JP2017058205A - プローブピンおよびこれを用いた検査治具 - Google Patents
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Abstract
Description
本実施形態によれば、被検査物の検査に、第1延在部以上の高さを必要としないので、被検査物の上方に大きな設置スペースを必要としない。
本実施形態によれば、第2延在部はストッパとして機能し、第2延在部よりも上方にコイルばねが移動できないので、組立工程における取り扱いが容易である。
本実施形態によれば、被検査物をコ字形状のプランジャ本体に押し当てることにより、被検査物を位置決めでき、検査精度が高い。
本実施形態によれば、プランジャ本体の支点間距離が長く、弾性変形しやすので、被検査物を傷つけにくい。また、応力集中が生じにくく、疲労破壊が生じにくいので、プローブピンの寿命が長い。
本実施形態によれば、コイルばねがプローブピンから脱落することがなく、組立工程における取り扱いが容易である。
本実施形態によれば、コイルばねの両端から、プランジャ本体と端子とをそれぞれ組み付けることができるので、プローブピンの組立性が向上する。
本実施形態によれば、部品点数が少なくなり、部品の管理が容易になる。また、1つの構成物品にコイルばねを圧入するだけでプローブピンを生産できるので、組立工数を低減できる。
本実施形態によれば、被検査物の被検査部に第1接点が複数個所で接触するので、接触信頼性が高まる。
本実施形態によれば、弾性爪部を被検査物の被検査部に圧接して検査する際に、弾性爪部の先端がたわみ、ワイピング作用を行う。このため、被検査物の被検査部の汚れを除去でき、接触信頼性が高い。
本実施形態によれば、円弧状に湾曲した弾性片が弾性変形するので、被検査物の被検査部に過度な接触圧が加わらず、被検査物を傷つけにくい。また、弾性片の自由端部がプランジャ本体の第1延在部と短絡するので、接触抵抗の小さいプローブピンが得られる。
本発明によれば、プローブピンの第1,第2接点が、同一方向に向いている。このため、被検査物の上方に検査治具を設置できるスペースがなくとも、第1接点および第2接点が、被検査物の端子と検査装置の端子とにそれぞれ同時に接触できる検査治具が得られる。
本実施形態によれば、プローブピンが上方へ移動する際にコイルばねが弾性圧縮され、第1,第2接点の接触圧を高めるという効果がある。
したがって、それらの用語は、本発明の実施形態が実際に使用されるときの方向を示すものとは限らないし、それらの用語によって特許請求の範囲に記載された技術的範囲が限定的に解釈されるべきではない。
図1ないし図15に示すように、本発明に係る第1実施形態のプローブピンを組み込んだ検査治具について説明する。
図16は、本発明に係るプローブピン15の第2実施形態を示している。前記第1実施形態と相違する点は、第1接点34の接点面に略V字状の切り欠き部34aを設けた点である。なお、以下の実施形態において、前記第1の実施形態と同一の部分には、同一の参照番号を付して、詳細な説明を省略する。
図17は、本発明に係るプローブピン15の第3実施形態を示している。第3実施形態では、第1接点34に一対の弾性爪部34b、34bを設けてある。弾性爪部34bは、その先端が内側に湾曲した形状をしている。
図18は、本発明に係るプローブピン15の第4実施形態を示している。第4実施形態では、第1接点34が円弧状の弾性片34cを有している。
図19は、本発明に係るプローブピン15の第5実施形態を示している。第5実施形態では、第1プランジャ30のプランジャ本体31が略U字形である。すなわち、第1延在部32と第2延在部33とを連結する基幹部39が湾曲している。
図20は、本発明に係るプローブピン15の第6実施形態を示している。第6実施形態では、第1プランジャ30のプランジャ本体31が蛇腹状の基幹部39を有している。
図21は、本発明に係るプローブピン15の第7実施形態を示している。第7実施形態では、プランジャ16が略L字形を有する。そして、第1プランジャ30は、第1延在部32と基幹部39とを備えたプランジャ本体31と、基幹部39と同一直線上に伸びる第1挿入部35と、を有する。また、プランジャ本体31と第1挿入部35との境界に位置する両側端面から、一対のばね保持部31a,31aが外側に向けてそれぞれ突出している。一対のばね保持部31a,31aは、その両端の巾寸法が、ベース21に設けた貫通孔22の直径より小さい。
