JP4170639B2

JP4170639B2 - 低抵抗透明導電膜の製造法

Info

Publication number: JP4170639B2
Application number: JP2002050299A
Authority: JP
Inventors: 裕明川村; 日出夫竹井; 暁石橋
Original assignee: Ulvac Inc
Current assignee: Ulvac Inc
Priority date: 2002-02-26
Filing date: 2002-02-26
Publication date: 2008-10-22
Anticipated expiration: 2022-02-26
Also published as: JP2003249132A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、低抵抗透明導電膜の製造法に関する。得られた低抵抗透明導電膜は、ＬＣＤ、有機ＥＬ等のフラットパネルディスプレイ用透明導電膜として利用できる。
【０００２】
【従来の技術】
従来より、ＬＣＤや有機ＥＬ等のフラットパネルディスプレイ用透明導電膜は、蒸着法、イオンプレーティング法、スパッタリング法等によって、ガラス基板上に金属酸化物を付着せしめることにより製造されている。しかしながら、これらの方法では、装置が大がかりになり装置コストが高くなると共に、製造コストが高くなる等のため、簡単な装置で安価に製造する方法が求められていた。
【０００３】
そのために、フラットパネルディスプレイ用透明導電膜を簡単な装置で安価に製造することを目的として、従来のスパッタ成膜法等に代えて、近年、ＩＴＯ膜等の透明導電膜をスピン塗布、スプレー塗布、インクジェット塗布で形成することが提案されている。この場合、透明導電膜形成材料としては、例えば、ＩＴＯ等の微粒子を有機溶媒に分散した分散液が使用される。この分散液を上記塗布方法で基板に塗布した後加熱して、有機溶媒の除去とＩＴＯ微粒子の焼結とを行い、基板上に薄膜状のＩＴＯ膜を形成する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
上記塗布法で用いられる従来の材料は、低温加熱では焼結後の電気抵抗(シート抵抗)が数ｋΩ／□と大きく、また、電気抵抗が小さいものを得ようとすると焼結の際に高温加熱(例えば、３００℃程度以上)が必要なため、ＬＣＤ、有機ＥＬ等のフラットパネルディスプレイの分野における透明導電膜の形成には使用できないという問題がある。そのため、低温で焼結でき、低抵抗値を有する透明導電膜の製造法が求められている。
【０００５】
本発明の課題は、上記従来技術の問題点を解決することにあり、焼結温度が低く、かつ、焼結後の電気抵抗(シート抵抗)が小さい薄膜状透明導電膜の製造法を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明者らは、低抵抗透明導電膜を得るために、その材料及び製造プロセスについて鋭意研究・開発を行ってきた。その結果、低温加熱(２５０℃以下)で電気抵抗を大幅に下げることができる低抵抗透明導電膜の製造法を見出し、本発明を完成させるに至った。
【０００７】
本発明の低抵抗透明導電膜の製造法は、透明導電膜形成用金属酸化物の各成分金属の少なくとも１種の金属の微粒子又は該各成分金属からなる少なくとも１種の合金の微粒子を有機溶媒に対し１〜１０重量％の範囲で分散させて調製した分散液を被処理基板上に塗布した後、前記処理基板を１５０℃〜２５０℃の範囲内の温度に加熱し、酸化と焼結とを同時に行って金属酸化物からなる透明導電膜を形成することを特徴とする。
本発明においては、上記酸化と焼結とを大気圧の酸素ガス若しくはオゾンガス雰囲気中、又は不活性ガス、例えば、ヘリウム等の希ガス等に酸素ガス若しくはオゾンガスを添加したガスの大気圧プラズマのようなプラズマ雰囲気中で行う。処理基板の温度が１５０℃未満であると充分焼結せず、また、２５０℃を超えるとディスプレイ製造工程上問題が生じる。
【０００８】
