JP2003169778A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2003169778A5
JP2003169778A5 JP2001373744A JP2001373744A JP2003169778A5 JP 2003169778 A5 JP2003169778 A5 JP 2003169778A5 JP 2001373744 A JP2001373744 A JP 2001373744A JP 2001373744 A JP2001373744 A JP 2001373744A JP 2003169778 A5 JP2003169778 A5 JP 2003169778A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measurement
index
shape
measuring
projecting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001373744A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2003169778A (ja
JP3703429B2 (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2001373744A priority Critical patent/JP3703429B2/ja
Priority claimed from JP2001373744A external-priority patent/JP3703429B2/ja
Priority to US10/310,761 priority patent/US6755528B2/en
Priority to EP02027562A priority patent/EP1317899B1/en
Priority to DE60216557T priority patent/DE60216557T2/de
Publication of JP2003169778A publication Critical patent/JP2003169778A/ja
Publication of JP2003169778A5 publication Critical patent/JP2003169778A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3703429B2 publication Critical patent/JP3703429B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Claims (3)

  1. 被検眼角膜に測定指標を投影し、角膜に投影された測定指標像を検出手段にて検出することにより角膜形状を測定する測定手段を備える形状測定装置において、角膜形状を測定する第１測定モードと屈折力矯正用レンズの凹面を測定する第２測定モードとを設定するモード設定手段と、該モード設定手段によって第２測定モードが設定されたときには前記第１測定モードと異なる測定条件又は処理条件を設定する条件設定手段と、を備えることを特徴とする形状測定装置。
  2. 請求項１の形状測定装置は、測定基準軸に対して非対称な形状パターンの指標を被検眼角膜又は屈折力矯正用レンズに投影する非対称指標投影手段と、該非対称指標投影手段にて投影される前記形状パターンの指標像を前記検出手段により検出し，該検出結果に基づき被測定曲面が凹面か凸面かを判定する判定手段と、を有し、前記モード設定手段は前記判定手段の判定結果に基づいて前記第１測定モード又は第２測定モードの設定を行うことを特徴とする形状測定装置。
  3. 曲面を有する被検物に測定指標を投影し、被検物に投影された測定指標像を検出して被検物の曲面形状を測定する測定手段を備える形状測定装置において、測定基準軸に対して非対称な形状パターンの指標を被検物に投影する非対称指標投影手段と、被検物に投影された指標像を検出する検出手段と、該検出結果に基づき被検物の被測定曲面が凹面か凸面かを判定する判定手段と、を備えることを特徴とする形状測定装置。
JP2001373744A 2001-12-07 2001-12-07 角膜形状測定装置 Expired - Fee Related JP3703429B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001373744A JP3703429B2 (ja) 2001-12-07 2001-12-07 角膜形状測定装置
US10/310,761 US6755528B2 (en) 2001-12-07 2002-12-06 Shape measurement apparatus
EP02027562A EP1317899B1 (en) 2001-12-07 2002-12-09 Shape measurement apparatus
DE60216557T DE60216557T2 (de) 2001-12-07 2002-12-09 Formmessvorrichtung

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001373744A JP3703429B2 (ja) 2001-12-07 2001-12-07 角膜形状測定装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2003169778A JP2003169778A (ja) 2003-06-17
JP2003169778A5 true JP2003169778A5 (ja) 2005-06-23
JP3703429B2 JP3703429B2 (ja) 2005-10-05

Family

ID=19182409

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001373744A Expired - Fee Related JP3703429B2 (ja) 2001-12-07 2001-12-07 角膜形状測定装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6755528B2 (ja)
EP (1) EP1317899B1 (ja)
JP (1) JP3703429B2 (ja)
DE (1) DE60216557T2 (ja)

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101374829B1 (ko) 2006-03-31 2014-03-17 가부시키가이샤 니데크 안과장치
US8585687B2 (en) 2007-05-11 2013-11-19 Amo Development, Llc Combined wavefront and topography systems and methods
US7988290B2 (en) * 2007-06-27 2011-08-02 AMO Wavefront Sciences LLC. Systems and methods for measuring the shape and location of an object
US7976163B2 (en) 2007-06-27 2011-07-12 Amo Wavefront Sciences Llc System and method for measuring corneal topography
US7988293B2 (en) * 2008-11-14 2011-08-02 AMO Wavefront Sciences LLC. Method of qualifying light spots for optical measurements and measurement instrument employing method of qualifying light spots
JP5654225B2 (ja) * 2009-09-30 2015-01-14 株式会社ニデック 角膜形状測定装置
JP5484139B2 (ja) * 2010-03-15 2014-05-07 株式会社ニデック 眼科装置
JP6007466B2 (ja) * 2010-12-27 2016-10-12 株式会社ニデック 角膜形状測定装置
JP6301246B2 (ja) * 2011-03-25 2018-04-11 ノバルティス エージー 光学的要素を撮像する方法およびシステム
US8622546B2 (en) 2011-06-08 2014-01-07 Amo Wavefront Sciences, Llc Method of locating valid light spots for optical measurement and optical measurement instrument employing method of locating valid light spots
US8562135B2 (en) 2011-08-31 2013-10-22 Nidek Co., Ltd. Ophthalmic apparatus
JP2013135837A (ja) 2011-11-30 2013-07-11 Nidek Co Ltd 眼科装置及び眼科プログラム
DE102012019474A1 (de) * 2012-09-28 2014-04-03 Carl Zeiss Meditec Ag Vorrichtung zur verlässlichen Bestimmung biometrischer Messgrößen des gesamten Auges
CN103292738B (zh) * 2013-06-26 2015-12-09 中国科学院光电技术研究所 一种球面面形误差绝对检测方法
CN104976964B (zh) * 2015-06-09 2017-07-14 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 球面镜和平面镜面形误差的绝对检测方法
JP2017087509A (ja) * 2015-11-06 2017-05-25 東芝テック株式会社 ポータブルプリンタ及びコンピュータプログラム

