する配線の数が、入力用のみで8
×b本必要であり、出力用も合わせるとその倍となり、
配線面積は非常に大きくなる。
【0018】従来では、複数のアドレスに同時にアクセ
ス可能とする装置として、例えば特開平6−34926
8号に、一回の書込動作で、1つの行アドレスに属する
メモリセルのうち、連続する複数のメモリセルを同時に
かつ任意の範囲で書き込むことを可能とする半導体記憶
装置が開示されており、また、特開平5−113928
号公報には、アドレスを変換して、同一画素の複数種類
の表示要素に関するデータ若しくは複数の画素の同一種
類の表示要素に関するデータのいずれであっても、一括
アクセス可能とする画像メモリ装置が開示されている。
【0019】これらの先行技術は、いずれも複数アドレ
スに同時にアクセスすることが可能な記憶装置である
が、いずれの場合にも、1つの行アドレス上のアドレス
に対してしかアクセスすることができず、また、基準ア
ドレス(z,y,x)に基づき選択される複数アドレス
に対して同時にアクセスを行う本願発明とは目的が異な
る。
【0020】本発明は、回路面積及び配線面積の増大を
伴わず、複数のアドレスに対し同時にアクセス可能であ
る半導体記憶装置を提供することを目的とする。
【0021】
【課題を解決するための手段】本願の請求項1に係る発
明は、複数のメモリセルがマトリクス状に配列されてな
るメモリアレイと、該メモリアレイを構成するメモリセ
ルの各行毎に設けられたワードラインと、行方向に並ぶ
メモリセルを1ワード単位で接続する分割ワードライン
と、各分割ワードライン毎にワードラインに接続され、
該分割ワードラインを選択する分割ワードラインセレク
タと、メモリセルを各列毎に接続するデータ読出し又は
書込み用のビットライン対と、各ビットライン対に対し
て設定される列ゲートと、該列ゲートを介してビットラ
イン対に接続されるデータ伝送用のデータライン対と、
該データライン対に接続する書込み用のライトバッファ
及び読出し用のセンスアンプと、該ライトバッファ及び
センスアンプを介して上記データライン対に接続するデ
ータ入出力回路とを有しており、各メモリセルの行選択
がワードラインと分割ワードラインの二段階に分けて行
われる分割ワードライン方式の半導体記憶装置におい
て、アドレス入力がX[i:0],Y[j:0],Z
[k:0]の3系統で指定されるとともに、上記分割ワ
ードラインセレクタを選択する選択信号として2系統が
設定され、列方向に並ぶ分割ワードラインセレクタに対
して、2系統の選択信号がそれぞれ1行ずつ交互に接続
されて、2系統の選択信号の経路のうちの1系統のみが
イネーブルすることにより、上記分割ワードラインセレ
クタを選択するように構成されており、上記選択信号が
装置内で計8系統イネーブルすることにより、上記アド
レス入力X[i:0],Y[j:0],Z[k:0]に
より指定されるアドレス(z,y,x)に対して、
(z,y,x)(z,y,x+1)(z,y+1,x)
(z,y+1,x+1)(z+1,y,x)(z+1,
y,x+1)(z+1,y+1,x)(z+1,y+
1,x+1)で表わされる8アドレスに同時にアクセス
可能であることを特徴としたものである。
【0022】また、本願の請求項2に係る発明は、請求
項1に係る発明において、上記ライトバッファに入力さ
れる信号とデータ入出力回路との間、及び、上記センス
アンプから出力される信号とデータ入出力回路との間に
セレクタが設けられており、上記アドレス(z,y,
x)に対し、(z,y,x)(z,y,x+1)(z,
y+1,x)(z,y+1,x+1)(z+1,y,
x)(z+1,y,x+1)(z+1,y+1,x)
(z+1,y+1,x+1)で表わされる8アドレスの
入出力データが、上記セレクタを介して、常時、各アド
レスに1対1で対応したデータ入出力回路から送受され
ることを特徴としたものである。
【0023】更に、本願の請求項3に係る発明は、請求
項1又は2に係る発明において、上記アドレス(z,
y,x)のz,y,xのうちの1つ又は複数が許容され
る値の最大となる場合に、z+1,y+1又はx+1の
代わりに、それぞれ、z+1→0,y+1→0又はx+
1→0のアドレスを用いて、8アドレスに同時にアクセ
スすることを特徴としたものである。
【0024】また、更に、本願の請求項4に係る発明
は、請求項1〜3に係る発明のいずれか一において、8
アドレスに同時にアクセスするか、若しくは、1アドレ
スのみに同時にアクセスするかを選択する選択手段が設
けられていることを特徴としたものである。
【0025】また、更に、本願の請求項5に係る発明
は、複数のメモリセルがマトリクス状に配列されてなる
メモリアレイと、該メモリアレイを構成するメモリセル
の各行毎に設けられたワードラインと、行方向に並ぶメ
モリセルを1ワード単位で接続する分割ワードライン
と、各分割ワードライン毎にワードラインに接続され、
該分割ワードラインを選択する分割ワードラインセレク
タと、メモリセルを各列毎に接続するデータ読出し又は
書込み用のビットライン対と、各ビットライン対に対し
て設定される列ゲートと、該列ゲートを介してビットラ
イン対に接続されるデータ伝送用のデータライン対と、
該データライン対に接続する書込み用のライトバッファ
及び読出し用のセンスアンプと、該ライトバッファ及び
センスアンプを介して上記データライン対に接続するデ
ータ入出力回路とを有しており、各メモリセルの行選択
がワードラインと分割ワードラインの二段階に分けて行
われる分割ワードライン方式の半導体記憶装置におい
て、アドレス入力がX[i:0],Y[j:0],Z
[k:0]の3系統で指定されるとともに、上記分割ワ
ードラインセレクタを選択する選択信号として4系統が
設定され、列方向に並ぶ分割ワードラインセレクタに対
して、4系統の選択信号がそれぞれ4行おきに接続され
て、4系統の選択信号の経路のうちの1系統のみがイネ
ーブルすることにより、上記分割ワードラインセレクタ
を選択するように構成されており、上記選択信号が装置
内で計8系統イネーブルすることにより、上記アドレス
入力X[i:0],Y[j:0],Z[k:0]により
指定されるアドレス(z,y,x)に対して、(z,
y,x)(z,y,x+1)(z,y+1,x)(z,
y+1,x+1)(z+1,y,x)(z+1,y,x
+1)(z+1,y+1,x)(z+1,y+1,x+