分散液は、酸化インジウム、酸化錫、酸化亜鉛、酸化カドミウム、酸化ガリウム、Ｉｎ_２Ｏ_３(ＺｎＯ)_ｍ、及びＩｎＧａＯ_３(ＺｎＯ)_ｍ等や、これら酸化物にドーパントを添加した錫添加酸化インジウム(ＩＴＯ)、アンチモン添加酸化錫(ＡＴＯ)、亜鉛添加酸化インジウム(ＩＺＯ)及びアルミニウム添加酸化亜鉛(ＡＺＯ)から選ばれた金属酸化物の各成分金属の少なくとも１種の金属の微粒子分散液又は該各成分金属からなる少なくとも１種の合金の微粒子分散液をである。ＩＴＯ、ＡＴＯ、ＩＺＯ、ＺｎＯ、ＳｎＯ_２、ＣａＷＯ_４から選ばれるものが好ましい。
上記製造法において、酸化と燒結との工程で酸化性雰囲気中に紫外線照射を行うことが好ましい。
本発明の方法で製造した低抵抗透明導電膜は、ガラス基板や有機樹脂材料からなる基板との密着性も併せ持つという特徴を有する。
【０００９】
【発明の実施の形態】
本発明によれば、上記したように、透明導電膜形成用金属酸化物の各成分金属の少なくとも１種の金属の微粒子又は該各成分金属からなる少なくとも１種の合金の微粒子の分散液を被処理基板上に、例えば、スピン塗布、スプレー塗布、インクジェット塗布、浸漬塗布、ロールコート法、スクリーン印刷法等の公知の方法を用いて塗布した後、酸化性雰囲気中で、通常の透明導電膜形成用材料の微粒子を単体で焼結するのに必要な温度(一般に、５００〜７００℃)よりはるかに低温(１５０〜２５０℃)で加熱し、酸化と燒結とを同時に行って成膜することにより透明導電膜が得られる。この製造法において、燒結前に、分散液を塗布した基板を所定の温度で乾燥してもよい。
【００１０】
本発明における分散液は、上記微粒子を有機溶媒に分散させたものである。用いる有機溶媒としては、使用する微粒子によって適宜選択すればよく、例えば、次のようなものがある。すなわち、メタノール、エタノール、プロパノール、イソプロピルアルコール、及びブタノール等のアルコール類、エチレングリコール等のグリコール類、アセトン、メチルエチルケトン及びジエチルケトン等のケトン類、酢酸エチル、酢酸ブチル及び酢酸ベンジル等のエステル類、メトキシエタノール及びエトキシエタノール等のエーテルアルコール類、ジオキサン及びテトラヒドロフラン等のエーテル類、Ｎ,Ｎ−ジメチルホルムアミド等の酸アミド類、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素類等を挙げることができる。さらに、本発明では、この有機溶媒中には水も含まれるものとする。
【００１１】
上記有機溶媒の使用量は、使用する微粒子に応じて、塗布しやすく、かつ所望の膜厚を得ることができるように適宜選択すればよい。例えば、溶媒に対し微粒子１〜１０ｗｔ％である。
分散液を塗布する被処理基板としての支持体には、通常用いられるガラス基板や有機樹脂材料からなる基板を挙げることができ、その形状としては平板、立体物、フィルム等であってもよい。有機樹脂材料としては、例えば、セルロースアセテート類、ポリスチレン、ポリエチレンテレフタレート、ポリスチレン類、ポリエーテル類、ポリイミド、エポキシ樹脂、フェノキシ樹脂、ポリカーボネート、ポリフッ化ビニリデン、テフロン等を用いることができる。これらを単独又は貼り合わせて支持体として用いてもよい。この被処理基板は、分散液を塗布する前に、純水や超音波等を用いて洗浄することが好ましい。
【００１２】
本発明によれば、酸化性雰囲気中で所定の温度で加熱することにより、酸化と焼結が同時に進行して透明導電膜の成膜が可能となる。この際に、金属微粒子は、一般的な透明導電膜材料である金属酸化物の場合よりもはるかに低温で緻密に焼結するため、低温で電気抵抗の小さな透明導電膜を製造することができる。また、焼結と酸化とは、酸化性雰囲気中で同時に行われ、この際、同時にＵＶランプ照射を行うと、時間短縮・低温化の面でさらに効果がある。されらにまた、本発明の製造法には、大気圧プラズマ等を用いた、いわゆるプラズマ焼結として知られている方法も有効である。
【００１３】
【実施例】
以下、本発明の実施例を説明する。
(実施例１)
Ｓｎを５％含むＩｎ合金微粒子（粒径１μｍ以下）を濃度が５重量％となるように酢酸ｎ−ブチルに分散して分散液を調製した。この分散液をスピンコート法によりガラス基板に塗布した後、大気圧の酸素ガス雰囲気中で２５０℃に加熱して、膜厚約１５０ｎｍの透明導電膜を形成した。得られた透明導電膜は緻密化し、以下述べるように電気抵抗も小さい。
上記製造法において、加熱時間を５、１０分、酸素ガス濃度を５０、１００容量％に設定して加熱し、得られた透明電導膜に対し、シート抵抗(Ω／□)を測定した。その結果を表１に示す。
【００１４】
（表１）