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4051483A (en) 1976-09-03 1977-09-27 Fuji Photo Optical Co., Ltd. System for measuring and recording three dimensional configuration of object
US4420228A (en) 1980-06-12 1983-12-13 Humphrey Instruments, Inc. Method and apparatus for analysis of corneal shape
US4572628A (en) 1981-05-29 1986-02-25 Nippon Kogaku K.K. Method of and apparatus for measuring radius
JPS6185920A (ja) * 1984-10-03 1986-05-01 株式会社　ニデツク 角膜形状測定装置
GB8517595D0 (en) 1985-07-12 1985-08-21 Clement Clarke Int Keratometer
JPS6419896A (en) 1987-07-15 1989-01-23 Toshiba Corp Feeding system for telephone set controller
JPH05146407A (ja) * 1991-11-26 1993-06-15 Canon Inc 曲率半径測定装置
US5355210A (en) 1991-12-20 1994-10-11 Rotlex Optics Ltd. Method and apparatus for measuring optical properties of optical devices
JP3221733B2 (ja) * 1992-06-30 2001-10-22 株式会社ニデック レンズ測定装置
US5463430A (en) 1992-07-31 1995-10-31 Nidek Co., Ltd. Examination apparatus for examining an object having a spheroidal reflective surface
JP3269665B2 (ja) * 1992-07-31 2002-03-25 株式会社ニデック アライメント検出装置及び該アライメント検出装置を用いた眼科装置
JPH06154166A (ja) * 1992-11-27 1994-06-03 Topcon Corp コンタクトレンズの判別装置
JP3445634B2 (ja) 1993-03-31 2003-09-08 株式会社ニデック 眼科装置
JPH09138181A (ja) 1995-11-15 1997-05-27 Nikon Corp 光学系の屈折力および曲率半径の測定装置
DE69729701T2 (de) 1996-10-03 2005-07-07 Nidek Co., Ltd., Gamagori Vorrichtung zur Messung der Refraktion eines Auges
JP3560746B2 (ja) * 1996-10-03 2004-09-02 株式会社ニデック 眼屈折力測定装置
US6222621B1 (en) * 1998-10-12 2001-04-24 Hoyo Corporation Spectacle lens evaluation method and evaluation device
JP2003093345A (ja) * 2001-09-27 2003-04-02 Canon Inc 眼科装置
JP2003106935A (ja) * 2001-09-28 2003-04-09 Tomey Corporation コンタクトレンズの形状測定

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2003169778A5 (ja)
JP4829247B2 (ja) 放射状ドットを有するプラチドリング
JP2003164483A5 (ja)
WO2016173554A9 (en) Contact lens without moire pattern in center, method for analyzing change of moire pattern thereof, and system for monitoring an intraocular pressure variation
CN105581770B (zh) 眼科装置和眼科处理方法
JP2007275600A (ja) 目の屈折特性を測定するための屈折計
JP3703429B2 (ja) 角膜形状測定装置
JP2011036645A (ja) コンタクトレンズ測定方法
Douthwaite EyeSys corneal topography measurement applied to calibrated ellipsoidal convex surfaces.
JP2010131333A5 (ja)
CN102949173B (zh) 眼科分析仪器和方法
JP2000157493A5 (ja)
US20230094001A1 (en) Prismatic Triangulating Corneal Topography System and Methods of Use
JP2004033276A5 (ja)
JP2004033276A (ja) 屈折力測定装置
JP3254637B2 (ja) 眼科装置
JP3423030B2 (ja) 眼科装置
US20230255475A1 (en) Reflection based corneal topography system using prisms for improved accuracy and method of use
JP4119032B2 (ja) 涙液測定装置
JP5755292B2 (ja) 眼科用検査装置
JP2013031639A (ja) 眼科装置及び眼科システム
Ehrmann Rigid Lens Measurement
JPH0360629A (ja) 角膜形状測定装置
JP2012010798A5 (ja)
JP2021074101A5 (ja)