JP2003234062A - 三極構造を有する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子及びその製造方法 - Google Patents
三極構造を有する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子及びその製造方法Info
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Abstract
る透明な陰極層112と、陰極層112の一部が底部に
露出したウェル118を有して陰極層112上に形成さ
れる絶縁層115と、ウェル118に対応する開口部1
18’を有して絶縁層115上に配置されたゲート電極
116と、ゲート電極116の上部と開口部及びウェル
118の内壁を囲繞するように形成される光遮断抵抗層
120と、露出した陰極層112上に配置された炭素ナ
ノチューブから構成される電界放出源131とを具備す
る。ゲート電極116と陰極層112との整列誤差を除
去し、炭素ナノチューブのペーストを現像する際に残渣
の残存を抑制することにより電極間の電流漏れ、短絡現
象及びダイオードエミッション等が防止され、電界放出
性能が向上された電界放出素子を提供することができ
る。
Description
炭素ナノチューブを具備する電界放出素子及びその製造
方法に係り、詳細には、高温で焼成する工程におけるゲ
ート電極と陰極電極との整列誤差の発生が抑制された電
界放出素子及びその製造方法に関する。
等に用いられる表示装置として、高速熱電子の放出を利
用する陰極線管と液晶表示素子(LCD;Liquid
Crystal Display)、プラズマ表示パ
ネル(PDP;PlasmaDisplay Pane
l)、電界放出表示素子(FED;Field Emi
ssion Display)等が挙げられる。
子は、広い視野角、高い解像度、低消費電力、温度安定
性の点で陰極線管に比べて非常に有利である。このよう
な電界放出素子は自動車航法装置、電子的な映像装置の
ビューファインダ等の種々の分野に応用することが可能
である。特に、炭素ナノチューブを用いた電界放出表示
素子は、パーソナルコンピュータ、PDA(Perso
nal Data Assistants)端末機、医
療機器、HDTV(High Definition
Television)等のディスプレイ装置に好適に
用いられる。
に示す断面図である。図1に示すように、従来の電界放
出素子は、基板1と、基板1に積層されたITO(In
dium Tin Oxcide)から構成される電極
層2と、ITO電極層2の上に、ITO電極層2の一部
が露出するように形成されるマスク陰極層3と、マスク
陰極層3の上にウェル8を形成するように積層される絶
縁層5と、絶縁層5の上にストリップ状に形成されるゲ
ート電極6と、ウェル8の底部に露出したITO陰極層
2の上に配置された針状の炭素ナノチューブチップを含
む電界放出源31とを具備して構成される。
の製造方法のうち、炭素ナノチューブペーストを印刷す
る前に予め三極構造を形成する工程を示す図面である。
まず、図2Aに示すように、基板1上にITO電極層2
を積層した後、マスク陰極層3を蒸着する。このとき、
基板1としては従来公知のガラスを用いることができ、
マスク陰極層3としては金属層またはアモルファスシリ
コンのような紫外線を効果的に吸収して充分に遮断する
ことが可能な物質を利用する。
層3上にフォトレジスト11−1を塗布してマスク陰極
層3の上部にマスク71−1を配置させた後、紫外線を
照射して露光する。露光工程の後で、現像、エッチング
及び洗浄工程を経れば図2Cに示すようにホール4を有
するマスク陰極層3が形成される。
5を積層する段階を示す。積層が行われた後で、絶縁層
5の絶縁特性のために550℃以上の高温で焼成し、再
びゲート電極6を図2Eに示すように積層する。
るために、露光、現像、エッチング及び洗浄といった一
連のフォトリソグラフィ工程を示す図である。ここで、
参照符号71−2はマスクを、11−2はフォトレジス
トを示す。前記のフォトリソグラフィ工程を経れば、図
2Gに示すようなホール7が形成されたゲート電極6が
形成される。ゲート電極6のパターニングが行われた段
階の後、湿式または乾式のエッチング工程により絶縁層
5及びマスク陰極層3をエッチングして図2Hに示すよ
うにウェル8を形成させてITO陰極層3の一部をウェ
ル8の底部に露出させる。
11−3を塗布した後、マスク71−3をこのフォトレ
ジスト11−3の上に配置させてフォトリソグラフィ工
程を行って図2Jに示すようなストリップ状のゲート電
極6をパターニングする。
絶縁層5を蒸着した後で、高温で焼成するため、ガラス
から構成される基板1は、その特性上、熱的変形を生
じ、整列マークの位置がずれ易い。そして、このように
して整列マークの位置がずれることにより、整列マーク
の位置で比較的大きな誤差が生じたまま、ゲート電極6
を蒸着した後で、図2Iに示すようなゲート電極6のパ
ターンを形成すると、ITO電極のホール4とウェル8
の中央部分が互いに正確に一致しなくなり、炭素ナノチ
ューブ電界放出源31の位置が所望の中央から左右いず
れかの方向に移動することとなる。このようなゲート電
極6と炭素ナノチューブ電界放出源31との整列誤差に
よって、ゲート電極6とITO陰極層2とが互いに接触
または非常に近接するようになるが、このとき、漏れ電
流の発生や電子放出量の減少が生じ易くなる。
での製造工程を経て形成された三極構造の炭素ナノチュ
ーブを電界放出源として形成する従来の製造方法を示す
図面である。ウェル8に炭素ナノチューブペーストを注
入する段階では、犠牲層を使用してリフトオフする方
法、直接整列して注入する方法、及び背面露光して形成
させる方法等が挙げられる。これらの方法のうち、直接
整列して注入する方法では、装備上の整列誤差及び炭素
ナノチューブ物質の粘性により、高アスペクト比を実現
することが困難である。また、背面露光して形成させる
方法では、犠牲層を使用しないため残渣が比較的多く残
存するという問題がある。
トを用いて電界放出源を製造するために、図2Kから図
2Qに示すように、フォトレジストを犠牲層とするリフ
トオフ工程を利用する。図2Kに示すように、図2Jで
形成された三極構造で、ウェル8、絶縁層5及びゲート
電極6を囲繞するようにフォトレジスト11−4を塗布
した後、フォトリソグラフィ工程を行って図2Lに示す
ように絶縁層5及びゲート電極6の上部を除いてウェル
8に形成されたフォトレジスト11−4のみをエッチン
グする。
すようにスクリーンプリンティング法を利用して炭素ナ
ノチューブペースト12をウェル8内部に注入し、フォ
トレジスト11−4を囲繞するように塗布した後、背面
露光を行う。ここで、フォトレジスト11−4は犠牲層
として供される。
ーブペースト12は、図2Nに示すように、露光された
炭素ナノチューブペースト13と露光されていない炭素
ナノチューブペースト13’とに分けられる。これはマ
スク陰極層3の前面に配置された炭素ナノチューブ1
3’が紫外線で露光されなかったためである。
CO3(0.4%wt)のような現像液を利用して現像
すれば、露光された炭素ナノチューブペースト13は残
存し、露光されていない炭素ナノチューブペースト1
3’は犠牲層であるフォトレジスト11−4が現像液に
分散されると同時にリフトオフされる。その結果、図2
Oに示すような形態の炭素ナノチューブペースト14が
得られる。このとき、露光されていない炭素ナノチュー
ブペーストの残渣14’が現像液に溶解されずに残存す
るか、露光された炭素ナノチューブペースト14の一部
が現像液に露出してゲート電極6または絶縁層5に付着
する。
高温の窒素雰囲気で焼成すれば、図2Pに示すように前
記電界放出素子が収縮する。そして、この電界放出素子
を再び機械的な方法で表面処理すれば炭素ナノチューブ
ペースト15の内部に陥没した炭素ナノチューブが表面
に表れて図2Qに示すような炭素ナノチューブ電界放出
源31が形成されるが、やはり残渣15’が残存するこ
ととなる。
ューブペースト内の炭素ナノチューブ残渣16’は、図
2Oに示すように三極構造の表面に付着して電極間の短
絡及び陽極電圧によるダイオードエミッションのような
欠陥を引き起こすおそれがある。
出素子の製造方法によって製造された電界放出素子で、
ゲート電極6と炭素ナノチューブ電界放出源31との間
に整列誤差が発生した状態を示す図である。ゲート電極
6に対して炭素ナノチューブ電界放出源31が右側に偏
って互いの中心がずれていることがわかる。
の問題点を改善するためになされたものであり、その目
