JP2003109381A - 昇圧電源発生回路 - Google Patents

昇圧電源発生回路

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JP2003109381A JP2001296670A JP2001296670A JP2003109381A JP 2003109381 A JP2003109381 A JP 2003109381A JP 2001296670 A JP2001296670 A JP 2001296670A JP 2001296670 A JP2001296670 A JP 2001296670A JP 2003109381 A JP2003109381 A JP 2003109381A
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    • H02M3/02Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac
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    • H02M3/07Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac by static converters using resistors or capacitors, e.g. potential divider using capacitors charged and discharged alternately by semiconductor devices with control electrode, e.g. charge pumps
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    • H02M3/073Charge pumps of the Schenkel-type
    • H02M3/077Charge pumps of the Schenkel-type with parallel connected charge pump stages

Abstract

(57)【要約】 【課題】 安定した昇圧電源VPPが得られる昇圧電源
発生回路を提供する。 【解決手段】 負荷回路の動作に同期して与えられる制
御信号RASが立ち上がると、チャージポンプ10-3か
ら出力ノードNOに昇圧電源VPPが供給される。負荷
回路の消費電流によって、昇圧電源VPPが所定電圧以
下に低下すると、電圧検知部21から出力される活性化
信号VPEが“H”となり、発振部22及びAND23
に与えられる。これにより、AND23から出力される
信号ACLが“H”となり、チャージポンプ10-2から
出力ノードNOに昇圧電源VPPが供給される。なお、
負荷回路が動作していない待機時に、昇圧電源VPPが
所定電圧以下に低下すると、発振部22の動作によって
チャージポンプ10-1から出力ノードNOに、リーク電
流を補償するための昇圧電源VPPが供給される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体メモリ等に
おいて電源電圧よりも高い電圧を発生する昇圧電源発生
回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図2(a),(b)は、従来の昇圧電源
発生回路の一例を示す構成図であり、同図(a)は回路
構成、及び同図(b)は同図(a)の動作の信号波形を
示している。
【0003】この昇圧電源発生回路は、DRAM(Dyna
mic Random Access Memory)においてワード線駆動用の
昇圧電源VPPを発生させるもので、図2(a)に示す
ように、2つのチャージポンプ10-1,10-2を有して
いる。チャージポンプ10-1は、待機時(読み書きが行
われていない時)に昇圧電源VPPから流れるリーク電
流を補償するもので、電流供給能力は極めて小さく設定
されている。一方、チャージポンプ10-2は、読み書き
の動作時にワード線立ち上げ動作等で消費する電流を供
給するものである。チャージポンプ10-1,10-2の出
力側は出力ノードNOに接続され、ここから昇圧電源V
PPが出力されるようになっている。
【0004】出力ノードNOには、DRAMのワードド
ライバ31を介してメモリセルアレイ32が接続される
と共に、電圧検知部21が接続されている。電圧検知部
21は、昇圧電源VPPが所定電位(電源電位VDD+
Vt)以下のときに、活性化信号VPEをレベル“H”
にして出力し、昇圧電源VPPがこの所定電位を越えた
ときに、活性化信号VPEをレベル“L”にして出力す
るものである。電圧検知部21の出力側は、発振部22
の入力側と2入力の論理積ゲート(以下、「AND」と
いう)23の第1の入力側に接続されている。
【0005】発振部22は、例えばリング発振器で構成
され、入力側に与えられる活性化信号VPEが“H”の
ときに、動作クロックSCLを所定の周波数で発振させ
るものである。動作クロックSCLは、チャージポンプ
10-1の入力側に与えられるようになっている。
【0006】AND23の第2の入力側には、DRAM
の動作に同期した制御信号RAS(Row Address Strob
e)が与えられるようになっており、このAND23の
出力側が、チャージポンプ10-2の入力側に接続されて
いる。チャージポンプ10-1,10-2は、電流供給能力
は異なるが、いずれも同様の構成となっている。
【0007】例えばチャージポンプ10-2は、バッファ
11、キャパシタ12、ダイオード13、PチャネルM
OSトランジスタ(以下、「PMOS」という)14、
及びゲート制御部15で構成され、バッファ11とゲー
ト制御部15の入力側に、AND23から出力される信
号ACLが与えられるようになっている。
【0008】バッファ11の出力側はキャパシタ12の
一端に接続され、このキャパシタ12の他端がノードN
1に接続されている。ノードN1にはダイオード13の
カソードが接続され、このダイオード13のアノードが
電源電位VDDに接続されている。ノードN1には、更
にPMOS14のソースが接続され、このPMOS14
のドレインが出力ノードNOに接続されている。また、
PMOS14のゲートには、ゲート制御部15から制御
信号GCSが与えられている。ゲート制御部15は、信
号ACLに基づいて、PMOS14をオン/オフ制御す
るための制御信号GCSを生成するものである。
