JP2003043517A - 液晶表示パネルおよびその点灯検査方法 - Google Patents
液晶表示パネルおよびその点灯検査方法Info
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- JP2003043517A JP2003043517A JP2001231588A JP2001231588A JP2003043517A JP 2003043517 A JP2003043517 A JP 2003043517A JP 2001231588 A JP2001231588 A JP 2001231588A JP 2001231588 A JP2001231588 A JP 2001231588A JP 2003043517 A JP2003043517 A JP 2003043517A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 位置ずれの有無を実際のプローブの接触状態
で確認できるようにする。 【解決手段】 端子部１０に複数本のリード端子１１を
含むリード端子群１２を備えている液晶表示パネル１を
点灯検査するにあたって、端子部１０にピッチがリード
端子群１２内の最小端子ピッチと同一、かつ、端子幅が
リード端子群１２内の最小端子幅と同一であって、互い
に導通している一対のずれ検出用のダミー端子１４１，
１４１をリード端子群１２の両側に最小端子ピッチの整
数倍の距離を置いて配置し、プローブヘッド２２側にダ
ミー端子１４１，１４１に対応する各一対の電流プロー
ブピン２４ａ，２４ｂ；２４ｃ，２４ｄを設け、リード
端子１１の各々に点灯電圧を印加する前に、電流プロー
ブピン２４ａ，２４ｂ；２４ｃ，２４ｄ間に導通チェッ
ク電流を流し、その導通・非導通により、位置ずれの有
無を検出する。
で確認できるようにする。 【解決手段】 端子部１０に複数本のリード端子１１を
含むリード端子群１２を備えている液晶表示パネル１を
点灯検査するにあたって、端子部１０にピッチがリード
端子群１２内の最小端子ピッチと同一、かつ、端子幅が
リード端子群１２内の最小端子幅と同一であって、互い
に導通している一対のずれ検出用のダミー端子１４１，
１４１をリード端子群１２の両側に最小端子ピッチの整
数倍の距離を置いて配置し、プローブヘッド２２側にダ
ミー端子１４１，１４１に対応する各一対の電流プロー
ブピン２４ａ，２４ｂ；２４ｃ，２４ｄを設け、リード
端子１１の各々に点灯電圧を印加する前に、電流プロー
ブピン２４ａ，２４ｂ；２４ｃ，２４ｄ間に導通チェッ
ク電流を流し、その導通・非導通により、位置ずれの有
無を検出する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示パネルお
よびその点灯検査方法に関し、さらに詳しく言えば、端
子部に形成されている各リード端子にプローブピンを同
時に接触させて点灯電圧を印加する際のリード端子とプ
ローブピン間の位置ずれ検出技術に関するものである。
よびその点灯検査方法に関し、さらに詳しく言えば、端
子部に形成されている各リード端子にプローブピンを同
時に接触させて点灯電圧を印加する際のリード端子とプ
ローブピン間の位置ずれ検出技術に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】どの製品でも同じく組み立て後に最終な
性能検査が行われるが、液晶表示パネルの場合には点灯
検査がそれに該当する。液晶表示パネルの点灯検査は、
端子部に形成されているリード端子にチェックユニット
のプローブピンを接触させて所定の点灯電圧を印加し、
その点灯状態によって透明電極の断線もしくは短絡の有
無を検査する。
性能検査が行われるが、液晶表示パネルの場合には点灯
