JP2003168745A - 集積回路素子の容量を増加させる方法 - Google Patents
集積回路素子の容量を増加させる方法Info
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Abstract
増加させる方法を提供し、プロセスの簡便化および製造
コストの引き下げを図る。 【解決手段】 基板上に触媒領域をパターニングするス
テップと、触媒領域上にナノチューブまたはナノワイヤ
ー或いはナノベルトを形成するステップと、ナノチュー
ブまたはナノワイヤー或いはナノベルトおよび基板上に
第1誘電層を形成するステップと、第1誘電層上に電極
層を形成するステップと、からなる。この方法によれ
ば、コンデンサ電極の領域としてナノチューブまたはナ
ノワイヤー或いはナノベルトを用いているため、コンデ
ンサ電極の底面積自体を広げることなく容量を増加させ
ることができる。
Description
素子の容量を増加させる方法に関し、特に、ナノチュー
ブ、ナノワイヤーまたはナノベルトを用いることでDR
AMの容量を大きくする方法に関する。
1つのトランジスタと1つのコンデンサとから構成され
おり、技術の発展に伴ってトランジスタの小型化が進ん
でいる。トランジスタのサイズが小さくなれば、コンデ
ンサ電極の面積も縮小する必要が出てくるが、コンデン
サ電極の面積が小さくなると、その容量も小さくなって
しまう。DRAMにおける記憶セルの容量は、所定の電
圧を維持できる程度に十分な大きさがなければならな
い。よって、この問題を解決するために、コンデンサ電
極の表面積を増大させるいくつかの方法が開示された。
これらの方法は、トレンチを掘る(トレンチング)、或
いは積層する(スタッキング)といった方式により行わ
れるのが通常である。
た方法では、いずれも複雑なプロセスを要するので、製
造コストを低く抑えることはできない。また、これらの
方法は、コンデンサ電極の面積を大きくすることはでき
ても、フォトリソグラフィー技術を用いることで生じる
物理的な制限があるため、その効果には限界がある。
発明の目的は、ナノチューブを用いて集積回路素子の容
量を増加させる方法を提供することにある。
発明に係る集積回路素子の容量を増加させる方法は、基
板上に触媒領域をパターニングするステップと、触媒領
域上にナノチューブまたはナノワイヤー或いはナノベル
トを形成するステップと、ナノチューブまたはナノワイ
ヤー或いはナノベルトおよび基板上に第1誘電層を形成
するステップと、第1誘電層上に電極層を形成するステ
ップと、からなるものである。
域としてナノチューブまたはナノワイヤー或いはナノベ
ルトを用いることで、コンデンサ電極の底面積自体を広
げることなく容量を増加させることができる。これによ
って、プロセスが簡便化されると共に、製造コストの低
減が可能となる。
う、図面を参照にしながら、実施例に基づいて詳細に説
明する。先ず、図1(a)において、触媒領域12を基
板10上にパターニングする。触媒領域12を基板10
上にパターニングする方法には何種かある。例えば、第
1の方法として、金属触媒イオン含有の水溶液を基板1
0上の所定領域(即ち、触媒領域12)に拡散し(図示
せず)、次いで、アニール工程を実行して金属触媒イオ
ン含有の水溶液を凝集させ、金属触媒群(metal cataly
st group)を形成させるステップを含むものが挙げられ
る。これによって、触媒領域12がパターニングされ
る。この金属触媒イオンを含有する水溶液は、ニッケル
イオン含有の水溶液または鉄イオン含有の水溶液である
と好ましい。
ける所定の領域(つまり、触媒領域12)上に、イオン
注入によって金属触媒を注入するステップを含むものが
ある。これによって、触媒領域12がパターニングされ
る。この金属触媒は、ニッケル或いは鉄であると好適で
ある。
堆積して(図示せず)から、その金属触媒層上に所定の
パターンを有するフォトレジスト層を形成し、その後フ
ォトリソグラフィー工程により触媒領域12をパターニ
ングするというステップを含むものである。この金属触
媒層は、ニッケルまたは鉄から構成されていることが好
ましい。
チューブ20を触媒領域12上に形成する。カーボンナ
ノチューブ20を触媒領域12上に形成するステップ
は、所定のプラズマの条件下において、分解ガスを化学
気相成長法(CVD)によって触媒領域12上に導入す
る(図示せず)というものである。この分解ガスとして
は、メタン(CH4)、エタン(C2H6)または二酸
化炭素(CO2)が好ましい。
ューブ20および基板10の上に堆積する。この際、カ
ーボンナノチューブ20の表面積を大きくするのと同時
に、カーボンナノチューブ20と第1誘電層40との間
の密着性を高めるため、図1(c)に示すように、カー
ボンナノチューブ20上に第1誘電層40を堆積する前
に金属層30を成膜させ、その後、図1(d)に示すよ
うに、第1誘電層40を金属層30上に堆積するとよ
い。なお、この金属層30はスパッタリングにより形成
するのが好適である。
を第1誘電層40上に堆積する。
級の直径を持つ円筒であり、金属に類似する高導電性な
らびに大横縦比を有している。よって、上述したよう
に、集積回路素子のコンデンサ電極表面上にカーボンナ
ノチューブを底部電極として形成することで、コンデン
サ電極の底面積を広げることなしに容量を増加させるこ
とができる。こうしたプロセスは簡単で、なお且つ製造
コストの低下を可能とする。更に、上述したプロセスを
DRAMに適用するにつき、容量が増大されたことによ
って記憶セルのデータセーブの安定性も高まる。また、
カーボンナノチューブ20の代わりに、その他のナノチ
ューブ、またはナノワイヤー若しくはナノベルトを用い
てもよい。
0を形成して電極層50を被覆する。この第2誘電層6
0に対して平坦化を行ってもよい。
したが、これによって本発明を制限しようとするもので
はなく、当業者であれば、本発明の精神および範囲を逸
脱しない限りにおいて各種の変化ならびに修飾を加える
ことができる。よって、本発明の保護の範囲は、上記の