図22は、本発明に係るプローブピン15の第8実施形態を示している。第8実施形態は、前述の実施形態のように別体の第1、第2プランジャを係合一体化するものではなく、プランジャ16全体を単一素材から一体成形してある。なお、別体のプランジャ16をコイルばね50に組み付けた後に半田付け等で接続一体化してもよい。
また、プランジャ16はJ字形状を有し、第1延在部32が、基幹部39から第1接点34に向かって湾曲した形状を有していてもよい。
15 プローブピン
16 プランジャ
20 ハウジング
21 ベース
22 貫通孔
25 カバー
26 スロット
30 第1プランジャ
31 プランジャ本体
32 第1延在部
33 第2延在部
34 第1接点
34a 切り欠き部
34b 弾性爪部
34c 弾性片
35 第1挿入部
36 弾性腕部
36a 第1弾性腕部
36b 第2弾性腕部
37 圧接用突起
38 係合用突起
39 基幹部
40 第2プランジャ
41 端子
42 第2挿入部
43 係合孔
44 平面部
45 ばね保持部
46 第2接点
50 コイルばね
60 電源用基板
61 検査用第2端子
70 ICチップ
71 検査用第1端子
P 軸心
Claims (14)
- 導電性を有するプランジャと、
前記プランジャの周囲に巻回するように配置されたコイルばねと、を有するプローブピンであって、
前記プランジャは、
前記コイルばねの一端から突出する鉤型形状のプランジャ本体と、
前記コイルばねの他端から突出する端子と、を有し、
前記プランジャ本体の先端部に設けた第1接点と、
前記端子の先端部に設けた第2接点と、を同一方向に向けたことを特徴とするプローブピン。 - 前記プランジャ本体が、前記コイルばねの軸心に直交する方向に延在し、かつ、前記第1接点を備えた第1延在部を、有することを特徴とする請求項1に記載のプローブピン。
- 前記プランジャ本体が、前記第1延在部と平行に延在する第2延在部を、有することを特徴とする請求項2に記載のプローブピン。
- 前記プランジャ本体が、平行に延在した一対の前記第1延在部と前記第2延在部とを有するコ字形状であることを特徴とする請求項3に記載のプローブピン。
- 前記プランジャ本体が、平行に延在した一対の前記第1延在部と前記第2延在部とを蛇腹状の基幹部で連結し、コ字形状であることを特徴とする請求項3に記載のプローブピン。
- 前記プランジャ本体が、平行に延在した一対の前記第1延在部と前記第2延在部とを湾曲する基幹部で連結し、U字形状であることを特徴とする請求項3に記載のプローブピン。
- 前記プランジャの両側端面から側方に突出するばね保持部と前記第2延在部との間に、前記コイルばねを保持することを特徴とする請求項3ないし6のいずれか1項に記載のプローブピン。
- 前記プランジャが、別体の前記プランジャ本体と前記端子とを、前記コイルばねの内部で係合一体化していることを特徴とする請求項1ないし7のいずれか1項に記載のプローブピン。
- 前記プランジャが、前記プランジャ本体と前記端子とを一体成形したことを特徴とする請求項1ないし7のいずれか1項に記載のプローブピン。
- 前記第1接点が、V字形状の切り欠き部を有することを特徴とする請求項1ないし9のいずれか1項に記載のプローブピン。
- 前記第1接点が、一対の湾曲する弾性爪部で形成されていることを特徴とする請求項1ないし9のいずれか1項に記載のプローブピン。
- 前記第1接点が、円弧状に湾曲した弾性片で形成されていることを特徴とする請求項1ないし9のいずれか1項に記載のプローブピン。
- 前記コイルばねを挿通できる貫通孔を有するベースと、
前記プランジャを挿通できるスロットを有するカバーと、
前記ベースに前記カバーを重ねあわせたときに連通する前記貫通孔及び前記スロットに、収納された請求項1ないし12のいずれか1項に記載のプローブピンと、を有することを特徴とする検査治具。 - 前記スロットが、前記コイルばねを抜け止めする断面形状を有することを特徴とする請求項13に記載の検査治具。
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