1)で表わされる8アドレスに同時にアクセス可能であ
ることを特徴としたものである。
【0026】また、更に、本願の請求項6に係る発明
は、請求項5に係る発明において、上記ライトバッファ
に入力される信号とデータ入出力回路との間、及び、上
記センスアンプから出力される信号とデータ入出力回路
との間にセレクタが設けられており、上記アドレス
(z,y,x)に対し、(z,y,x)(z,y,x+
1)(z,y+1,x)(z,y+1,x+1)(z+
1,y,x)(z+1,y,x+1)(z+1,y+
1,x)(z+1,y+1,x+1)で表わされる8ア
ドレスの入出力データが、上記セレクタを介して、常
時、各アドレスに1対1で対応したデータ入出力回路か
ら送受されることを特徴としたものである。
【0027】また、更に、本願の請求項7に係る発明
は、請求項5又は6に係る発明において、上記アドレス
(z,y,x)のz,y,xに対して、z+1,y+
1,x+1から得られるアドレスがメモリ空間内に存在
しない場合に、z+1→0,y+1→0又はx+1→0
として、8アドレスに同時にアクセスすることを特徴と
したものである。
【0028】また、更に、本願の請求項8に係る発明
は、請求項5〜7に係る発明のいずれか一において、8
アドレスに同時にアクセスするか、若しくは、1アドレ
スのみに同時にアクセスするかを選択する選択手段が設
けられていることを特徴としたものである。
【0029】また、更に、本願の請求項9に係る発明
は、複数のメモリセルがマトリクス状に配列されてなる
メモリアレイと、該メモリアレイを構成するメモリセル
の各行毎に設けられたワードラインと、行方向に並ぶメ
モリセルを1ワード単位で接続する分割ワードライン
と、各分割ワードライン毎にワードラインに接続され、
該分割ワードラインを選択する分割ワードラインセレク
タと、メモリセルを各列毎に接続するデータ読出し又は
書込み用のビットライン対と、各ビットライン対に対し
て設定される列ゲートと、該列ゲートを介してビットラ
イン対に接続されるデータ伝送用のデータライン対と、
該データライン対に接続する書込み用のライトバッファ
及び読出し用のセンスアンプと、該ライトバッファ及び
センスアンプを介して上記データライン対に接続するデ
ータ入出力回路とを有しており、各メモリセルの行選択
がワードラインと分割ワードラインの二段階に分けて行
われる分割ワードライン方式の半導体記憶装置におい
て、アドレス入力がX[i:0],Y[j:0],Z
[k:0]の3系統で指定されるとともに、上記分割ワ
ードラインセレクタを選択する選択信号として2系統が
設定され、列方向に並ぶ分割ワードラインセレクタに対
して、2系統の選択信号がそれぞれ1行ずつ交互に接続
されて、2系統の選択信号の経路のうちの1系統のみが
イネーブルすることにより、上記分割ワードラインセレ
クタを選択するように構成されており、上記選択信号が
装置内で計4系統イネーブルすることにより、上記アド
レス入力X[i:0],Y[j:0],Z[k:0]に
より指定されるアドレス(z,y,x)に対して、
(z,y,x)(z,y,x+1)(z,y+1,x)
(z,y+1,x+1)で表わされる4アドレスに同時
にアクセス可能であることを特徴としたものである。
【0030】また、更に、本願の請求項10に係る発明
は、請求項9に係る発明において、上記ライトバッファ
に入力される信号とデータ入出力回路との間、及び、上
記センスアンプから出力される信号とデータ入出力回路
との間にセレクタが設けられており、上記アドレス
(z,y,x)に対し、(z,y,x)(z,y,x+
1)(z,y+1,x)(z,y+1,x+1)で表わ
される4アドレスの入出力データが、上記セレクタを介
して、常時、各アドレスに1対1で対応したデータ入出
力回路から送受されることを特徴としたものである。
【0031】また、更に、本願の請求項11に係る発明
は、請求項9又は10に係る発明において、上記アドレ
ス(z,y,x)のz,y,xに対して、z+1,y+
1,x+1から得られるアドレスがメモリ空間内に存在
しない場合に、z+1→0,y+1→0又はx+1→0
として、4アドレスに同時にアクセスすることを特徴と
したものである。
【0032】また、更に、本願の請求項12に係る発明
は、請求項9〜11に係る発明のいずれか一において、
4アドレスに同時にアクセスするか、若しくは、1アド
レスのみに同時にアクセスするかを選択する選択手段が
設けられていることを特徴としたものである。
【0033】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、添付図面を参照しながら説明する。 実施の形態1.図1は、本発明の実施の形態1に係るR
AMを概略的に示すブロック図である。このRAM10
は、互いに同じセル構造を有する複数(第1〜aブロッ
ク)のメモリアレイ1を有するもので、各メモリアレイ
1では、c本のワードラインWLが、それぞれ、分割ワ
ードラインセレクタ2を通じて分割ワードラインDWL
につながり、各分割ワードラインDWLに対して、1ワ
ード単位をなすb個のメモリセル(図中、MCと表記)
3が接続されている。メモリセル3は、同じ列アドレス
毎に、その一端側でプリチャージ回路4に接続されたビ
ットライン対BL,BLBの間に接続されている。
【0034】ビットライン対BL,BLBは、列ゲート
5を通じて、第1〜8のデータラインセット8を構成す
るデータライン対DL,DLBと接続されている。更
に、データライン対DL,DLBは、センスアンプ9及
びライトバッファ11を通じて、データ入力回路12に
つながっている。
【0035】RAM10では、外部信号に応じて、アド
レス入力回路14及び内部制御回路13から各メモリア
レイ1に含まれるメモリセル3に対し、行デコーダ7及
び列デコーダ6を介して、アドレス及び制御信号が供給
される。これにより、各メモリアレイ1に含まれるメモ
リセル3に対するデータ読出し・書込みを含む各種の動
作は、アドレス及び制御信号に基づき制御される。
【0036】また、アドレス入力回路14の入力端子と
しては、アドレスX[i:0],アドレスY[j:
0],アドレスZ[k:0]の3系統が規定されてお
り、この場合、行デコーダ7でアドレスX,Yがデコー
ドされ、列デコーダ6でアドレスX,Zがデコードされ
る。
【0037】ところで、図2に、図18の(a)に示さ