検査がそれに該当する。液晶表示パネルの点灯検査は、
端子部に形成されているリード端子にチェックユニット
のプローブピンを接触させて所定の点灯電圧を印加し、
その点灯状態によって透明電極の断線もしくは短絡の有
無を検査する。
【０００３】この点灯検査には、リード端子とプローブ
ピンとの正確な位置合わせが要求される。例えば、ＴＦ
Ｔ液晶表示パネルにおいては、位置ずれによりリード端
子を間違えて電圧をかけると、その電圧印加のタイミン
グによってはＴＦＴが破壊されることがある。そのため
多くの場合、オートアライメント機構を有する検査装置
が用いられている。
ピンとの正確な位置合わせが要求される。例えば、ＴＦ
Ｔ液晶表示パネルにおいては、位置ずれによりリード端
子を間違えて電圧をかけると、その電圧印加のタイミン
グによってはＴＦＴが破壊されることがある。そのため
多くの場合、オートアライメント機構を有する検査装置
が用いられている。
【０００４】この検査装置によると、液晶表示パネルに
設けられているアライメントマークをＣＣＤカメラにて
撮像し、その撮像信号を画像処理ユニットで処理して液
晶表示パネルのリード端子位置を特定する。そして、そ
の位置データに基づいてプローブピンもしくはパネルの
いずれかを移動させて、リード端子とプローブピンとを
位置合わせする。
設けられているアライメントマークをＣＣＤカメラにて
撮像し、その撮像信号を画像処理ユニットで処理して液
晶表示パネルのリード端子位置を特定する。そして、そ
の位置データに基づいてプローブピンもしくはパネルの
いずれかを移動させて、リード端子とプローブピンとを
位置合わせする。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
オートアライメント機構を有する検査装置を含めて従来
の検査装置は、位置合わせ後において、最終的に位置合
わせ状態を確認する手段を備えていないため、信頼性に
欠ける嫌いがあった。
オートアライメント機構を有する検査装置を含めて従来
の検査装置は、位置合わせ後において、最終的に位置合
わせ状態を確認する手段を備えていないため、信頼性に
欠ける嫌いがあった。
【０００６】本発明は、上記課題を解決するためになさ
れたもので、その目的は、リード端子に点灯電圧を印加
するに先だって、リード端子とプローブピンの位置合わ
せ状態を、実際にプローブピンを接触させた状態で確実
に検出することができる信頼性の高い液晶表示パネルの
点灯検査方法を提供することにある。また、本発明の別
の目的は、リード端子とプローブピンの位置合わせ状態
を確実に検出することができる信頼性の高いずれ検出用
のダミー端子を備えた液晶表示パネルを提供することに
ある。
れたもので、その目的は、リード端子に点灯電圧を印加
するに先だって、リード端子とプローブピンの位置合わ
せ状態を、実際にプローブピンを接触させた状態で確実
に検出することができる信頼性の高い液晶表示パネルの
点灯検査方法を提供することにある。また、本発明の別
の目的は、リード端子とプローブピンの位置合わせ状態
を確実に検出することができる信頼性の高いずれ検出用
のダミー端子を備えた液晶表示パネルを提供することに
ある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本願の第１発明は、端子部に所定のピッチで配列さ
れた複数本のリード端子を含むリード端子群を備えてい
る液晶表示パネルを検査対象とし、上記リード端子の各
々に電圧プローブピンを接触させてチェックユニットよ
り上記液晶表示パネルに所定の点灯電圧を印加してその
点灯状態を検査する液晶表示パネルの点灯検査方法にお
いて、上記端子部に、ピッチが上記リード端子群内の最
小端子ピッチと同一、かつ、端子幅が上記リード端子群
内の最小端子幅と同一であって、互いに導通するパター
