JPH08313857A - Ｌｃｄパネルの位置決め機構 - Google Patents
Ｌｃｄパネルの位置決め機構Info
- Publication number
- JPH08313857A JPH08313857A JP7156637A JP15663795A JPH08313857A JP H08313857 A JPH08313857 A JP H08313857A JP 7156637 A JP7156637 A JP 7156637A JP 15663795 A JP15663795 A JP 15663795A JP H08313857 A JPH08313857 A JP H08313857A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lcd panel
- panel
- inspection
- probe unit
- alignment mark
- Prior art date
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- Pending
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 従来、ＬＣＤパネル点灯検査装置において
は、ＣＣＤカメラ位置を基準にＬＣＤパネルの位置決め
を行っていたのに対し、本発明はプローブユニットに合
わせてＬＣＤパネルの位置決めを行う位置決め機構を提
供する。これにより、プローブユニットの位置誤差に影
響されない高精度の検査を可能にしようとするものであ
る。 【構成】 プローブユニット２に設けられた基準点１
を、ＣＣＤカメラ３及び画像処理装置を用いて認識する
ことによって、原点位置を設定し、ＬＣＤパネル４に設
けたアライメントマーク７が該原点位置に整合するよう
にパネルベース５を移動させることを特徴とするＬＣＤ
パネルの位置決め機構。
は、ＣＣＤカメラ位置を基準にＬＣＤパネルの位置決め
を行っていたのに対し、本発明はプローブユニットに合
わせてＬＣＤパネルの位置決めを行う位置決め機構を提
供する。これにより、プローブユニットの位置誤差に影
響されない高精度の検査を可能にしようとするものであ
る。 【構成】 プローブユニット２に設けられた基準点１
を、ＣＣＤカメラ３及び画像処理装置を用いて認識する
ことによって、原点位置を設定し、ＬＣＤパネル４に設
けたアライメントマーク７が該原点位置に整合するよう
にパネルベース５を移動させることを特徴とするＬＣＤ
パネルの位置決め機構。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＬＣＤパネル点灯検査
装置におけるパネルの位置決め機構に関するものであ
る。
装置におけるパネルの位置決め機構に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】近年、液晶パネルは多岐にわたる用途拡
大により、年々需要が増加している。その製造工程にお
いては、ＬＣＤパネルの品質検査が重要な位置を占め
る。検査工程は、製造コストを決める要因の１つであ
り、検査装置への投資効果は、生産技術の向上だけでな
く、生産能力の拡大にもつながり、コストダウンへの期
待も大きい。ＬＣＤパネルはビジュアルメディアである
ため、視覚や色覚等を考慮した視覚的な検査が要求され
る。点灯検査装置においても、パネルの多様化に伴っ
て、高密度、多数端子、かつ高速信号対応のプロービン
グに基づいた検査が求められている。
大により、年々需要が増加している。その製造工程にお
いては、ＬＣＤパネルの品質検査が重要な位置を占め
る。検査工程は、製造コストを決める要因の１つであ
り、検査装置への投資効果は、生産技術の向上だけでな
く、生産能力の拡大にもつながり、コストダウンへの期
待も大きい。ＬＣＤパネルはビジュアルメディアである
ため、視覚や色覚等を考慮した視覚的な検査が要求され
る。点灯検査装置においても、パネルの多様化に伴っ
て、高密度、多数端子、かつ高速信号対応のプロービン
グに基づいた検査が求められている。
【０００３】図３は、従来の点灯検査装置におけるパネ
ルの位置決め機構の概略を示している。ＬＣＤパネル４
が搬送されると、ＬＣＤパネルに設けらたアライメント
マーク７を、ＣＣＤカメラ３と画像処理装置により検出
する。そして、ＣＣＤカメラ位置を基準位置とし、これ
にアライメントマーク７を整合させるようパネルベース
５を移動させる。次いで、その位置にて、プローブピン
６がＬＣＤパネル４の電極とコンタクトし、駆動信号を
供給して検査を行う。ここで、プローブユニット２は、
コンタクト方向にのみ移動可能である。
ルの位置決め機構の概略を示している。ＬＣＤパネル４
が搬送されると、ＬＣＤパネルに設けらたアライメント
