JP2003007986A - 素子の転写方法及びこれを用いた素子の配列方法、画像表示装置の製造方法 - Google Patents

素子の転写方法及びこれを用いた素子の配列方法、画像表示装置の製造方法

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 効率的且つ精度良く素子を転写することが可
能な素子の転写方法を提供する。 【解決手段】 熱再剥離層2によって素子3が配列固定
された第一の基板上1に、熱可塑性接着層5を有する第
二の基板4を重ね合わせ、上記素子3と上記熱可塑性接
着層5とが接した状態で上記熱再剥離層2及び熱可塑性
接着層5を加熱冷却することにより、上記熱再剥離層2
から上記素子3を剥離可能とするとともに熱可塑性接着
層5を溶融後硬化し、上記素子3を第二の基板上4に転
写する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体発光素子な
どの素子を転写する素子の転写方法に関するものであ
り、さらには、この転写方法を応用して微細加工された
素子をより広い領域に転写する素子の配列方法および画
像表示装置の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】現在、電子機器等においては、微細な素
子、電子部品、電子デバイス、さらにはそれらをプラス
チックのような絶縁体に埋め込んだ電子部品等を多数配
列することにより構成されたものが広く用いられてい
る。例えば、発光素子をマトリクス状に配列して画像表
示装置に組み上げる場合には、従来、液晶表示装置(L
CD:Liquid Crystal Display)やプラズマディスプレ
イパネル(PDP:PlasmaDisplay Panel)のように基
板上に直接素子を形成するか、あるいは発光ダイオード
ディスプレイ(LEDディスプレイ)のように単体のL
EDパッケージを配列することが行われている。
【0003】ここで、LCD、PDPの如き画像表示装
置においては、素子分離ができないために、製造プロセ
スの当初から各素子はその画像表示装置の画素ピッチだ
け間隔を空けて形成することが通常行われている。
【0004】一方、LEDディスプレイの場合には、L
EDチップをダイシング後に取り出し、個別にワイヤー
ボンドもしくはフリップチップによるバンプ接続により
外部電極に接続し、パッケージ化されることが行われて
いる。この場合、パッケージ化の前もしくは後に画像表
示装置としての画素ピッチに配列されるが、この画素ピ
ッチは素子形成時の素子のピッチとは無関係とされる。
【0005】発光素子であるLED(発光ダイオード)
は高価である為、1枚のウエハから数多くのLEDチッ
プを製造することによりLEDを用いた画像表示装置を
低コストにできる。すなわち、LEDチップの大きさを
従来約300μm角のものを数十μm角のLEDチップ
にして、それを接続して画像表示装置を製造すれば画像
表示装置の価格を下げることができる。
【0006】そこで各素子を集積度高く形成し、各素子
を広い領域に転写などによって離間させながら移動さ
せ、画像表示装置などの比較的大きな表示装置を構成す
る技術が有り、例えば、図18(a)に示すようにベース
基板81上の接着層82に素子83を配置し、図18
(b)に示すように吸着ヘッド84を用いて素子82を取
り出し、他の基板85の接着層86上に置くことにより
転写を行う技術がある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、転写技術に
より画像表示装置を製造する場合、素子が確実に転写さ
れる必要がある。また、効率的な転写、精度の良い転写
も要求される。
【0008】しかしながら、上述のような方法を用いた
場合、転写を行う際には、吸着ヘッドによる素子の取り
出し、移動、基板への載置という複数のプロセスが必要
となるため転写工程が煩雑となり、また、複数種の設備