【0009】次に動作を説明する。図2(b)の時刻t
0において、DRAMが待機状態で、出力ノードNOの
昇圧電源VPPが所定電位(VDD+Vt)を越えてい
れば、電圧検知部21から出力される活性化信号VPE
は“L”である。従って、発振部22は動作せず動作ク
ロックSCLは“L”となり、AND23から出力され
る信号ACLも“L”となっている。
【0010】各チャージポンプ10-1,10-2では、ゲ
ート制御部15から出力される制御信号GCSが“H”
となり、PMOS14はオフ状態となっている。また、
バッファ11の出力側は“L”であるので、キャパシタ
12はダイオード13を介して、ほぼ電源電位VDDに
充電されている。
【0011】時刻t1において、DRAMの動作が開始
して制御信号RASが“L”から“H”に立ち上がる
と、このDRAMの動作によって出力ノードNOから電
流が供給され、昇圧電源VPPの電位は徐々に低下す
る。
【0012】時刻t2において、昇圧電源VPPが所定
電位まで低下すると、これが電圧検知部21によって検
出される。そして、電圧検知部21における遅延時間d
tの後、時刻t3において、電圧検知部21の活性化信
号VPEが“H”となる。これにより、発振部22が動
作を開始して動作クロックSCLがチャージポンプ10
-1へ与えられる。また、AND23の信号ACLが
“H”となり、チャージポンプ10-2へ与えられる。
【0013】チャージポンプ10-2では、バッファ11
の入力側及び出力側の電位が“H”となるので、キャパ
シタ12の他端、即ちノードN1の電位は、電源電位V
DDのほぼ2倍に上昇する。
【0014】時刻t4において、ゲート制御部15の制
御信号GCSが“L”になり、PMOS14はオン状態
となる。これにより、ノードN1と出力ノードNOの間
が接続され、この出力ノードNOの昇圧電源VPPの電
位は上昇する。昇圧電源VPPが所定電位を越え、更に
電圧検知部21の遅延時間が経過すると、時刻t5にお
いて、この電圧検知部21の活性化信号VPEが“L”
となる。これにより、AND23の信号ACLが“L”
となる。
【0015】チャージポンプ10-2では、ゲート制御部
15の制御信号GCSが“H”となり、PMOS14が
オフ状態となってノードN1と出力ノードNOの間が切
断される。また、バッファ11の出力側が“L”とな
り、キャパシタ12は再びほぼ電源電圧VDDに充電さ
れる。
【0016】時刻t5では、制御信号RASが“H”で
あるので、DRAMの動作は継続され、昇圧電源VPP
の電位は徐々に低下する。
【0017】時刻t6において、DRAMの動作が終了
すると、制御信号RASは“L”となる。そして、出力
ノードNOの昇圧電源VPPの電位低下はほぼ止まる。
但し、出力ノードNOの電位は、リーク電流によって極
めて緩やかに低下する。
【0018】一方、発振部22とチャージポンプ10-1
では、制御信号RASには関係なく、電圧検知部21か
ら出力される活性化信号VPEに基づいて動作が行わ
れ、ノードNOに昇圧電源VPPが供給される。
【0019】このように、図2の昇圧電源発生回路は、
待機時のリーク電流を補償する小容量のチャージポンプ
10-1と、動作時の電流を供給する大容量のチャージポ
ンプ10-2を備え、待機時にチャージポンプ10-2を停
止して、大容量のチャージポンプの動作による消費電力
の増加を抑制するようにしている。
【0020】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
昇圧電源発生回路では、次のような課題があった。即
ち、DRAMが動作を開始する時点での出力ノードNO
の昇圧電源VPPの電位は、そのタイミングによって変
化するため一定ではない。また、制御信号RASが
“H”となっている時間幅も、その時のDRAMの動作
内容によって異なる。更に、DRAMの動作に必要な昇
圧電源VPPの消費電流も、動作状態によって変化す
る。このため、昇圧電源VPPが所定電位以下に低下し
て、チャージポンプ10-2の動作が開始する時刻t3の
タイミングによっては、このチャージポンプ10-2で正
常な動作が行われないおそれがあった。
【0021】図3は、図2の課題を説明するための信号
波形図である。時刻t11において、制御信号RASが
立ち上がってDRAMの動作が開始すると、出力ノード
NOから電流が供給され、昇圧電源VPPの電位は徐々
に低下する。
【0022】時刻t12において、昇圧電源VPPが所
定電位まで低下すると、これが電圧検知部21で検出さ
れる。電圧検知部21の遅延時間dtが経過した時刻t
13において、この電圧検知部21の活性化信号VPE
が“H”になる。これにより、AND23の信号ACL
が“H”となる。
【0023】時刻t14において、チャージポンプ10
-2のゲート制御部15の制御信号GCSが“L”とな
り、PMOS14はオン状態となる。これにより、ノー
ドN1と出力ノードNOの間が接続され、この出力ノー
ドNOの昇圧電源VPPの電位は上昇を開始する。
【0024】ここで、時刻t14の直後の時刻t15に
おいて、制御信号RASが“L”に変化したとする。制
御信号RASが“L”になると、信号ACLも“L”と
なり、チャージポンプ10-2のバッファ11の出力側が
“L”となる。これにより、ノードN1の電位は、ほぼ
電源電位VDDとなる。この時、制御信号GCSは
“L”となっているので、PMOS14はオン状態であ
る。このため、出力ノードNOの電荷が、PMOS14
を通してノードN1へ逆流し、この出力ノードNOの電
位が急速に低下する。
【0025】時刻t16において、制御信号GCSが
“H”になると、PMOS14はオフ状態となってノー
ドN1へ逆流は停止するが、出力ノードNOの電位は所
定電位よりもかなり低い状態となる。
【0026】このように、制御信号RASの継続時間、
昇圧電源VPPの初期値、昇圧電源VPPが所定電位に
低下するまでの時間等は、その時々の動作状態によって
複雑に変化する。このため、タイミングによっては、信
号ACLのパルス幅が極めて短くなり、チャージポンプ
10-2におけるPMOS14のゲート制御が誤動作し、
昇圧電源VPPが所定電位から大きく変動するという課
題があった。
【0027】このような不安定な動作の発生頻度を低減
するには、電圧検出部21の遅延時間を短くする方法が
効果的であるが、電圧検出部21の動作速度は消費電流
に比例するため、低消費電力が重視されるDRAM等の
半導体においては、電圧検出部21の速度向上には限界
がある。