れるRAMへのアドレス割付例について、X[1:
0],Y[1:0],Z[1:0]で示されるアドレス
(z,y,x)の各アドレス値z,y,xを、それぞ
れ、00→0,01→1,10→2,11→3と変換し
てあらわす。斜線が付されたブロックは、(z,y,
x)=(1,1,1)を基準として、図16に示す格子
に基づき決定される8つのアドレスに対応している。こ
れら8つのアドレスに対して同時に読出しを行う場合に
は、斜線が付された8つのアドレスにアクセスする必要
がある。
【0038】本発明の目的を実現するには、同時に読出
し動作が行われる8つのアドレスに含まれるメモリセル
3が、それぞれビットライン対BL,BLBを共有して
はいけない。これを考慮して、図2に示すアドレス割付
を、図3の(a)のように変更する。割付の方法は幾通り
か存在するが、ここでは、横方向の2ブロックにつき1
アドレスが出力されるようなアドレス割付となってい
る。斜線が付されたブロックは、図2と同様に、図16
に示す格子に基づき決定される8つのアドレスに対応し
ている。なお、図3の(b)には、図3の(a)のアド
レス割付を模式化してあらわされたものを示す。
【0039】図4(a)〜(d)には、図3の(a)とは異な
る基準アドレスを用いた場合の、8つのアドレスの割付
例を示す。図4の(a)〜(d)は、それぞれ、(z,
y,x)=(0,0,0),(1,1,0),(2,
2,1),(1,1,1)の基準アドレスを用いた場合
のアドレスの割付例である。各図の下側に付された0〜
は、図18の(a)に示す0〜に対応する。これら
の図から分かるように、アクセスされるアドレスの位置
は、大きく2つのタイプに分類される。
【0040】図4の(a)及び(b)に示す例では、アクセ
ス対象となるアドレスが行デコーダの左右両側で同じ行
の上に配列されている。この場合には、左右各1本ずつ
ワードラインWLが立ち上がる必要がある。他方、図4
の(c)及び(d)に示す例では、アクセスされるアドレス
が行デコーダの左右両側で段違いに配列されている。よ
り詳しくは、図4の(c)に、行デコーダの左右両側で
共に上側2段にアドレスが配列される例が示され、ま
た、図4の(d)には、行デコーダの左側で、上側2段
にアドレスが配列され、行デコーダの右側で、下側2段
にアドレスが配列される例が示されている。図4の
(c)及び(d)の場合には、行デコーダの左右両側
で、各2本ずつワードラインWLが立ち上がる必要があ
る。
【0041】ところで、図17に示すような従来のRA
M100では、行デコーダに対して同じ側にある2本の
ワードラインWLが同時に立ち上がり、分割ワードライ
ンセレクタ102の選択信号G[a−1:0]がイネー
ブルになると、分割ワードラインDWLも2本同時に立
ち上がってしまい、ビットライン対BL及びBLBを介
してデータが衝突する問題が生じる。かかる問題を解消
すべく、本実施の形態1では、図1に示すように、分割
ワードラインセレクタ2の選択信号として、GA[a−
1:0]及びGB[a−1:0]の2系統が設定されて
おり、これらは、メモリアレイ1内で列方向に並ぶ分割
ワードラインセレクタ2に対して、それぞれ1行ずつ交
互に接続されている。かかる構成を用いて、各メモリア
レイ毎に選択信号GA[a−1:0]又はGB[a−
1:0]のどちらか1つのみがイネーブルするか、若し
くは、GA[a−1:0]もGB[a−1:0]も立ち
上がらないようにすることにより、行デコーダの片側で
最大2本のワードラインWLが同時に立ち上がってもデ
ータの衝突を回避することができる。
【0042】また、図1に示すRAM10では、データ
ライン対DL,DLBの組を1セットとして、計8組の
データラインセット8をもつ構成が採用されている。こ
れは、図3の(a)に示すような横方向の数ブロックか
ら1アドレスだけが出力されるように配置したアドレス
割付を前提とした構成の一例である。ここでは、例えば
a=16であれば、各データラインセット8に対して、
b列のメモリセル3が2ブロック分接続されており、ま
た、bビット分のセンスアンプ9及びライトバッファ1
1も接続されている。
【0043】列ゲート5は、列デコーダ6から出力され
た選択信号GA[a−1:0]又はGB[a−1:0]
のいずれかがイネーブルになると、ビットライン対B
L,BLBとデータライン対DL,DLBとの間のゲー
トを開放する。プリチャージ回路4は、選択信号GA
[a−1:0]及びGB[a−1:0]のいずれもディ
スエイブルであれば、ビットライン対BL,BLBをプ
リチャージする。列デコーダ6は、第1〜aのブロック
のうちのアクセスする8アドレスを含むブロックに入力
されるGA[a−1:0]又はGB[a−1:0]を、
(z,y,x)の値に応じてイネーブルする。行デコー
ダ7は、(z,y,x)の値に応じて、左右両側1本ず
つ若しくは2本ずつワードラインWLを立ち上げる。
【0044】また、本実施の形態1では、行デコーダ7
がメモリアレイ1の中央に、すなわち、左右両側におい
て同数のメモリアレイ1を有するように配置されてい
る。例えば行デコーダ6の片側に全てのメモリアレイ1
があると、行デコーダ7の片側のみで最大4本のワード
ラインWLが立ち上がることになり、列デコーダ6から
の選択信号GA[a−1],GB[a−1]だけでは、
ビットラインBL上でデータが衝突してしまう。これを
回避するために、行デコーダ7が中央に配置される。な
お、図1で左右両側に配置されるメモリアレイ1に対し
て、それぞれ、行デコーダ6を接続するのであれば、メ
モリアレイ1の中央に行デコーダを配置する必要はな
い。
【0045】続いて、図5及び6には、それぞれ、図3
の(a)で示すアドレス割付を行う場合における、列デ
コーダ6及び行デコーダ7の回路構成の例を示す。ま
た、この例では、図1におけるa,cが、それぞれ、a
=16,c=4であるとする。かかる回路構成では、ア
ドレス入力X[1:0],Y[1:0],Z[1:0]
のうち、X[1:0],Z[1:0]が列デコーダ6に
よりデコードされ、X[1:0],Y[1:0]が行デ
コーダ7によりデコードされる。
【0046】図3及び4では、それぞれ、基準アドレス
(z,y,x)を構成するx,y,zの値として2以下
の数をとる場合が取り上げられてきたが、図7〜9に、
それぞれ、アドレス(z,y,x)を構成するアドレス
