KR101715741B1 - 전자부품 검사용 소켓 - Google Patents

Abstract

본 발명은 전자부품의 피접촉단자와 검사장치의 인쇄회로 접촉단자에 물리적으로 접촉하는 검사용 프로브의 소켓에 관한 것으로, 프로브의 검사단부들이 상기 피접촉단자를 향하도록 프로브들이 배열 지지되는 프로브 지지체와, 각 프로브들의 상기 연결단부가 삽입되어 상기 연결단부의 외측표면에 접촉하는 물림접촉부와, 상기 물림접촉부로부터 이격되어 검사장치의 검사접점에 접촉하는 연결접촉부를 구비한 프로브 클립과, 상기 프로브 지지체에 결합되어 상기 프로브 클립들을 지지하는 클립 지지체를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 전자부품 검사용 소켓은 프로브의 연결단부를 프로브 클립의 물림접촉부나 끼움접촉부에 삽입하여 접촉시킴으로써 접촉저항을 일정하게 안정적으로 유지할 수 있어 검사 신뢰성이 제고된다.

Description

전자부품 검사용 소켓{TEST SOCKET FOR ELECTRONIC COMPONENTS}

본 발명은 전자부품 검사용 소켓에 관한 것으로, 보다 상세하게는 전자부품의 피접촉단자와 물리적으로 접촉하여 전기적으로 연결해주는 검사용 소켓에 관한 것이다.

전자부품의 불량여부를 검사하기 위하여 일반적으로 검사용 소켓이 이용되고 있으며, 이러한 검사용 소켓은 검사장치 (인쇄회로)기판상에 장착되며 검사대상인 전자부품을 탑재하여 전자부품의 외부연결단자인 피검사접점과 검사장치 기판의 검사접점 사이를 물리적으로 접촉하여 전기적으로 연결시켜주는 역할을 하고 있다.

도 1은 종래의 검사용 종래 검사용 소켓의 일예를 보인 것으로, 도시된 바와 같이 검사용 소켓(10)의 프로브 지지체(12)에 다수의 프로브(P)가 대략 수직으로 배치되어 있다. 상기 수직으로 배치된 각 프로브(P)의 상측 검사단부(P1)는 피검사 대상인 전자부품의 피접촉단자(미도시)에 접촉되며, 하측 연결단부(P2)는 연결단자(18)의 일단(一端) 상부에 접촉하고, 상기 연결단자(18)의 타단은 상부에 설치된 가압 스프링(14)에 의해 눌려져 검사장치 기판(A)의 검사접점(A1)에 탄성접촉된다.

그러나, 이와 같은 종래 소켓(10)은 상기 프로부(P)의 연결단부(P2) 끝단이 상기 연결단자(18)의 평판 상부에 접촉되고 있어 프로부(P)의 가압상태에 따라 접촉저항값이 불안정하여 검사 신뢰성이 떨어진다는 문제점이 있다.

본 발명은 상술한 바와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 프로브 연결단부의 접촉저항을 일정하게 안정적으로 유지하여 검사 신뢰성을 제고시키는 검사용 소켓을 제공하는 것을 그 목적으로 한다.

상기 목적은, 프로브의 상측 검사단부들이 전자부픔의 피접촉단자를 향하도록 배열 지지되는 프로브 지지체와, 하측 연결단부가 삽입되어 상기 연결단부의 외측표면에 접촉하는 물림접촉부와, 상기 물림접촉부로부터 이격되어 검사장치의 검사접점에 접촉하는 연결접촉부를 이루는 프로브 클립과, 상기 프로브 지지체에 결합되어 상기 프로브 클립들을 삽입 지지하는 클립 지지체를 포함하는 전자부품 검사용 소켓에 의해 달성된다.

여기서, 상기 물림접촉부는 U-형상으로 형성시켜서 상기 프로브 하측의 연결단부가 삽입되도록 하여 접촉면을 크게 하는 것이 접촉 안정성을 위해 바람직하다.

또한, 상기 물림접촉부는 상기 연결단부의 외측표면을 탄성적으로 가압접촉하는 것이 접촉 안정성을 위해 더욱 바람직하다.

그리고, 상기 물림접촉부와 상기 연결접촉부는 검사장치 기판의 검사접점에 자체 탄성을 가지고 접촉시키기 위하여 상기 프로브의 축선방향에서 가로방향으로 이격되어 있는 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 프로브지지체는 소켓을 분해하지 하지 않고 프로브의 삽탈을 하기 위해 상기 프로브를 길이방향으로 유동가능하게 수용하는 것이 바람직하다.