【0028】本発明は、前記従来技術が持っていた課題
を解決し、安定した昇圧電源VPPが得られる昇圧電源
発生回路を提供するものである。
【0029】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明の内の第1の発明は、昇圧電源発生回路にお
いて、負荷回路の動作に同期した制御信号が与えられた
ときに、電源電位よりも高い昇圧電源を出力ノードに出
力する第1のチャージポンプと、前記制御信号が与えら
れ、かつ前記出力ノードの電位が所定電位よりも低下し
たときに、前記電源電位よりも高い昇圧電源を該出力ノ
ードに出力する第2のチャージポンプとを備えている。
【0030】第1の発明によれば、以上のように昇圧電
源発生回路を構成したので、次のような作用が行われ
る。負荷回路の動作が開始して制御信号が与えられる
と、まず第1のチャージポンプから昇圧電源が出力ノー
ドに出力される。そして、出力ノードの電位が所定電位
よりも低くなると、第2のチャージポンプから出力ノー
ドに昇圧電源が出力される。
【0031】第2の発明は、昇圧電源発生回路におい
て、第1の発明と同様の第1のチャージポンプと、前記
出力ノードの電位が所定電位よりも低下したときに、活
性化信号を出力する電圧検知部と、前記制御信号が与え
られた時点で、前記電圧検知部から出力される信号を保
持する信号保持部と、前記信号保持部に前記活性化信号
が保持され、かつ前記制御信号が与えられたときに、前
記電源電位よりも高い昇圧電源を前記出力ノードに出力
する第2のチャージポンプとを備えている。
【0032】第2の発明によれば、次のような作用が行
われる。負荷回路の動作が開始して制御信号が与えられ
ると、まず第1のチャージポンプから昇圧電源が出力ノ
ードに出力される。このとき、出力ノードが所定電位以
下であれば、更に、第2のチャージポンプから出力ノー
ドに昇圧電源が出力される。
【0033】第3の発明は、昇圧電源発生回路におい
て、第1の発明と同様の第1のチャージポンプと、前記
出力ノードの電位が所定電位よりも低下したときに、活
性化信号を出力する電圧検知部と、前記制御信号を一定
時間遅延させて遅延制御信号を出力する遅延部と、前記
遅延制御信号が与えられた時点で、前記電圧検知部から
出力される信号を保持する信号保持部と、前記信号保持
部に前記活性化信号が保持され、かつ前記遅延制御信号
が与えられたときに、前記電源電位よりも高い昇圧電源
を前記出力ノードに出力する第2のチャージポンプとを
備えている。
【0034】第4の発明は、昇圧電源発生回路におい
て、第3の発明と同様の第1及び第2のチャージポンプ
と、第3の発明と同様の電圧検知部と、前記制御信号が
与えられた時点で、前記電圧検知部から出力される信号
を保持する信号保持部と、前記制御信号を一定時間遅延
させて遅延制御信号を出力する遅延部とを備えている。
【0035】第3及び第4の発明によれば、次のような
作用が行われる。負荷回路の動作が開始して制御信号が
与えられると、まず第1のチャージポンプから昇圧電源
が出力ノードに出力される。このとき、出力ノードが所
定電位以下であれば、一定時間の後、第2のチャージポ
ンプから出力ノードに昇圧電源が出力される。
【0036】第5の発明は、第1〜第4の発明におい
て、第1のチャージポンプの電流供給能力を負荷回路の
消費電流よりも小さく設定すると共に、第1と第2のチ
ャージポンプの合計の電流供給能力を、負荷回路の消費
電流よりも大きく設定している。
【0037】第6の発明は、第1〜第4の発明におい
て、第2のチャージポンプの電流供給能力を、出力制御
信号に応じて切り替えることができるように構成してい
る。
【0038】
【発明の実施の形態】(第1の実施形態)図1(a),
(b)は、本発明の第1の実施形態を示す昇圧電源発生
回路の構成図であり、同図(a)は回路構成、及び同図
(b)は同図(a)の動作の信号波形を示している。な
お、この図1において、図2中の要素と共通の要素には
共通の符号が付されている。
【0039】この昇圧電源発生回路は、DRAMにおい
てワード線駆動用の昇圧電源VPPを発生させるもの
で、図1(a)に示すように、3つのチャージポンプ1
0-1,10-2,10-3を有している。チャージポンプ1
0-1は、待機時に昇圧電源VPPから生じるリーク電流
を補償するもので、電流供給能力は極めて小さく設定さ
れている。また、チャージポンプ10-2,10-3は、読
み書きの動作時にワード線立ち上げ動作等で消費する電
流を供給するものである。チャージポンプ10-1〜10
-3の出力側は、出力ノードNOに共通接続され、この出
力ノードNOから昇圧電源VPPが供給されるようにな
っている。
【0040】出力ノードNOには、負荷回路であるDR
AMのワードドライバ31を介してメモリセルアレイ3
2が接続されると共に、電圧検知部21が接続されてい
る。電圧検知部21は、昇圧電源VPPが所定電位(電
源電圧VDD+Vt)以下のときに、活性化信号VPE
を“H”にして出力し、この所定電位を越えたときに、
活性化信号VPEを“L”にして出力するものである。
電圧検知部21の出力側は、発振部22の入力側とAN
D23の第1の入力側に接続されている。
【0041】発振部22は、例えばリング発振器で構成
され、入力側に与えられる活性化信号VPEが“H”の
ときに、動作クロックSCLを所定の周波数で発振させ
るものである。動作クロックSCLは、チャージポンプ
10-1の入力側に与えられるようになっている。
【0042】AND23の第2の入力側には、DRAM
の動作に同期した制御信号RASが与えられるようにな
っており、このAND23の出力側が、チャージポンプ
10-2の入力側に接続されている。一方、チャージポン
プ10-3の入力側には、制御信号RASが与えられるよ
うになっている。各チャージポンプ10-1〜10-3は、
電流供給能力は異なるが、いずれも同様の構成となって
いる。
【0043】例えばチャージポンプ10-2は、バッファ
11、キャパシタ12、ダイオード13、PMOS14
及びゲート制御部15で構成され、このバッファ11と
ゲート制御部15の入力側に、AND23から出力され
る信号ACLが与えられるようになっている。
【0044】バッファ11の出力側は、キャパシタ12
の一端に接続され、このキャパシタ12の他端がノード
N1に接続されている。ノードN1にはダイオード13
のカソードが接続され、このダイオード13のアノード
は電源電圧VDDに接続されている。更にノードN1に
は、PMOS14のソースが接続され、このPMOS1
