JP2003249125A - 低抵抗透明導電膜及びその製造法 - Google Patents
低抵抗透明導電膜及びその製造法Info
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Abstract
小さい透明導電膜の製造法及び得られた低抵抗透明導電
膜の提供。 【解決手段】 ITO等の透明導電膜形成用金属酸化物
の微粒子の分散液を被処理基板上に塗布し、大気中で1
50〜200℃で燒結して多孔質透明導電膜を形成し、
次いで、酸素又はオゾンを含むガスとハロゲン化インジ
ウムガス又は有機インジウムガスとの混合ガス雰囲気中
で100〜250℃で加熱して成膜する。多孔質導電膜
中の空孔が、酸素と有機インジウムとの反応により生成
されたインジウム酸化物で充填されている。
Description
及びその製造法に関する。低抵抗透明導電膜は、LC
D、有機EL等のフラットパネルディスプレイ用透明導
電膜として利用できる。
トパネルディスプレイ用透明導電膜は、蒸着法、イオン
プレーティング法、スパッタリング法等によって、ガラ
ス基板上に金属酸化物を付着せしめることにより製造さ
れている。しかしながら、これらの方法では、装置が大
がかりになり装置コストが高くなると共に、製造コスト
が高くなる等のため、簡単な装置で安価に製造する方法
が求められていた。
用透明導電膜を簡単な装置で安価に製造することを目的
として、従来のスパッタ成膜法等に代えて、近年、IT
O膜等の透明導電膜をスピン塗布、スプレー塗布、イン
クジェット塗布で形成することが提案されている。この
場合、透明導電膜形成材料としては、例えば、CRT表
面のコーティング用途に、ITO等の微粒子を有機溶媒
に分散した分散液が使用される。この分散液を上記塗布
方法で基板に塗布した後加熱して、有機溶媒の除去とI
TO微粒子の焼結とを行い、基板上に薄膜状のITO膜
を形成する。
る従来の材料は、低温加熱では焼結後の電気抵抗(シー
ト抵抗)が数kΩ/□と大きく、また、電気抵抗が小さ
いものを得ようとすると焼結の際に高温加熱(例えば、
300℃程度以上)が必要なため、LCD、有機EL等
のフラットパネルディスプレイの分野における透明導電
膜の形成には使用できないという問題がある。そのた
め、低温で焼結でき、低抵抗値を有する透明導電膜及び
その製造法が求められている。本発明の課題は、上記従
来技術の問題点を解決することにあり、焼結温度が低
く、かつ、焼結後の電気抵抗(シート抵抗)が小さい薄膜
状透明導電膜の製造法及び得られた低抵抗透明導電膜を
提供することにある。
明導電膜を得るために、その材料及び製造プロセスにつ
いて鋭意研究・開発を行ってきた。その結果、低温加熱
で電気抵抗を大幅に下げることができる低抵抗透明導電
膜の製造法を見出し、本発明を完成させるに至った。本
発明の低抵抗透明導電膜は、透明導電膜形成用金属酸化
物の微粒子を酸素又はオゾンを含むガスとハロゲン化金
属ガス又は有機金属化合物ガスとの混合ガス雰囲気中で
100〜250℃で焼結した、該金属酸化物からなる多
孔質透明導電膜中の空孔が酸素又はオゾンとハロゲン化
金属又は有機金属化合物との反応により生成された金属
酸化物で充填されている構造を有する。焼結温度が10
0℃未満であると充分焼結せず、また、250℃を超え
るとディスプレイの製造工程上問題が生じる。
る際に通常使用される材料であれば適宜選択して用いる
ことができるが、例えば、ITO、ATO、IZO、Z
nO、SnO2、CaWO4等から選ばれたものが好ま
しい。ハロゲン化金属ガスは、ハロゲン化インジウムガ
ス、ハロゲン化スズガスから選ばれるものが好ましく、
また、有機金属化合物ガスは、トリメチルインジウムガ
ス、トリメチルスズガスから選ばれるものが好ましい。
本発明の低抵抗透明導電膜の厚さは1〜20nmである
ことが好ましい。1nm未満だと電気抵抗が下がらず、
20nmを超えると透過率が低下するという問題がある
からである。
明導電膜形成用金属酸化物の微粒子の分散液を被処理基
板上に塗布し、大気中で150〜200℃で燒結して多
孔質透明導電膜を形成し、次いで、酸素又はオゾンを含
むガスとハロゲン化金属ガス又は有機金属化合物との混
合ガス雰囲気中で100〜250℃で加熱して目的とす
る透明導電膜を形成することからなる。本製造法で用い
る金属酸化物は、ハロゲン化金属ガス、有機金属化合物
ガスは、上記の通りである。本発明の低抵抗透明導電膜
は、ガラス基板や有機樹脂材料からあんる基板との密着
性も併せ持つという特徴と有する。
記したように、透明導電膜形成用金属酸化物の微粒子を
特定の混合ガス雰囲気中で低温で焼結した、金属酸化物
からなる多孔質透明導電膜中の空孔がインジウム酸化物
で充填されている構造を有している。この透明導電膜
は、上記したように、透明導電膜形成用金属酸化物の微