的は、高温で焼成を行う工程で生じ得るゲート電極と炭
素ナノチューブとの整列誤差を除去することによって、
ゲート電極と陰極との短絡を防止することが可能な炭素
ナノチューブを備えた電界放出素子とその製造方法を提
供することにある。
やダイオードエミッションの原因になり得る炭素ナノチ
ューブペーストの現像工程における炭素ナノチューブペ
ーストの残渣を抑制することが可能な電界放出素子の製
造方法を提供することにある。
るための本発明に係る三極構造を有する炭素ナノチュー
ブを備えた電界放出素子は、基板と、前記基板上に積層
される透明な陰極層と、前記陰極層の一部が底部に露出
したウェルを有して前記陰極層上に形成される絶縁層
と、前記ウェルに対応する開口部を有して前記絶縁層上
に配置されたゲート電極と、前記ゲート電極の上部と、
前記開口部及び前記ウェルの内壁を囲繞するように形成
される光遮断抵抗層と、前記露出した陰極層上に配置さ
れた炭素ナノチューブ電界放出源とを具備して構成され
る。
モルファスシリコンで構成されることが望ましい。 (3)また、本発明では、前記炭素ナノチューブ電界放
出源が、前記露出した陰極上に配置された炭素ナノチュ
ーブカラム(column;柱)及びその表面に整列さ
れる炭素ナノチューブチップを含んで構成されることが
望ましい。
係る三極構造を有する炭素ナノチューブを備えた電界放
出素子の製造方法は、基板上に透明な陰極層、絶縁層を
順次積層した後で焼成する第1段階と、前記絶縁層上に
ゲート電極を積層した後で前記ゲート電極の中心部に開
口部が形成されるようにパターニングする第2段階と、
前記絶縁層に前記開口部に対応するウェルが形成される
ようにエッチングして前記ゲート電極がストリップ状に
形成されるようにパターニングする第3段階と、前記ゲ
ート電極及び前記ウェルの内壁に光遮断抵抗層を蒸着し
た後で前記ウェルの底部に陰極が露出するようにパター
ニングする第4段階と、前記露出した陰極上に炭素ナノ
チューブ電界放出源を形成する第5段階とを含んで構成
される。
モルファスシリコンで形成されることが望ましい。 (6)また、本発明では、前記光遮断抵抗層が化学気相
蒸着法を利用して形成されることが望ましい。 (7)更に、本発明では、前記炭素ナノチューブ電界放
出源が、前記露出した陰極上に配置された炭素ナノチュ
ーブカラム及びその表面に整列される炭素ナノチューブ
チップを含むことが望ましい。
発明に係る三極構造を有する炭素ナノチューブを備えた
電界放出素子の製造方法は、基板上に積層される陰極層
と、前記陰極層状にウェルを有するように形成される絶
縁層と、前記ウェルに対応する開口部を有して前記絶縁
層上に形成されるゲート電極とを具備する三極構造電界
放出素子の製造方法において、前記絶縁層及び前記ゲー
ト電極を囲繞するように保護層を蒸着した後、前記絶縁
層及び前記ゲート電極の上部にのみ保護層が残存するよ
うにパターニングする第1段階と、前記ウェル及び前記
開口部を充填して前記保護層状に積層されるように炭素
ナノチューブペーストを塗布する第2段階と、前記基板
の背面から光を照射して前記炭素ナノチューブペースト
及び前記保護層を露光させた後、現像して露光されてい
ない炭素ナノチューブペースト及び前記保護層をリフト
オフして炭素ナノチューブカラムを形成する第3段階
と、前記炭素ナノチューブカラムを焼結して高さを低め
た後、表面処理して前記炭素ナノチューブカラムの表面
に炭素ナノチューブチップが整列される電界放出源を形
成する第4段階とを含んで構成される。
ィルムで構成されることが望ましい。 (10)また、本発明では、前記第3段階で、前記露光
されていない炭素ナノチューブペースト及び前記保護層
を同時にリフトオフするか、前記露光されていない炭素
ナノチューブペーストを現像液で先に除去した後、保護
層をリフトオフすることが望ましい。
ていない炭素ナノチューブペーストを先に除去すると
き、前記炭素ナノチューブペーストを、Na2CO3溶液
を使用して除去した後、前記保護層を除去するために水
酸化ナトリウム溶液を使用することが望ましい。 (12)また、本発明では、前記第3段階で、前記露光
されていない炭素ナノチューブペーストを現像液で先に
除去した後、保護層をリフトオフすることが望ましい。
ていない炭素ナノチューブペーストがNa2CO3溶液を
使用して除去されることが望ましい。 (14)そして、本発明では、前記保護層の除去する際
に水酸化ナトリウム溶液を使用することが望ましい。
に係る実施の形態の電界放出素子とその製造方法につい
て詳細に説明する。ここで、同じ構成要素については、
たとえ異なる図面であっても同一の参照番号を附して重
複した説明を省略する。
子を模式的に示す断面図である。図4に示すように、基
板111上に陰極層112が積層されており、陰極層1
12上にはウェル118を有する絶縁層115が形成さ
れている。そして、絶縁層115の上部にはウェル11
8が延びる開口部118’を有するストリップ状のゲー
ト電極116がパターニングされており、ゲート電極1
16及びウェル118の内壁をすべて囲繞するように光
遮断抵抗層120が形成されている。
2が一部露出している。そして、この陰極層112上に
は、炭素ナノチューブカラム及びその上部に、炭素ナノ
チューブチップが整列された炭素ナノチューブ電界放出
源131が配置されている。
係る第1実施形態の三極構造を有する炭素ナノチューブ
を備えた電界放出素子の製造方法を模式的に示す断面図
である。まず、図5Aに示すように、基板111上にI
TOより構成される陰極層112を蒸着する。前記した
ように背面露光のために透明な伝導性物質でITO陰極
層112を形成する。
2上に絶縁層115を成膜して550℃以上の高温で焼
成する。本発明に係る第1実施形態の三極構造を有する
炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の製造方法で
は、従来の三極構造を有する炭素ナノチューブを備えた
電界放出素子の製造方法と異なり、マスク陰極層3を除
去して直ちに絶縁層115を陰極層112上に蒸着し、
陰極パターンを形成する前に焼成工程を行うので、陰極
パターンとゲート電極パターンとの間に整列誤差が発生
しない。
すように、絶縁層115の上部にゲート電極116を積
層する。このゲート電極116を積層する工程が行われ
た後で、図5Dに示すように、ゲート電極層116上に
フォトレジスト110−1を塗布した後、前記フォトレ
ジスト10の上部にマスク117−1を被覆して露光す
るといった前記と同様の一連のフォトリソグラフィ工程
を行う。
形成されたゲートパターンを図5Eに示す。ゲート電極
116に形成されたホール117に対応して絶縁層11
5を図5Fに示すようにエッチングする。エッチングさ
れた空間は炭素ナノチューブペースト151が印刷され
るウェル118である。
状のパターンを形成するために露光、現像、エッチング
及び洗浄の工程を含む一連のフォトリソグラフィ工程を
示しており、前記フォトリソグラフィ工程により形成さ
れたゲート電極116のパターンが図5Hに示されてい
る。ここで、参照符号110−2はフォトレジストを示
し、171−2はマスクを示す。
スシリコンのような抵抗成分を有して紫外線を遮断する
物質をゲート電極116及びウェル118の内壁に蒸着
する。前記紫外線遮断物質より構成される光遮断抵抗層
120は段差形状の塗布が容易な化学気相蒸着法(CV
D;Chemical Vapor Depositi
on)を利用して蒸着する。
スト110−3を塗布してその上部にマスク171−3
を配置させて露光及び現像を含むフォトリソグラフィ工
程を行い、図5Kに示すようにウェル118の底部に陰
極層112を露出させる。この工程の後で、図5Lに示
すようにウェル118及び紫外線を遮断する光遮断抵抗
層120をフォトレジスト110−4で全体的に塗布
し、マスク171−4をその上部に配置させてフォトリ
ソグラフィ工程を行って図5Mに示すようにフォトレジ
スト110−4をパターニングする。
出した陰極112上のフォトレジスト110−4は除去
されて、フォトレジスト110は図5Mに示すように紫
外線を遮断する光遮断抵抗層120上にのみ積層されて
いる。そして、図5Nに示すように、炭素ナノチューブ
ペースト130を、ウェル118を含む空間に注入して
フォトレジスト110を被覆するように塗布した後、基
板111の背面に紫外線を照射して炭素ナノチューブペ
ースト130を露光させる。更に、図5Oに示すよう
に、炭素ナノチューブペースト130は、紫外線を遮断
する光遮断抵抗層120によって、露光された炭素ナノ
チューブペースト132と露光されていない炭素ナノチ