그리고, 상기 각 프로브들의 연결단부의 중공내부에 삽입되어 내측면에 접촉하는 플로브 클립의 끼움접촉부에 의해서도 접촉 안정성이 달성될 수 있다.

본 발명에 따른 전자부품 검사용 소켓은 프로브의 연결단부를 프로브 클립의 물림접촉부나 끼움접촉부에 삽입하여 접촉시킴으로써 접촉저항을 일정하게 안정적으로 유지할 수 있어 검사 신뢰성이 제고된 검사용 소켓을 제공할 수 있다.

도 1은 종래의 전자부품 검사용 소켓의 부분 절개 사시도.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 검사용 소켓의 분해 사시도.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 검사용 소켓의 절개 단면 사시도.
도 4는 도 3을 부분 확대한 단면 사시도.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 검사용 소켓의 부분확대 단면 사시도.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 전자부품 검사용 소켓을 상세하게 설명하기로 한다.

본 발명의 검사용 소켓(20)은 도시된 바와 같이, 프로브(P)의 상단 검사단부들이 전자부품의 피접촉단자를 향하도록 배열 지지되는 프로브 지지체(22)와, 상기 각 프로브(P)들의 하부 연결단부가 삽입되어 검사장치 기판의 검사접점에 접촉하는 연결접촉부를 구비한 프로브 클립(26)과, 상기 프로브 지지체(22)의 하부에 결합되어 상기 프로브 클립(26)들을 지지하는 클립 지지체(24)로 구성된다.

먼저, 도 2의 분해 사시도를 참조하면서 상기 검사용 소켓(20)에 대해 설명하면, 상기 검사용 소켓(20)은, 금속 도체로 형성된 상기 프로브 클립(26)을 절연체로 형성된 상기 클립 지지체(24)의 프로브수용공(도번호 미도시)의 상부에 삽입한 다음, 상기 프로브 클립(26)이 삽입된 상기 클립 지지체(24)를 하부에 도시된 작은 나사(도면부호 미도시)들 이용하여 상기 프로브 지지체(22)의 하면에 나사 고정시키고, 상기 프로브 지지체(22)와 나사결합된 프로브 지지체(22)는 상부에 도시된 큰 나사(도면부호 미도시)로 검사장치 기판(미 도시)에 결합시킨다. 이와 같이 상기 검사장치 기판상에 결합된 검사용 소켓(20)상에 전자부품이 탑재되어 검사를 하게 된다.

다음, 프로브(P)는 도전체 금속으로 형성되며, 상기 클립 지지체(24)에 삽입되어 검사대상인 전자부품의 피접촉단자(OC)에 접촉하는 역할을 하며, 상기 피접촉단자(OC)에 접촉시 수직 탄성력을 제공하는 탄성 스프링이 내장되어 있어서 접촉과정에서 발생되는 수직하중에 대해서 탄성적으로 접촉 지지할 수 있도록 구성된다.

도 4 및 도 5에 도시된 실시예에서 프로브(P)의 검사단부(P1)는 상부 플런저에 해당되며, 연결단부(P2)는 배럴에 해당되고 하부 플런저가 생략된 간단한 형상을 갖는다. 상기 검사단부(P1)를 탄성가압하는 탄성지지체(미 도시)는 상기 연결단부(P2)내에 수용되며, 상기 탄성지지체를 내부에 수용한 연결단부(P2)의 외부 원통은 연결 접촉부가 된다. 그러나, 상기 프로브(P)의 연결단부(P2)는 하부 플런저가 있는 경우에는 하부 플런저가 연결단부(P2)에 해당될 수 있다.

상기 프로브(P)를 좀더 구체적으로 설명하면, 도시된 바와 같이 상기 프로브(P)의 검사단부(P1) 상단은 전자부품의 피접촉단자(OC)에 탄성 접촉되는 관상(Crown Shaped)의 탐침돌기(도번호 미도시)가 형성되어 있으며, 탄성력을 제공하는 탄성 스프링(미 도시)은 연결단부(P2)의 내부에 수용되어 상기 프로브의 검사단부(P1)를 상기 연결단부(P2)로부터 신축가능하게 하면서 상기 피접촉단자(OC)에 탄력적으로 탄성접촉을 하게 한다.