粒子の分散液を調製し、この分散液を被処理基板上に、
例えば、スピン塗布、スプレー塗布、インクジェット塗
布、浸漬塗布、ロールコート法、スクリーン印刷法等の
公知の方法を用いて塗布し、大気中で150〜200℃
で加熱して多孔質透明導電膜を形成し、次いで、酸素又
はオゾンを含むガスとハロゲン化インジウムガス又は有
機インジウムガスとの混合ガス雰囲気中で、通常の透明
導電膜形成用材料の微粒子を単体で焼結するのに必要な
温度(一般に、500〜700℃)よりはるかに低温(1
00〜250℃)で焼結して成膜することにより得られ
る。
物としては、通常、透明導電膜形成用材料として用いら
れる酸化インジウム、酸化錫、酸化亜鉛、酸化カドミウ
ム、酸化ガリウム、In2O3(ZnO)m、及びInG
aO3(ZnO)m等や、これら酸化物にドーパントを添
加したもの、例えば、錫添加酸化インジウム(ITO)、
アンチモン添加酸化錫(ATO)、亜鉛添加酸化インジウ
ム(IZO)及びアルミニウム添加酸化亜鉛(AZO)等を
用いることができる。LCD、有機EL等のディスプレ
イ用透明導電膜形成用材料としては、特に、ITO、I
ZO、酸化亜鉛、SnO2、CaWO4が好ましい。
微粒子を有機溶媒に分散させたものである。用いる有機
溶媒としては、使用する微粒子によって適宜選択すれば
よく、例えば、次のようなものがある。すなわち、メタ
ノール、エタノール、プロパノール、イソプロピルアル
コール、及びブタノール等のアルコール類、エチレング
リコール等のグリコール類、アセトン、メチルエチルケ
トン及びジエチルケトン等のケトン類、酢酸エチル、酢
酸ブチル及び酢酸ベンジル等のエステル類、メトキシエ
タノール及びエトキシエタノール等のエーテルアルコー
ル類、ジオキサン及びテトラヒドロフラン等のエーテル
類、N,N−ジメチルホルムアミド等の酸アミド類、ト
ルエン、キシレン等の芳香族炭化水素類等を挙げること
ができる。さらに、本発明では、この有機溶媒中には水
も含まれるものとする。
に応じて、分散液とした場合に塗布しやすく、かつ所望
の膜厚を得ることができるように適宜選択すればよい。
例えば、溶媒に対し微粒子1〜10wt%である。分散
液を塗布する被処理基板としての支持体には、通常用い
られるガラス基板や有機樹脂材料からなる基板を挙げる
ことができ、その形状としては平板、立体物、フィルム
等であってもよい。有機樹脂材料としては、例えば、セ
ルロースアセテート類、ポリスチレン、ポリエチレンテ
レフタレート、ポリスチレン類、ポリエーテル類、ポリ
イミド、エポキシ樹脂、フェノキシ樹脂、ポリカーボネ
ート、ポリフッ化ビニリデン、テフロン(登録商標)等
を用いることができる。これらを単独又は貼り合わせて
支持体として用いてもよい。この被処理基板は、分散液
を塗布する前に、純水や超音波等を用いて洗浄すること
が好ましい。
ガスの1成分であるハロゲン化金属ガスとしては、好ま
しくは、フッ化インジウム、塩化インジウム、臭化イン
ジウム及びヨウ化インジウムガスをあげることができ
る。また、有機金属化合物ガスとしては、酸素又はオゾ
ンと反応するものであればよく、好ましくは、トリメチ
ルインジウム、トリメチルスズ等のガスがある。また、
酸素、オゾンを含むガスとしては、反応するのに充分な
量の酸素、オゾンを含んでいるガスであればよい。さら
に、混合ガスを導入するためにキャリアーガスとしてア
ルゴン等の不活性ガスを用いることができる。これらの
ガスの成分金属としては、金属酸化物微粒子の導電性金
属と同じものでも異なったものでもよい。
後に250℃程度の低温で加熱処理すると、透明電導膜
形成用金属酸化物単体では充分に焼結せず、小さな空孔
を持った多孔質膜が生成され、電気抵抗の小さな透明導
電膜を形成することができない。しかし、本発明のプロ
セス条件で加熱処理すると、生成した多孔質膜中の空孔
が、例えば、酸素又はオゾンとハロゲン化インジウムガ
ス又は有機インジウムガスとの反応で生成したインジウ
ム酸化物で充填されるようになる。そのため、透明導電
膜は緻密化し、電気抵抗も小さい。同時に、金属酸化物
微粒子と被処理基板との空隙もこのインジウム酸化物で
完全に充填されるため、金属酸化物単体の場合と比べ
て、透明導電膜と被処理基板との密着性も著しく向上す
る。
する。 (実施例1)Snが5重量%添加されたIn2O3の微粒
子(ITO:粒径1μm以下)を、濃度が5%となるよう
に酢酸n−ブチル中に分散して分散液を調製した。この
分散液をスピンコート法でガラス基板に塗布した。この
基板を、大気中で200℃で5分間大気中で加熱し、膜
厚が約100nmの多孔質透明導電膜を形成した。次い
で、この基板をさらに加熱処理した。すなわち、図1に
示すステンレス製真空容器内に設けた加熱機構としての
ヒータープレート1上に基板2を設置し、容器内を真空