ンとして形成されたずれ検出用の一対のダミー端子を上
記リード端子群の両側に上記最小端子ピッチの整数倍の
距離を置いて配置するとともに、上記電圧プローブピン
を保持するプローブヘッド側に、上記ダミー端子を介し
て導通チェック電流を流す各一対の電流プローブピンを
設け、上記電圧プローブピンおよび上記電流プローブピ
ンを上記端子部に接触させたのち、上記電圧プローブピ
ンから上記リード端子の各々に上記点灯電圧を印加する
に先だって、上記電流プローブピン間に導通チェック電
流を流し、その導通・非導通により、上記電圧プローブ
ピンと上記リード端子との間の位置ずれの有無を検出す
ることを特徴としている。
め、本願の第１発明は、端子部に所定のピッチで配列さ
れた複数本のリード端子を含むリード端子群を備えてい
る液晶表示パネルを検査対象とし、上記リード端子の各
々に電圧プローブピンを接触させてチェックユニットよ
り上記液晶表示パネルに所定の点灯電圧を印加してその
点灯状態を検査する液晶表示パネルの点灯検査方法にお
いて、上記端子部に、ピッチが上記リード端子群内の最
小端子ピッチと同一、かつ、端子幅が上記リード端子群
内の最小端子幅と同一であって、互いに導通するパター
ンとして形成されたずれ検出用の一対のダミー端子を上
記リード端子群の両側に上記最小端子ピッチの整数倍の
距離を置いて配置するとともに、上記電圧プローブピン
を保持するプローブヘッド側に、上記ダミー端子を介し
て導通チェック電流を流す各一対の電流プローブピンを
設け、上記電圧プローブピンおよび上記電流プローブピ
ンを上記端子部に接触させたのち、上記電圧プローブピ
ンから上記リード端子の各々に上記点灯電圧を印加する
に先だって、上記電流プローブピン間に導通チェック電
流を流し、その導通・非導通により、上記電圧プローブ
ピンと上記リード端子との間の位置ずれの有無を検出す
ることを特徴としている。
【０００８】本発明において、ずれ検出用の一対のダミ
ー端子は導通していれば、その導通箇所はどこでもよい
が、電流プローブピンの配設位置精度を考慮してリード
端子と同じく短冊状であることが好ましく、また誤判定
をなくすためには、互いに導通するＵ字状（もしくは逆
Ｕ字状）パターンがよい。
ー端子は導通していれば、その導通箇所はどこでもよい
が、電流プローブピンの配設位置精度を考慮してリード
端子と同じく短冊状であることが好ましく、また誤判定
をなくすためには、互いに導通するＵ字状（もしくは逆
Ｕ字状）パターンがよい。
【０００９】また、本願の第２発明は、端子部に所定の
ピッチで配列された複数本のリード端子を含むリード端
子群を備えている液晶表示パネルにおいて、上記端子部
には、ピッチが上記リード端子群内の最小端子ピッチと
同一、かつ、端子幅が上記リード端子群内の最小端子幅
と同一であって、互いに導通するパターンとして形成さ
れた一対のずれ検出用のダミー端子が、上記リード端子
群の両側に上記最小端子ピッチの整数倍の距離を置いて
配置されていることを特徴としている。
ピッチで配列された複数本のリード端子を含むリード端
子群を備えている液晶表示パネルにおいて、上記端子部
には、ピッチが上記リード端子群内の最小端子ピッチと
同一、かつ、端子幅が上記リード端子群内の最小端子幅
と同一であって、互いに導通するパターンとして形成さ
れた一対のずれ検出用のダミー端子が、上記リード端子
群の両側に上記最小端子ピッチの整数倍の距離を置いて
配置されていることを特徴としている。
【００１０】
【発明の実施の形態】次に、図面を参照して、本発明の
実施形態について説明する。図１に液晶表示パネル１の
端子部１０の構成を示し、図２に端子部１０と点灯検査
装置であるチェックユニット２０との相対位置関係を示
す。
実施形態について説明する。図１に液晶表示パネル１の