ューブ132’とに分けられる。
Pに示すように露光されていない炭素ナノチューブペー
スト132’が除去され、露光された炭素ナノチューブ
ペースト132が残存する。引き続き、焼成工程を行う
ことにより、図5Qに示すように炭素ナノチューブペー
スト132の高さが低くなって炭素ナノチューブカラム
133が形成され、この炭素ナノチューブカラム133
を表面処理すれば、図5Rに示すように、針状の炭素ナ
ノチューブが整列された電界放出源134が形成され
る。
法により製造された三極構造を有する炭素ナノチューブ
を備えた電界放出素子を示す写真である。図6に示すよ
うに、本発明に係る第1実施形態の電界放出素子の製造
方法により製造された三極構造を有する炭素ナノチュー
ブを備えた電界放出素子は、図3に示す従来の電界放出
素子とは異なり、炭素ナノチューブを備えた電界放出源
131と紫外線を遮断する光遮断抵抗層120とが、整
列誤差を生じることなく、より正確な位置に配置されて
形成されていることがわかる。
する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の製造方法
は、比較的大面積の電界放出素子を具現する際に、高温
で行われる焼成工程で生じ得るゲート電極パターンと陰
極パターンとの整列誤差を抑制することで、炭素ナノチ
ューブの電子放出によるゲート電極と陰極電極との電気
的短絡現象を防止することができるという長所を備えて
いる。
する工程で、従来の液状フォトレジストを犠牲層として
背面露光した後でリフトオフする方式を採用すると、露
光されていない炭素ナノチューブ、または炭素ナノチュ
ーブペーストの残渣が残存して、前記ゲート電極と陰極
電極との間の電気的短絡現象や陽極電圧による電子放出
などの欠陥を発生させる場合がある。
消すべく、本発明に係る第2実施形態の三極構造を有す
る炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の製造方法を
提案する。すなわち、本発明に係る第2実施形態の三極
構造を有する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の
製造方法は、炭素ナノチューブペーストの現像を行う際
に、残渣の存在による性能低下を防止すべく陰極表面に
保護層を積層する。
形態の三極構造を有する炭素ナノチューブを備えた電界
放出素子の製造方法を示す。図7Aは、本発明に係る第
2実施形態の三極構造を有する炭素ナノチューブを備え
た電界放出素子の製造方法で、1例として用いた、図2
Jに示すような従来の電界放出素子の三極構造を模式的
に示す断面図である。参照符号211は基板を示し、参
照番号212はITO電極層を示し、参照番号213は
ゲート電極を示し、参照番号215は絶縁層を示し、参
照番号216はゲート電極を示す。
種であるDFRフィルムのような、現像液を処理する際
にも残存する物質を使用して保護層217を絶縁層21
5及びゲート電極216の上部に積層した後、マスク2
71をその上部に配置させて露光及び現像工程を含むフ
ォトリソグラフィ工程を通して図7Cに示すように保護
層217をパターニングしてゲート電極216、絶縁層
215及びマスク陰極層213を順次エッチングしてウ
ェル218を形成する。
示すように、ウェル218に炭素ナノチューブペースト
220を注入して保護層217上にも炭素ナノチューブ
ペースト220が被覆されるように塗布する。このよう
に塗布が行われた後、基板211の背面に紫外線を照射
して背面露光を行えば、マスク陰極層213が形成され
た部分の前面では紫外線が遮断されて炭素ナノチューブ
ペースト221’及び保護層217が露光されず、マス
ク陰極層213がエッチングされてITO陰極層212
が露出した部分の前面では紫外線が通過するので、この
部分に配置された炭素ナノチューブペースト221のみ
が感光されて図7Eに示す形態となる。
CO3溶液)で現像すれば露光されていない炭素ナノチ
ューブ221’が除去され、図7Fに示すように、DF
R(Dry Film Release)フィルムより
構成される保護層217は残存する。本発明では、保護
層217をリフトオフするために4%NaOH溶液を使
用するのが望ましいが、DFRフィルムより構成される
保護層217はNaOH溶液に溶解されずに、フィルム
自体の形態を維持しながら表面からそのままリフトオフ
されて、溶液内の炭素ナノチューブの残渣が残存するこ
とを抑制する。図7Fに、保護層217がゲート電極2
16からリフトオフされる工程を示す。
ブ221’と保護層217とを分離して除去する代わり
に、図7Fの段階で、NaOH溶液を用いて処理すれ
ば、炭素ナノチューブ221’及び保護層217とが同
時に、露光された炭素ナノチューブ221及びゲート電
極216からリフトオフされる。
ブ221’と保護層217とが化学的に結合され、更
に、保護層217がフィルム型のDFRであることによ
ってはじめて可能となる技術である。このことは本発明
で特筆すべきことである。
用した場合には、露光されていない炭素ナノチューブ及
びフォトレジストが現像液に分散されてしまうので、前
記のような化学的な結合も形成されない。したがって、
従来の液状フォトレジストを使用したときには、このよ
うにして炭素ナノチューブ221’及び保護層217と
を同時に、露光された炭素ナノチューブ221及びゲー
ト電極216からリフトオフさせて、炭素ナノチューブ
221’及び保護層217と、露光された炭素ナノチュ
ーブ221及びゲート電極216とを同時に分離するこ
とは不可能であった。
する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の製造方法
で例示したDFRフィルムは保護層としての1例に過ぎ
ない。すなわち、本発明にあっては、炭素ナノチューブ
と化学結合を形成し、かつ現像液上でも固体状で残存し
て、三極構造から適切にリフトオフされる物質であれば
保護層として用いることが可能である。
チューブペーストの残渣が発生する理由は、露光されて
いない炭素ナノチューブ及び犠牲層であるフォトレジス
トがリフトオフを行う工程で現像液に分散され、陰極の
最上部にある炭素ナノチューブペーストが現像液に露出
するためである。
チューブペーストの残渣の発生を防止すべく、露光され
ていない炭素ナノチューブと化学的な結合を形成する物
質である1例のDFRフィルムを保護層として塗布する
ことにより、現像液上でも分散されないようにして、リ
フトオフを行う工程でゲート電極層を保護して露光され
た炭素ナノチューブが現像液に直接接触しないようにす
る。したがって、本発明に係る第2実施形態の三極構造
を有する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の製造
方法では、露光されていない炭素ナノチューブが残存し
ない。
ように焼成工程を実行して炭素ナノチューブカラム22
4の高さを低くして表面処理を行えば、図7Hに示すよ
うに、針状の炭素ナノチューブ225が電界放出源とし
て作用する電界放出素子が完成される。
する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の製造方法
は、図2Jに示すような従来の三極構造を有する炭素ナ
ノチューブにも適用できるのみならず、図5Kに示すよ
うな前記した本発明に係る第1実施形態の三極構造を有
する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の製造方法
による三極構造にも適用できる。
紫外線を遮断する光遮断抵抗層120に塗布されるよう
にDFRフィルムより構成される保護層217をパター
ニングした後、図7Dから図7Hに示す工程と同様の工
程を実行して図5Rに示すような形態の電界放出素子を
製造することが可能である。
構造を有する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の
製造方法で製造された電界放出素子と、本発明に係る第
2実施形態の三極構造を有する炭素ナノチューブを備え
た電界放出素子の製造方法で製造された電界放出素子と
の相違点は、前者が紫外線を遮断するために紫外線遮断
マスク陰極層を具備しているのに対し、後者は紫外線を
遮断するために紫外線を遮断する光遮断抵抗層を具備し
ているという点のみである。
する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の製造方法
は、炭素ナノチューブペーストを現像する際に発生し得
る残渣を抑制することによって、陰極表面を保護して電