マーク７を、ＣＣＤカメラ３と画像処理装置により検出
する。そして、ＣＣＤカメラ位置を基準位置とし、これ
にアライメントマーク７を整合させるようパネルベース
５を移動させる。次いで、その位置にて、プローブピン
６がＬＣＤパネル４の電極とコンタクトし、駆動信号を
供給して検査を行う。ここで、プローブユニット２は、
コンタクト方向にのみ移動可能である。
【０００４】この様にＬＣＤパネルの全電極に一括プロ
ービングを行う場合、装置側から駆動信号を各電極へ印
可しなくてはならない。このとき、多数のプローブピン
を用いて１００μｍ以下の非常に細かいピッチで電気的
接触をとる必要がある。特に、量産工程においては、こ
のプローブの接触精度に対する信頼性、再現性を確保す
ることが、不可欠である。
ービングを行う場合、装置側から駆動信号を各電極へ印
可しなくてはならない。このとき、多数のプローブピン
を用いて１００μｍ以下の非常に細かいピッチで電気的
接触をとる必要がある。特に、量産工程においては、こ
のプローブの接触精度に対する信頼性、再現性を確保す
ることが、不可欠である。
【０００５】
【発明が解決しようとする問題】しかし、上記構成の点
灯検査装置では、ＣＣＤカメラ位置を基準とし、ＬＣＤ
パネル上に設けられたアライメントマークと位置合わせ
を行うため、プローブユニット自体に温度変化、振動等
の外部条件に起因する、微少の位置誤差が生じた場合、
位置合せの信頼性、再現性に問題が生じた。本発明の目
的は、ＬＣＤパネルの位置決めを外部条件に影響されず
に高精度に行うための位置決め機構を提供することにあ
る。
灯検査装置では、ＣＣＤカメラ位置を基準とし、ＬＣＤ
パネル上に設けられたアライメントマークと位置合わせ
を行うため、プローブユニット自体に温度変化、振動等
の外部条件に起因する、微少の位置誤差が生じた場合、
位置合せの信頼性、再現性に問題が生じた。本発明の目
的は、ＬＣＤパネルの位置決めを外部条件に影響されず
に高精度に行うための位置決め機構を提供することにあ
る。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明の位置決め機構
は、上記目的を解決するものであって、次のとおりであ
る。すなわち、プローブユニット２に設けられた基準点
１を、ＣＣＤカメラ３及び画像処理装置を用いて認識す
ることによって、原点位置を設定し、ＬＣＤパネル４に
設けたアライメントマーク７が該原点位置に整合するよ
うにパネルベース５を移動させるものである。
は、上記目的を解決するものであって、次のとおりであ
る。すなわち、プローブユニット２に設けられた基準点
１を、ＣＣＤカメラ３及び画像処理装置を用いて認識す
ることによって、原点位置を設定し、ＬＣＤパネル４に
設けたアライメントマーク７が該原点位置に整合するよ
うにパネルベース５を移動させるものである。
【０００７】
【作用】プローブユニットに設けられた基準点を、ＣＣ
Ｄカメラ及び画像処理装置で認識し、ＬＣＤパネルを検
査する毎に原点位置を設定する。ＬＣＤパネルはパネル
ベースに載せられて、ＬＣＤパネル上に設けたアライメ
ントマークが該原点位置に整合する点まで移動する。こ
れにより、プローブユニットが温度変化、振動等の外部
条件により位置誤差を生じたとしても、ＬＣＤパネル１
枚ごとに高精度の検査が可能となる。
Ｄカメラ及び画像処理装置で認識し、ＬＣＤパネルを検
査する毎に原点位置を設定する。ＬＣＤパネルはパネル
ベースに載せられて、ＬＣＤパネル上に設けたアライメ
ントマークが該原点位置に整合する点まで移動する。こ
れにより、プローブユニットが温度変化、振動等の外部
条件により位置誤差を生じたとしても、ＬＣＤパネル１
枚ごとに高精度の検査が可能となる。
【０００８】
【実施例】本発明の実施例を、図１、２によって説明す
る。ＣＣＤカメラ３及び画像計測装置により、プローブ
ユニット２に設けた基準点１の位置を検査毎に検出し、
これを原点位置とする。次に、ＬＣＤパネル４に設けら
れたアライメントマーク７をＣＣＤカメラ３及び画像処
理装置により検出する。このアライメントマーク７と該
原点位置が整合するようにＬＣＤパネル４を保持してい
るパネルベース５を移動させる。ＬＣＤパネル４の位置
が決まると、プローブピン６がＬＣＤパネルの電極とコ
ンタクトし、駆動信号を供給して検査を行う。
る。ＣＣＤカメラ３及び画像計測装置により、プローブ
ユニット２に設けた基準点１の位置を検査毎に検出し、
これを原点位置とする。次に、ＬＣＤパネル４に設けら
れたアライメントマーク７をＣＣＤカメラ３及び画像処
理装置により検出する。このアライメントマーク７と該
原点位置が整合するようにＬＣＤパネル４を保持してい
るパネルベース５を移動させる。ＬＣＤパネル４の位置
が決まると、プローブピン６がＬＣＤパネルの電極とコ
