CN101498873B

CN101498873B - 导线图案以及监控膜材贴附偏差的方法

Info

Publication number: CN101498873B
Application number: CN2009101111867A
Authority: CN
Inventors: 邓印翔; 许汉东
Original assignee: CPTF Optronics Co Ltd; Chunghwa Picture Tubes Ltd
Current assignee: Chunghwa Picture Tubes Ltd
Priority date: 2009-03-10
Filing date: 2009-03-10
Publication date: 2011-04-20
Anticipated expiration: 2029-03-10
Also published as: CN101498873A

Abstract

本发明提供一种接垫区内的导线图案，其包含复数个端子部，彼此并排于一接垫区内，各端子部分别包含一开口部与一引线部，其中各端子部具有至少一开口部侧边，而各引线部是对应连接于一开口部侧边。各引线部与相对应的开口部的相对位置是随该端子部在接垫区内的配置位置而变化。本发明还揭露了监控膜材贴附偏差的方法，其包含：提供一膜材，其表面具有复数个传导图案；提供一表面欲贴附该膜材的标的区域。本发明提高了量测膜材偏贴偏差的效率与正确性，解决习知量测膜材贴附偏差方法因程序耗时而造成效率较低且无法掌握精确度的问题。

Description

导线图案以及监控膜材贴附偏差的方法

技术领域

本发明涉及一种接垫区的导线图案与一种监控膜材贴附偏差的方法，尤指一种可用来当作监控膜材贴附偏差的参考基准的接垫区导线图案及其监控贴附偏差的方法。

背景技术

一般液晶显示面板(liquid crystal display，LCD)的制程，是先分别制作一数组基板与一彩色滤光片基板，其中该数组基板的制作方式是包括数道薄膜沉积、微影及蚀刻等半导体制程，以制作出薄膜晶体管数组，而彩色滤光片基板则是在基板上制作出对应于薄膜晶体管而呈数组排列的彩色滤光片。当数组基板与彩色滤光片基板分别制作完成后，再进行相互贴合及切割裂片。

请参考图1，图1为一习知LCD面板10的示意图，其包含一彩色滤光片基板12以及一数组基板14，其中彩色滤光片基板12较小于数组基板14，因此彩色滤光片基板12会暴露出部分的数组基板14，数组基板14没有被彩色滤光片基板12覆盖的部分通常称为非显示区16。非显示区16内设置有复数个端子部(terminal)，用来将LCD面板10内部如扫瞄线或讯号线的导线电连接于外部的控制电路。请参考图2，图2为习知LCD面板10的一端子部20的部分示意图。一般而言，端子部20包含一开口部22与一引线部24，其中开口部22的主要功能为传递外部控制讯号给LCD面板10的内部导线。因此，在完成LCD面板10的制作后，通常会将如印刷电路板(printing wire board，PWB)的膜材贴附在非显示区16上，利用膜材上的导线图案电连接于开口部22以传递外部讯号。如图3所示，当膜材(图未示)被贴附于非显示区16时，膜材表面的传导图案26应对准覆盖于端子部20的中央部分，使得传导图案26距离开口部22两侧的距离d1、d2皆相等。

然而，在贴附膜材的过程中，难免会因为机台对位等因素而造成贴附位置上的偏差，如图4所示，由于发生了膜材贴附偏差，因此膜材上的传导图案26向右偏移，使得传导图案26与开口部22的左侧距离d1较大于传导图案26与开口部22的右侧距离d2。由上可知，由于现行贴附膜材的技术无法有效避免贴附偏差的问题，所以在生产线上必须针对膜材的贴附偏差进行监控量测。现行检测膜材贴附偏差的方法主要有三种，其一是使用包含电荷耦合装置(charge coupled device，CCD)传感器的量测仪器来进行量测，检测员必须利用CCD传感器来搜寻非显示区16内是否发生膜材贴附偏差的问题，然后再透过CCD传感器本身的刻度尺计算膜材的偏移量。然而此种量测方式的缺点包括必须将LCD面板10特别传送到具有量测仪器的机台上才能进行量测，且检测员必须使用CCD传感器来搜寻量测标的的位置，有可能搜寻不到且耗费时间。再者，量测仪器也必须具有一定的规格要求，例如需内建量测程序与具有量测刻度。此外，此种量测方式亦可能会有精确度的疑虑。