極間の短絡やダイオードエミッションを防止することが
できる。
造を有する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の製
造方法で犠牲層として液状フォトレジストを使用して製
造された電界放出素子の電子放出の状態を示す写真であ
り、図9は本発明に係る第2実施形態の三極構造を有す
る炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の製造方法で
犠牲層としてDFRフィルムを使用して製造された電界
放出素子の電子放出の状態を示す写真である。
造方法で犠牲層にDFRフィルムを用いて製造された製
造された電界放出素子は、図8に示す本発明に係る第2
実施形態の製造方法で犠牲層に液状フォトレジストを用
いて製造された電界放出素子に比べてより明るい光を放
射していることから、前記DFRフィルムを犠牲層に用
いた場合には、炭素ナノチューブの残渣が更に効果的に
除去されることがわかる。
よれば以下の効果を奏する。すなわち、本発明に係る三
極構造を有する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子
の製造方法によれば、マスク陰極層を除去して直ちに絶
縁層を陰極層上に蒸着し、陰極パターンを形成する前に
高温での焼成工程を行うので、この電界放出素子のゲー
ト電極と陰極との整列誤差を抑制することが可能であ
る。その結果、電流の漏れが防止されて、電子放出性能
が更に向上された三極構造を有する炭素ナノチューブを
備えた電界放出素子を提供することができる。
ナノチューブを備えた電界放出素子の製造方法によれ
ば、炭素ナノチューブペーストの現像処理を行う工程で
残渣の発生を抑制することができる。その結果、電極間
の短絡やダイオードエミッションが効果的に防止された
三極構造を有する炭素ナノチューブを備えた電界放出素
子を提供することができる。
図である。
方法において、炭素ナノチューブペーストを印刷する前
に三極構造を形成する工程のうち、基板上にITO電極
層を積層した後、マスク陰極層を蒸着する工程を模式的
に示す断面図である。を示す断面図である。
方法において、炭素ナノチューブペーストを印刷する前
に三極構造を形成する工程のうち、マスク陰極層上にフ
ォトレジストを塗布してマスク陰極層の上部にマスクを
配置させた後、紫外線を照射して露光する工程を模式的
に示す断面図である。
方法において、炭素ナノチューブペーストを印刷する前
に三極構造を形成する工程のうち、ホールを有するマス
ク陰極層が形成される工程を模式的に示す断面図であ
る。
方法において、炭素ナノチューブペーストを印刷する前
に三極構造を形成する工程のうち、マスク陰極層の上部
に絶縁層を積層する工程を模式的に示す断面図である。
方法において、炭素ナノチューブペーストを印刷する前
に三極構造を形成する工程のうち、図2Dに示すような
積層が行われた工程の後でゲート電極を積層する工程を
模式的に示す断面図である。
方法において、炭素ナノチューブペーストを印刷する前
に三極構造を形成する工程のうち、ゲート電極をパター
ニングするためのフォトリソグラフィ工程を模式的に示
す断面図である。
方法において、炭素ナノチューブペーストを印刷する前
に三極構造を形成する工程のうち、図2Fに示す工程の
後でホールが形成されたゲート電極が形成された状態を
模式的に示す断面図である。
方法において、炭素ナノチューブペーストを印刷する前
に三極構造を形成する工程のうち、図2Jに示すゲート
電極のパターニングが行われた段階の後、ITO陰極層
の一部をウェルの底部に露出させる工程を模式的に示す
断面図である。
方法において、炭素ナノチューブペーストを印刷する前
に三極構造を形成する工程のうち、フォトレジストを塗
布した後、マスクをその上部に配置させてフォトリソグ
ラフィ工程を行う工程を模式的に示す断面図である。
方法において、炭素ナノチューブペーストを印刷する前
に三極構造を形成する工程のうち、図2Iに示す工程を
経て形成ストリップ状のゲート電極をパターニングする
工程を模式的に示す断面図である。
方法において、図2Aから図2Jまでの工程で形成され
た三極構造の炭素ナノチューブを電界放出源として形成
する工程のうち、図2Jに示す工程で形成された三極構
造でウェル、絶縁層及びゲート電極を囲繞するようにフ
ォトレジストを塗布する工程を模式的に示す断面図であ
る。した後、フォトリソグラフィ工程を行う工程を模式
的に示す断面図である。
方法において、図2Aから図2Jまでの工程で形成され
た三極構造の炭素ナノチューブを電界放出源として形成
する工程のうち、図2Kに示す工程の後でフォトリソグ
ラフィ工程を行い、絶縁層及びゲート電極の上部を除い
てウェルに形成されたフォトレジストのみをエッチング
する工程を模式的に示す断面図である。
方法において、図2Aから図2Jまでの工程で形成され
た三極構造の炭素ナノチューブを電界放出源として形成
する工程のうち、図2Lに示すエッチング工程の後で、
スクリーンプリンティング法を利用して炭素ナノチュー
ブペーストをウェル内部に注入し、フォトレジストを囲
繞するように塗布した後、背面露光を行う工程を模式的
に示す断面図である。
方法において、図2Aから図2Jまでの工程で形成され
た三極構造の炭素ナノチューブを電界放出源として形成
する工程のうち、図2Mの工程で背面露光を行うことに
より、炭素ナノチューブペーストが、露光された炭素ナ
ノチューブペーストと露光されていない炭素ナノチュー
ブペーストとに分けられる状態を模式的に示す断面図で
ある。
方法において、図2Aから図2Jまでの工程で形成され
た三極構造の炭素ナノチューブを電界放出源として形成
する工程のうち、露光が行われた後、現像され露光され
た炭素ナノチューブペーストが残存し、露光されていな
い炭素ナノチューブペーストは犠牲層であるフォトレジ
ストが現像液に分散されると同時にリフトオフされて、
炭素ナノチューブペーストが得られた状態を模式的に示
す断面図である。
方法において、図2Aから図2Jまでの工程で形成され
た三極構造の炭素ナノチューブを電界放出源として形成
する工程のうち、図2Oに示す工程を経た電界放出素子
を窒素雰囲気で焼成することにより、電界放出素子が収
縮した状態を模式的に示す断面図である。
方法において、図2Aから図2Jまでの工程で形成され
た三極構造の炭素ナノチューブを電界放出源として形成
する工程のうち、図2Pに示す電界放出素子を再び機械
的な方法で表面処理することにより、炭素ナノチューブ
ペーストの内部に陥没した炭素ナノチューブが表面に表
れて炭素ナノチューブ電界放出源が形成された状態を模
式的に示す断面図である。
製造方法によって製造された電界放出素子を示す写真で
ある。
式的に示す断面図である。
構造を有する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の
製造方法で、基板上にITOより構成される陰極層を蒸
着する工程を模式的に示す断面図である。
構造を有する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の
製造方法で、陰極層上に絶縁層を成膜して焼成する工程
を模式的に示す断面図である。
構造を有する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の
製造方法で、絶縁層の上部にゲート電極を積層する工程
を模式的に示す断面図である。
構造を有する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の
製造方法で、ゲート電極層上にフォトレジストを塗布
し、このフォトレジストの上部にマスクを被覆して露光
する一連のフォトリソグラフィを行う工程を模式的に示
す断面図である。
構造を有する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の
製造方法で、図5Dに示すフォトリソグラフィ工程で形
成されたゲートパターンを模式的に示す断面図である。
構造を有する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の
製造方法で、ゲート電極に形成されたホールに対応して
絶縁層115をエッチングする工程を模式的に示す断面
図である。
構造を有する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の
製造方法で、ゲート電極のストリップ状のパターンを形
成するために一連のフォトリソグラフィを行う工程を模
式的に示す断面図である。