4のドレインが出力ノードNOに接続されている。PM
OS14のゲートには、ゲート制御部15から制御信号
GCSが与えられるようになっている。ゲート制御部1
5は、信号ACLに基づいて、PMOS14をオン/オ
フ制御するための制御信号GCSを生成するものであ
る。
【0045】次に、動作を説明する。図1(b)の時刻
T0において、DRAMが待機状態(制御信号RASが
“L”)で、出力ノードNOの昇圧電源VPPが所定電
位(VDD+Vt)を越えていれば、電圧検知部21か
ら出力される活性化信号VPEは“L”である。従っ
て、発振部22は動作せず動作クロックSCLは“L”
となり、AND23から出力される信号ACLも“L”
となっている。
【0046】各チャージポンプ10-1〜10-3では、ゲ
ート制御部15から出力される制御信号GCSが“H”
となり、PMOS14はオフ状態となっている。また、
バッファ11の出力側は“L”であるので、キャパシタ
12はダイオード13を介して、ほぼ電源電位VDDに
充電されている。
【0047】時刻T1において、DRAMの動作が開始
して制御信号RASが立ち上がると、チャージポンプ1
0-3の動作により、このチャージポンプ10-3内のキャ
パシタ12に充電されていた電荷が出力ノードNOに供
給される。これにより、出力ノードNOの昇圧電源VP
Pは上昇する。
【0048】時刻T2において、出力ノードNOの電位
が一定値まで上昇すると、その後はDRAMの動作電流
によって、昇圧電源VPPの電位は徐々に低下する。
【0049】時刻T3において、昇圧電源VPPが所定
電位まで低下すると、これが電圧検知部21によって検
出される。そして、電圧検知部21における遅延時間d
tが経過した時刻T4において、電圧検知部21の活性
化信号VPEが“H”となる。これにより、発振部22
が動作を開始して動作クロックSCLがチャージポンプ
10-1へ与えられる。また、AND23の信号ACLが
“H”となり、チャージポンプ10-2へ与えられる。
【0050】時刻T5において、チャージポンプ10-2
のゲート制御部15の制御信号GCSが“L”となり、
PMOS14はオン状態となる。これにより、ノードN
1と出力ノードNOの間が接続され、チャージポンプ1
0-2内のキャパシタ12に充電されていた電荷が出力ノ
ードNOに供給され、昇圧電源VPPの電位は上昇す
る。
【0051】昇圧電源VPPが所定電位を越え、更に電
圧検知部21の遅延時間が経過すると、時刻T6におい
て、この電圧検知部21の活性化信号VPEが“L”と
なる。これにより、AND23の信号ACLが“L”と
なる。チャージポンプ10-2では、ゲート制御部15の
制御信号GCSが“H”となり、PMOS14がオフ状
態となって、ノードN1と出力ノードNOの間が切断さ
れる。
【0052】時刻T6では、制御信号RASが“H”で
あるので、DRAMの動作は継続し、昇圧電源VPPの
電位は徐々に低下する。時刻T7において、DRAMの
動作が終了すると、制御信号RASは“L”となる。そ
して、昇圧電源VPPの電位低下はほぼ止まり、その
後、出力ノードNOの電位は、リーク電流によって極め
て緩やかに低下する。
【0053】以上のように、この第1の実施形態の昇圧
電源発生回路は、次のような利点を有する。 (1) DRAMが動作状態で昇圧電源VPPが所定電
位以下に低下したときに動作するチャージポンプ10-2
に加えて、昇圧電源VPPの電位に拘らずDRAMが動
作状態になったときに動作するチャージポンプ10-3を
有している。これにより、昇圧電源VPPの電位変動を
抑制することができる。
【0054】(2) 2つのチャージポンプ10-1,1
0-2で昇圧電源VPPを供給するようにしているので、
それぞれの電流供給能力を小さく(例えば、従来の1/
2)にすることが可能になり、チャージポンプ10-2が
動作したときの電源電位VDDの変動によるノイズを小
さくすることができる。これにより、DRAMの動作と
チャージポンプ10-2の動作タイミングが重なった場合
でも、DRAMの誤動作を防ぐことができる。
【0055】(3) チャージポンプ10-2が動作する
頻度が少なくなり、このチャージポンプ10-2が誤動作
するタイミングを極めて少なくすることができる。ま
た、チャージポンプ10-2が誤動作して昇圧電源VPP
が所定電位から大きく変動した場合でも、次の制御信号
RASの立ち上がり時点で、チャージポンプ10-3が動
作する。従って、昇圧電源VPPは所定電位に回復され
て安定化し、DRAMの動作に影響を与えるおそれがな
い。
【0056】(第2の実施形態)図4(a),(b)
は、本発明の第2の実施形態を示す昇圧電源発生回路の
構成図であり、同図(a)は回路構成、及び同図(b)
は同図(a)の動作の信号波形を示している。なお、こ
の図4において、図1中の要素と共通の要素には共通の
符号が付されている。
【0057】この昇圧電源発生回路では、チャージポン
プ10-2の動作を制御するためのフリップフロップ(以
下、「FF」という)24を設けている。FF24のデ
ータ端子Dには、電圧検知部21の活性化信号VPEが
与えられ、クロック端子Cには、制御信号RASが与え
られるようになっている。FF24は、クロック端子C
に与えられる制御信号RASの立ち上がりのタイミング
で、データ端子Dに与えられる活性化信号VPEを保持
して、出力端子Qに出力するものであり、このFF24
の出力端子Qが、AND23の第1の入力側に接続され
ている。その他の構成は、図1と同様である。
【0058】なお、チャージポンプ10-2,10-3の電
流供給能力Ip2,Ip3は、DRAMの消費電流をIppと
して、次のように設定されている。 Ip3≦Ipp<Ip2+Ip3
【0059】次に、図4(b)を用いて動作を説明す
る。DRAMの動作開始に伴い、時刻T11に制御信号
RASが“H”になると、出力ノードNOの昇圧電源V
PPから電流が消費される。これと同時に、チャージポ
ンプ10-3から出力ノードNOに昇圧電源VPPが供給
される。
【0060】この時、出力ノードNOの昇圧電源VPP
が所定電位以下であると、活性化信号VPEは“H”と
なっている。従って、制御信号RASの立ち上がりによ
って、FF24に“H”の活性化信号VPEが保持さ
れ、このFF24の出力信号が“H”となる。更に、A
ND23の信号ACLが“H”となり、チャージポンプ
10-2から出力ノードNOに昇圧電源VPPが供給され
る。このように、2つのチャージポンプ10-2,10-3