特許請求の範囲を基準としなければならない。
ンデンサ電極領域としてナノチューブまたはナノワイヤ
ー或いはナノベルトを用いたため、コンデンサ電極の底
面積を広げることなく容量を増加させることができる。
これによって、プロセスが簡便化されると共に、製造コ
ストを引き下げることができる。また、本発明のDRA
Mへの適用につき、容量が増大されることにより、記憶
セルのデータセーブの安定性も高まる。
子の容量を増加させる方法を説明する説明図である。
Claims (6)
- 【請求項1】 集積回路素子の容量を増加させる方法で
あって、 基板上に触媒領域をパターニングするステップと、 前記触媒領域上にナノチューブまたはナノワイヤー或い
はナノベルトを形成するステップと、 前記ナノチューブまたはナノワイヤー或いはナノベル
ト、および前記基板上に第1誘電層を形成するステップ
と、 前記第1誘電層上に電極層を形成するステップとを含む
方法。 - 【請求項2】 前記ナノチューブまたはナノワイヤー或
いはナノベルトと、前記第1誘電層との間に、金属層を
形成するステップを更に含むものである請求項1記載の
方法。 - 【請求項3】 前記した基板上に触媒領域をパターニン
グするステップが、更に、 前記基板における所定の領域に、金属触媒イオン含有の
水溶液を拡散するステップと、 アニール工程を行うステップとを含むものである請求項
1記載の方法。 - 【請求項4】 前記した基板上に触媒領域をパターニン
グするステップが、 前記基板における所定の領域に、イオン注入によって金
属触媒を注入するステップを含むものである請求項1記
載の集積回路素子の容量を増加させる方法。 - 【請求項5】 前記した基板上に触媒領域をパターニン
グするステップが、 前記基板上に金属触媒層を形成するステップと、 前記金属触媒層上にフォトレジスト層を形成するステッ
プと、 フォトリソグラフィー工程を行うステップとを含むもの
である請求項1記載の集積回路素子の容量を増加させる
方法。 - 【請求項6】 前記した触媒領域上にナノチューブを形
成するステップが、 所定のプラズマの条件下で、前記触媒領域上に化学気相
成長法によって分解ガスを導入するステップを含むもの
である請求項1記載の集積回路素子の容量を増加させる
方法。
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---|---|---|---|
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
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---|---|---|---|
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Cited By (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006278586A (ja) * | 2005-03-28 | 2006-10-12 | Toyota Motor Corp | デバイス、カーボンナノウォール、カーボンナノウォールの製造方法 |
JP2006287197A (ja) * | 2005-03-31 | 2006-10-19 | Hynix Semiconductor Inc | ナノチューブを有するキャパシタ及びその製造方法 |
JP2006303508A (ja) * | 2005-04-22 | 2006-11-02 | Kofukin Seimitsu Kogyo (Shenzhen) Yugenkoshi | 超格子のナノデバイス及びその製造方法 |
JP2007149975A (ja) * | 2005-11-28 | 2007-06-14 | Sekisui Chem Co Ltd | セラミックコンデンサ、セラミックコンデンサの製造方法及びセラミックグリーンシート |
JP2007158344A (ja) * | 2005-12-02 | 2007-06-21 | Samsung Electronics Co Ltd | 金属層−絶縁層−金属層構造を備えるストレージノード、及び、そのストレージノードを備える不揮発性メモリ素子及びその動作方法 |
JP2007184555A (ja) * | 2005-12-06 | 2007-07-19 | Canon Inc | キャパシタと電界効果型トランジスタとを有する回路装置及び表示装置 |
JP2007184554A (ja) * | 2005-12-06 | 2007-07-19 | Canon Inc | キャパシタおよびそれを用いた回路装置 |
JP2008007376A (ja) * | 2006-06-29 | 2008-01-17 | National Univ Corp Shizuoka Univ | ナノワイヤ部材およびその製造方法 |
JP2008091566A (ja) * | 2006-09-29 | 2008-04-17 | Fujitsu Ltd | 絶縁膜で被覆されたカーボンナノチューブ構造体の製造方法及びその構造体からなる電界効果トランジスタ装置 |
US7658798B2 (en) | 2003-07-18 | 2010-02-09 | Nec Corporation | Method for fixing metal particles and method for manufacturing substrate containing metal particles, method for manufacturing substrate containing carbon nanotube, and method for manufacturing substrate containing semiconductor-crystalline rod, employing thereof |
JP2010506391A (ja) * | 2006-10-04 | 2010-02-25 | エヌエックスピー ビー ヴィ | Mimキャパシタ |