構造を有する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の
製造方法で、図5Gに示すフォトリソグラフィ工程で形
成されたゲート電極のパターンを模式的に示す断面図で
ある。
構造を有する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の
製造方法で、紫外線を遮断する物質をゲート電極及びウ
ェルの内壁に蒸着する工程を模式的に示す断面図であ
る。
構造を有する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の
製造方法で、フォトレジストを塗布してその上部にマス
クを配置させて露光及び現像を含む一連のフォトリソグ
ラフィ工程を模式的に示す断面図である。
構造を有する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の
製造方法で、ウェルの底部に陰極層を露出させる工程を
模式的に示す断面図である。
構造を有する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の
製造方法で、ウェル及び紫外線を遮断する光遮断抵抗層
をフォトレジストで全体的に塗布する工程を模式的に示
す断面図である。
構造を有する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の
製造方法で、図5Lに示す工程の後でマスクをその上部
に配置させてフォトリソグラフィ工程を行い、フォトレ
ジストをパターニングする工程を模式的に示す断面図で
ある。
構造を有する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の
製造方法で、炭素ナノチューブペーストを、ウェルを含
む空間に注入してフォトレジストを被覆するように塗布
する工程を模式的に示す断面図である。
構造を有する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の
製造方法で、炭素ナノチューブペーストが、紫外線を遮
断する光遮断抵抗層により露光された炭素ナノチューブ
ペーストと、露光されていない炭素ナノチューブとに分
けられる工程を模式的に示す断面図である。
構造を有する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の
製造方法で、現像工程により、露光されていない炭素ナ
ノチューブペーストが除去されて、露光された炭素ナノ
チューブペーストが残留する工程を模式的に示す断面図
である。
構造を有する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の
製造方法で、炭素ナノチューブペーストの高さを低くし
て炭素ナノチューブカラムを形成する工程を模式的に示
す断面図である。
構造を有する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の
製造方法で、図5Qに示す炭素ナノチューブカラムを表
面処理して針状の炭素ナノチューブが整列した電界放出
源を形成する工程を模式的に示す断面図である。
炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の製造方法によ
って製造された電界放出素子を示す写真である。
る炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の製造方法で
用いた従来の1例の電界放出素子の三極構造を模式的に
示す断面図である。
る炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の製造方法
で、保護層を絶縁層及びゲート電極の上部に積層する工
程を模式的に示す断面図である。
る炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の製造方法
で、図7Bに示す工程の後で、露光及びフォトリソグラ
フィ工程を通して、保護層をパターニングしてゲート電
極、絶縁層及びマスク陰極層を順次エッチングしウェル
を形成する工程を模式的に示す断面図である。
る炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の製造方法
で、図7Cに示す工程の後で、ウェルに炭素ナノチュー
ブペーストを注入して保護層上に炭素ナノチューブペー
ストが被覆されるように塗布する。
る炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の製造方法
で、図7Dに示す工程の後で、基板の背面に紫外線を照
射して背面露光を行う工程を模式的に示す断面図であ
る。
る炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の製造方法
で、図7Eに示す工程の後で、現像を行い、露光されて
いない炭素ナノチューブを除去し、保護層を残存させて
保護層をゲート電極からリフトオフさせる工程を模式的
に示す断面図である。
る炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の製造方法
で、図7Fに示す工程の後で、焼成工程を実行して炭素
ナノチューブカラムの高さを低くする工程を模式的に示
す断面図である。
る炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の製造方法
で、図7Gに示す工程の後で、表面処理を行って電界放
出源として作用する針状の炭素ナノチューブを備えた電
界放出素子を完成させる工程を模式的に示す断面図であ
る。
炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の製造方法で、
従来技術で使用されている液状フォトレジストを犠牲層
として製造された電界放出素子の電子放出の状態を示す
写真である。
炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の製造方法で、
本発明で使用されるDFRフィルムを犠牲層として製造
された電界放出素子の電子放出を示す写真である。
スト 71−1、71−2、71−3 マスク 110−1、110−2、110−3、110−4 フ
ォトレジスト 111 基板 112 陰極層 115 絶縁層 116 ゲート電極 118 ウェル 117−1、117−2 マスク 118 ウェル 118’ 開口部 120 光遮断抵抗層 131 炭素ナノチューブ電界放出源 132 炭素ナノチューブペースト 132’ 炭素ナノチューブ 133 炭素ナノチューブカラム 211 基板 212 ITO電極層 213 ゲート電極 215 絶縁層 216 ゲート電極 217 保護層 218 ウェル 220、221 炭素ナノチューブペースト 221’ 炭素ナノチューブ 224 炭素ナノチューブカラム 225 炭素ナノチューブ 271 マスク
Claims (14)
- 【請求項1】 基板と、 前記基板上に積層される透明な陰極層と、 前記陰極層の一部が底部に露出したウェルを有し、前記
陰極層上に形成される絶縁層と、 前記ウェルに対応する開口部を有し、前記絶縁層上に配
置されたゲート電極と、 前記ゲート電極の上部と、前記開口部及び前記ウェルの
内壁を囲繞するように形成される光遮断抵抗層と、 前記露出した陰極層上に配置された炭素ナノチューブ電
界放出源と、を具備することを特徴とする三極構造を有
する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子。 - 【請求項2】 前記光遮断抵抗層は、アモルファスシリ
コンで構成されることを特徴とする請求項1に記載の三
極構造を有する炭素ナノチューブを備えた電界放出素
子。 - 【請求項3】 前記炭素ナノチューブ電界放出源は、前
記露出した陰極上に配置された炭素ナノチューブカラ
ム、及びその表面に整列される炭素ナノチューブチップ
を含むことを特徴とする請求項1に記載の三極構造を有
する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子。 - 【請求項4】 請求項1に記載の三極構造を有する炭素
ナノチューブを備えた電界放出素子の製造方法であっ
て、 基板上に透明な陰極層、絶縁層を順次積層した後、焼成
する第1段階と、 前記絶縁層上にゲート電極を積層した後、前記ゲート電
極の中心部に開口部が形成されるようにパターニングす
る第2段階と、 前記絶縁層に前記開口部に対応するウェルが形成される