검사를 하기 위해 상기 검사소켓(20)에 상기 전자부품이 탑재되면, 상기 프로브(P)의 검사단부(P1)는 피접촉단자(OC)에 접촉되어 눌려 지면서 수직 하방으로 변위되고, 검사가 끝나 전자부품이 제거되면 상기 연결단부(P2)에 수용된 탄성 스프링의 수직 탄성력으로 원래의 위치로 복원된다.

그리고, 상기 프로브(P) 연결단부(P2)의 외주면은 상기 프로브수용공으로부터 삽탈이 용이하도록 걸림턱이 없이 일자로 매끄럽게 형성되는 것이 바람직하다.

다음, 상기 프로브 지지체(22)는 검사대상인 전자부품이 탑재되는 검사용 소켓(20)의 외곽 프레임을 이루며, 비도전성인 절연재료로 상기 검사용 소켓(20)과 일체로 형성된다. 또한, 상기 프로브(P)가 삽탈할 수 있도록 복수의 프로브수용공(22a)이 형성되어 배치된다.

그리고, 상기 프로브수용공(22a)은 상기 전자부품의 피접촉단자(OC)가 위치하는 하부에 길이방향으로 유동가능하게 수용하도록 형성된다. 또한, 상기 프로브수용공(22a)은 상기 프로브(P)의 직경보다 작지 않고, 상기 피접속단자(OC)에 대응되는 위치에서 상기 프로브(P)가 삽탈될 수 있도록 배치된다.

상기 프로브(P)들이 상기 프로브 지지체(22)에 형성된 프로브수용공(22a)에 삽입되면 프로브(P)들의 검사단부(P1)는 상기 프로브수용공(22a)의 상부에 노출되어 전자부품의 피접촉단자(OC)에 접촉되게 하고, 상기 프로브(P)들의 하부 연결단부(P2)는 상기 프로브수용공(22a) 하부공간에 노출된다. 그리고, 상기 프로브(P)는 축방향으로 탄성지지되어 상기 검사단부(P1)를 탄성 가압하면서 접촉된다. 또한, 상기 프로브(P)는 상기 프로브수용공(22a)에 원할하게 삽탈시키기 위하여 상기 프로브(P)의 연결단부(P2) 외부 표면은 삽탈시 걸림부분이 없도록 한다.

다음으로, 상기 프로브 클립(26)은 도 4에 도시된 바와 같이 상기 프로브수용공(22a) 하부공간에 노출된 연결단부(P2)의 외측표면에 접촉하는 물림접촉부(26a)와, 상기 물림접촉부(26a)로부터 이격되어 검사장치의 검사접점(A1)에 접촉하는 연결접촉부(26b)와, 상기 물림접촉부(26a)와 연결접촉부(26b) 사이의 탄성연결부(부호 미도시), 상기 연결접촉부(26a)에서 연장되는 만곡 연장부(도번 미도시)로 이루어진다.

상기 프로브(P)의 연결단부(P2)에 삽입된 물림접촉부(26a),는 도 4및 도 5에 도시된 바와 같이 U-형상의 일측 다리 중간에서부터 대략 검사장치 기판(A)에 평행하게 수평방향으로 만곡 연장되어 상기 검사장치 기판(A)에 형성된 검사접점(A1)에 접촉되는 연결접촉부(26b)를 갖는다. 그리고, 상기 물림접촉부(26a)와 상기 연결접촉부(26b)는 검사장치 기판(A)에 배치된 검사접점(A1)에 공간적 여유를 가지고 접촉시키기 위하여 상기 프로브(P)의 축선방향에서 가로방향으로 소정의 거리로 이격되도록 한다.

상기 프로브수용공(22a)의 하부공간에 노출된 프로브(P)의 연결단부(P2)는 상기 프로브 클립(26)의 일단에 형성된 물림접촉부(26a)에 삽입된다. 상기 물림접촉부(26a)는 U-형상으로 형성시킨다.

상기 U-형상의 물림접촉부(26a)는 도전성의 금속박판으로 제작하여 U-형상의 다리 사이에 도전성과 탄성을 부여한다. 따라서, 탄성이 부여된 상기 물림접촉부(26a)에 상기 프로브(P)의 연결단부(P2)가 삽입되면 상기 연결단부(P2)의 외측표면을 U-형상의 양측 다리가 탄성적으로 가압하여 접촉하게 된다. 이때, U-형상의 다리 사이의 간격은 상기 연결단부(P2)의 직경보다 크지 않게 한다, U-형상의 다리 간격을 상기 연결단부(P2)의 직경보다 크지 않게 하여 상기 연결단부(P2)가 U-형상의 양측 다리사이에 삽입되면 삽입 구간 전체가 탄성적으로 접촉되게 한다.