排気した後、酸素ガス導入パイプ3及び有機金属化合物
ガス導入パイプ4を経て、容器内に、酸素ガス及びトリ
メチルインジウムガスをアルゴンガスをキャリアーガス
として用いたバブリング法で導入した。この時の容器内
の圧力を90kPa以下、また、基板温度を250℃と
した。かくして、膜厚約150nmの透明導電膜が形成
された。このようにして得られた透明導電膜は緻密化し
ており、以下述べるように電気抵抗も小さい。
図2に示す。図2に示すように、基板11上に形成され
た透明導電膜は、導電膜形成用金属酸化物(ITO)の微
粒子12からなり、多孔質膜中の空孔及び金属酸化物微
粒子12と被処理基板11との空隙等が、酸素とトリメ
チルインジウムとの反応の生成物であるインジウム酸化
物膜13で充填されている構造を有している。上記製造
方法において加熱時間を3、5、10分で行い、各加熱
時間において得られた透明電導膜に対し、シート抵抗
(Ω/□)を測定した。その結果を表1に示す。
ば、シート抵抗の低い透明導電膜が得られている。この
シート抵抗は、対照としてITO微粒子を大気中で50
0℃で焼結して得られた透明導電膜のシート抵抗(15
〜30KΩ/□)と比べて、極めて低い値であった。そ
の他の上記透明導電膜形成用金属酸化物微粒子を用いた
場合も、上記方法に従えば、低温燒結で同様に低いシー
ト抵抗を有する透明導電膜が得られる。
明導電膜の空孔及び被処理基板と金属酸化物微粒子との
空隙が導電性金属酸化物膜で充填されているので、電気
抵抗が低く、かつ、被処理基板との密着性も高い。ま
た、本発明の低抵抗透明導電膜の製造法によれば、低い
焼結温度で、焼結後の電気抵抗が小さい薄膜状透明導電
膜を簡単な装置で安価に製造することができる。
模式的に示す概略構成図。
的に示す断面図。
合物ガス導入パイプ 11 基板 12 ITO微
粒子 13 インジウム酸化物膜
7)
造法
Claims (6)
- 【請求項1】 透明導電膜形成用金属酸化物の微粒子を
酸素又はオゾンを含むガスとハロゲン化金属ガス又は有
機金属化合物ガスとの混合ガス雰囲気中で100〜25
0℃で焼結した、該金属酸化物からなる多孔質透明導電
膜中の空孔が酸素又はオゾンとハロゲン化金属又は有機
金属化合物との反応により生成された金属酸化物で充填
されている構造を有する低抵抗透明導電膜。 - 【請求項2】 前記透明導電膜形成用金属酸化物が、I
TO、ATO、IZO、ZnO、SnO2、CaWO4
から選ばれたものであることを特徴とする請求項1記載
の低抵抗透明導電膜。 - 【請求項3】 前記ハロゲン化金属ガスがハロゲン化イ
ンジウムガス、ハロゲン化スズガスであり、前記有機金
属化合物ガスがトリメチルインジウムガス、トリメチル
スズガスであることを特徴とする請求項1又は2記載の
低抵抗透明導電膜。 - 【請求項4】 透明導電膜形成用金属酸化物の微粒子の
分散液を被処理基板上に塗布し、大気中で150〜20
0℃で燒結して多孔質透明導電膜を形成し、次いで、酸
素又はオゾンを含むガスとハロゲン化金属ガス又は有機
金属化合物ガスとの混合ガス雰囲気中で100〜250
℃で加熱して透明導電膜を形成することを特徴とする低
抵抗透明導電膜の製造法。 - 【請求項5】 前記透明導電膜形成用金属酸化物が、I
TO、ATO、IZO、ZnO、SnO2、CaWO4
から選ばれたものであることを特徴とする請求項4記載
の低抵抗透明導電膜の製造法。 - 【請求項6】 前記ハロゲン化金属ガスがハロゲン化イ
ンジウムガス、ハロゲン化スズガスであり、前記有機金
属化合物ガスがトリメチルインジウムガス、トリメチル
スズガスであることを特徴とする請求項4又は5記載の
低抵抗導電膜の製造法。
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Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005022559A1 (ja) * | 2003-09-02 | 2005-03-10 | Tdk Corporation | 転写用導電性フィルム、それを用いた透明導電膜の形成方法及び透明導電膜 |
JP2005332748A (ja) * | 2004-05-21 | 2005-12-02 | Asahi Denka Kogyo Kk | 透明導電膜形成用塗布液 |
WO2006025470A1 (ja) | 2004-08-31 | 2006-03-09 | Sumitomo Metal Mining Co., Ltd. | 導電性粒子、可視光透過型粒子分散導電体およびその製造方法、透明導電薄膜およびその製造方法、これを用いた透明導電物品、赤外線遮蔽物品 |
JP2007042690A (ja) * | 2005-07-29 | 2007-02-15 | Fujifilm Holdings Corp | ナノ粒子分散液、それを用いた半導体デバイスの製造方法及び半導体デバイス |