値x,y,zの1つが3の値をとる場合の例を示す。図
7は、図17に示す従来のRAM100に関した(0,
0,0)〜(4,4,4)のアドレス割付の例である。
このとき、アドレス入力端子としては、X[2:0],
Y[2:0],Z[2:0]の各3本が必要とされ、
X,Y,Zの各アドレス値が、000→0,001→
1,010→2,011→3,100→4と変換され
て、アドレスが(z,y,z)で示されている。左上が
りの斜線が付されたブロックが、(z,y,x)=
(3,3,3)を基準として図16に示す格子により決
定される8つのアドレスに対応している。
【0047】しかしながら、この場合にも、図3の
(a)に示す場合と同様に、指定された8つのアドレス
が互いに隣接したブロックに対応し、同じビットライン
対BL,BLBを共有するため、8アドレス分のデータ
を1サイクルで同時に読み出すことができない。
【0048】他方、図8は、図7に示すアドレス割付に
対応する、図1に示すRAM10に関したアドレス割付
の例である。左上がりの斜線が付されたブロックは、図
7と同様に、(z,y,x)=(3,3,3)を基準と
して図16に示す格子により決定される8つのアドレス
に対応する。ここでは、図1におけるa,cが、a=2
4、c=9であるとし、各データラインセット8に対し
て、それぞれ1列の分割ワードラインDWLを含む3つ
のブロックが接続される。また、複数アドレスへの同時
アクセスを可能とするアドレス割付の都合上、アドレス
値として本来不要な「5」を含むアドレス(右上がりの
斜線が付されたブロック)も必要となる。「5」とは、
X,Y又はZのアドレス値が101→5と変換されてな
る値である。実際には、「5」を含むアドレスはアクセ
ス対象であるアドレスとしては使用されず、これによ
り、z=5の列は、レイアウト上で省略可能である。
【0049】また、図9は、図8に示すアドレス割付を
模式化して示すものである。前述したように、図7に示
すアドレス割付では、従来のRAM100において、X
[2:0],Y[2:0],Z[2:0]の各3本のア
ドレス入力端子が必要となるが、図8及び9に示すアド
レス割付では、RAM10において、基準の(z,y,
x)つまり図16に示す格子において0に相当するアド
レスが、(0,0,0)〜(3,3,3)をとれば、必
要とされる(0,0,0)〜(4,4,4)のアドレス
にアクセスすることが可能となり、このため、アドレス
入力端子は、X[1:0],Y[1:0],Z[1:
0]の各2本で済む。
【0050】なお、図8に示すアドレス割付は、図7の
それに比べて大きな面積を有するものとなっている。し
かしながら、例えば従来技術として図19を参照して説
明したように、それぞれ全容量の一部を構成する容量を
備えた8つのRAMの適用を考えた場合、図7に示すア
ドレス割付を八等分することができず、1/8の容量の
RAMは存在しない。このため、実際には、それぞれ1
/8よりも大きい容量のRAMを使用する必要がある。
更に、配線領域も合せて考慮すれば、結果として、全体
の面積は、図7に示す場合に比べ、図8に示す場合の方
が小さくなり、面積の点では有利である。
【0051】以上のような構成を備えたRAMによれ
ば、8つのアドレスに対し同時にアクセスすること、つ
まりデータの読出し・書込みが可能である。また、この
RAMを実現する上で、回路面積及び配線面積の増大は
伴わない。
【0052】次に、本発明の他の実施の形態について説
明する。以下では、上記実施の形態における場合と同じ
ものについては同一の符号を付し、それ以上の説明を省
略する。 実施の形態2.図16に示す格子に基づき決定される8
つのアドレスは、図4の(a)〜(d)における0〜
の位置の違いを見れば分かるように、アドレス(z,
y,x)の値によって、どのブロックに割り当てられる
かが変化する。これに伴い、図1に示すRAM10の構
成では、例えば左下のbビット分のデータ入出力回路1
2から入出力されるデータについても、アドレス(z,
y,x)の値に応じて、(z,y,x)のデータが入出
力される場合もあれば、(z,y,x+1)のデータが
入出力される場合、更に、その他のアドレスデータが入
出力される場合もある。しかしながら、この状態では、
RAM10を使用する上で扱いにくい。
【0053】これを解消すべく、本実施の形態2では、
図10に示すように、センスアンプ9及びライトバッフ
ァ11とデータ入出力回路12との間に、それぞれb本
からなる8セットのバスDLSET_DIOが設けられ
ている。また、バスDLSET_DIOとデータ入出力
回路12との間に、セレクタ19が設けられている。こ
のセレクタ19は、アドレス入力回路14からの入力に
基づき、所定のアドレスに対応するデータを選択して通
過させるものである。かかる構成により、あるb個のデ
ータ入出力回路12には常にアドレス(z,y,x)の
データが入出力され、別のb個のデータ入出力回路12
には常にアドレス(z,y,x+1)のデータが入出力
され、また、その他のb個のデータ入出力回路12にも
同様に、所定のアドレスのデータが入出力される。
【0054】実施の形態3.8つのアドレスの同時読出
し又は書込み可能なRAM10(図1参照)に対して、
1つのアドレスのみ書換えを行う必要が生じた場合、他
の7つのアドレスのデータが書き換わらないように、常
時、8つのアドレス分のデータを用意し、書換え対象の
アドレスのみに書換え用のデータを入力し、他の7つの
アドレスには、書き込まれているデータと同じデータを
入力する必要がある。本実施の形態3では、かかる面倒
な制御を解消すべく、8つのアドレスを同時に読み出す
又は書き込むか、若しくは、1つのアドレスのみを読み
出す又は書き込むかを選択可能とする端子が付設され
る。
【0055】図11に、本実施の形態3に従い、選択端
子SELが図1に示す構成に追加された態様を示す。な
お、ここでは、内部制御回路13,アドレス入力回路1
4,列デコーダ26及び行デコーダ27以外の構成を省
略する。選択端子SELは列デコーダ26及び行デコー
ダ27に対して接続されており、外部からの選択信号が
選択端子SELを介し、列デコーダ26及び行デコーダ
27に対して供給される。
【0056】図12に、行デコーダ27の内部構成を示
す。この行デコーダ27では、8アドレスアクセス用行
デコーダ37Aが、MWL[c‐1:0]及びMWL