が必要となるためコストがかかる。また、素子を置く
際、即ち素子を実装する際には1つづつ置いていく作業
が必要になり、極めて煩雑であるばかりか、非常に時間
を要する。一方、素子の実装時間を短縮するために実装
機の作業効率を向上させようとした場合には、素子を実
装する際の配列の精度が低下するという問題が生じる。
また、現行の実装機においては、素子を配列する際の位
置決め精度は10μm程度が限界であり、現在の機構的
な位置決め方法では、これ以上の位置決め精度の向上は
困難である。
【0009】そこで、本発明は、かかる従来の実情に鑑
みて創案されたされたものであり、効率的且つ精度良く
素子を転写することが可能な素子の転写方法を提供する
ことを目的とし、さらには、素子の配列方法、画像表示
装置の製造方法を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】以上の目的を達成するた
めに、本発明に係る素子の転写方法は、熱再剥離層によ
って素子が配列固定された第一の基板上に熱可塑性接着
層を有する第二の基板を重ね合わせ、素子と熱可塑性接
着層とが接した状態で熱再剥離層及び熱可塑性接着層を
加熱冷却することにより熱再剥離層から素子を剥離可能
とするとともに熱可塑性接着層を溶融後硬化し、素子を
第二の基板上に転写することを特徴とするものである。
【0011】以上のような本発明に係る素子の転写方法
では、熱再剥離層によって素子が配列固定された第一の
基板上に熱可塑性接着層を有する第二の基板を重ね合わ
せ、素子と熱可塑性接着層とが接した状態で熱再剥離層
及び熱可塑性接着層を加熱冷却することにより素子の転
写を行う。
【0012】したがって、この素子の転写方法において
は、第一の基板からの素子の剥離と、第二の基板への素
子の接着とが加熱プロセスのみで略同時に行うことが可
能とされる。
【0013】また、以上の目的を達成するために、本発
明に係る素子の配列方法は、第一の基板上に配列された
複数の素子を第二の基板上に再配列する素子の配列方法
において、第一の基板上で素子が配列された状態よりは
離間した状態となるように素子を転写して第一の一時保
持用部材に該素子を保持させる第一転写工程と、第一の
一時保持用部材に保持された素子を樹脂で固める工程
と、樹脂をダイシングして素子毎に分離する工程と、第
一の一時保持用部材に保持され樹脂で固められた素子を
さらに離間して第二の基板上に転写する第二転写工程と
を有し、第二転写工程は、熱再剥離層によって素子が配
列固定された第二の一時保持用部材上に熱可塑性接着層
を有する第二の基板を重ね合わせ、素子と熱可塑性接着
層とが接した状態で熱再剥離層及び熱可塑性接着層を加
熱冷却することにより、熱再剥離層から素子を剥離可能
とするとともに熱可塑性接着層を溶融後硬化し、素子を
第二の基板上に転写することを特徴とするものである。
【0014】以上のような本発明に係る素子の配列方法
においては、上記転写方法を用いることにより素子の転
写が効率的且つ確実に行われるので、素子間の距離を大
きくする拡大転写を円滑に実施することができる。
【0015】さらに、本発明に係る画像表示装置の製造
方法は、発光素子をマトリクス状に配置した画像表示装
置の製造方法において、第一の基板上で発光素子が配列
された状態よりは離間した状態となるように発光素子を
転写して第一の一時保持用部材に該発光素子を保持させ
る第一転写工程と、第一の一時保持用部材に保持された
発光素子を樹脂で固める工程と、樹脂をダイシングして
発光素子毎に分離する工程と、第一の一時保持用部材に
保持され樹脂で固められた発光素子をさらに離間して第
二の基板上に転写する第二転写工程とを有し、第二転写
工程は、熱再剥離層によって発光素子が配列固定された
第二の一時保持用部材上に熱可塑性接着層を有する第二
の基板を重ね合わせ、発光素子と熱可塑性接着層とが接
した状態で熱再剥離層及び熱可塑性接着層を加熱冷却す
ることにより、熱再剥離層から発光素子を剥離可能とす