ンタクトし、駆動信号を供給して検査を行う。
【０００９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係わる位
置決め機構では、プローブユニットに設けられた基準点
を、ＣＣＤカメラ及び画像処理装置で認識することによ
って、原点位置を設定し、ＬＣＤパネル上に設けたアラ
イメントマークが該原点位置に整合するようにパネルベ
ースを移動させる。これにより、ＬＣＤパネル１枚ごと
に原点位置に合わせた位置合せができる。従って、プロ
ーブユニットに温度変化、振動等の外部条件に起因する
微少の位置誤差が生じたとしても、これに影響されない
高精度の検査が可能となる。
置決め機構では、プローブユニットに設けられた基準点
を、ＣＣＤカメラ及び画像処理装置で認識することによ
って、原点位置を設定し、ＬＣＤパネル上に設けたアラ
イメントマークが該原点位置に整合するようにパネルベ
ースを移動させる。これにより、ＬＣＤパネル１枚ごと
に原点位置に合わせた位置合せができる。従って、プロ
ーブユニットに温度変化、振動等の外部条件に起因する
微少の位置誤差が生じたとしても、これに影響されない
高精度の検査が可能となる。
【図１】実施例を示す斜視図である。
【図２】実施例を示す概略図である
【図３】従来例を示す概略図である。
１ 基準点 ２ プローブユニット ３ ＣＣＤカメラ ４ ＬＣＤパネル ５ パネルベース ６ プローブピン ７ アライメントマーク ８ フレーム
Claims (1)
- 【請求項１】プローブユニット（２）に設けられた基準
点（１）を、ＣＣＤカメラ（３）及び画像処理装置を用
いて認識することによって、原点位置を設定し、ＬＣＤ
パネル（４）に設けたアライメントマーク（７）が該原
点位置に整合するようにパネルベース（５）を移動させ
ることを特徴とするＬＣＤパネルの位置決め機構。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7156637A JPH08313857A (ja) | 1995-05-19 | 1995-05-19 | Ｌｃｄパネルの位置決め機構 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7156637A JPH08313857A (ja) | 1995-05-19 | 1995-05-19 | Ｌｃｄパネルの位置決め機構 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08313857A true JPH08313857A (ja) | 1996-11-29 |
Family
ID=15632029
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7156637A Pending JPH08313857A (ja) | 1995-05-19 | 1995-05-19 | Ｌｃｄパネルの位置決め機構 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08313857A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100315117B1 (ko) * | 1999-09-30 | 2001-11-24 | 김순택 | 글래스 얼라인먼트 검사 시스템 |
| KR100698377B1 (ko) * | 2004-08-14 | 2007-03-28 | 아이원스 주식회사 | 디스플레이 패널 검사용 그로스 테스트 지그 장치 |
| JP2010261894A (ja) * | 2009-05-11 | 2010-11-18 | Shimadzu Corp | Ｔｆｔアレイ検査装置およびｔｆｔ基板の位置合わせ方法 |
-
1995
- 1995-05-19 JP JP7156637A patent/JPH08313857A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100315117B1 (ko) * | 1999-09-30 | 2001-11-24 | 김순택 | 글래스 얼라인먼트 검사 시스템 |
| KR100698377B1 (ko) * | 2004-08-14 | 2007-03-28 | 아이원스 주식회사 | 디스플레이 패널 검사용 그로스 테스트 지그 장치 |
| JP2010261894A (ja) * | 2009-05-11 | 2010-11-18 | Shimadzu Corp | Ｔｆｔアレイ検査装置およびｔｆｔ基板の位置合わせ方法 |
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