[c‐1:0]’からそれぞれ1本又は2本の信号を立
ち上げる。他方、1アドレスアクセス用行デコーダ37
Bが、SWL[c‐1:0]及びSWL[c‐1:
0]’からただ1本の信号を立ち上げる。各MWL及び
SWLからの信号は、セレクタ31に入力される。ここ
では、例えば、SEL=0であれば、MWL側の信号が
選択され、また、一方、SEL=1であれば、SWL側
の信号が選択される。
【0057】また、図13には、列デコーダ26の内部
構成を示す。この列デコーダ26では、8アドレスアク
セス用列デコーダ46Aが、MGA[a‐1:0]及び
MGB[a‐1:0]から、アクセス対象である8アド
レスに対応するブロックにアクセスするための信号を8
本立ち上げる。他方、1アドレスアクセス用列デコーダ
が、SG[a‐1:0]からただ1本の信号を立ち上げ
る。MGA及びMGBは、それぞれ、セレクタ41に入
力される。SGは、[ ]内の番号に等しいGA及び
GBが接続されるセレクタ41にそれぞれ入力される。
1アドレスアクセスの場合には、1本のワードラインし
か立ち上がらないため、GA及びGBの同じ番号の信号
が同時に立ち上がっても問題ない。ここでは、例えば、
SEL=0であれば、MGA及びMGB側の信号が選択
され、SEL=1であれば、SG側の信号が選択され
る。
【0058】このように、選択端子SELを設け、更
に、列デコーダ26及び行デコーダ27を上記のように
構成することにより、8アドレスアクセス及び1アドレ
スアクセスの選択を任意に行うことが可能となり、必要
に応じて、面倒な制御を伴うことなく、1アドレスアク
セスを実行することができる。
【0059】ただし、この実施の形態3では、次のよう
な注意が必要となる。例えば、図3に示すアドレス割付
で1つのアドレスのみにアクセスする場合には、アドレ
ス入力端子として、X[1:0],Y[1:0],Z
[1:0]の各2本ずつで問題がない。これに対して、
図8に示すアドレス割付で8つのアドレスに同時にアク
セスする場合には、基準の(z,y,x)つまり図16
に示す0に相当するアドレスが最大(3,3,3)をと
れば、+1加算されたアドレス(4,4,4)までのア
クセスも可能となり、アドレス入力端子としては、X
[1:0],Y[1:0],Z[1:0]の各2本ずつ
で問題がないが、1アドレスのみのアクセスの場合に
は、アドレス入力端子として、X[2:0],Y[2:
0],Z[2:0]の各3本ずつが必要となる。
【0060】実施の形態4.図3に示すアドレス割付に
関しては、アドレス値として「4」を含むものは存在し
ておらず、このアドレス割付は、アドレス値として
「3」を含む基準アドレス(z,y,x)には適用され
ない。これに対処すべく、この実施の形態4では、
「4」の代わりに「0」の値をもつアドレスにアクセス
する方法が考えられる。かかるアクセスは、図3に示す
構成に対し、図5及び6にそれぞれ示す列デコーダ及び
行デコーダにおいて、x,y,zが「3」の値をとり得
る構成が採用されることにより可能となる。
【0061】他方、図8に示すアドレス割付に関して
は、基準アドレス(z,y,x)を構成するアドレス値
x,y,zについての許容最大値が「4」である場合
に、基準アドレス(z,y,x)に「4」を含む場合に
おけるx+1,y+1,z+1の値(ここでは「5」)
を使用せず、その代わりに、x+1→0,y+1→0,
z+1→0の値をもつアドレスにアクセスする。なお、
かかるアクセスは、図8に示す構成に対し、図5及び6
にそれぞれ示す列デコーダ及び行デコーダにおいて、
x,y,zが「4」の値をとり得る構成が採用されるこ
とにより可能となる。
【0062】実施の形態5.また、8つのアドレスの同
時読出し又は書込み可能なRAMを実現するには、前述
した実施の形態とは異なる次のような方法が考えられ
る。前述した実施の形態1に係るRAM10では、行デ
コーダの片側のみで最大4本のワードラインWLが立ち
上がるようにした場合には、ビットラインBL上でデー
タが衝突してしまう。特に図示しないが、これを解消す
るために、実施の形態4として、列ゲートから出力され
る分割ワードラインセレクタの選択信号を4系統設定
し、列方向に並ぶ分割ワードラインセレクタに対してそ
れらを4行おきに接続する設計が考えられる。また、行
デコーダの片側のみでワードラインWLを1本,2本若
しくは4本同時に立ち上がるように設計される。なお、
これらは、図4の(a)〜(d)で、行デコーダを外し
た態様に相当する。
【0063】実施の形態6.例えば動作速度の要求が低
い場合には、8アドレス同時アクセスの代わりとして、
4アドレス同時アクセスを可能とするRAMを用いるこ
とが考えられる。4アドレス同時アクセスを可能とする
RAMでは、8アドレス同時アクセス時と比較して、デ
ータ伝送用の配線も半分になり、配線面積が減少する。
例えば、図19に示す場合と同様に、0とを含むRA
Mを、c×a=2×8の1つのRAMにまとめるように
構成させ、同様にして、と,と,とを含む
RAMを1つのRAMに構成させることにより、4アド
レス同時アクセスを可能とする構成が実現可能となる。
しかしながら、この場合、別個のRAMを4つ使用する
ことは、RAM内部の制御回路の重複を伴い、また、4
つのRAMと外部のアドレスデコード用回路を接続する
配線領域も必要となるため、チップ面積の増大をもたら
す惧れがある。
【0064】これに対して、本実施の形態6では、8ア
ドレス同時アクセスを可能とするRAMと同様に、単体
で4つのアドレスの同時読出し又は書込みを可能とする
機能を実現するRAMを設計することを考える。この場
合、回路構成は基本的に図1に示す構成と同様である。
図1に示すRAMと異なる点は、分割ワードラインを選
択する信号が1度にイネーブルになる本数が8本から4
本に変わる点、及び、データラインセットが4セットの
み設けられる点である。
【0065】例えば図3に示すようなアドレス割付が採
用された場合、(z,y,x)=(1,1,1)であれ
ば、(1,1,1),(1,1,2),(1,2,1)
(1,2,2)を含む4行のワードラインWLが立ち上
がる。これに対処するために、行デコーダは中央に配置
されるか、若しくは、各メモリアレイに対してそれぞれ
行デコーダが配置される必要がある。これに対して、例
えば図14の(a)及び(b)に示すようなアドレス割