KR100972909B1 (ko) * | 2007-10-31 | 2010-07-28 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 소자 및 그 형성 방법 |
US7828620B2 (en) | 2003-01-09 | 2010-11-09 | Sony Corporation | Method of manufacturing tubular carbon molecule and tubular carbon molecule, method of manufacturing field electron emission device and field electron emission device, and method of manufacturing display unit and display unit |
JP2011049605A (ja) * | 2003-10-28 | 2011-03-10 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置 |
US7906803B2 (en) | 2005-12-06 | 2011-03-15 | Canon Kabushiki Kaisha | Nano-wire capacitor and circuit device therewith |
JP2011524090A (ja) * | 2008-06-13 | 2011-08-25 | クナノ アーベー | ナノ構造のmosコンデンサ |
JP2012526376A (ja) * | 2009-06-25 | 2012-10-25 | ノキア コーポレイション | ナノ構造可撓性電極およびこれを使用するエネルギー貯蔵デバイス |
JP2012227507A (ja) * | 2011-04-21 | 2012-11-15 | Samsung Electro-Mechanics Co Ltd | セラミック電子部品用セラミックシート製品とそれを用いた積層セラミック電子部品、及びその製造方法 |
JP2015514315A (ja) * | 2012-03-22 | 2015-05-18 | カリフォルニア インスティチュート オブ テクノロジー | 細長体を有する導電性素子のアレイを具えるマイクロ・ナノスケールキャパシタ |
JP2016502751A (ja) * | 2012-10-19 | 2016-01-28 | ジョージア テック リサーチ コーポレイション | カーボンナノチューブの配向アレイ上に形成された多層被膜 |
JP2019021899A (ja) * | 2017-07-19 | 2019-02-07 | サムソン エレクトロ−メカニックス カンパニーリミテッド. | キャパシタ部品 |
WO2021059570A1 (ja) * | 2019-09-25 | 2021-04-01 | 株式会社村田製作所 | ナノ構造集合体およびその製造方法 |
JPWO2021079566A1 (ja) * | 2019-10-24 | 2021-04-29 | ||
WO2022107696A1 (ja) * | 2020-11-19 | 2022-05-27 | 株式会社村田製作所 | キャパシタ |
JP7459971B2 (ja) | 2020-11-27 | 2024-04-02 | 株式会社村田製作所 | キャパシタ |
Families Citing this family (31)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI236505B (en) * | 2002-01-14 | 2005-07-21 | Nat Science Council | Thermal cracking chemical vapor deposition process for nanocarbonaceous material |
US6855647B2 (en) * | 2003-04-02 | 2005-02-15 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Custom electrodes for molecular memory and logic devices |
DE10324081B4 (de) * | 2003-05-27 | 2005-11-17 | Infineon Technologies Ag | Speichervorrichtung zur Speicherung elektrischer Ladung und Verfahren zur Herstellung derselben |
DE10344814B3 (de) * | 2003-09-26 | 2005-07-14 | Infineon Technologies Ag | Speichervorrichtung zur Speicherung elektrischer Ladung und Verfahren zu deren Herstellung |
DE10345394B4 (de) * | 2003-09-30 | 2006-10-05 | Infineon Technologies Ag | Verfahren zum Herstellen von Speicherzellen |
AU2003301031A1 (en) | 2003-12-18 | 2005-08-03 | International Business Machines Corporation | Carbon nanotube conductor for trench capacitors |
US7057881B2 (en) * | 2004-03-18 | 2006-06-06 | Nanosys, Inc | Nanofiber surface based capacitors |