から電流が供給され、出力ノードNOの昇圧電源VPP
の電位は上昇する。
【0061】時刻T12において、電圧検知部21の活
性化信号VPEは“L”になるが、制御信号RASが
“H”の状態であるので、信号ACLは“H”の状態に
維持される。
【0062】時刻T13において、DRAMの動作が停
止して制御信号RASが“L”になると、信号ACLは
“L”となる。これにより、チャージポンプ10-2,1
0-3の動作は停止する。
【0063】次に、時刻T14においてDRAMの動作
が開始し、制御信号RASが“H”になる。これによ
り、チャージポンプ10-3から出力ノードNOに昇圧電
源VPPが供給される。
【0064】この時、出力ノードNOの昇圧電源VPP
が所定電位を越えていると、電圧検知部21から出力さ
れる活性化信号VPEは“L”である。従って、制御信
号RASの立ち上がりによって、FF24に“L”の活
性化信号VPEが保持され、このFF24の出力信号が
“L”となる。これにより、AND23の信号ACLが
“L”となり、チャージポンプ10-2は動作しない。
【0065】以上のように、この第2の実施形態の昇圧
電源発生回路は、次のような利点がある。 (4) 2つのチャージポンプ10-2,10-3の合計の
電流供給能力Ip2+Ip3は、DRAMの消費電流Ippよ
りも大きくなるように設定されているので、DRAMの
動作開始時の昇圧電源VPPが所定電位以下であって
も、これを補ってDRAMに必要な消費電流を供給する
ことができる。また、チャージポンプ10-3の電流供給
能力Ip3は、DRAMの消費電流Ippと同程度に設定し
ているので、DRAMの動作開始時の昇圧電源VPPが
所定電位以上であれば、チャージポンプ10-3のみでD
RAMに必要な消費電流を供給することができる。これ
により、昇圧電源VPPの電位変動を抑制することがで
きる。
【0066】(5) 制御信号RASが立ち上がった時
点での昇圧電源VPPの状態(即ち、活性化信号VP
E)を保持するFF24を有し、この昇圧電源VPPが
所定電位よりも低い場合には2つのチャージポンプ10
-2,10-3を同時に動作させ、昇圧電源VPPが所定電
位よりも高い場合にはチャージポンプ10-3のみを動作
させるようにしている。これにより、DRAMの動作中
に信号ACLが変化することがなくなり、チャージポン
プ10-2の誤動作をなくし、安定した昇圧電源VPPを
得ることができる。
【0067】(6) チャージポンプ10-2,10-3の
動作タイミングは、DRAMの動作開始時に限られるの
で、DRAMの動作とチャージポンプの動作タイミング
が重なることがなくなり、電源電位VDDの変動等によ
るノイズの影響を抑制することができる。
【0068】(第3の実施形態)図5は、本発明の第3
の実施形態を示す昇圧電源発生回路の構成図であり、図
4中の要素と共通の要素には共通の符号が付されてい
る。
【0069】この昇圧電源発生回路では、チャージポン
プ10-2の動作タイミングを一定時間だけ遅らせるため
の遅延部25を設けている。
【0070】即ち、遅延部25に入力側に制御信号RA
Sが与えられ、この遅延部25で一定時間だけ遅延され
た遅延制御信号DRASが、AND23の第2の入力側
とFF24のクロック端子Cに与えられるようになって
いる。その他の構成は、図4と同様である。
【0071】この図5の昇圧電源発生回路の動作は、図
4の昇圧電源発生回路の動作とほぼ同様である。即ち、
制御信号RASが立ち上がった時点での出力ノードNO
の昇圧電源VPPが所定電位よりも高い場合には、図4
と同様に、チャージポンプ10-3のみが動作する。一
方、制御信号RASが立ち上がった時点で、出力ノード
NOの昇圧電源VPPが所定電位よりも低い場合には、
まずチャージポンプ10-3が動作を開始し、一定時間の
後、チャージポンプ10-2が作動する。
【0072】以上のように、この第3の実施形態の昇圧
電源発生回路は、前記(4)〜(6)の利点に加えて、
次のような利点がある。 (7) チャージポンプ10-2の動作タイミングを制御
信号RASの立ち上がりから一定時間だけ遅延させるた
めの遅延部25を有している。これにより、チャージポ
ンプ10-2,10-3の動作タイミングがずれることによ
り、動作開始に伴う電源ノイズを低減するとともに、昇
圧電源VPPに対する電流供給の平均化をはかることが
でき、より安定した昇圧電源VPPを得ることができ
る。
【0073】(第4の実施形態)図6は、本発明の第4
の実施形態を示すチャージポンプの回路図であり、図
1、図4及び図5中のチャージポンプ10-3に代えて設
けられるものである。
【0074】このチャージポンプ40は、制御信号RA
Sが与えられるバッファ41を有し、このバッファ41
の出力側にキャパシタ42の一端が接続されている。キ
ャパシタ42の他端はノードN1に接続され、このノー
ドN1にはダイオード43のカソードが接続され、この
ダイオード43のアノードは電源電圧VDDに接続され
ている。更にノードN1には、ダイオード44のアノー
ドが接続され、このダイオード44のカソードが出力ノ
ードNOに接続されている。
【0075】更に、バッファ41の出力側は、スイッチ
部45を介してキャパシタ46の一端に接続されてい
る。キャパシタ46の他端はノードN2に接続され、こ
のノードN2にはダイオード47のカソードが接続さ
れ、このダイオード47のアノードは電源電圧VDDに
接続されている。更にノードN2には、ダイオード48
のアノードが接続され、このダイオード48のカソード
が出力ノードNOに接続されている。
【0076】スイッチ部46は、モード信号MODによ
って制御され、このモード信号MODが“L”のときオ
ン状態、“H”のときオフ状態となるものである。スイ
ッチ部45は、例えばNチャネルMOSトランジスタ
(以下、「NMOS」という)45a、PMOS45b
及びインバータ45cによるトランスファゲートと、こ
のトランスファゲートがオフの時に出力側を接地電圧G
NDに接続するためのNMPS45dとで構成されてい
る。
【0077】このチャージポンプでは、モード信号MO
Dを“L”に設定することにより、スイッチ部45がオ
ン状態となる。これにより、キャパシタ42及びダイオ
ード43,44によるチャージポンプと、キャパシタ4
6及びダイオード47,48によるチャージポンプが並
列に接続される。
【0078】制御信号RASが“L”の期間に、キャパ
シタ42がダイオード43を介して電源電圧VDDに充
電されると共に、キャパシタ46がダイオード47を介