端子部１０の構成を示し、図２に端子部１０と点灯検査
装置であるチェックユニット２０との相対位置関係を示
す。
【００１１】端子部１０には、複数本のリード端子１１
を含むリード端子群１２が設けられており、各リード端
子１１は、液晶表示パネル１内の図示しない透明電極に
接続されている。各リード端子１１は、透明電極と同じ
くＩＴＯ（インジウム・錫酸化物）よりなり、短冊状パ
ターンとして形成されている。
を含むリード端子群１２が設けられており、各リード端
子１１は、液晶表示パネル１内の図示しない透明電極に
接続されている。各リード端子１１は、透明電極と同じ
くＩＴＯ（インジウム・錫酸化物）よりなり、短冊状パ
ターンとして形成されている。
【００１２】この実施形態において、各リード端子１１
の端子間ピッチおよび端子幅はともに同一とされている
が、そのいずれか一方もしくは双方が異なっている場合
も、本発明の検査対象に含まれる。
の端子間ピッチおよび端子幅はともに同一とされている
が、そのいずれか一方もしくは双方が異なっている場合
も、本発明の検査対象に含まれる。
【００１３】リード端子群１２の両側には、ずれ検出部
１４，１４が設けられている。このずれ検出部１４，１
４は同一構成であるため、その一方について説明する
と、ずれ検出部１４は、一対のダミー端子１４１，１４
１を備えている。
１４，１４が設けられている。このずれ検出部１４，１
４は同一構成であるため、その一方について説明する
と、ずれ検出部１４は、一対のダミー端子１４１，１４
１を備えている。
【００１４】ダミー端子１４１，１４１は、リード端子
１１と同じくＩＴＯにより短冊状に形成されているとと
もに、短絡パターン１４２にて互いに導通されている。
この実施形態において、短絡パターン１４２は、ダミー
端子１４１，１４１の各一端側に配置されている。これ
により、ずれ検出部１４は全体してＵ字状パターンを呈
している。
１１と同じくＩＴＯにより短冊状に形成されているとと
もに、短絡パターン１４２にて互いに導通されている。
この実施形態において、短絡パターン１４２は、ダミー
端子１４１，１４１の各一端側に配置されている。これ
により、ずれ検出部１４は全体してＵ字状パターンを呈
している。
【００１５】短絡パターン１４２は、端子部１０の基端
部側（パネル表示部側）に配置され、かつ、その線幅Ｗ
２は基端部から０．５ｍｍ以下であることが好ましい。
なお、変形例の一つとして、短絡パターン１４２をダミ
ー端子１４１，１４１の中央に配置して、ずれ検出部１
４をＨ字状パターンとしてもよい。
部側（パネル表示部側）に配置され、かつ、その線幅Ｗ
２は基端部から０．５ｍｍ以下であることが好ましい。
なお、変形例の一つとして、短絡パターン１４２をダミ
ー端子１４１，１４１の中央に配置して、ずれ検出部１
４をＨ字状パターンとしてもよい。
【００１６】ダミー端子１４１，１４１の端子幅Ｗ１
は、リード端子１１の端子幅と同一幅である。なお、リ
ード端子群１２に異なる端子幅のリード端子が含まれる
場合には、その中の最小端子幅と同一とされる。
は、リード端子１１の端子幅と同一幅である。なお、リ
ード端子群１２に異なる端子幅のリード端子が含まれる
場合には、その中の最小端子幅と同一とされる。
【００１７】また、ダミー端子１４１，１４１間のピッ
チＰ１は、リード端子１１，１１間のピッチと同一であ
る。なお、リード端子群１２に異なるピッチのリード端
子が含まれる場合には、その中の最小端子ピッチと同一
とされる。
チＰ１は、リード端子１１，１１間のピッチと同一であ
る。なお、リード端子群１２に異なるピッチのリード端
子が含まれる場合には、その中の最小端子ピッチと同一
とされる。
【００１８】ずれ検出部１４とリード端子群１２との間
の距離Ｌも、本発明にとって重要な要素である。すなわ