또한, 상기 물림접촉부(26a)는 U-형상이 아닌, 다른 형상, 예를 들면 3족형, 축방향으로 째진 원통형, 탄성을 가진 일측 접촉형 등이 가능하며, 도 5는 본 발명의 다른 실시예로서, 상기 클립 지지체(24)의 접촉이 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 프로브(P)의 연결단부(P2) 내측면에서 이루어지고 있다. 즉, 상기 연결단부(P2)의 끝단 중앙에는 접속구를 형성시키고, 상기 클립 지지체(24)에는 물림 접촉부(26a) 대신에 끼움 접촉부(26c)를 마련한다. 따라서, 상기 연결단부(P2)의 접속구에 상기 끼움 접촉부(26c)를 삽입되도록 하여, 상기 연결단부(P2) 내측 벽면에서 접촉이 이루어지게 한다.

상기 물림접촉부(26a)를 수용하는 공간은 상기 프로브수용공(22a) 바로 밑에 형성되고, 탄성연결부 수용공간은 상기 물림접촉부(26a)를 수용하는 공간에 연접시켜 형성된다. 이때, 상기 탄성연결부 수용공간이 시작되는 부분을 돌기시켜 상기 탄성연결부의 시작부분을 지지토록 한다. 이렇게 상기 탄성연결부의 시작부분을 지지케하여 연결접촉부(26b)의 상·하 변위시에 상기 물림접촉부(26a) 및 프로브(P)의 연결단부(P2)에 무리한 힘이 전해지지 않도록 한다.

상기 프로브(P)의 연결단부(P2)가 삽입된 상기 물림접촉부(26a)는 도 4 및 도 5에 도시된 바와 같이, U-형상의 일측 다리 중간에서부터 대략 검사장치 PCB(A)에 평행하게 수평방향으로 만곡 연장되어 상기 검사장치 PCB(A)에 형성된 검사접점(A1)에 접촉되는 연결접촉부(26b)를 갖는다. 그리고, 상기 만곡된 연결접촉부(26b)는 상기 프로브(P)에서 대략 가로(수평)방향으로 소정의 거리로 이격되도록 한다.

이와 같이, 상기 탄성연결부가 상기 프로브 접촉부(26a)의 한쪽 다리에 고정 지지되어 만곡 연장된 구조는 상기 탄성연결부가 마치 외팔지지보와 같이 작용하게 해준다. 즉, 상기 연결접촉부(26b)가 검사장치 PCB(A)의 검사접점(A1)에 밀착하여 압착되면서 변위되었을 경우, 변위반대방향으로 반발력이 생겨 상기 탄성연결부가 상기 검사접점(A1)에 탄성적 누름접촉이 가능하게 해준다. 따라서, 검사장치 PCB(A)의 검사접점(A1)에 탄성적으로 접촉시키기 위하여 별도의 가압스프링을 설치할 필요가 없어진다.

그리고, 상기 탄성연결부는 상기 프로브 접촉부(26a)의 한쪽 다리의 고정 지지점에서 상기 연결접촉부(26b)까지의 구간에 만곡부를 갖게 하는 것이 바람직하다. 이러한 만곡부에 누름이 작용하면 직선형태보다 탄성연결부의 탄성력을 더욱 증대시킬 수 있다.

상기 프로브 클립(26)은 상기 연결접촉부(26b)로부터 상기 클립지지체(24)의 하면에 형성된 개구부(24a)까지 만곡 연장된 연장부를 더 갖는 것이 바람직하다. 상기 만곡 연장된 연장부가 연결접촉부(26b)에서 바로 끝나지 않고 만곡된 연장부를 더 갖게 되면, 상기 연결접촉부(26b)가 검사장치 PCB(A)의 검사접점(A1)에 닿아 상방향으로 변위될때, 상기 만곡 연장된 연장부도 상방향으로 변위된다.

이렇게, 상기 연결접촉부(26b)가 변위되면 상기 만곡 연장부의 끝단이 상기 개구부(24a)의 벽면에 접촉되게 되고, 이 상태는 상기 프로브 클립(26)의 양단이 지지되어 마치 양단 지지보와 같이 작용하게 된다. 이와 같은 양단 지지보 상태의 상기 프로브 클립(26)은 최대 전단력 범위내데서 누름 압력의 휨모멘트에 의한 반력이 자체 탄성력으로 작용되어 상기 프로브 클립(26)을 탄성가압하기 위한 별도의 탄성 스프링의 설치가 필요 없어진다.