付が採用された場合には、最大2行のワードラインWL
を同時に立ち上げるだけでよく、このため、行デコーダ
の片側にすべてのメモリアレイがあっても問題ない。
【0066】また、4アドレス同時アクセスを可能とす
るRAMについても、前述した実施の形態3の構成を採
用することにより、あるb個のデータ入出力回路には常
時アドレス(z,y,x)のデータが入出力され、別の
b個のデータ入出力回路には常時アドレス(z,y,x
+1)のデータが入出力され、また、その他のデータ入
出力回路においても常時それに対応したデータのみが入
出力されるようにすることが可能である。更に、4つの
アドレスに同時にアクセスするか、若しくは、1つのア
ドレスのみにアクセスするかを選択する機能は、8アド
レス同時アクセスについて前述した実施の形態3と同様
にして実現することができる。
【0067】なお、本発明は、例示された実施の形態に
限定されるものでなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲
において、種々の改良及び設計上の変更が可能であるこ
とは言うまでもない。
【0068】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本願の
請求項1に係る発明によれば、1つのRAMに対して、
8アドレスに同時にアクセスすることが可能であり、こ
れにより、従来の方法で同機能を実現する場合に比べ
て、回路面積及び配線領域を縮小することができる。
【0069】また、本願の請求項2に係る発明によれ
ば、各データ入出力回路に対して、常時、(z,y,
x)に基づき決定される8アドレスのうちの所定のアド
レスに対応した入出力が割り当てられるため、外部に回
路を追加する必要がなくなり、外部の配線領域の低減化
を図ることができる。
【0070】更に、本願の請求項3に係る発明によれ
ば、請求項1に係る発明と同様に、1つのRAMに対し
て、8アドレスに同時にアクセスすることが可能であ
り、これにより、従来の方法で同機能を実現する場合に
比べて、回路面積及び配線領域を縮小することができ
る。
【0071】また、更に、本願の請求項4に係る発明に
よれば、1アドレスのみ書き換えるような場合に、他の
アドレスが書き換わらないように、他のアドレスには既
に書き込まれているデータを用意するという作業が必要
でなくなり、システム設計が容易となる。
【0072】また、更に、本願の請求項5に係る発明に
よれば、1つのRAMに対して、8アドレスに同時にア
クセスすることが可能である。これにより、従来の方法
で同機能を実現する場合に比べて、回路面積及び配線領
域を縮小することができる。
【0073】また、更に、本願の請求項6に係る発明に
よれば、各データ入出力回路に対して、常時、(z,
y,x)に基づき決定される8アドレスのうちの所定の
アドレスに対応した入出力が割り当てられるため、外部
に回路を追加する必要がなくなり、外部の配線領域の低
減化を図ることができる。
【0074】また、更に、本願の請求項7に係る発明に
よれば、請求項5に係る発明と同様に、1つのRAMに
対して、8アドレスに同時にアクセスすることが可能で
あり、これにより、従来の方法で同機能を実現する場合
に比べて、回路面積及び配線領域を縮小することができ
る。
【0075】また、更に、本願の請求項8に係る発明に
よれば、1アドレスのみ書き換えるような場合に、他の
アドレスが書き換わらないように、他のアドレスには既
に書き込まれているデータを用意するという作業が必要
でなくなり、システム設計が容易となる。
【0076】また、更に、本願の請求項9に係る発明に
よれば、1つのRAMに対して、4アドレスに同時にア
クセスすることが可能である。これにより、従来の方法
で同機能を実現する場合に比べて、回路面積及び配線領
域を縮小することができる。
【0077】また、更に、本願の請求項10に係る発明
によれば、各データ入出力回路に対して、常時、(z,
y,x)に基づき決定される4アドレスのうちの所定の
アドレスに対応した入出力が割り当てられるため、外部
に回路を追加する必要がなくなり、外部の配線領域の低
減化を図ることができる。
【0078】また、更に、本願の請求項11に係る発明
によれば、請求項9に係る発明と同様に、1つのRAM
に対して、4アドレスに同時にアクセスすることが可能
であり、これにより、従来の方法で同機能を実現する場
合に比べて、回路面積及び配線領域を縮小することがで
きる。
【0079】また、更に、本願の請求項12に係る発明
によれば、1アドレスのみ書き換えるような場合に、他
のアドレスが書き換わらないように、他のアドレスには
既に書き込まれているデータを用意するという作業が必
要でなくなり、システム設計が容易となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施の形態1に係るRAMの構成を
概略的に示すブロック図である。
【図2】 a×c=16×4のメモリアレイに対してア
ドレス割付されたX[1:0],Y[1:0],Z
[1:0]で示されるアドレス(z,y,x)の各アド
レス値z,y,xを、それぞれ、00→0,01→1,
10→2,11→3と変換してあらわす図である。
【図3】 (a)本発明の実施の形態1に従った横方向
の2ブロックにつき1アドレスが出力されるアドレス割
付の一例を示す図である。 (b)図3の(a)に示すアドレス割付を模式化してあ
らわす図である。
【図4】 (a) 図3の(a)に示すアドレス割付に
対して、(z,y,x)=(0,0,0)のときに、8
つのアドレスに同時にアクセスする際のアドレス位置を
示す図である。 (b) 図3の(a)に示すアドレス割付に対して、
(z,y,x)=(1,1,0)のときに、8つのアド
レスに同時にアクセスする際のアドレス位置を示す図で
ある。 (c) 図3の(a)に示すアドレス割付に対して、
(z,y,x)=(2,2,1)のときに、8つのアド
レスに同時にアクセスする際のアドレス位置を示す図で
ある。 (d) 図3の(a)に示すアドレス割付に対して、
(z,y,x)=(1,1,1)のときに、8つのアド
レスに同時にアクセスする際のアドレス位置を示す図で
ある。
【図5】 列デコーダの内部構成を示す図である。
【図6】 行デコーダの内部構成を示す図である。
【図7】 従来のRAMに関したアドレス割付の一例を