るとともに熱可塑性接着層を溶融後硬化し、発光素子を
第二の基板上に転写することを特徴とするものである。
【0016】以上のような本発明に係る画像表示装置の
製造方法によれば、上記転写方法、配列方法によって発
光素子がマトリクス状に配置され、画像表示部分が構成
される。したがって、密な状態すなわち集積度を高くし
て微細加工を施して作成された発光素子を、効率よく離
間して再配置することができ、生産性が大幅に改善され
る。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、本発明を適用した素子の転
写方法、配列方法、及び画像表示装置の製造方法につい
て、図面を参照しながら詳細に説明する。
【0018】先ず、基本となる素子の転写方法について
説明する。本発明により素子3を転写するには、図1
(a)に示すように、供給源となるベース基板1上に熱
再剥離層2を形成し、この上に複数の素子3を配列形成
する。
【0019】ここで、上記熱再剥離層2とは、加熱する
ことにより粘着力が低下する性質を有し、この性質によ
り当該熱再剥離層に接着された被着体を再び剥離するこ
とが可能とされている層である。ベース基板1上に熱再
剥離層を形成し、当該熱再剥離層2上に素子3を配列形
成することにより、素子3を簡単に他の基板に転写する
ことが可能となる。
【0020】このような熱再剥離層2は、例えば、熱可
塑性樹脂や、熱剥離材料からなるシート等を好適に用い
ることができる。ここで、熱可塑性樹脂を用いた場合に
は、熱再剥離層2を加熱することにより、熱可塑性樹脂
が可塑化し、これにより熱再剥離層2と素子3との接着
力が低減し、素子3を容易に剥離することができる。ま
た、熱剥離材料を用いた場合には、図2に示すように、
所定の温度において熱剥離材料の粘着力が急激に減少
し、これにより熱再剥離層2から素子3を容易に剥離す
ることができる。ここで、粘着力が急激に減少する温
度、すなわち図2における温度Tは材料によって異な
り、例えば80℃〜170℃のものを用いることができ
る。
【0021】熱剥離材料とは、加熱することによる発泡
ないし膨張処理でその粘着力を低減でき、被着体を簡単
に剥離することが可能なものを意味する。すなわち、こ
れらの熱剥離材料は、加熱することにより当該材料中に
含有された発泡剤や膨張剤が発泡、若しくは膨張し、粘
着面積を減少させて接着力を失わせるものである。具体
的には、例えば、特公昭50−13878号公報、特公
昭51−24534号公昭、特開昭56−61468号
公報、特開昭56−61469号公報、特開昭60−2
52681号公報等に記載されるような、基材上に発泡
を含有した粘着層を設けた加熱剥離型粘着シートや、特
開2000−248240号公報に記載されるような、
熱膨張性微小球を含有して、加熱により膨張する熱膨張
性層の少なくとも片面に非熱膨張性の粘着層を有する加
熱剥離型粘着シートや、特開2000−169808号
公報に記載されるような、基材の少なくとも一方の面に
熱膨張性微小球を含む熱膨張性層と粘着物質を含む粘着
層が設けられた熱剥離型粘着シートであり、基材が耐熱
性及び伸縮性を有する熱剥離型粘着シート等を好適に用
いることができる。
【0022】ここで、上記の加熱剥離型粘着シートにお
いて、熱膨張性層は,熱膨張性微小球を含有して加熱に
より膨張し、その膨張による凹凸変形を介して表面の粘
着層も凹凸変形させて被着体に対する接着力を低減させ
るものである。したがって、被着体に接着した加熱剥離
型粘着シートを任意な時にその熱膨張性層を加熱処理し
て、被着体により簡単に剥離することが可能とされるも
のである。
【0023】熱膨張性層は、例えば熱膨張整備小球と結
合剤の混合層などとして形成できる。この結合材として
は、熱膨張性微小球の加熱による発泡及び/又は膨張を
許容するポリマー類やワックス類などを用いることがで
きる。そして、結合剤としては、熱膨張性微小球の加熱
膨張性や被着体に対する粘着層を介した接着力等の粘着