して電源電圧VDDに充電される。この時、出力ノード
NOの電位がノードN1,N2よりも高いので、ダイオ
ード44,48は逆バイアスとなって、電流は流れな
い。
【0079】次に、制御信号RASが“H”に変化する
と、キャパシタ42,46のバッファ41側の電位が
“H”に上昇するので、ノードN1,N2の電位は、電
源電位VDDのおよそ2倍に上昇する。これにより、ダ
イオード43,47は逆バイアスとなってオフ状態とな
る。一方、ダイオード44,48は順バイアスとなり、
キャパシタ42,46から出力ノードNOに昇圧電源V
PPが供給される。
【0080】一方、モード信号MODを“H”に設定す
ることにより、スイッチ部45がオフ状態となり、キャ
パシタ46、ダイオード47,48によるチャージポン
プが切り離される。従って、モード信号MODを“L”
に設定すれば電流供給能力が大きくなり、“H”に設定
すれば電流供給能力が小さくなる。
【0081】以上のように、この第4の実施形態のチャ
ージポンプは、モード信号MODの設定によって、電流
供給能力を切り替えることができる。従って、適用する
DRAMの消費電流の大小に応じて、チャージポンプの
電流供給能力を切り替えることにより、DRAMの構成
によらず消費電流とチャージポンプの供給電流の差を小
さくすることが可能になる。これにより、DRAMの消
費電流とチャージポンプの供給電流の差による昇圧電源
VPPの電位低下を、より小さくなるように抑え、更に
安定した昇圧電源VPPを得ることができる。
【0082】なお、本発明は、上記実施形態に限定され
ず、種々の変形が可能である。この変形例としては、例
えば、次のようなものがある。 (a) チャージポンプ10-1〜10-3の構成は、図1
(a)中に例示した回路に限定されない。例えば、図6
のチャージポンプのように、ゲート制御部15を省略す
ると共に、PMOS14に代えてダイオードを使用し、
このダイオードのアノードとカソードを、それぞれノー
ドN1と出力ノードNOに接続するようにしても良い。
【0083】(b) DRAMに適用した昇圧電源発生
回路について説明したが、適用対象はDRAMに限定さ
れない。例えば、液晶表示器等の昇圧電源発生回路とし
ても適用可能である。
【0084】(c) 図5の昇圧電源発生回路では、F
F24のクロック端子Cに遅延部25から出力される遅
延制御信号DRASを与えるようにしているが、制御信
号RASを与えるようにしても良い。これにより、遅延
部25の遅延時間に影響されず、制御信号RASの立ち
上がり時点での活性化信号VPEを保持することができ
る。
【0085】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、第1の発明
によれば、負荷回路の動作に同期して昇圧電源を供給す
る第1のチャージポンプに加えて、出力ノードの電位が
所定電位よりも低くなったときに昇圧電源を供給する第
2のチャージポンプを有している。これにより、安定し
た昇圧電源を得ることができる。
【0086】第2の発明によれば、負荷回路の動作が開
始するときに、出力ノードの電位が所定電位以下である
かを検出する電圧検知部と、この出力ノードが所定電位
以下のときに昇圧電源を供給する第2のチャージポンプ
を有している。これにより、負荷回路の動作中に出力ノ
ードの電位が急激に変動することがなくなり、更に安定
した安定した昇圧電源を得ることができる。
【0087】第3及び第4の発明によれば、負荷回路の
動作が開始するときに、出力ノードの電位が所定電位以
下であるかを検出する電圧検知部と、制御信号を遅延さ
せて遅延制御信号を出力する遅延部と、出力ノードが所
定電位以下のときにこの遅延制御信号に従って昇圧電源
を供給する第2のチャージポンプを有している。これに
より、第1及び第2のチャージポンプの起動時間がずれ
るため、電源ノイズを抑制することができると共に、負
荷回路の動作中に出力ノードの電位が急激に変動するこ
とがなくなり、より一層安定した昇圧電源を得ることが
できる。
【0088】第5の発明によれば、第1のチャージポン
プの電流供給能力を負荷回路の消費電流よりも小さく設
定し、第1と第2のチャージポンプの合計の電流供給能
力を負荷回路の消費電流よりも大きく設定している。こ
れにより、負荷回路の消費電流に見合った能力のチャー
ジポンプを使用することができ、電源電位や昇圧電源の
電位変動を抑制することができる。
【0089】第6の発明によれば、第2のチャージポン
プの電流供給能力を、出力制御信号に応じて切り替えで
きるように構成している。これにより、消費電流とチャ
ージポンプの供給電流の差による昇圧電源の電位低下
を、より小さくなるように抑え、更に安定した昇圧電源
VPPを得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態を示す昇圧電源発生回
路の構成図である。
【図2】従来の昇圧電源発生回路の一例を示す構成図で
ある。
【図3】図2の課題を説明するための信号波形図であ
る。
【図4】本発明の第2の実施形態を示す昇圧電源発生回
路の構成図である。
【図5】本発明の第3の実施形態を示す昇圧電源発生回
路の構成図である。
【図6】本発明の第4の実施形態を示すチャージポンプ
の回路図である。
【符号の説明】
10,40 チャージポンプ 11,41 バッファ 12,42,46 キャパシタ 13,43,44,47,48 ダイオード 14 PMOS(PチャネルMOSトランジスタ) 15 ゲート制御部 21 電源検知部 22 発振部 23 AND(論理積ゲート) 24 FF(フリップフロップ) 25 遅延部 45 スイッチ部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5F038 BB04 BG02 BG03 BG05 BG07 DF05 EZ20 5H730 AS04 BB02 DD04 FD01 FG01 5M024 AA24 BB29 FF03 FF13 FF22 FF25 GG01 HH11 HH14 PP01 PP02 PP03 PP07

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 負荷回路の動作に同期した制御信号が与
    えられたときに、電源電位よりも高い昇圧電源を出力ノ
    ードに出力する第1のチャージポンプと、 前記制御信号が与えられ、かつ前記出力ノードの電位が
    所定電位よりも低下したときに、前記電源電位よりも高
    い昇圧電源を該出力ノードに出力する第2のチャージポ
