JP2003142662A5 - - Google Patents
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- 磁気メモリセルのアレイと、及び
前記メモリセルアレイの一方の側にあり、第1の方向に延在する複数の第1の導体とを含み、
前記第1の導体が、前記磁気メモリセルのうちの少なくともいくつかのメモリセルから第2の方向にオフセットされ、前記第1の方向と前記第2の方向とが直交する、データ記憶デバイス。 - 前記磁気メモリセルのうちの少なくともいくつかの磁気メモリセルが、2つの隣接する第1の導体間に存在する、請求項1に記載のデバイス。
- 前記磁気メモリセルのうちの少なくともいくつかの磁気メモリセルは、2つの隣接する第1の導体に書込み電流が供給される際に、前記2つの隣接する第1の導体からの磁界にさらされるように配置される、請求項1に記載のデバイス。
- 前記メモリセルアレイの第2の側に複数の第2の導体をさらに含み、前記第2の導体が前記第2の方向に延在し、前記メモリセルと直接的に接触する、請求項1に記載のデバイス。
- 前記メモリセルアレイの第2の側に複数の第2の導体をさらに含み、前記第2の導体が前記第1の方向に延在し、前記メモリセルから第3の方向に間隔をおいて配置され、前記第3の方向が前記第1の方向および前記第2の方向と直交する、請求項1に記載のデバイス。
- 複数のバイアをさらに含み、前記第1の導体が、前記メモリセルから第3の方向に間隔をおいて配置され、各バイアが、前記第1の導体を1つのみの磁気メモリセルに電気的に接続し、前記第3の方向が前記第1の方向および前記第2の方向と直交する、請求項1に記載のデバイス。
- 前記第1の導体から電気的に絶縁された第2の導体の段をさらに含み、前記第1の導体が、前記第2の導体と前記メモリセルとの間に配置される、請求項6に記載のデバイス。
- 前記第1の導体が、前記第2の導体と同じ量だけ前記第2の方向にオフセットされる、請求項7に記載のデバイス。
- 前記第1の導体と前記メモリセルとの間に配置される複数の第2の導体をさらに含み、各磁気メモリセルが、前記第2の導体のうちの1つのみと直に電気的に接触する、請求項1に記載のデバイス。
- 前記第2の導体が、前記メモリセルと位置合わせされる、請求項9に記載のデバイス。
- 各メモリセルが、前記第1の導体のうちの1つのみと直に物理的に接触する、請求項1に記載のデバイス。
- 前記第1の導体から電気的に絶縁された第2の導体の段をさらに含み、前記第1の導体が、前記第2の導体と前記メモリセルとの間に配置される、請求項1に記載のデバイス。
- 前記メモリセルが磁気抵抗素子を含む、請求項1に記載のデバイス。
- 前記メモリセルに最も近い2つの隣接する前記第1の導体に書込み電流を供給することを含む、請求項1に記載のデバイスのメモリセルに書込みを行う方法。
- 磁気メモリセルのアレイと、
前記メモリセルアレイの第1の側にあり、第1の方向に延在する複数の第1の導体と、及び
前記メモリセルアレイの第2の側にあり、第2の方向に延在する複数の第2の導体とを含み、
前記第1の方向と前記第2の方向とが直交し、
前記メモリセルが前記第1の導体から前記第2の方向にオフセットされている、磁気ランダムアクセスメモリデバイス。 - 前記メモリセルアレイの第2の側に複数の第3の導体をさらに含み、前記第3の導体が前記第1の方向に延在し、前記メモリセルから第3の方向に間隔をおいて配置され、前記第3の方向が前記第1の方向および前記第2の方向と直交する、請求項15に記載のデバイス。
- 複数のバイアをさらに含み、前記第1の導体が、前記メモリセルから第3の方向に間隔をおいて配置され、各バイアが、前記第1の導体を1つのみの磁気メモリセルに電気的に接続し、前記第3の方向が前記第1の方向および前記第2の方向と直交する、請求項15に記載のデバイス。
- 前記第1の導体から電気的に絶縁された複数の第3の導体をさらに含み、前記第3の導体が前記第1の方向に延在し、前記第1の導体が、前記第3の導体と前記メモリセルとの間に配置される、請求項17に記載のデバイス。
- 前記第1の導体と前記メモリセルとの間に配置された複数の第3の導体をさらに含み、前記第3の導体が前記第1の方向に延在し、各磁気メモリセルが、前記第3の導体のうちの1つのみと直に電気的に接触する、請求項15に記載のデバイス。
- 各メモリセルが、前記第1の導体のうちの1つと直に物理的に接触する、請求項15に記載のデバイス。
- 前記第1の導体から電気的に絶縁された第3の導体の段をさらに含み、前記第1の導体が、前記第3の導体と前記メモリセルとの間に配置される、請求項15に記載のデバイス。
- メモリセルに最も近い2つの隣接する導体に書込み電流を供給することを含む、磁気ランダムアクセスメモリデバイスのメモリセルに書込みを行う方法。
- 磁気抵抗素子のアレイと、及び
前記アレイの一方の側にあり、第1の方向に延在する複数の第1の導体とを含み、
前記第1の導体が、磁気メモリセルのうちの少なくともいくつかのメモリセルから第2の方向にオフセットされ、前記第1の方向と前記第2の方向とが直交する、装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US09/920,225 US6385083B1 (en) | 2001-08-01 | 2001-08-01 | MRAM device including offset conductors |
US09/920225 | 2001-08-01 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003142662A JP2003142662A (ja) | 2003-05-16 |
JP2003142662A5 true JP2003142662A5 (ja) | 2005-10-27 |
Family
ID=25443380
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002224583A Pending JP2003142662A (ja) | 2001-08-01 | 2002-08-01 | オフセットされた導体を含むmramデバイス |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6385083B1 (ja) |
EP (1) | EP1282132A3 (ja) |
JP (1) | JP2003142662A (ja) |
KR (1) | KR100898040B1 (ja) |
CN (1) | CN1308959C (ja) |
TW (1) | TW563127B (ja) |