WO2008028611A2 (de) * | 2006-09-04 | 2008-03-13 | Novaled Ag | Organisches lichtemittierendes bauteil und verfahren zum herstellen |
JP2009185389A (ja) * | 2009-05-11 | 2009-08-20 | Hitachi Zosen Corp | 有価金属のリサイクル方法 |
US7915815B2 (en) | 2005-03-11 | 2011-03-29 | Novaled Ag | Transparent light-emitting component |
KR101472219B1 (ko) * | 2012-09-18 | 2014-12-11 | 주식회사 엘지화학 | 투명 전도성막 및 이의 제조방법 |
US11105959B2 (en) | 2004-08-31 | 2021-08-31 | Sumitomo Metal Mining Co., Ltd. | Electroconductive particle, visible light transmitting particle-dispersed electrical conductor and manufacturing method thereof, transparent electroconductive thin film and manufacturing method thereof, transparent electroconductive article that uses the same, and infrared-shielding article |
WO2022202640A1 (ja) | 2021-03-22 | 2022-09-29 | 住友金属鉱山株式会社 | 透明導電膜、透明導電膜の製造方法、透明導電部材、電子ディスプレイ機器、および太陽電池 |
-
2002
- 2002-02-26 JP JP2002050300A patent/JP3803592B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4635421B2 (ja) * | 2003-09-02 | 2011-02-23 | Tdk株式会社 | 転写用導電性フィルム、及びそれを用いた透明導電膜の形成方法 |
JP2005078986A (ja) * | 2003-09-02 | 2005-03-24 | Tdk Corp | 転写用導電性フィルム、それを用いた透明導電膜の形成方法及び透明導電膜 |
WO2005022559A1 (ja) * | 2003-09-02 | 2005-03-10 | Tdk Corporation | 転写用導電性フィルム、それを用いた透明導電膜の形成方法及び透明導電膜 |
US7488894B2 (en) | 2003-09-02 | 2009-02-10 | Tdk Corporation | Conductive film for transfer, method for forming transparent conductive film using same, and transparent conductive film |
JP2005332748A (ja) * | 2004-05-21 | 2005-12-02 | Asahi Denka Kogyo Kk | 透明導電膜形成用塗布液 |
JP4542369B2 (ja) * | 2004-05-21 | 2010-09-15 | 株式会社Adeka | 透明導電膜形成用塗布液及び透明導電膜の形成方法 |
WO2006025470A1 (ja) | 2004-08-31 | 2006-03-09 | Sumitomo Metal Mining Co., Ltd. | 導電性粒子、可視光透過型粒子分散導電体およびその製造方法、透明導電薄膜およびその製造方法、これを用いた透明導電物品、赤外線遮蔽物品 |
US11105959B2 (en) | 2004-08-31 | 2021-08-31 | Sumitomo Metal Mining Co., Ltd. | Electroconductive particle, visible light transmitting particle-dispersed electrical conductor and manufacturing method thereof, transparent electroconductive thin film and manufacturing method thereof, transparent electroconductive article that uses the same, and infrared-shielding article |
