JP2003123921A - Icソケット - Google Patents
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- G01R1/0433—Sockets for IC's or transistors
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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Abstract
の均一な接触圧力を実現し、適正なICパッケージの特
性評価を可能とするICソケットを提供する。 【解決手段】 配線基板上に設置されるICソケットに
おいて、ICパッケージのリード部と接触する列状に配
置された多数のコンタクトを有するソケット基板と、前
記コンタクトを弾性体を介して押圧するカバーと、前記
カバーを前記ソケット基板に取り付ける固定部とを備
え、前記弾性体と前記コンタクトとの接触面は長手方向
に曲面をなすとともに、該曲面は前記コンタクトと前記
ICパッケージのリード部との間に均一な接触力を発生
させるように形成されていることを特徴とする。
Description
配線基板間の接触媒体となるICソケットに関するもの
であり、例えば、ICパッケージの特性評価を効果的に
行うために、ICパッケージのリード部を配線基板に設
けられた対応する端子と相互接続させるための技術に関
するものである。
い、コンタクトのローインダクタンス化を図った種々の
ICソケットが開発されている。こうしたローインダク
タンス化を実現し、高周波特性を向上させたICソケッ
トにおいては、ソケットコンタクトの信号線路長を可及
的に短縮することが必要となるが、反面コンタクトはI
Cパッケージのリード部と弾力的に加圧接触せしめるた
めの構造を備えねばならい。このため、例えばコンタク
トを金属板材から打抜く際にバネ部を具備させる形式の
コンタクトにおいては、加圧接触特性の面からバネ長の
短縮即ち信号線路長の短縮には限度があるため、この形
式のコンタクトによって所要のローインダクタンス化を
達成することは困難である。
特開平10−50440号公報(特願平8−20499
4号)においては、ICのリード部と接触するコンタク
トとソケットカバーとの間に弾性体を介在させ、コンタ
クトの待機姿勢を保持するとともに、弾性体の復元力に
より、コンタクトとICリード部との接触圧を得る構成
としたICソケットが提案されている。
ットにおいては、コンタクトとカバーとの間に弾性体が
介在し、ソケット基板とカバーとを固設する固定部が点
在するため、固定部近傍の接触圧力が他の部分と比し、
高くなる傾向がある。このため、コンタクト全面に亘っ
て、ICパッケージのリード部との均一な接触圧力が得
られず、コンタクトとICパッケージとの部分的な非接
触等の恐れが生じ、ICパッケージとソケットとの適正
な加圧接触条件を確保する上で問題を有していた。
み、コンタクト全面に亘って、ICパッケージとの均一
な接触圧力を実現し、適正なICパッケージの特性評価
を可能とするICソケットを提供するものである。
めに、本発明のICソケットは、配線基板上に設置され
るICソケットにおいて、ICパッケージのリード部と
接触する列状に配置された多数のコンタクトを有するソ
ケット基板と、前記コンタクトを弾性体を介して押圧す
るカバーと、前記カバーを前記ソケット基板に取り付け
る固定部とを備え、前記弾性体と前記コンタクトとの接
触面は長手方向に曲面をなすとともに、該曲面は前記コ
ンタクトと前記ICパッケージのリード部との間に均一
な接触力を発生させるように形成されていることを特徴
とする。
に応じて、形成されていてもよい。
に配置された多数のコンタクト全体を、同時に所定量変
位させたときの1のコンタクトのみの接触力を順次測定
することにより得ることができる。
面は、前記曲面の形状に形成されていてもよい。
は平坦であり、前記弾性体の前記コンタクトとの接触面
は、前記曲面の形状に形成されていてもよい。
い。
であってもよい。
ットの内側に突出し、前記ICパッケージのリード部と
接触する第一の接触部と、前記コンタクトを回動可能に
支持し、前記配線基板上の配線部と接触する第二の接触
部と、前記回動の際、前記弾性体を押圧する加圧部とを