示す図である。
【図8】 本発明の実施の形態1に係るRAMに関した
アドレス割付の一例を示す図である。
【図9】 図8に示すアドレス割付を模式化してあらわ
す図である。
【図10】 本発明の実施の形態2に係るRAMの一部
を示すブロック図である。
【図11】 本発明の実施の形態3に係る選択信号経路
を備えたRAMの一部を示すブロック図である。
【図12】 上記実施の形態3に係る選択信号経路に対
応した行デコーダの構成例を示すブロック図である。
【図13】 上記実施の形態3に係る選択信号経路に対
応した列デコーダの構成例を示すブロック図である。
【図14】 (a)本発明の実施の形態4に係るアドレ
ス割付の一例を示す図である。 (b)図14の(a)に示すアドレス割付を模式化して
あらわす図である。
【図15】 複数のメモリアレイを用いて構成される色
変換データメモリ領域を示す説明図である。
【図16】 データへのアクセス時に用いる複数のアド
レスを、アドレス(z,y,x)を基準として選択する
例を示す説明図である。
【図17】 従来のRAMを概略的に示すブロック図で
ある。
【図18】 (a)それぞれbビット単位で模式化さ
れ、(a×c)ワードの記憶領域を構成するメモリアレ
イに対するアドレス割付の一例を示す図である。 (b)図18の(a)に示すメモリアレイのうちの1ビ
ットに対応する1ブロックをあらわす図である。
【図19】 (a)a×c=4×2のブロックを8つ備
えたRAMにおけるアドレス割付の一例を示す図であ
る。 (b)図19の(a)に示すRAMの回路構成を概略的
に示す図である。
【符号の説明】
1 メモリアレイ,2分割ワードラインセレクタ,3
メモリセル,4 プリチャージ回路,5 列ゲート,6
列デコーダ,7 行デコーダ,8 データラインセッ
ト,9 センスアンプ,10 RAM,11 ライトバ
ッファ,12データ入出力回路,13 内部制御回路,
14 アドレス入力回路,BL ビットライン,DWL
分割ワードライン,GA,GB 分割ワードラインセ
レクタ用の選択信号,WL ワードライン

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数のメモリセルがマトリクス状に配列
    されてなるメモリアレイと、該メモリアレイを構成する
    メモリセルの各行毎に設けられたワードラインと、行方
    向に並ぶメモリセルを1ワード単位で接続する分割ワー
    ドラインと、各分割ワードライン毎にワードラインに接
    続され、該分割ワードラインを選択する分割ワードライ
    ンセレクタと、メモリセルを各列毎に接続するデータ読
    出し又は書込み用のビットライン対と、各ビットライン
    対に対して設定される列ゲートと、該列ゲートを介して
    ビットライン対に接続されるデータ伝送用のデータライ
    ン対と、該データライン対に接続する書込み用のライト
    バッファ及び読出し用のセンスアンプと、該ライトバッ
    ファ及びセンスアンプを介して上記データライン対に接
    続するデータ入出力回路とを有しており、各メモリセル
    の行選択がワードラインと分割ワードラインの二段階に
    分けて行われる分割ワードライン方式の半導体記憶装置
    において、 アドレス入力がX[i:0],Y[j:0],Z[k:
    0]の3系統で指定されるとともに、上記分割ワードラ
    インセレクタを選択する選択信号として2系統が設定さ
    れ、列方向に並ぶ分割ワードラインセレクタに対して、
    2系統の選択信号がそれぞれ1行ずつ交互に接続され
    て、2系統の選択信号の経路のうちの1系統のみがイネ
    ーブルすることにより、上記分割ワードラインセレクタ
    を選択するように構成されており、 上記選択信号が装置内で計8系統イネーブルすることに
    より、上記アドレス入力X[i:0],Y[j:0],
    Z[k:0]により指定されるアドレス(z,y,x)
    に対して、(z,y,x)(z,y,x+1)(z,y
    +1,x)(z,y+1,x+1)(z+1,y,x)
    (z+1,y,x+1)(z+1,y+1,x)(z+
    1,y+1,x+1)で表わされる8アドレスに同時に
    アクセス可能であることを特徴とする半導体記憶装置。
  2. 【請求項2】 更に、上記ライトバッファに入力される
    信号とデータ入出力回路との間、及び、上記センスアン
    プから出力される信号とデータ入出力回路との間にセレ
    クタが設けられており、 上記アドレス(z,y,x)に対し、(z,y,x)
    (z,y,x+1)(z,y+1,x)(z,y+1,
    x+1)(z+1,y,x)(z+1,y,x+1)
    (z+1,y+1,x)(z+1,y+1,x+1)で
    表わされる8アドレスの入出力データが、上記セレクタ
    を介して、常時、各アドレスに1対1で対応したデータ
    入出力回路から送受されることを特徴とする請求項1記
    載の半導体記憶装置。
  3. 【請求項3】 上記アドレス(z,y,x)のz,y,
    xのうちの1つ又は複数が許容される値の最大となる場
    合に、z+1,y+1又はx+1の代わりに、それぞ
    れ、z+1→0,y+1→0又はx+1→0のアドレス
    を用いて、8アドレスに同時にアクセスすることを特徴
    とする請求項1又は2に記載の半導体記憶装置。
  4. 【請求項4】 8アドレスに同時にアクセスするか、若
    しくは、1アドレスのみに同時にアクセスするかを選択
    する選択手段が設けられていることを特徴とする請求項
    1〜3のいずれか一に記載の半導体記憶装置。
  5. 【請求項5】 複数のメモリセルがマトリクス状に配列
    されてなるメモリアレイと、該メモリアレイを構成する
    メモリセルの各行毎に設けられたワードラインと、行方
    向に並ぶメモリセルを1ワード単位で接続する分割ワー
    ドラインと、各分割ワードライン毎にワードラインに接
    続され、該分割ワードラインを選択する分割ワードライ
    ンセレクタと、メモリセルを各列毎に接続するデータ読
    出し又は書込み用のビットライン対と、各ビットライン
    対に対して設定される列ゲートと、該列ゲートを介して