KR100689813B1 (ko) * | 2004-09-08 | 2007-03-08 | 삼성전자주식회사 | 탄소나노튜브를 가진 반도체 메모리 장치 및 이의 제조 방법 |
DE602005023895D1 (de) * | 2004-10-29 | 2010-11-11 | Nortel Networks Ltd | Bandzurückweisungsfilter |
US7348592B2 (en) | 2004-11-29 | 2008-03-25 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Carbon nanotube apparatus and method of carbon nanotube modification |
US7320911B2 (en) * | 2004-12-06 | 2008-01-22 | Micron Technology, Inc. | Methods of forming pluralities of capacitors |
US7126207B2 (en) * | 2005-03-24 | 2006-10-24 | Intel Corporation | Capacitor with carbon nanotubes |
US7271079B2 (en) | 2005-04-06 | 2007-09-18 | International Business Machines Corporation | Method of doping a gate electrode of a field effect transistor |
CN101086939B (zh) * | 2006-06-09 | 2010-05-12 | 清华大学 | 场发射元件及其制备方法 |
US8114774B2 (en) * | 2006-06-19 | 2012-02-14 | Nxp B.V. | Semiconductor device, and semiconductor device obtained by such a method |
CN101093764B (zh) * | 2006-06-23 | 2012-03-28 | 清华大学 | 场发射元件及其制备方法 |
CN101093765B (zh) * | 2006-06-23 | 2011-06-08 | 清华大学 | 场发射元件及其制备方法 |
TWI401209B (zh) * | 2006-06-30 | 2013-07-11 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | 場發射元件及其製備方法 |
KR100836131B1 (ko) * | 2006-10-19 | 2008-06-09 | 삼성전기주식회사 | 나노와이어를 이용한 커패시터 및 그 제조방법 |
US7794840B2 (en) * | 2007-03-15 | 2010-09-14 | Yazaki Corporation | Capacitors comprising organized assemblies of carbon and non-carbon compounds |
US8357980B2 (en) * | 2007-10-15 | 2013-01-22 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Plasmonic high-speed devices for enhancing the performance of microelectronic devices |
WO2009133510A1 (en) * | 2008-04-29 | 2009-11-05 | Nxp B.V. | Method of manufacturing a capacitor on a nanowire and integrated circuit having such a capacitor |
US9412806B2 (en) * | 2014-06-13 | 2016-08-09 | Invensas Corporation | Making multilayer 3D capacitors using arrays of upstanding rods or ridges |
WO2016112315A2 (en) | 2015-01-09 | 2016-07-14 | President And Fellows Of Harvard College | Nanowire arrays for neurotechnology and other applications |
KR20190092584A (ko) | 2016-12-29 | 2019-08-07 | 인벤사스 본딩 테크놀로지스 인코포레이티드 | 집적된 수동 컴포넌트를 구비한 접합된 구조체 |
WO2019010343A1 (en) | 2017-07-07 | 2019-01-10 | President And Fellows Of Harvard College | CELL-BASED CURRENT STIMULATORS AND RELATED METHODS |
TWI665690B (zh) | 2017-10-24 | 2019-07-11 | 財團法人工業技術研究院 | 磁性電容元件 |
WO2020080993A1 (en) * | 2018-10-18 | 2020-04-23 | Smoltek Ab | Discrete metal-insulator-metal (mim) energy storage component and manufacturing method |
US11901281B2 (en) * | 2019-03-11 | 2024-02-13 | Adeia Semiconductor Bonding Technologies Inc. | Bonded structures with integrated passive component |