第二种习知量测膜材贴附偏差的方法是检测员直接以量测工具量测端子部20与贴附膜材后传导图案26的贴附偏差值，经由量测传导图案26与开口部22的左侧距离d1与右侧距离d2可得知是否发生膜材贴附偏差、向右或向左偏差了多少距离。然而，此种量测方式的缺点包括量测程序麻烦费时且精确度不足。

另一方面，第三种习知量测膜材贴附偏差的方法是利用偏移量测标记来量测膜材发生多少距离的偏差。首先在数组基板14以曝光成像的方式形成偏移量测标记30，如图5所示，偏移量测标记30包含三个次标记30a、30b、30c，分别为一顶角朝上的三角图案，并在膜材上形成具有反三角图案的偏移量测标记32。当膜材被贴附在端子部20上而没有发生偏差时(如图5左侧端子部20和传导图案26的相对关系)，则膜材上的偏移量测标记32下方的顶角会刚好对正于偏移量测标记30的中心，亦即对准于中间的次标记30b的顶角。请参考图6，图6则显示出当膜材发生贴附偏差时的情形，如图6左侧所示，所贴附的膜材向右偏移了一些距离，此时膜材上的偏移量测标记32刚好对应到次标记30c的顶脚，因此可知道膜材向右偏移了3微米(micrometer，um)。然而，利用此种方式量测膜材偏移量的方法仍有其缺点：由于受限于曝光机台的成像能力，因此无法形成小于3微米的图案，而且三角图案的尖角部分也无法完全的成像，可能会接近圆角图案，影响到量测偏移量的精确性。

因此，如何以简单又有效率的方法判断是否发生膜材贴附偏差与量测膜材的贴附偏差值，仍为LCD面板业界的一重要课题。

发明内容

本发明的主要目的，在于提供一种接垫区的特殊导线图案以及一种利用该导线图案进行监控膜材贴附偏差的方法，以提高量测膜材偏贴偏差的效率与正确性，解决习知量测膜材贴附偏差方法因程序耗时而造成效率较低且无法掌握精确度的问题。

本发明是是这样实现的，一种导线图案，其包含复数个端子部，沿着一第一方向排列且彼此并排于一接垫区内，各该端子部分别包含一开口部与一引线部。各开口部具有至少一开口部侧边，而各引线部是连接相对应的开口部侧边。各引线部与相对应的开口部的相对位置是随该端子部在接垫区内的配置位置而变化。

本发明另揭露一种监控膜材贴附偏差的方法。首先提供一膜材，其表面具有复数个传导图案，接着提供一表面欲贴附该膜材的标的区域，其包含复数个基准标记与复数个位移标记。该等基准标记是沿着一第一方向排列且彼此并排于该标的区域内，且各基准标记分别对应于一传导图案。每一位移标记是分别连接于一基准标记，其中各位移标记与相对应的各该基准标记的相对位置是随该基准标记在标的区域内的配置位置而变化。然后，将膜材贴附于该标的区域上，再观察该等传导图案与位移标记的相对位置以及其对应的基准标记在该标的区域内的位置，以判断该膜材是否有贴附偏差。