    ンプとを、 備えたことを特徴とする昇圧電源発生回路。
  2. 【請求項2】 負荷回路の動作に同期した制御信号が与
    えられたときに、電源電位よりも高い昇圧電源を出力ノ
    ードに出力する第1のチャージポンプと、 前記出力ノードの電位が所定電位よりも低下したとき
    に、活性化信号を出力する電圧検知部と、 前記制御信号が与えられた時点で、前記電圧検知部から
    出力される信号を保持する信号保持部と、 前記信号保持部に前記活性化信号が保持され、かつ前記
    制御信号が与えられたときに、前記電源電位よりも高い
    昇圧電源を前記出力ノードに出力する第2のチャージポ
    ンプとを、 備えたことを特徴とする昇圧電源発生回路。
  3. 【請求項3】 負荷回路の動作に同期した制御信号が与
    えられたときに、電源電位よりも高い昇圧電源を出力ノ
    ードに出力する第1のチャージポンプと、 前記出力ノードの電位が所定電位よりも低下したとき
    に、活性化信号を出力する電圧検知部と、 前記制御信号を一定時間遅延させて遅延制御信号を出力
    する遅延部と、 前記遅延制御信号が与えられた時点で、前記電圧検知部
    から出力される信号を保持する信号保持部と、 前記信号保持部に前記活性化信号が保持され、かつ前記
    遅延制御信号が与えられたときに、前記電源電位よりも
    高い昇圧電源を前記出力ノードに出力する第2のチャー
    ジポンプとを、 備えたことを特徴とする昇圧電源発生回路。
  4. 【請求項4】 負荷回路の動作に同期した制御信号が与
    えられたときに、電源電位よりも高い昇圧電源を出力ノ
    ードに出力する第1のチャージポンプと、 前記出力ノードの電位が所定電位よりも低下したとき
    に、活性化信号を出力する電圧検知部と、 前記制御信号が与えられた時点で、前記電圧検知部から
    出力される信号を保持する信号保持部と、 前記制御信号を一定時間遅延させて遅延制御信号を出力
    する遅延部と、 前記信号保持部に前記活性化信号が保持され、かつ前記
    遅延制御信号が与えられたときに、前記電源電位よりも
    高い昇圧電源を前記出力ノードに出力する第2のチャー
    ジポンプとを、 備えたことを特徴とする昇圧電源発生回路。
  5. 【請求項5】 前記第1のチャージポンプの電流供給能
    力を前記負荷回路の消費電流よりも小さく設定すると共
    に、該第1のチャージポンプと前記第2のチャージポン
    プの合計の電流供給能力を該負荷回路の消費電流よりも
    大きく設定したことを特徴とする請求項1乃至4のいず
    れかに記載した昇圧電源発生回路。
  6. 【請求項6】 前記第2のチャージポンプは、出力制御
    信号に応じて前記出力ノードに出力する電流供給能力を
    切り替えることができるように構成したことを特徴とす
    る請求項1乃至5のいずれかに記載した昇圧電源発生回
    路。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009017640A (ja) * 2007-07-03 2009-01-22 Nec Electronics Corp 昇圧回路、およびその昇圧回路を備える集積回路
JP2012100439A (ja) * 2010-11-02 2012-05-24 Renesas Electronics Corp チャージポンプ回路及び電源回路
US8233347B2 (en) 2008-12-08 2012-07-31 Fujitsu Semiconductor Limited Semiconductor memory, semiconductor device, and system

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW400650B (en) * 1996-11-26 2000-08-01 Hitachi Ltd Semiconductor integrated circuit device
EP1310959B1 (en) * 2001-11-09 2008-06-18 STMicroelectronics S.r.l. Low power charge pump circuit
KR100549345B1 (ko) * 2003-08-25 2006-02-02 주식회사 하이닉스반도체 고전압 공급 회로 및 고전압 공급 방법
KR100604657B1 (ko) * 2004-05-06 2006-07-25 주식회사 하이닉스반도체 최적화된 내부전압을 공급할 수 있는 전원공급회로를구비하는 반도체 메모리 장치
KR100674961B1 (ko) * 2005-02-26 2007-01-26 삼성전자주식회사 부가 펌프 회로를 구비하는 승압전압 발생회로 및 이의 승압전압 발생방법
KR100732756B1 (ko) * 2005-04-08 2007-06-27 주식회사 하이닉스반도체 전압 펌핑장치
US7277315B2 (en) * 2005-12-14 2007-10-02 Etron Technology, Inc. Multiple power supplies for the driving circuit of local word line driver of DRAM
KR100763355B1 (ko) * 2006-03-22 2007-10-04 삼성전자주식회사 넓은 범위 전원전압 하에서도 안정적인 레벨의 승압전압을발생하는 승압전압 발생회로 및 이를 포함하는 반도체메모리 장치
US7626865B2 (en) 2006-06-13 2009-12-01 Micron Technology, Inc. Charge pump operation in a non-volatile memory device
US7907116B2 (en) * 2007-05-03 2011-03-15 Solomon Systech Limited Dual output voltage system with charge recycling
US9443431B1 (en) * 2012-05-08 2016-09-13 Western Digital Technologies, Inc. System and method for preventing undesirable substantially concurrent switching in multiple power circuits