상술한 바와 같이 본 발명의 실시예에 의해, 상기 클립 지지체(24)에 상기 프로브 클립(26)을 삽입시키고, 상기 프로브 클립(26)이 삽입된 상기 클립 지지체(24)를 상기 프로브 지지체(22)에 결합시키고, 상기 프로브 지지체(22)에 형성된 프로브수용공(22a)에 상기 프로브(P)를 삽입시킴으로써 상기 프로브(P)의 연결단부(P2)의 외측 또는 내측면과 상기 프로브 클립(26)의 물림 접촉부(26a) 또는 끼움 접촉부(26c) 사이에 접촉이 되어 접촉저항이 낮아져 안정적인 접촉이 이루어진다.

이상과 같이 본 발명은 구체적인 실시예에 한정하여 설명하였으나, 본 발명은 검사용 소켓(20)에 배치된 프로브(P)의 하단 연결단부(P2)가 물림 접촉부(26a)나 끼움 접촉부(26c)에 의해 접촉을 한다는 기본적인 기술사상의 범주내에서, 당 업계의 통상의 지식을 가진자에게 있어서는 다른 많은 변형이 가능함은 물론이다. 따라서, 본 발명의 범위는 상술한 실시예에 국한되어서는 안되며, 본 발명의 진정한 보호범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의하여 정해져야 한다.

A : 검사장치 기판 A1 : 검사접점
OC : 피접촉단자 P : 프로브
P1 : 검사단부 P2 : 연결단부
10 : 종래 소켓 12 : 프로브 지지체
14 : 가압 스프링 16 : 연결단자 지지체
18 : 연결단자 20 : 검사용 소켓
22 : 프로브 지지체 22a : 프로브수용공
24 : 클립 지지체 24a : 개구부
26 : 프로브 클립 26a : 물림 접촉부
26b : 연결접촉부 26c : 끼움접촉부

Claims (6)

1. 검사대상인 전자부품의 피접촉단자에 접촉하는 상측의 검사단부와 하측의 연결단부를 갖는 복수의 프로브를 지지하는 검사용 소켓에 있어서,
   상기 검사단부들이 상기 피접촉단자를 향하도록 상기 프로브들이 배열 지지되는 프로브 지지체와,
   상기 각 프로브들의 상기 연결단부가 삽입되어 상기 연결단부의 외측표면에 접촉하는 물림접촉부와, 상기 물림접촉부로부터 이격되어 검사장치의 검사접점에 접촉하는 연결접촉부를 구비한 프로브 클립과,
   상기 프로브 지지체에 결합되어 상기 프로브 클립들을 지지하는 클립 지지체를 포함하며,
   상기 물림접촉부는 U-형상으로 형성되어 상기 연결단부를 수용하는 것을 특징으로 하는 전자부품 검사용 소켓.
   
2. 삭제
3. 청구항 1에 있어서,
   상기 물림접촉부는 상기 연결단부의 외측표면을 탄성적으로 가압접촉하는 것을 특징으로 하는 전자부품 검사용 소켓.
   
4. 청구항 1에 있어서,
   상기 물림접촉부와 상기 연결접촉부는 상기 프로브의 축선방향에서 가로방향으로 이격되어 있는 것을 특징으로 하는 전자부품 검사용 소켓.
   
5. 청구항 1에 있어서,
   상기 프로브지지체는 상기 프로브를 길이방향으로 유동가능하게 수용하는 프로브수용공을 갖는 것을 특징으로 하는 전자부품 검사용 소켓.
   
6. 검사대상인 전자부품의 피접촉단자에 접촉하는 일측의 검사단부와 타측의 연결단부를 갖는 복수의 프로브를 지지하는 검사용 소켓에 있어서,
   상기 검사단부들이 상기 피접촉단자를 향하도록 상기 프로브들이 배열 지지되는 프로브 지지체와,
   상기 각 프로브들의 상기 연결단부가 삽입되어 상기 연결단부의 내측면에 접촉하는 끼움접촉부와, 상기 끼움접촉부로부터 이격되어 검사장치의 검사접점에 접촉하는 연결접촉부를 구비한 프로브 클립과,
   상기 프로브 지지체에 결합되어 상기 프로브 클립들을 지지하는 클립 지지체를 포함하는 전자부품 검사용 소켓.
   

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