ようにエッチングし、前記ゲート電極がストリップ状に
形成されるようにパターニングする第3段階と、 前記ゲート電極及び前記ウェルの内壁に光遮断抵抗層を
蒸着した後、前記ウェルの底部に陰極が露出するように
パターニングする第4段階と、 前記露出した陰極上に炭素ナノチューブ電界放出源を形
成する第5段階と、を含むことを特徴とする三極構造を
有する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の製造方
法。 - 【請求項5】 前記光遮断抵抗層は、アモルファスシリ
コンで形成されることを特徴とする請求項4に記載の三
極構造を有する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子
の製造方法。 - 【請求項6】 第4段階で、 前記光遮断抵抗層は化学気相蒸着法を利用して形成され
ることを特徴とする請求項5に記載の三極構造を有する
炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の製造方法。 - 【請求項7】 前記炭素ナノチューブ電界放出源は、前
記露出した陰極上に配置された炭素ナノチューブカラ
ム、及びその表面に整列される炭素ナノチューブチップ
を含むことを特徴とする請求項4に記載の三極構造を有
する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の製造方
法。 - 【請求項8】 基板上に積層される陰極層と、前記陰極
層状にウェルを有するように形成される絶縁層と、前記
ウェルに対応する開口部を有して前記絶縁層上に形成さ
れるゲート電極とを具備する三極構造を有する炭素ナノ
チューブを備えた電界放出素子の製造方法であって、 前記絶縁層及び前記ゲート電極を囲繞するように保護層
を蒸着した後、前記絶縁層及び前記ゲート電極の上部に
のみ保護層が残存するようにパターニングする第1段階
と、 前記ウェル及び前記開口部を充填して前記保護層状に積
層されるように炭素ナノチューブペーストを塗布する第
2段階と、 前記基板の背面から光を照射して前記炭素ナノチューブ
ペースト及び前記保護層を露光させた後、現像して露光
されていない炭素ナノチューブペースト及び前記保護層
をリフトオフして炭素ナノチューブカラムを形成する第
3段階と、 前記炭素ナノチューブカラムを焼結して高さを低めた
後、表面処理して前記炭素ナノチューブカラムの表面に
炭素ナノチューブチップが整列される電界放出源を形成
する第4段階と、を含むことを特徴とする三極構造を有
する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の製造方
法。 - 【請求項9】 前記保護層は、DFRフィルムより構成
されることを特徴とする請求項8に記載の三極構造を有
する炭素ナノチューブを備えた電界放出素子の製造方
法。 - 【請求項10】 前記第3段階で、 前記露光されていない炭素ナノチューブペースト及び前
記保護層を同時にリフトオフすることを特徴とする請求
項9に記載の三極構造を有する炭素ナノチューブを備え
た電界放出素子の製造方法。 - 【請求項11】 前記露光されていない炭素ナノチュー
ブペースト及び前記保護層を同時にリフトオフする際に
水酸化ナトリウム溶液を使用することを特徴とする請求
項10に記載の三極構造を有する炭素ナノチューブを備
えた電界放出素子の製造方法。 - 【請求項12】 前記第3段階で、 前記露光されていない炭素ナノチューブペーストを現像
液で先に除去した後、保護層をリフトオフすることを特
徴とする請求項9に記載の三極構造を有する炭素ナノチ
ューブを備えた電界放出素子の製造方法。 - 【請求項13】 前記露光されていない炭素ナノチュー
ブペーストはNa2CO3溶液を使用して除去することを
特徴とする請求項12に記載の三極構造を有する炭素ナ
ノチューブを備えた電界放出素子の製造方法。 - 【請求項14】 前記保護層を除去する際に水酸化ナト
リウム溶液を使用することを特徴とする請求項12に記
載の三極構造を有する炭素ナノチューブを備えた電界放
出素子の製造方法。
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2005197263A (ja) * | 2004-01-08 | 2005-07-21 | Samsung Sdi Co Ltd | 電界放出型バックライトユニット及びその駆動方法、並びに下部パネルの製造方法 |
JP2005243641A (ja) * | 2004-02-25 | 2005-09-08 | Samsung Sdi Co Ltd | 電子放出素子とその製造方法 |
JP2006040863A (ja) * | 2004-07-26 | 2006-02-09 | Samsung Sdi Co Ltd | 炭素ナノチューブエミッタを備える電界放出ディスプレイ及びその製造方法 |
JP2007128749A (ja) * | 2005-11-04 | 2007-05-24 | Futaba Corp | 電界放出素子 |
US7348720B2 (en) | 2004-03-30 | 2008-03-25 | Samsung Sdi Co., Ltd. | Electron emission device and electron emission display including the same |
US7586251B2 (en) | 2004-03-31 | 2009-09-08 | Samsung Sdi Co., Ltd. | Electron emission device with decreased electrode resistance and fabrication method and electron emission display |
Families Citing this family (44)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100413815B1 (ko) * | 2002-01-22 | 2004-01-03 | 삼성에스디아이 주식회사 | 삼극구조를 가지는 탄소나노튜브 전계방출소자 및 그제조방법 |
JP3465705B2 (ja) * | 2002-04-02 | 2003-11-10 | ソニー株式会社 | 冷陰極電界電子放出素子の製造方法、及び、冷陰極電界電子放出表示装置の製造方法 |
US6777869B2 (en) * | 2002-04-10 | 2004-08-17 | Si Diamond Technology, Inc. | Transparent emissive display |
US7521851B2 (en) * | 2003-03-24 | 2009-04-21 | Zhidan L Tolt | Electron emitting composite based on regulated nano-structures and a cold electron source using the composite |
CN1287413C (zh) * | 2003-03-26 | 2006-11-29 | 清华大学 | 一种场发射显示器 |
TW591716B (en) * | 2003-05-26 | 2004-06-11 | Prime View Int Co Ltd | A structure of a structure release and manufacturing the same |
KR100862655B1 (ko) * | 2003-08-12 | 2008-10-10 | 삼성에스디아이 주식회사 | 탄소나노튜브 에미터를 구비하는 전계 방출 디스플레이 및그 제조 방법 |
US7459839B2 (en) * | 2003-12-05 | 2008-12-02 | Zhidan Li Tolt | Low voltage electron source with self aligned gate apertures, and luminous display using the electron source |
KR20050062742A (ko) * | 2003-12-22 | 2005-06-27 | 삼성에스디아이 주식회사 | 전계방출소자와, 이를 적용한 표시소자 및 그 제조방법 |
KR20050078327A (ko) * | 2004-01-29 | 2005-08-05 | 삼성에스디아이 주식회사 | 전계 방출 표시 소자와 이의 제조 방법 |