Families Citing this family (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6735111B2 (en) * | 2002-01-16 | 2004-05-11 | Micron Technology, Inc. | Magnetoresistive memory devices and assemblies |
JP2003346474A (ja) * | 2002-03-19 | 2003-12-05 | Mitsubishi Electric Corp | 薄膜磁性体記憶装置 |
US6507513B1 (en) * | 2002-06-20 | 2003-01-14 | Hewlett-Packard Company | Using delayed electrical pulses with magneto-resistive devices |
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US6836429B2 (en) * | 2002-12-07 | 2004-12-28 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | MRAM having two write conductors |
US7126200B2 (en) * | 2003-02-18 | 2006-10-24 | Micron Technology, Inc. | Integrated circuits with contemporaneously formed array electrodes and logic interconnects |
JP4315703B2 (ja) * | 2003-02-27 | 2009-08-19 | 株式会社ルネサステクノロジ | 薄膜磁性体記憶装置 |
US6952364B2 (en) * | 2003-03-03 | 2005-10-04 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Magnetic tunnel junction structures and methods of fabrication |
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KR100568512B1 (ko) * | 2003-09-29 | 2006-04-07 | 삼성전자주식회사 | 열발생층을 갖는 자기열 램셀들 및 이를 구동시키는 방법들 |
KR100835275B1 (ko) * | 2004-08-12 | 2008-06-05 | 삼성전자주식회사 | 스핀 주입 메카니즘을 사용하여 자기램 소자를 구동시키는방법들 |
US7372722B2 (en) * | 2003-09-29 | 2008-05-13 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Methods of operating magnetic random access memory devices including heat-generating structures |
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KR100660539B1 (ko) * | 2004-07-29 | 2006-12-22 | 삼성전자주식회사 | 자기 기억 소자 및 그 형성 방법 |
KR100612878B1 (ko) * | 2004-12-03 | 2006-08-14 | 삼성전자주식회사 | 자기 메모리 소자와 그 제조 및 동작방법 |
EP1667160B1 (en) * | 2004-12-03 | 2011-11-23 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Magnetic memory device and method |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6069815A (en) * | 1997-12-18 | 2000-05-30 | Siemens Aktiengesellschaft | Semiconductor memory having hierarchical bit line and/or word line architecture |
JP2000076843A (ja) * | 1998-05-18 | 2000-03-14 | Canon Inc | 磁性薄膜メモリ素子およびその記録再生方法、画像録画再生装置 |
EP0959475A3 (en) * | 1998-05-18 | 2000-11-08 | Canon Kabushiki Kaisha | Magnetic thin film memory and recording and reproducing method and apparatus using such a memory |
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JP3854793B2 (ja) * | 2000-10-03 | 2006-12-06 | キヤノン株式会社 | 磁気抵抗効果素子を用いたメモリ |
-
2001
- 2001-08-01 US US09/920,225 patent/US6385083B1/en not_active Expired - Lifetime
-
2002
- 2002-07-04 TW TW091114865A patent/TW563127B/zh not_active IP Right Cessation
- 2002-07-05 EP EP02254730A patent/EP1282132A3/en not_active Withdrawn
- 2002-07-31 KR KR1020020045172A patent/KR100898040B1/ko active IP Right Grant
- 2002-08-01 JP JP2002224583A patent/JP2003142662A/ja active Pending
- 2002-08-01 CN CNB021275750A patent/CN1308959C/zh not_active Expired - Lifetime
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