附图说明

图1为一习知LCD面板的示意图。

图2为图1所示LCD面板的一端子部的部分示意图。

图3为将膜材贴附于图2所示端子部的示意图。

图4为膜材具有贴附偏差的示意图。

图5至图6为习知使用量测偏移标记的监控膜材贴附偏差方法的示意图。

图7为本发明接垫区的导线图案应用于一LCD面板的示意图。

图8为图7所示LCD面板的一接垫区内的导线图案的放大示意图。

图9为图8所示的部分接垫区的放大示意图。

图10至图11为本发明监控膜材贴附偏差的方法的示意图。

图12为本发明监控膜材贴附偏差的方法的流程示意图。

附图中主要组件符号说明：

10 LCD面板 12 彩色滤光片基板

14 数组基板 16 非显示区

20 端子部 22 开口部

24 引线部 26 传导图案

30、32偏移量测标记 30a、30b、30c次标记

50 LCD面板 52 数组基板

54 彩色滤光片基板 56 非显示区

58 接垫区 60 导线图案

62 端子部 64 开口部

64a 开口部侧边 66 引线部

68 接触洞结构 70 基准线标记

72 膜材 74 传导图案

100～106、202～206本发明监控膜材贴附偏差方法的流程

具体实施方式

请参考图7，图7为本发明接垫区的导线图案应用于一LCD面板50的示意图。LCD面板50包含一数组基板52与一彩色滤光片基板54，数组基板52未被彩色滤光片基板54覆盖的区域是定义为非显示区56，非显示区56上设有复数个接垫区58(图7中仅画出讯号线侧的接垫区)，用来设置端子部，以与外部电路电连接而驱动LCD面板50。

请参考图8，图8为本发明一接垫区58内的导线图案60的放大示意图。导线图案60包含复数个端子部62彼此平行于图中所示的Y方向，且沿着图中所示X方向并排排列。各端子部62分别包含一开口部64与一引线部66。开口部64是可用来传递讯号，电连接于后续贴附至数组基板52表面的膜材的传导图案。引线部66则是在LCD面板50进行磨边导角制程时，提供位置辨识的功能，此外，在磨边导角制程之前，引线部66亦可电连接一静电消除装置，例如一环状短路结构(short ring)，以防止静电破坏。因此，包含开口部64与引线部66的端子部62较佳包含如金属材料的导电材料，且在开口部64之内包含复数个接触洞结构68，用来电连接数组基板52上不同导电材料层。此外，每一开口部64具有相同的宽度S1，每一引线部66亦具有相同的宽度S2，且各开口部64皆包含一开口部侧边64a，而各引线部66是分别与所对应的开口部64连接于其开口部侧边64a，然而，本发明的各引线部66与相对应的开口部64的相对位置是随其端子部62在接垫区58内的配置位置而变化。

为进一步说明端子部62与开口部64的相对位置的变化，以下是以不同代号来表示接垫区58内不同位置的引线部66。若在接垫区58定义出一基准线C平行于Y方向，其中基准线C较佳为接垫区58的中心线，则位于基准线C左侧的端子部62的引线部66由基准线C至外侧依序以代号L1、L2、L3、L4、L5、L6表示，而位于基准线C右侧的端子部62的引线部66由基准线C至外侧依序以代号R1、R2、R3、R4、R5、R6表示。由第8图可知，相对于各开口部64，则由基准线C至接垫区58外侧的引线部R1、R2、R3、R4、R5、R6是依序由基准线C向右侧多偏移一单位长度。同样地，由基准线C至接垫区58外侧的引线部L1、L2、L3、L4、L5、L6是较对应的开口部64依序向左侧多偏移一单位长度，直至开口部64的左侧边缘。