    ビットライン対に接続されるデータ伝送用のデータライ
    ン対と、該データライン対に接続する書込み用のライト
    バッファ及び読出し用のセンスアンプと、該ライトバッ
    ファ及びセンスアンプを介して上記データライン対に接
    続するデータ入出力回路とを有しており、各メモリセル
    の行選択がワードラインと分割ワードラインの二段階に
    分けて行われる分割ワードライン方式の半導体記憶装置
    において、 アドレス入力がX[i:0],Y[j:0],Z[k:
    0]の3系統で指定されるとともに、上記分割ワードラ
    インセレクタを選択する選択信号として4系統が設定さ
    れ、列方向に並ぶ分割ワードラインセレクタに対して、
    4系統の選択信号がそれぞれ4行おきに接続されて、4
    系統の選択信号の経路のうちの1系統のみがイネーブル
    することにより、上記分割ワードラインセレクタを選択
    するように構成されており、 上記選択信号が装置内で計8系統イネーブルすることに
    より、上記アドレス入力X[i:0],Y[j:0],
    Z[k:0]により指定されるアドレス(z,y,x)
    に対して、(z,y,x)(z,y,x+1)(z,y
    +1,x)(z,y+1,x+1)(z+1,y,x)
    (z+1,y,x+1)(z+1,y+1,x)(z+
    1,y+1,x+1)で表わされる8アドレスに同時に
    アクセス可能であることを特徴とする半導体記憶装置。
  6. 【請求項6】 更に、上記ライトバッファに入力される
    信号とデータ入出力回路との間、及び、上記センスアン
    プから出力される信号とデータ入出力回路との間にセレ
    クタが設けられており、 上記アドレス(z,y,x)に対し、(z,y,x)
    (z,y,x+1)(z,y+1,x)(z,y+1,
    x+1)(z+1,y,x)(z+1,y,x+1)
    (z+1,y+1,x)(z+1,y+1,x+1)で
    表わされる8アドレスの入出力データが、上記セレクタ
    を介して、常時、各アドレスに1対1で対応したデータ
    入出力回路から送受されることを特徴とする請求項5記
    載の半導体記憶装置。
  7. 【請求項7】 上記アドレス(z,y,x)のz,y,
    xに対して、z+1,y+1,x+1から得られるアド
    レスがメモリ空間内に存在しない場合に、z+1→0,
    y+1→0又はx+1→0として、8アドレスに同時に
    アクセスすることを特徴とする請求項5又は6に記載の
    半導体記憶装置。
  8. 【請求項8】 8アドレスに同時にアクセスするか、若
    しくは、1アドレスのみに同時にアクセスするかを選択
    する選択手段が設けられていることを特徴とする請求項
    5〜7のいずれか一に記載の半導体記憶装置。
  9. 【請求項9】 複数のメモリセルがマトリクス状に配列
    されてなるメモリアレイと、該メモリアレイを構成する
    メモリセルの各行毎に設けられたワードラインと、行方
    向に並ぶメモリセルを1ワード単位で接続する分割ワー
    ドラインと、各分割ワードライン毎にワードラインに接
    続され、該分割ワードラインを選択する分割ワードライ
    ンセレクタと、メモリセルを各列毎に接続するデータ読
    出し又は書込み用のビットライン対と、各ビットライン
    対に対して設定される列ゲートと、該列ゲートを介して
    ビットライン対に接続されるデータ伝送用のデータライ
    ン対と、該データライン対に接続する書込み用のライト
    バッファ及び読出し用のセンスアンプと、該ライトバッ
    ファ及びセンスアンプを介して上記データライン対に接
    続するデータ入出力回路とを有しており、各メモリセル
    の行選択がワードラインと分割ワードラインの二段階に
    分けて行われる分割ワードライン方式の半導体記憶装置
    において、 アドレス入力がX[i:0],Y[j:0],Z[k:
    0]の3系統で指定されるとともに、上記分割ワードラ
    インセレクタを選択する選択信号として2系統が設定さ
    れ、列方向に並ぶ分割ワードラインセレクタに対して、
    2系統の選択信号がそれぞれ1行ずつ交互に接続され
    て、2系統の選択信号の経路のうちの1系統のみがイネ
    ーブルすることにより、上記分割ワードラインセレクタ
    を選択するように構成されており、 上記選択信号が装置内で計4系統イネーブルすることに
    より、上記アドレス入力X[i:0],Y[j:0],
    Z[k:0]により指定されるアドレス(z,y,x)
    に対して、(z,y,x)(z,y,x+1)(z,y
    +1,x)(z,y+1,x+1)で表わされる4アド
    レスに同時にアクセス可能であることを特徴とする半導
    体記憶装置。
  10. 【請求項10】 更に、上記ライトバッファに入力され
    る信号とデータ入出力回路との間、及び、上記センスア
    ンプから出力される信号とデータ入出力回路との間にセ
    レクタが設けられており、 上記アドレス(z,y,x)に対し、(z,y,x)
    (z,y,x+1)(z,y+1,x)(z,y+1,
    x+1)で表わされる4アドレスの入出力データが、上
    記セレクタを介して、常時、各アドレスに1対1で対応
    したデータ入出力回路から送受されることを特徴とする
    請求項9記載の半導体記憶装置。
  11. 【請求項11】 上記アドレス(z,y,x)のz,
    y,xに対して、z+1,y+1,x+1から得られる
    アドレスがメモリ空間内に存在しない場合に、z+1→
    0,y+1→0又はx+1→0として、4アドレスに同
    時にアクセスすることを特徴とする請求項9又は10に
    記載の半導体記憶装置。
  12. 【請求項12】 4アドレスに同時にアクセスするか、
    若しくは、1アドレスのみに同時にアクセスするかを選
    択する選択手段が設けられていることを特徴とする請求
    項9〜11のいずれか一に記載の半導体記憶装置。
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