備えることができる。
触部と、前記加圧部とは、一体に形成されていてもよ
い。
付図面に従った実施例の詳細な説明により明らかにす
る。
述するが、以下に示すものは本発明の一実施形態に過ぎ
ず、本発明の技術的範囲を何等制限するものではない。
て、図1乃至図5によって説明する。
トは絶縁材から成り、中央部にIC収容部4を有する略
方形のソケット基板1と、該IC収容部4の対向する長
手方向二辺に列状に配置された多数のコンタクト2とを
備えている。各コンタクト2間には前記ソケット基板1
に設けられた絶縁隔壁3が介在し、さらに、該コンタク
ト2の上部には、コンタクト2の列方向に延在する弾性
体5を介してソケットカバー6が設けられ、該ソケット
カバー6は、ねじ7によりソケット基板1に固設されて
いる。詳述すると、図3に示すように、例えばソケット
カバー6の下面に沿い長手方向に亘り取付溝8を設け、
この取付溝8内に前記弾性体5の上部を保持させ、この
ソケットカバー6をIC収容部4の各辺に沿い延在する
ようにソケット基板1に固装することによって、ソケッ
トカバー6の下面より長手に亘って突出させた弾性体5
により前記コンタクト2を支持する。ここで、前記弾性
体5は、例えばゴムであってもよいし、あるいは断面形
状が円管状である例えば、エアチューブ又は液体チュー
ブ等である。
6の弾性体5との接触面の長手方向断面は、カバー寸法
をコンタクト位置ごとに調整して接触力のばらつきの改
善を図ったものであり、コンタクト2とICパッケージ
20のリード部21との間の接触力がコンタクト列全体
に亘って、均一に発生するような曲面形状である。例え
ば、(a)に示すように、該曲面形状は、後述する方法
により求めたコンタクトに発生する接触力分布曲線に相
関した凹凸を成す曲面9で形成されている。
ける必要は無く、弾性体とコンタクトとの接触面の長手
方向断面が上述の接触力分布曲線に相関した凹凸を成す
曲面で形成されればよい。例えば、(b)に示すよう
に、カバーと弾性体との接触面を平面とし、弾性体がコ
ンタクトと接触する面の形状を、接触力分布曲線に相関
した凹凸を成す曲面で形成してもよい。
示すようにICパッケージのリード部21を載置する第
一の接触部である上端接触部10aを有し、ICソケッ
ト内側へ向け前傾せる接触アーム10を備えるととも
に、下端にソケット基板1に設けられた貫通孔1aを通
じて、配線基板13の配線部に当接する第二の接触部で
ある下端接触部11を有する。さらに、コンタクト2は
前記下端接触部11と接触アーム10との連設部付近か
ら接触アーム10の背後へ突設された加圧片12を有し
ている。前記接触アーム10、下端接触部11および加
圧片12は板材より一体に打抜いて剛性のコンタクト2
を形成している。ここで、前記コンタクト2は、貫通孔
1aの案内により上下方向に移動可能であるとともに、
下端接触部11を支点として前後方向へ回動可能であ
る。
ては、配線基板13に設置され、ICパッケージ20
が、所定の加圧力でコンタクト2の接触アーム10に載
接されると、弾性体5を介した本来の均一な加圧接触力
に加えて、固定部7の締め付け位置の影響による不均一
な加圧接触力が弾性体5を介して、コンタクト2に重畳
されることとなる。しかし、この重畳された加圧接触力
は、弾性体5を保持するカバー6の曲面形状9によりキ
ャンセルされるので、コンタクト2には均一な加圧接触
力のみが発生することとなる。
める方法について説明する。
あり、ロードセル30と、ロードセルの下面に配置され
た押し治具31と、該ロードセル30の側面に対称な形
状で配置された押し治具32とを備え、無負荷の状態で
は、押し治具31および押し治具32のコンタクト2と
の接触面は整列するように配置されている。
タクト全体を同時に所定量変位させ、その内の1つのコ
ンタクトのみの接触力を順次測定する。ここで、図7
(a)は、1つのコンタクトのみを変位させた場合の弾
性体の状態を示す模式図であり、図7(b)は、1列の
コンタクト全体を変位させた場合の弾性体の状態を示す
模式図である。図7(a)、(b)に示されるように、
1列のコンタクト全体を変位させ、その内の1つのコン
タクトのみの接触力を測定した場合は、1つのコンタク
トのみを変位させて接触力を測定した場合に比べ、1コ