请参考图9，图9为部分接垫区58的放大示意图，其中第9图仅绘出基准线C右侧的端子部62，且省略图8中的接触洞结构68。分别在各开口部64中定义出一开口部中心线C_o平行于图8所示的Y方向(图9中仅绘出引线部R2、R4所对应的开口部64的中心线C_o)，而开口部中心线C_o与开口部侧边64a的交点即为各开口部侧边64a的中点O，另在各引线部66内定义出一引线部中心线C_L平行于图8的Y方向，则各引线部中心线C_L与其对应的开口部侧边64a的中点O皆具有一相对位置差值D，且在基准线C右侧的各引线部66的相对位置差值Dn皆不相同，是由基准线C开始依序向接垫区58的外侧(即右侧)递增，其中「n」表示基准线C右侧的第n条引线部66，亦即引线部R1、R2、R3、R4、R5、R6的相对位置差值为D1、D2、D3、D4、D5、D6，其具有下列关系：D1＜D2＜D3＜D4＜D5＜D6。换句话说，若本实施例以1微米当作一单位长度，则引线部R1是较开口部侧边64a的中点O向右偏移1微米，引线部R2是较开口部侧边64a的中点O向右偏移2微米，引线部R3是较开口部侧边64a的中点O向右偏移3微米，直到引线部R6的右侧侧边到达开口部64的右侧边缘。同样地，在基准线C左侧的各引线部66与开口部64之间亦具有一相对位置差值，由基准线C开始向左侧递增，不再赘述。因此，在接垫区58内的引线部66是以基准线C为对称中心线而左右对称排列。然而，在其它实施例中，各引线部66与开口部64之间的相对位置差值亦可设计为由基准线C开始向外侧递减。因此，在接垫区58之内，基准线C任一侧的任二相邻端子部62皆具有不同的相对位置差值。

请参考图10，图10显示出将具有传导图案的膜材贴附在接垫区58上没有发生贴附偏差时的示意图。如图所示，提供一包含复数个传导图案74的膜材72，将其贴附在图8所示的接垫区58上，其中膜材72可为一印刷电路板，其上设置有利用卷带式承载封装(tape carrierpackage，TCP)的驱动芯片(图未示)，藉由传导图案74可使驱动芯片与端子部62电连接。在贴附好膜材72之后，其表面上的传导图案74会分别对应一端子部62，在没有发生贴附偏差的情况下，各引线部66并不会落在对应的传导图案74的中央而左右平分传导图案74，反而会偏向传导图案74的一侧，例如设置在基准线C右侧的引线部R1会偏向传导图案74的右侧。此外，位于越外侧的引线部66是偏离传导图案74的中央越多的距离。

另一方面，若膜材72具有贴附偏差时，则接垫区58内必会有一引线部66接近或刚好落在传导图案74的中央。请参考图11，图11显示出膜材72发生贴附偏差的情形。如图所示，在贴附完膜材72之后，引线部R2刚好落在其对应的传导图案74的中央而平分传导图案74，不同于图10所示的位置，因此可以判定膜材72具有一贴附偏差。再者，由于是引线部R2落在对应的传导图案74的中央，且引线部R2是相较于开口部64向右偏移了2微米或2个单位长度，因此可以知道所贴附的膜材72向右偏差了2微米。亦即，当检测员发现一引线部Rn或Ln刚好落在传导图案74的中央时，则可以轻易地判断出来膜材72向右或向左偏移了n微米或n个单位长度。再者，为了使检测员能迅速计算出落在传导图案74中央的引线部66是在接垫区58的左侧或右侧的第几根引线部66，亦即找出n值，因此接垫区58内的导线图案60可另包含一基准线标记70，标示出基准线C的位置，因此检测员可从基准线标记70判断出n值，以及该引线部66是在基准线C的右侧或左侧，进而轻易计算出膜材72是向何方向侧偏移了多少单位长度。

由上述可知，本发明除了提供一种接垫区的导线图案的特殊设计，亦提供了一种利用此种导线图案而可有效监控膜材是否发生偏移以及判断出偏移量的方法，其判断的精神是分别以开口部和引线部作为基准标记与位移标记，且位移标记与基准标记的相对位置是随着该基准标记在接垫区内的不同位置而变化，再藉由位移标记与贴附的传导图案的相对位置关系而判断出膜材是否具有贴附偏差的问题。本发明监控膜材贴附偏差的方法步骤是简述如下：