ち、この距離Ｌは、リード端子１１，１１間のピッチ
（リード端子群１２に異なるピッチのリード端子が含ま
れる場合には、その中の最小端子ピッチ）の整数倍に設
定される。
の距離Ｌも、本発明にとって重要な要素である。すなわ
ち、この距離Ｌは、リード端子１１，１１間のピッチ
（リード端子群１２に異なるピッチのリード端子が含ま
れる場合には、その中の最小端子ピッチ）の整数倍に設
定される。
【００１９】なお、整数倍であることを条件として、リ
ード端子群１２に対する図１の右側ずれ検出部１４と左
側ずれ検出部１４の各距離Ｌを異ならせてもよい。例え
ば、図１の右側ずれ検出部１４の距離Ｌを端子間ピッチ
の２倍とし、左側ずれ検出部１４の距離Ｌを端子間ピッ
チの３倍としてもよい。
ード端子群１２に対する図１の右側ずれ検出部１４と左
側ずれ検出部１４の各距離Ｌを異ならせてもよい。例え
ば、図１の右側ずれ検出部１４の距離Ｌを端子間ピッチ
の２倍とし、左側ずれ検出部１４の距離Ｌを端子間ピッ
チの３倍としてもよい。
【００２０】図２を参照して、チェックユニット２０
は、測定部２１とプローブヘッド２２とを備えている。
プローブヘッド２２は、図示しない駆動手段により端子
部１０に対して接近・離反するように動かされる。
は、測定部２１とプローブヘッド２２とを備えている。
プローブヘッド２２は、図示しない駆動手段により端子
部１０に対して接近・離反するように動かされる。
【００２１】プローブヘッド２２には、各リード端子１
１に対応して配置された点灯電圧印加用の電圧プローブ
２３と、ずれ検出部１４に対応して配置され、その各ダ
ミー端子１４１，１４１を介して導通チェック電流を流
す各一対の電流プローブピン２４ａ，２４ｂ；２４ｃ，
２４ｄとが設けられている。
１に対応して配置された点灯電圧印加用の電圧プローブ
２３と、ずれ検出部１４に対応して配置され、その各ダ
ミー端子１４１，１４１を介して導通チェック電流を流
す各一対の電流プローブピン２４ａ，２４ｂ；２４ｃ，
２４ｄとが設けられている。
【００２２】この実施形態において、測定部２１は、導
通チェック用の電源である電池２５を有し、この電池２
５の例えば正極側には、対をなす内のそれぞれ一方の電
流プローブピン２４ａと電流プローブピン２５ｄとがス
イッチ２６を介して接続されている。
通チェック用の電源である電池２５を有し、この電池２
５の例えば正極側には、対をなす内のそれぞれ一方の電
流プローブピン２４ａと電流プローブピン２５ｄとがス
イッチ２６を介して接続されている。
【００２３】対をなすそれぞれ他方の電流プローブピン
２４ｂと電流プローブピン２５ｃは、アンド回路２７の
入力側に接続され、アンド回路２７の出力側は図示しな
い判定部に接続されている。なお、電圧プローブ２３に
対する点灯電圧制御回路は本発明の要旨でないため、そ
の図示を省略している。
２４ｂと電流プローブピン２５ｃは、アンド回路２７の
入力側に接続され、アンド回路２７の出力側は図示しな
い判定部に接続されている。なお、電圧プローブ２３に
対する点灯電圧制御回路は本発明の要旨でないため、そ
の図示を省略している。
【００２４】次に、本発明の動作について説明する。例
えば、液晶表示パネル１０が図示しない位置合わせ用の
Ｘ−Ｙ移動テーブルに載置され、オートアライメント機
構などにより位置合わせが終了すると、本発明の点灯検
査が行われる。
えば、液晶表示パネル１０が図示しない位置合わせ用の
Ｘ−Ｙ移動テーブルに載置され、オートアライメント機
構などにより位置合わせが終了すると、本発明の点灯検
査が行われる。
【００２５】まず、プローブヘッド２２を下降させてす
べてのプローブピン２３，２４を端子部１０に接触させ
る。そして、電圧プローブピン２３から各リード端子１
１に点灯電圧を印加する前に、スイッチ２６をオンして
電流プローブピン２４ａと電流プローブピン２５ｄとに