ンタクト当たりの弾性体の圧縮体積が小さくなり、実際
の使用状態と同様な接触力を測定することが可能とな
る。
測定した接触力の測定結果を示すものであり、図8
(a)は、ソケットカバー6と弾性体5との接触面が平
面である従来カバーの場合の測定結果を示すものであ
り、図8(b)は、ソケットカバー6と弾性体5との接
触面が、コンタクト2に発生する接触力分布曲線に相関
した凹凸を成す曲面9である場合の測定結果を示すもの
である。図8(a)においては、固定部7近傍であるコ
ンタクトの両端において接触力が高くなっているが、図
8(b)においては、上述の不均一な接触力がカバーの
形状の変更により改善されて、均一な接触力となってい
ることがわかる。
力の分布曲線に相関して、カバー6の弾性体5との接触
面を形成することにより、コンタクト2に均一な接触力
を発生させるICソケットの提供が可能となる。
固定部の締め付け位置の影響による不均一な加圧接触力
を、コンタクトの接触力分布曲線に相関してソケットカ
バーの形状を形成することにより排除することができ
る。これにより、コンタクトに均一な加圧接触力が発生
するICソケットを提供することができ、適正なICパ
ッケージの特性評価が可能となる。
と弾性体の配置を示す要部斜視図である。
図であり、(a)は、ソケットカバーと弾性体との接触
面の長手方向断面が、接触力分布曲線に従った場合の断
面図であり、(b)は、弾性体とコンタクトとの接触面
の長手方向断面が、接触力分布曲線に従った場合の断面
図である。
す断面図である。
る測定治具を示す断面図である。
り、(a)は、1つのコンタクトのみを変位させた場合
の弾性体の状態を示す模式図であり、(b)は、1列の
コンタクト全体を変位させた場合の弾性体の状態を示す
模式図である。
(a)は、ソケットカバーの形状を平面とした場合のコ
ンタクトに発生する接触力分布曲線を示す図であり、
(b)は、ソケットカバーの形状を曲面とした場合のコ
ンタクトに発生する接触力分布曲線を示す図である。
Claims (9)
- 【請求項1】 配線基板上に設置されるICソケットに
おいて、 ICパッケージのリード部と接触する列状に配置された
多数のコンタクトを有するソケット基板と、 前記コンタクトを弾性体を介して押圧するカバーと、 前記カバーを前記ソケット基板に取り付ける固定部とを
備え、 前記弾性体と前記コンタクトとの接触面は長手方向に曲
面をなすとともに、該曲面は前記コンタクトと前記IC
パッケージのリード部との間に均一な接触力を発生させ
るように形成されていることを特徴とするICソケッ
ト。 - 【請求項2】 前記曲面は、所定の接触力分布曲線に応
じて、形成されていることを特徴とする請求項1に記載
のICソケット。 - 【請求項3】 前記接触力分布曲線は、前記列状に配置
された多数のコンタクト全体を、同時に所定量変位させ
たときの1のコンタクトのみの接触力を順次測定するこ
とにより得られることを特徴とする請求項2に記載のI
Cソケット。 - 【請求項4】 前記カバーの前記弾性体との接触面は、
前記曲面の形状に形成されていることを特徴とする請求
項1ないし3のいずれかに記載のICソケット。 - 【請求項5】 前記弾性体の前記カバーとの接触面は平
坦であり、前記弾性体の前記コンタクトとの接触面は、
前記曲面の形状に形成されていることを特徴とする請求
項1ないし3のいずれかに記載のICソケット。 - 【請求項6】 前記弾性体は、ゴムであることを特徴と
する請求項1ないし5のいずれかに記載のICソケッ
ト。 - 【請求項7】 前記弾性体の断面形状は、円管状である
ことを特徴とする請求項1ないし6のいずれかに記載の
ICソケット。 - 【請求項8】 前記コンタクトは、前記ICソケットの
内側に突出し、前記ICパッケージのリード部と接触す
る第一の接触部と、 前記コンタクトを回動可能に支持し、前記配線基板上の
配線部と接触する第二の接触部と、 前記回動の際、前記弾性体を押圧する加圧部とを備える
ことを特徴とする請求項1ないし7のいずれかに記載の
ICソケット。 - 【請求項9】 前記第一の接触部と、前記第二の接触部
と、前記加圧部とは、一体に形成されていることを特徴
とする請求項8に記載のICソケット。
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