IL299097A (en) | 2020-06-17 | 2023-02-01 | Harvard College | Systems and methods for sample determination and spatial electrochemical mapping of cells |
CA3187265A1 (en) | 2020-06-17 | 2021-12-23 | President And Fellows Of Harvard College | Apparatuses for cell mapping via impedance measurements and methods to operate the same |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5872422A (en) * | 1995-12-20 | 1999-02-16 | Advanced Technology Materials, Inc. | Carbon fiber-based field emission devices |
US6294450B1 (en) * | 2000-03-01 | 2001-09-25 | Hewlett-Packard Company | Nanoscale patterning for the formation of extensive wires |
US6448701B1 (en) * | 2001-03-09 | 2002-09-10 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Self-aligned integrally gated nanofilament field emitter cell and array |
US6542400B2 (en) * | 2001-03-27 | 2003-04-01 | Hewlett-Packard Development Company Lp | Molecular memory systems and methods |
US6515325B1 (en) * | 2002-03-06 | 2003-02-04 | Micron Technology, Inc. | Nanotube semiconductor devices and methods for making the same |
-
2001
- 2001-11-28 TW TW090129368A patent/TW506083B/zh not_active IP Right Cessation
-
2002
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Cited By (32)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7892063B2 (en) | 2003-01-09 | 2011-02-22 | Sony Corporation | Method of manufacturing tubular carbon molecule and tubular carbon molecule, method of manufacturing recording apparatus and recording apparatus, method of manufacturing field electron emission device and field electron emission device, and method of manufacturing display unit and display unit |
US7828620B2 (en) | 2003-01-09 | 2010-11-09 | Sony Corporation | Method of manufacturing tubular carbon molecule and tubular carbon molecule, method of manufacturing field electron emission device and field electron emission device, and method of manufacturing display unit and display unit |
US7658798B2 (en) | 2003-07-18 | 2010-02-09 | Nec Corporation | Method for fixing metal particles and method for manufacturing substrate containing metal particles, method for manufacturing substrate containing carbon nanotube, and method for manufacturing substrate containing semiconductor-crystalline rod, employing thereof |
JP2011049605A (ja) * | 2003-10-28 | 2011-03-10 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置 |
JP2006278586A (ja) * | 2005-03-28 | 2006-10-12 | Toyota Motor Corp | デバイス、カーボンナノウォール、カーボンナノウォールの製造方法 |
JP2006287197A (ja) * | 2005-03-31 | 2006-10-19 | Hynix Semiconductor Inc | ナノチューブを有するキャパシタ及びその製造方法 |
JP2006303508A (ja) * | 2005-04-22 | 2006-11-02 | Kofukin Seimitsu Kogyo (Shenzhen) Yugenkoshi | 超格子のナノデバイス及びその製造方法 |