US9460797B2 (en) * 2014-10-13 2016-10-04 Ememory Technology Inc. Non-volatile memory cell structure and non-volatile memory apparatus using the same
US9590498B2 (en) * 2014-12-31 2017-03-07 Lear Corporation High side switch for selectively supplying power from a power supply to a load
US10790007B1 (en) * 2019-11-22 2020-09-29 Winbond Electronics Corp. Memory device and method for assiting read operation
US11916476B2 (en) * 2022-05-11 2024-02-27 Nanya Technology Corporation Voltage generator and voltage generating method thereof
US11955196B2 (en) 2022-07-13 2024-04-09 Nanya Technology Corporation Memory device, voltage generating device and voltage generating method thereof

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63255897A (ja) * 1987-04-13 1988-10-24 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
JPH05189966A (ja) * 1992-01-10 1993-07-30 Sharp Corp 半導体記憶装置
JPH06245489A (ja) * 1993-02-15 1994-09-02 Mitsubishi Electric Corp 定電位発生回路
JPH08315570A (ja) * 1995-05-15 1996-11-29 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
JP2001297584A (ja) * 2000-04-13 2001-10-26 Nec Corp 半導体記憶装置の昇圧回路

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6159688A (ja) * 1984-08-31 1986-03-27 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置
JPH0817033B2 (ja) * 1988-12-08 1996-02-21 三菱電機株式会社 基板バイアス電位発生回路
KR950006067Y1 (ko) * 1992-10-08 1995-07-27 문정환 반도체 메모리 장치
US5337284A (en) * 1993-01-11 1994-08-09 United Memories, Inc. High voltage generator having a self-timed clock circuit and charge pump, and a method therefor
US6031411A (en) * 1993-06-28 2000-02-29 Texas Instruments Incorporated Low power substrate bias circuit
JPH07105681A (ja) * 1993-10-07 1995-04-21 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
JP2830807B2 (ja) * 1995-11-29 1998-12-02 日本電気株式会社 半導体メモリ装置
JPH10247386A (ja) 1997-03-03 1998-09-14 Mitsubishi Electric Corp 昇圧電位供給回路及び半導体記憶装置
JP2000112547A (ja) 1998-10-05 2000-04-21 Mitsubishi Electric Corp 基板電圧発生回路および半導体集積回路装置
JP2001126478A (ja) * 1999-10-29 2001-05-11 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63255897A (ja) * 1987-04-13 1988-10-24 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
JPH05189966A (ja) * 1992-01-10 1993-07-30 Sharp Corp 半導体記憶装置
JPH06245489A (ja) * 1993-02-15 1994-09-02 Mitsubishi Electric Corp 定電位発生回路
JPH08315570A (ja) * 1995-05-15 1996-11-29 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
JP2001297584A (ja) * 2000-04-13 2001-10-26 Nec Corp 半導体記憶装置の昇圧回路

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009017640A (ja) * 2007-07-03 2009-01-22 Nec Electronics Corp 昇圧回路、およびその昇圧回路を備える集積回路
US8233347B2 (en) 2008-12-08 2012-07-31 Fujitsu Semiconductor Limited Semiconductor memory, semiconductor device, and system
JP2012100439A (ja) * 2010-11-02 2012-05-24 Renesas Electronics Corp チャージポンプ回路及び電源回路

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