電圧を加える。
べてのプローブピン２３，２４を端子部１０に接触させ
る。そして、電圧プローブピン２３から各リード端子１
１に点灯電圧を印加する前に、スイッチ２６をオンして
電流プローブピン２４ａと電流プローブピン２５ｄとに
電圧を加える。
【００２６】このとき、電流プローブピン２４ａ，２４
ｂ；２４ｃ，２４ｄの各々が、ずれ検出部１４のダミー
端子１４１，１４１に接触していれば、電流プローブピ
ン２４ａ，２４ｂ間および電流プローブピン２４ｃ，２
４ｄ間に電流が流れ、アンド回路２７の各入力側「Ｈ」
となるため、アンド回路２７の出力が「Ｈ」となる。
ｂ；２４ｃ，２４ｄの各々が、ずれ検出部１４のダミー
端子１４１，１４１に接触していれば、電流プローブピ
ン２４ａ，２４ｂ間および電流プローブピン２４ｃ，２
４ｄ間に電流が流れ、アンド回路２７の各入力側「Ｈ」
となるため、アンド回路２７の出力が「Ｈ」となる。
【００２７】これにより、判定部にて位置ずれ「なし
（ＯＫ）」と判定され、次のステップとして電圧プロー
ブピン２３から各リード端子１１に点灯電圧が印加され
る。スイッチ２６をオンしても、アンド回路２７の出力
が「Ｌ」のままであると、判定部にて位置ずれ「あり
（ＮＧ）」と判定され、例えばブザーなどにより警告が
発せられる。
（ＯＫ）」と判定され、次のステップとして電圧プロー
ブピン２３から各リード端子１１に点灯電圧が印加され
る。スイッチ２６をオンしても、アンド回路２７の出力
が「Ｌ」のままであると、判定部にて位置ずれ「あり
（ＮＧ）」と判定され、例えばブザーなどにより警告が
発せられる。
【００２８】このように、本発明によれば、点灯電圧を
印加する前に位置ずれの有無を実際のプローブの接触状
態で確認できるため、信頼性の高い点灯検査を行うこと
ができる。特に、ＴＦＴパネルの場合、間違った電圧印
加によるＴＦＴの破壊を防止できるので好適である。
印加する前に位置ずれの有無を実際のプローブの接触状
態で確認できるため、信頼性の高い点灯検査を行うこと
ができる。特に、ＴＦＴパネルの場合、間違った電圧印
加によるＴＦＴの破壊を防止できるので好適である。
【００２９】なお、本明細書において、点灯電圧を印加
するプローブピンを電圧プローブピン、導通チェック用
のプローブピンを電流プローブピンとしているが、これ
は説明の都合上のものであって、実際には同じプローブ
ピンが用いられている。
するプローブピンを電圧プローブピン、導通チェック用
のプローブピンを電流プローブピンとしているが、これ
は説明の都合上のものであって、実際には同じプローブ
ピンが用いられている。
【００３０】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
端子部に複数本のリード端子を含むリード端子群を備え
ている液晶表示パネルを点灯検査するにあたって、端子
部にピッチがリード端子群内の最小端子ピッチと同一、
かつ、端子幅がリード端子群内の最小端子幅と同一であ
って、互いに導通している一対のずれ検出用のダミー端
子をリード端子群の両側に最小端子ピッチの整数倍の距
離を置いて配置するとともに、プローブヘッド側にダミ
ー端子を介して導通チェック電流を流す各一対の電流プ
ローブピンを設け、リード端子の各々に点灯電圧を印加
する前に、電流プローブピン間に導通チェック電流を流
し、その導通・非導通により、位置ずれの有無を検出す
るようにしたことにより、信頼性の高い液晶表示パネル
の点灯検査を行うことができる。
端子部に複数本のリード端子を含むリード端子群を備え
ている液晶表示パネルを点灯検査するにあたって、端子
部にピッチがリード端子群内の最小端子ピッチと同一、
かつ、端子幅がリード端子群内の最小端子幅と同一であ
って、互いに導通している一対のずれ検出用のダミー端