US8980135B2 (en) | 2004-08-31 | 2015-03-17 | Sumitomo Metal Mining Co., Ltd. | Electroconductive particle, visible light transmitting particle-dispersed electrical conductor and manufacturing method thereof, transparent electroconductive thin film and manufacturing method thereof, transparent electroconductive article that uses the same, and infrared-shielding article |
US7915815B2 (en) | 2005-03-11 | 2011-03-29 | Novaled Ag | Transparent light-emitting component |
JP2007042690A (ja) * | 2005-07-29 | 2007-02-15 | Fujifilm Holdings Corp | ナノ粒子分散液、それを用いた半導体デバイスの製造方法及び半導体デバイス |
JP4738931B2 (ja) * | 2005-07-29 | 2011-08-03 | 富士フイルム株式会社 | ナノ粒子分散液、それを用いた半導体デバイスの製造方法及び半導体デバイス |
WO2008028611A2 (de) * | 2006-09-04 | 2008-03-13 | Novaled Ag | Organisches lichtemittierendes bauteil und verfahren zum herstellen |
EP1895608A3 (de) * | 2006-09-04 | 2011-01-05 | Novaled AG | Organisches lichtemittierendes Bauteil und Verfahren zum Herstellen |
JP2010511970A (ja) * | 2006-09-04 | 2010-04-15 | ノヴァレッド・アクチエンゲゼルシャフト | 有機発光素子およびその製造方法 |
CN101159316B (zh) * | 2006-09-04 | 2012-09-05 | 诺瓦莱德公开股份有限公司 | 有机发光元件和制造的方法 |
KR101495271B1 (ko) | 2006-09-04 | 2015-02-24 | 노발레드 게엠베하 | 유기 발광 컴포넌트 및 제조 방법 |
WO2008028611A3 (de) * | 2006-09-04 | 2008-06-05 | Novaled Ag | Organisches lichtemittierendes bauteil und verfahren zum herstellen |
JP2009185389A (ja) * | 2009-05-11 | 2009-08-20 | Hitachi Zosen Corp | 有価金属のリサイクル方法 |
KR101472219B1 (ko) * | 2012-09-18 | 2014-12-11 | 주식회사 엘지화학 | 투명 전도성막 및 이의 제조방법 |
CN104584139A (zh) * | 2012-09-18 | 2015-04-29 | Lg化学株式会社 | 透明导电膜及其制备方法 |
WO2022202640A1 (ja) | 2021-03-22 | 2022-09-29 | 住友金属鉱山株式会社 | 透明導電膜、透明導電膜の製造方法、透明導電部材、電子ディスプレイ機器、および太陽電池 |
KR20230158488A (ko) | 2021-03-22 | 2023-11-20 | 스미토모 긴조쿠 고잔 가부시키가이샤 | 투명 도전막, 투명 도전막의 제조 방법, 투명 도전 부재, 전자 디스플레이 기기 및 태양 전지 |
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---|---|
JP3803592B2 (ja) | 2006-08-02 |
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JPH05166414A (ja) | 透明導電膜およびその形成方法 |
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