JP2004033276A5 - - Google Patents
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- 被検光学系に測定光束を照射する照射光学系と、被検光学系からの測定光束を受光する受光素子と該受光素子に測定光束を導くレンズ系とを有する受光光学系と、該受光光学系の光軸と直交する平面内で前記レンズ系を所定の測定パターンに従って移動させる移動手段と、前記受光素子に受光される測定用パターン像に基づいて被検光学系の屈折力を求める演算手段と、を備えることを特徴とする屈折力測定装置。
- 請求項１の屈折力測定装置は、被検眼の屈折力を測定する眼屈折力測定装置であり、前記照射光学系は被検眼の眼底に瞳孔中心部からスポット光束を照射する光学系であり、前記レンズ系は被検眼の瞳孔位置と共役な位置に設けられており、前記移動手段は眼底からの前記スポット光束の反射光を瞳孔の周辺から取り出すべく前記レンズ系を移動させることを特徴とする屈折力測定装置。
- 請求項１の屈折力測定装置は、被検レンズの屈折力を測定するレンズメータであり、前記照射光学系は被検レンズに平行光束を照射する光学系を持ち、前記受光光学系のレンズ系と受光素子は被検レンズを測定光束が透過した側に設けられており、前記受光素子は前記レンズ系の焦点距離に配置されていることを特徴とする屈折力測定装置。
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