KR20050082805A (ko) * | 2004-02-20 | 2005-08-24 | 삼성에스디아이 주식회사 | 전계 방출 표시 소자와 이의 제조 방법 |
KR101022654B1 (ko) * | 2004-04-29 | 2011-03-22 | 삼성에스디아이 주식회사 | 전자 방출 소자 및 이의 제조 방법 |
KR101022656B1 (ko) * | 2004-05-25 | 2011-03-22 | 삼성에스디아이 주식회사 | 전자 방출 표시 장치와, 이의 제조 방법 |
CN1707724A (zh) * | 2004-06-07 | 2005-12-14 | 清华大学 | 场发射装置及其制造方法 |
JP4817641B2 (ja) * | 2004-10-26 | 2011-11-16 | キヤノン株式会社 | 画像形成装置 |
JP4886184B2 (ja) * | 2004-10-26 | 2012-02-29 | キヤノン株式会社 | 画像表示装置 |
TWI271766B (en) * | 2004-12-10 | 2007-01-21 | Ind Tech Res Inst | Composite substrate able to emit light from both sides |
KR100638668B1 (ko) * | 2005-01-07 | 2006-10-30 | 삼성전기주식회사 | 전계방출 에미터 어레이 및 그 제조 방법 |
KR100590579B1 (ko) * | 2005-02-01 | 2006-06-19 | 삼성에스디아이 주식회사 | 탄소나노튜브 에미터를 구비한 전계방출소자의 제조방법 |
KR20060089841A (ko) * | 2005-02-04 | 2006-08-09 | 삼성에스디아이 주식회사 | 전계방출소자 및 그 제조방법 |
KR20060104655A (ko) * | 2005-03-31 | 2006-10-09 | 삼성에스디아이 주식회사 | 전자 방출 소자 |
TWI435358B (zh) * | 2005-08-10 | 2014-04-21 | Pureron Japan Co Ltd | A carbon film having a shape suitable for the emission of electric field, a carbon film structure, and an electron emitter |
JP2007087934A (ja) * | 2005-08-24 | 2007-04-05 | Canon Inc | 電子源及び画像表示装置 |
US20070120462A1 (en) * | 2005-09-30 | 2007-05-31 | Kim Il-Hwan | Electron emission device, method of manufacturing the electron emission device, and electron emission display having the electron emission device |
KR100724369B1 (ko) * | 2005-10-19 | 2007-06-04 | 엘지전자 주식회사 | 자외선 차폐층을 구비한 전계방출소자 및 그 제조 방법 |
KR20070046670A (ko) * | 2005-10-31 | 2007-05-03 | 삼성에스디아이 주식회사 | 전자 방출 디바이스 및 이를 구비한 전자 방출 표시디바이스 |
US7413924B2 (en) | 2005-10-31 | 2008-08-19 | Motorola, Inc. | Plasma etch process for defining catalyst pads on nanoemissive displays |
KR100759400B1 (ko) * | 2006-06-15 | 2007-09-19 | 삼성에스디아이 주식회사 | 발광 장치 및 이 발광 장치를 백 라이트 유닛으로 사용하는액정 표시 장치 |
KR100759399B1 (ko) * | 2006-06-16 | 2007-09-19 | 삼성에스디아이 주식회사 | 발광 장치 및 이 발광 장치를 백 라이트 유닛으로 사용하는액정 표시 장치 |
TWI334154B (en) | 2006-05-19 | 2010-12-01 | Samsung Sdi Co Ltd | Light emission device and display device |
CN101110308B (zh) * | 2006-07-19 | 2011-05-04 | 清华大学 | 场发射阴极的制造方法 |
KR100785028B1 (ko) * | 2006-11-06 | 2007-12-12 | 삼성전자주식회사 | 전계방출소자의 제조방법 |
KR100787239B1 (ko) * | 2007-01-30 | 2007-12-21 | 한국기계연구원 | 탄소나노튜브 투명 전도체 |
WO2009070632A1 (en) | 2007-11-26 | 2009-06-04 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Cathode assembly containing an ultraviolet light-blocking dielectric layer |
US8018675B2 (en) * | 2008-03-06 | 2011-09-13 | Tdk Corporation | Thin film magnetic head |
KR101301080B1 (ko) * | 2008-03-17 | 2013-09-03 | 삼성전자주식회사 | 삼극 전계방출소자의 제조방법 |
JP5151667B2 (ja) * | 2008-05-12 | 2013-02-27 | パナソニック株式会社 | マトリックス型冷陰極電子源装置 |
KR100943971B1 (ko) * | 2008-06-30 | 2010-02-26 | 한국과학기술원 | 탄소 미세 구조물을 갖는 전계방출 어레이 및 그 제조방법 |
TW201019370A (en) * | 2008-11-14 | 2010-05-16 | Tatung Co | Field emission cathode plate and method for manufacturing the same |
FR2946456A1 (fr) * | 2009-06-05 | 2010-12-10 | Thales Sa | Source de faisceau electronique collimate a cathode froide |
CN102097272B (zh) * | 2011-01-10 | 2012-06-27 | 福州大学 | 阳栅同基板的三极结构场致发射显示器 |
US9053890B2 (en) | 2013-08-02 | 2015-06-09 | University Health Network | Nanostructure field emission cathode structure and method for making |
CN109767961B (zh) * | 2018-12-28 | 2022-09-23 | 中国电子科技集团公司第十二研究所 | 带屏蔽结构的尖锥阵列型场发射电子源及其制作方法 |
CN114512380B (zh) * | 2022-01-28 | 2023-03-28 | 电子科技大学 | 一种栅极自对准的垂直纳米空气沟道三极管制备方法 |
Family Cites Families (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5384509A (en) * | 1991-07-18 | 1995-01-24 | Motorola, Inc. | Field emission device with horizontal emitter |
US5442193A (en) * | 1994-02-22 | 1995-08-15 | Motorola | Microelectronic field emission device with breakdown inhibiting insulated gate electrode |
JPH0992130A (ja) * | 1995-09-25 | 1997-04-04 | Olympus Optical Co Ltd | 電荷発生器及びその製造方法 |