特性の制御性などの点より粘着剤を特に好ましく用いる
ことができる。このような粘着剤は、特に限定されるも
のではなく、例えばゴム系やアクリル系、ビニルアルキ
ルエーテル系やシリコーン系、ポリエステル系やポリア
ミド系、ウレタン系やフッ素系、スチレン−ジエンブロ
ック共重合体系等のポリマーを用いたものや、融点が約
200℃以下等の熱溶融性樹脂を配合してクリープ特性
を改良したもの、紫外線硬化型のものやそれらに必要に
応じて例えば架橋剤や粘着付与剤、可塑剤や軟化剤、充
填剤や顔料、着色剤や老化防止剤、界面活性剤等の各種
の添加剤を配合したものなどを適宜用いることができ
る。
【0024】また、熱膨張性層に配合する熱膨張性微小
球としては、例えばイソブタンやプロパン、ペンタンの
ように容易にガス化して熱膨張性を示す適当な物質をコ
アセルベーション法や界面重合法等の適当な方法で殻形
成物質、例えば塩化ビニリデン−アクリロニトリル共重
合体やポリビニルアルコール、ポリビニルブチラールや
ポリメチルメタクリレート、ポリアクリロニトリルやポ
リ塩化ビニリデン、ポリスルホンのような熱溶融性物質
や熱膨張で破壊する物質などからなる殻の内部に内包さ
せたマイクロカプセルなどを用いることができる。ここ
で、熱膨張性微小球の平均粒径や、含有量は、熱膨張性層
の膨張倍率や接着力の低減性などにより適宜設定されれ
ば良い。
【0025】また、上記の熱剥離型粘着シートにおい
て、基材は、熱膨張性粘着層等の支持体となるものであ
り、伸縮機能と、熱膨張性粘着層の加熱処理により機械的
物性を損なわない程度の耐熱性とを有する材料により構
成されている。このような材料としては、例えば、熱安
定剤含有軟質塩化ビニルフィルム若しくはシート、伸縮
性ポリエステルフィルム若しくはシート、軟質ポリオレ
フィンフィルム若しくはシート、ゴム系ポリマーシー
ト、又はこれらの多層フィルム若しくはシートなどが挙
げられる。
【0026】ここで、基材を構成するフィルム若しくは
シートの引っ張り破断時の伸び率[JIS K7113
(シート)又はJIS K7127(フィルム)に準拠]
は、通常100%程度以上、好ましくは、250%以上
である。また、上記破断伸び率の上限は、特に限定され
ない。また、基材の厚みは、作業性を損なわない範囲で
適宜選択可能である。
【0027】また、熱膨張性粘着層は、粘着性を付与す
るための粘着物質、及び熱膨張性を付与するための熱膨
張性微小球を含んでいる。ここで、粘着物質としては、
慣用の粘着剤又は接着剤を使用することができ、一般的
には熱賦活性粘着剤、水又は有機溶剤賦活性粘着剤、感
圧粘着剤などが用いられる。
【0028】また、粘着層には、粘着性物質のほかに、
例えばイソシアネート系架橋剤やエポキシ系架橋剤など
の架橋剤、例えばロジン誘導体樹脂、ポリテルペン樹
脂、石油樹脂、油溶性フェノール樹脂などの粘着付与
剤、可塑剤、充填剤、老化防止剤などの添加剤を適宜配
合しても良い。
【0029】また、熱膨張性粘着層に配合する熱膨張性
微小球としては、例えばイソブタンやプロパン、ペンタ
ンのように加熱により容易にガス化して熱膨張性を示す
適当な物質を、弾性を有する殻内に内包させた微小球で
あれば良い。上記殻は、通常、熱可塑性物質、熱溶融性
物質、熱膨張で破壊する物質などで形成される。このよ
うな物質としては、例えば塩化ビニリデン−アクリロニ
トリル共重合体やポリビニルアルコール、ポリビニルブ
チラールやポリメチルメタクリレート、ポリアクリロニ
トリルやポリ塩化ビニリデン、ポリスルホン等が挙げら
れる。そして、熱膨張性微小球は、慣用の方法例えばコ
アセルベーション法や界面重合法等の適当な方法で製造
することができる。
【0030】ここで、熱膨張性微小球の平均粒径は、分
散性や薄層形成性などの点から、例えば1〜50μm程
度が好ましい。また、熱膨張性微小球は、加熱処理によ
り粘着物質を含む粘着層の粘着力を効率よく低下させる
ため、体積膨張率が5倍以上、特に10倍以上となるま
で破裂しない適度な強度を有するものが好ましい。