【００１５】
表１から明らかなように、本実施例記載の方法によれば、シート抵抗の低い透明導電膜が得られている。このシート抵抗は、対照としてＩＴＯ微粒子を大気中で５００℃で焼結して得られた透明導電膜のシート抵抗(１５〜３０ＫΩ／□)と比べて、極めて低い値であった。
その他の上記各成分金属微粒子を用いた場合も、上記方法に従えば、低温燒結で同様に低いシート抵抗を有する透明導電膜が得られる。
【００１６】
（実施例２）
Ｓｎを５％含むＩｎ合金微粒子（粒径１μｍ以下）を濃度が５重量％となるように酢酸ｎ−ブチルに分散して分散液を調製した。この分散液をスピンコート法によりガラス基板に塗布した後、ヘリウムガスに酸素ガスを添加した大気圧プラズマによるプラズマ焼結(燒結条件：放電電力１ＫＷ、Ｈｅ＋３％Ｏ_２、トータル流量１０ＳＬＭ、放電周波数１３．５６ＭＨｚ)を行い、膜厚約１５０ｎｍの透明導電膜を形成した。なお、酸素ガス添加量は、ヘリウムガスの３容量％とした。
また、ガラス基板に設けた熱電対により基板温度を測定し、基板温度が２５０℃となるように大気圧プラズマの放電電力及びプラズマヘッド−基板間距離を調整した。
【００１７】
得られた透明導電膜は緻密化し、以下述べるように電気抵抗も小さい。
上記製造方法において、加熱時間を５、１０、２０分に設定して加熱し、得られた透明電導膜に対し、シート抵抗(Ω／□)を測定した。その結果を表２に示す。
（表２）

【００１８】
表２から明らかなように、本実施例記載の方法によれば、シート抵抗の低い透明導電膜が得られている。このシート抵抗は、対照としてＩＴＯ微粒子を大気中で５００℃で焼結して得られた透明導電膜のシート抵抗(１５〜３０ＫΩ／□)と比べて、極めて低い値であった。
その他の上記各成分金属微粒子を用いた場合も、上記方法に従えば、低温燒結で同様に低いシート抵抗を有する透明導電膜が得られる。
【００１９】
【発明の効果】
本発明の低抵抗透明導電膜の製造法によれば、透明導電膜形成用金属酸化物の各成分金属の微粒子又はその合金の微粒子を用いて、酸化性雰囲気中で酸化と燒結とを同時に行うので、低い焼結温度で、焼結後の電気抵抗が小さい薄膜状透明導電膜を簡単な装置で安価に製造することができる。

Claims

透明導電膜形成用金属酸化物の各成分金属の少なくとも１種の金属の微粒子又は該各成分金属からなる少なくとも１種の合金の微粒子を有機溶媒に対し１〜１０重量％の範囲で分散させて調製した分散液を被処理基板上に塗布した後、
前記被処理基板を１５０℃〜２５０℃の範囲内の温度に加熱し、酸化と焼結とを同時に行って金属酸化物からなる透明導電膜を形成することを特徴とする低抵抗透明導電膜の製造法。
前記被処理基板の酸化と焼結とを大気圧の酸素ガス若しくはオゾンガス雰囲気中で行うことを特徴とする請求項１記載の低抵抗透明導電膜の製造法。
前記被処理基板の酸化と焼結とを不活性ガスに酸素ガス若しくはオゾンガスを添加したガスのプラズマ雰囲気中で行うことを特徴とする請求項１記載の低抵抗透明導電膜の製造法。
前記分散液が、酸化インジウム、酸化錫、酸化亜鉛、酸化カドミウム、酸化ガリウム、Ｉｎ２Ｏ３(ＺｎＯ)ｍ、及びＩｎＧａＯ３(ＺｎＯ)ｍ、或いはこれら酸化物にドーパントを添加した錫添加酸化インジウム(ＩＴＯ)、アンチモン添加酸化錫(ＡＴＯ)、亜鉛添加酸化インジウム(ＩＺＯ)及びアルミニウム添加酸化亜鉛(ＡＺＯ)から選ばれた金属酸化物の各成分金属の少なくとも１種の金属の微粒子を分散させたもの、又は該各成分金属からなる少なくとも１種の合金の微粒子を分散させたものであることを特徴とする請求項１乃至請求項３のいずれか１項に記載の低抵抗透明導電膜の製造法。
前記被処理基板の酸化と焼結とを酸化性雰囲気中に紫外線照射して行うことを特徴とする請求項２乃至４のいずれか１項に記載の低抵抗透明導電膜の製造法。