US5720640A (en) * | 1996-02-15 | 1998-02-24 | Industrial Technology Research Institute | Invisible spacers for field emission displays |
JP3836539B2 (ja) * | 1996-07-12 | 2006-10-25 | 双葉電子工業株式会社 | 電界放出素子およびその製造方法 |
JP3323750B2 (ja) * | 1996-08-08 | 2002-09-09 | キヤノン株式会社 | 電子放出素子及びそれを備えた電子源並びに画像形成装置 |
JP3843154B2 (ja) * | 1996-09-25 | 2006-11-08 | 関西ペイント株式会社 | 光重合性組成物 |
JP3569135B2 (ja) * | 1998-09-09 | 2004-09-22 | 株式会社東芝 | 電界放出陰極の製造方法 |
JP2000215792A (ja) * | 1999-01-20 | 2000-08-04 | Sony Corp | 平面型表示装置の製造方法 |
JP2000251614A (ja) * | 1999-02-24 | 2000-09-14 | Futaba Corp | 電界放出素子及びその製造方法 |
JP2000353467A (ja) | 1999-04-09 | 2000-12-19 | Nec Corp | 冷陰極装置の製造方法 |
JP3585396B2 (ja) | 1999-06-02 | 2004-11-04 | シャープ株式会社 | 冷陰極の製造方法 |
JP2000353466A (ja) | 1999-06-09 | 2000-12-19 | Sony Corp | 電子放出素子およびその製造方法、並びに表示装置およびその製造方法 |
JP2001167690A (ja) | 1999-12-09 | 2001-06-22 | Sony Corp | 冷陰極電界電子放出素子及びその製造方法、並びに、冷陰極電界電子放出表示装置の製造方法 |
KR20010082591A (ko) | 1999-12-21 | 2001-08-30 | 이데이 노부유끼 | 전자 방출 장치, 냉음극 전계 전자 방출 소자 및 그 제조방법, 및 냉음극 전계 전자 방출 표시 장치 및 그 제조 방법 |
JP2001185019A (ja) * | 1999-12-27 | 2001-07-06 | Hitachi Powdered Metals Co Ltd | 電界放出型カソード、電子放出装置、及び電子放出装置の製造方法 |
JP2001234163A (ja) * | 2000-02-25 | 2001-08-28 | Sony Corp | 発光性結晶粒子、発光性結晶粒子組成物、表示用パネル及び平面型表示装置 |
US6682383B2 (en) * | 2000-05-17 | 2004-01-27 | Electronics And Telecommunications Research Institute | Cathode structure for field emission device and method of fabricating the same |
US7449081B2 (en) * | 2000-06-21 | 2008-11-11 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Process for improving the emission of electron field emitters |
US6699642B2 (en) * | 2001-01-05 | 2004-03-02 | Samsung Sdi Co., Ltd. | Method of manufacturing triode carbon nanotube field emitter array |
US6448701B1 (en) * | 2001-03-09 | 2002-09-10 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Self-aligned integrally gated nanofilament field emitter cell and array |
KR100413815B1 (ko) * | 2002-01-22 | 2004-01-03 | 삼성에스디아이 주식회사 | 삼극구조를 가지는 탄소나노튜브 전계방출소자 및 그제조방법 |
US6670629B1 (en) * | 2002-09-06 | 2003-12-30 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | Insulated gate field emitter array |
-
2002
- 2002-01-22 KR KR10-2002-0003687A patent/KR100413815B1/ko not_active IP Right Cessation
-
2003
- 2003-01-22 US US10/347,622 patent/US6812480B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2003-01-22 EP EP03250389A patent/EP1329929B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2003-01-22 DE DE60300022T patent/DE60300022T2/de not_active Expired - Lifetime
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-
2004
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-
2008
- 2008-10-29 JP JP2008278142A patent/JP4512156B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005197263A (ja) * | 2004-01-08 | 2005-07-21 | Samsung Sdi Co Ltd | 電界放出型バックライトユニット及びその駆動方法、並びに下部パネルの製造方法 |
US7905756B2 (en) | 2004-01-08 | 2011-03-15 | Samsung Sdi Co., Ltd. | Method of manufacturing field emission backlight unit |
JP2005243641A (ja) * | 2004-02-25 | 2005-09-08 | Samsung Sdi Co Ltd | 電子放出素子とその製造方法 |
JP4651084B2 (ja) * | 2004-02-25 | 2011-03-16 | 三星エスディアイ株式会社 | 電子放出素子の製造方法 |
US7348720B2 (en) | 2004-03-30 | 2008-03-25 | Samsung Sdi Co., Ltd. | Electron emission device and electron emission display including the same |
US7586251B2 (en) | 2004-03-31 | 2009-09-08 | Samsung Sdi Co., Ltd. | Electron emission device with decreased electrode resistance and fabrication method and electron emission display |
JP2006040863A (ja) * | 2004-07-26 | 2006-02-09 | Samsung Sdi Co Ltd | 炭素ナノチューブエミッタを備える電界放出ディスプレイ及びその製造方法 |
JP2007128749A (ja) * | 2005-11-04 | 2007-05-24 | Futaba Corp | 電界放出素子 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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