JP2007149975A (ja) * | 2005-11-28 | 2007-06-14 | Sekisui Chem Co Ltd | セラミックコンデンサ、セラミックコンデンサの製造方法及びセラミックグリーンシート |
JP4653647B2 (ja) * | 2005-11-28 | 2011-03-16 | 積水化学工業株式会社 | セラミックコンデンサ、セラミックコンデンサの製造方法及びセラミックグリーンシート |
JP2007158344A (ja) * | 2005-12-02 | 2007-06-21 | Samsung Electronics Co Ltd | 金属層−絶縁層−金属層構造を備えるストレージノード、及び、そのストレージノードを備える不揮発性メモリ素子及びその動作方法 |
JP2007184554A (ja) * | 2005-12-06 | 2007-07-19 | Canon Inc | キャパシタおよびそれを用いた回路装置 |
JP4500797B2 (ja) * | 2005-12-06 | 2010-07-14 | キヤノン株式会社 | キャパシタと電界効果型トランジスタとを有する回路装置及び表示装置 |
US7906803B2 (en) | 2005-12-06 | 2011-03-15 | Canon Kabushiki Kaisha | Nano-wire capacitor and circuit device therewith |
JP2007184555A (ja) * | 2005-12-06 | 2007-07-19 | Canon Inc | キャパシタと電界効果型トランジスタとを有する回路装置及び表示装置 |
JP2008007376A (ja) * | 2006-06-29 | 2008-01-17 | National Univ Corp Shizuoka Univ | ナノワイヤ部材およびその製造方法 |
JP2008091566A (ja) * | 2006-09-29 | 2008-04-17 | Fujitsu Ltd | 絶縁膜で被覆されたカーボンナノチューブ構造体の製造方法及びその構造体からなる電界効果トランジスタ装置 |
JP2010506391A (ja) * | 2006-10-04 | 2010-02-25 | エヌエックスピー ビー ヴィ | Mimキャパシタ |
KR100972909B1 (ko) * | 2007-10-31 | 2010-07-28 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 소자 및 그 형성 방법 |
JP2011524090A (ja) * | 2008-06-13 | 2011-08-25 | クナノ アーベー | ナノ構造のmosコンデンサ |
US9786444B2 (en) | 2009-06-25 | 2017-10-10 | Nokia Technologies Oy | Nano-structured flexible electrodes, and energy storage devices using the same |
JP2012526376A (ja) * | 2009-06-25 | 2012-10-25 | ノキア コーポレイション | ナノ構造可撓性電極およびこれを使用するエネルギー貯蔵デバイス |
JP2012227507A (ja) * | 2011-04-21 | 2012-11-15 | Samsung Electro-Mechanics Co Ltd | セラミック電子部品用セラミックシート製品とそれを用いた積層セラミック電子部品、及びその製造方法 |
US8755167B2 (en) | 2011-04-21 | 2014-06-17 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Ceramic sheet product for ceramic electronic component, multilayer ceramic electronic component using the same and method of manufacturing multilayer ceramic electronic component |
JP2015514315A (ja) * | 2012-03-22 | 2015-05-18 | カリフォルニア インスティチュート オブ テクノロジー | 細長体を有する導電性素子のアレイを具えるマイクロ・ナノスケールキャパシタ |
JP2016502751A (ja) * | 2012-10-19 | 2016-01-28 | ジョージア テック リサーチ コーポレイション | カーボンナノチューブの配向アレイ上に形成された多層被膜 |
JP2019021899A (ja) * | 2017-07-19 | 2019-02-07 | サムソン エレクトロ−メカニックス カンパニーリミテッド. | キャパシタ部品 |
JP7043718B2 (ja) | 2017-07-19 | 2022-03-30 | サムソン エレクトロ-メカニックス カンパニーリミテッド. | キャパシタ部品 |
WO2021059570A1 (ja) * | 2019-09-25 | 2021-04-01 | 株式会社村田製作所 | ナノ構造集合体およびその製造方法 |
JPWO2021079566A1 (ja) * | 2019-10-24 | 2021-04-29 | ||
WO2022107696A1 (ja) * | 2020-11-19 | 2022-05-27 | 株式会社村田製作所 | キャパシタ |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
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