步骤100：提供一表面具有复数个传导图案的膜材；

步骤102：提供一表面欲贴附该膜材的标的区域，亦即前述的接垫区，其中接垫区内包含复数个端子部互相平行并排，各端子部分别包含一当作基准标记的开口部与当作位移标记的引线部，每一基准标记是对应于一位移标记，且各位移标记与相对应的基准标记的相对位置是随基准标记在接垫区内的配置位置而变化；

步骤104：将膜材贴附于标的区域上；以及

步骤106：观察膜材上的传导图案与位移标记的相对位置以及其对应的基准标记在标的区域内的位置，以判断出膜材是否有贴附偏差。

此外，步骤106中所述判断膜材是否发生贴附偏差的方法则包含：

步骤202：观察传导图案与位移标记的相对位置，若任一位移标记(如图11中所示的引线部R2)刚好位于相对应的传导图案的中央而平分该传导图案，则判断该膜材具有一贴附偏差；

步骤204：观察步骤202所述的该位移标记(如图11所示的引线部R2)是位于标的区域的中心线或一基准线的右侧或左侧的第n个位移标记；以及

步骤206：判断该膜材是向右侧或向左侧偏移了n个单位长度。

由上述可知，根据本发明监控膜材是否发生贴附偏差的方法，检测员若需监控膜材是否发生贴附偏差，仅需从光学显微镜(optical microscope，OM)中观察接垫区，进行上述本发明监控膜材贴附偏差的方法步骤，便可轻易地判断出膜材是否发生贴附偏差以及膜材是向左侧或右侧偏差了多少距离。相较于习知技术，本发明不需像习知技术必须使用内建有量测程序与刻度的CCD等量测仪器，并且不会受限于曝光尺寸的大小，亦不需要花费时间搜寻可能发生偏移的量测标的，亦可避免量测精确度不足的问题。根据本发明的精神，检测员仅需利用光学显微镜观察端子部与膜材上传导图案的相对位置，便可方便且快速地判断出贴附的膜材偏差了多少距离。此外，利用本发明精神制作出的接垫区的导线图案不需增加额外的成本，仅需稍微修改原来导线图案中开口部与引线部相对位置的设计，即可当作本发明监控方法中的基准标记与位移标记使用。值得注意的是，本发明的接垫区导线图案设计与监控膜材贴附偏差的方法并不限于LCD面板上的导线图案设计与膜材贴附误差的监控，亦可应用于其它需要监控重叠图案是否发生位移或偏差的情形。

以上所述仅为本发明的较佳实施例，凡依本发明申请专利范围所做的均等变化与修饰，皆应属本发明的涵盖范围。

Claims

1.一种导线图案，其特征在于：其包含复数个端子部，平行于一第一方向且彼此并排于一接垫区内，各该端子部分别包含：

一开口部，其具有至少一开口部侧边；以及

一引线部，其与该开口部侧边相连接；

其中各该引线部与相对应各该开口部的相对位置是随该端子部在该接垫区内的配置位置而变化；

所述的接垫区具有一基准线，平行于该第一方向，而各该引线部具有一中心线平行于该第一方向，且各该引线部的该中心线与其对应的该开口部侧边的中点具有一相对位置差值，在该接垫区内，该基准线的一侧的任二相邻的该端子部的该相对位置差值是不相同；

所述的相对位置差值是由该基准线开始向接垫区外侧递增或递减。

2.根据权利要求1所述的导线图案，其特征在于：所述的基准线是为该接垫区的一中心线。

3.根据权利要求2所述的导线图案，其特征在于：所述的引线部是以该中心线为对称中心线，左右对称排列。

4.根据权利要求1所述的导线图案，其特征在于：其另包含一基准线标记，于该接垫区内标示出该基准线的位置。

5.根据权利要求1所述的导线图案，其特征在于：所述的导线图案是设置于一基板上。

6.根据权利要求5所述的导线图案，其特征在于：所述的基板是为一显示面板的一数组基板。

7.根据权利要求1所述的导线图案，其特征在于：所述的端子部包含金属材料。