子をリード端子群の両側に最小端子ピッチの整数倍の距
離を置いて配置するとともに、プローブヘッド側にダミ
ー端子を介して導通チェック電流を流す各一対の電流プ
ローブピンを設け、リード端子の各々に点灯電圧を印加
する前に、電流プローブピン間に導通チェック電流を流
し、その導通・非導通により、位置ずれの有無を検出す
るようにしたことにより、信頼性の高い液晶表示パネル
の点灯検査を行うことができる。
【００３１】また、本発明によれば、リード端子とプロ
ーブピンの位置合わせ状態を確実に検出することができ
る信頼性の高いずれ検出用のダミー端子を備えた液晶表
示パネルが提供される。
ーブピンの位置合わせ状態を確実に検出することができ
る信頼性の高いずれ検出用のダミー端子を備えた液晶表
示パネルが提供される。
【図１】本発明の実施形態に係る液晶表示パネルの端子
部を示した要部平面図。
部を示した要部平面図。
【図２】上記液晶表示パネルとチェックユニットの相対
位置関係を示す説明図。
位置関係を示す説明図。
１ 液晶表示パネル
１０ 端子部
１１ リード端子
１２ リード端子群
１４ ずれ検出部
１４１ ダミー端子
１４２ 短絡パターン
２０ チェックユニット
２１ 測定部
２２ プローブヘッド
２３ 電圧プローブピン
２４ａ〜２４ｄ 電流プローブピン
フロントページの続き
(72)発明者 高藤 聡
兵庫県尼崎市上坂部１丁目２番１号 オプ
トレックス株式会社尼崎工場内
(72)発明者 枌 孝一
兵庫県尼崎市上坂部１丁目２番１号 オプ
トレックス株式会社尼崎工場内
Ｆターム(参考） 2G011 AA02 AA15 AC06 AE01 AF07
2H088 FA13 MA20
2H092 GA32 GA40 JB77 MA57 NA29
NA30
Claims (3)
- 【請求項１】 端子部に所定のピッチで配列された複数
本のリード端子を含むリード端子群を備えている液晶表
示パネルを検査対象とし、上記リード端子の各々に電圧
プローブピンを接触させてチェックユニットより上記液
晶表示パネルに所定の点灯電圧を印加してその点灯状態
を検査する液晶表示パネルの点灯検査方法において、 上記端子部に、ピッチが上記リード端子群内の最小端子
ピッチと同一、かつ、端子幅が上記リード端子群内の最
小端子幅と同一であって、互いに導通するパターンとし
て形成されたずれ検出用の一対のダミー端子を上記リー
ド端子群の両側に上記最小端子ピッチの整数倍の距離を
置いて配置するとともに、 上記電圧プローブピンを保持するプローブヘッド側に、
上記ダミー端子を介して導通チェック電流を流す各一対
の電流プローブピンを設け、 上記電圧プローブピンおよび上記電流プローブピンを上
記端子部に接触させたのち、上記電圧プローブピンから
上記リード端子の各々に上記点灯電圧を印加するに先だ
って、上記電流プローブピン間に導通チェック電流を流
し、その導通・非導通により、上記電圧プローブピンと
上記リード端子との間の位置ずれの有無を検出すること
を特徴とする液晶表示パネルの点灯検査方法。 - 【請求項２】 上記一対のダミー端子が、互いに導通す
るＵ字状パターンとして形成されている請求項１に記載
の液晶表示パネルの点灯検査方法。 - 【請求項３】 端子部に所定のピッチで配列された複数
本のリード端子を含むリード端子群を備えている液晶表
示パネルにおいて、 上記端子部には、ピッチが上記リード端子群内の最小端
子ピッチと同一、かつ、端子幅が上記リード端子群内の
最小端子幅と同一であって、互いに導通するパターンと
して形成された一対のずれ検出用のダミー端子が、上記
リード端子群の両側に上記最小端子ピッチの整数倍の距
離を置いて配置されていることを特徴とする液晶表示パ
ネル。
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