【0031】また、熱膨張性微小球の使用量は、その種
類によって異なるが、熱膨張性粘着層を形成するベース
ポリマー100重量部に対して例えば10〜200重量
部、好ましくは25〜125重量部である。
【0032】熱再剥離層2は、ベース基板1の素子3を
配列する側の主面の全面に形成しても良く、また、素子
に対応した位置に選択的に形成しても良い。ただし、熱
再剥離層2を塗布形成する場合には、全面に均一に形成
する方が、プロセスを簡略化することができ、好まし
い。
【0033】ベース基板1は、素子3との組み合わせ等
を考慮して任意の材料のものを用いることができるが、
本発明の構成上、後述する加熱プロセスにおいても十分
な耐熱性を示し、また、低膨張特性を有する材料からな
るものを用いる。
【0034】素子3としては、任意の素子に適用するこ
とができ、例示するならば、発光素子、液晶制御素子、
光電変換素子、圧電素子、薄膜トランジスタ素子、薄膜
ダイオード素子、抵抗素子、スイッチング素子、微小磁
気素子、微小光学素子などを挙げることができる。
【0035】ここで、熱再剥離層2の粘着力は、完全に
なくす必要はなく、所定の加熱温度において熱再剥離層
2と素子3との粘着力が、後述する熱可塑性接着層5と
素子3との粘着力よりも小とされれば良い。すなわち、
熱再剥離層2と素子3との粘着力を、熱可塑性接着層5
と素子3との粘着力よりも小とすることにより、後述す
るように転写基板4をベース基板1から剥がし取ったと
きに、素子3をベース基板1から転写基板4に転写する
ことができる。
【0036】ただし、より確実に素子3の転写を行うた
めには、所定の温度における熱再剥離層2と素子3との
粘着力を、熱可塑性接着層5と素子3との粘着力よりも
はるかに小となるように熱再剥離層2と熱可塑性接着層
5との組み合わせを設定することが好ましい。
【0037】また、図1の(a)に示すように、転写基板
4における素子3の転写面となる側の主面には熱可塑性
接着層5を形成し、ベース基板1と転写基板4とが所望
の位置関係となるように、素子3と熱可塑性接着層5と
を対向させて配置する。
【0038】ここで、転写基板4は、素子3との組み合
わせや用途等を考慮して任意の材料のものを用いること
ができるが、本発明の構成上、後述する加熱プロセスに
おいても十分な耐熱性を示し、また、低膨張特性を有す
る材料からなるものを用いる。
【0039】また、熱可塑性接着層5としては、加熱す
ることにより粘着力が発生し、素子3を転写基板4に接
着することが可能な材料を用いる。このような材料とし
ては、例えば熱可塑性樹脂やはんだを好適に用いること
ができる。そして、熱可塑性接着層5は、転写基板4の
転写面全面に形成しても良く、また、素子に対応した位
置に部分的に形成しても良い。
【0040】転写に際しては、図1の(b)に示すよう
に、ベース基板1と転写基板4とを所定の位置関係で圧
着させた状態で、例えばオーブン等の熱源により全面に
熱Hを与えて熱再剥離層2を加熱することにより、熱再
剥離層2の素子3との粘着力を低減させる。これによ
り、素子3を熱再剥離層2から剥離することが可能とな
る。また、熱可塑性接着層5を加熱することにより、熱
可塑性接着層5を軟化させ、その後、冷却固化すること
によって素子3を熱可塑性接着層5に固定する。すなわ
ち、熱可塑性接着層5は軟化することにより素子3に対
して接着力を発揮する。そして、熱可塑性接着層5が軟
化した時点で加熱を止め、熱可塑性接着層5を冷却硬化
することにより、素子3は、熱可塑性接着層5によって
転写基板4に固定される。そして、転写基板4をベース
基板1から剥がし取り、熱可塑性接着層5を常温まで冷
却することにより素子3は確実に転写基板4に固着さ
れ、転写が完了する。
【0041】図1の(c)は、転写基板4をベース基板1
から剥がし取った状態を示すもので、熱可塑性接着層5
上に素子3が転写されている。
【0042】以上により、素子3をベース基板1から転
写基板4へ転写することができる。
【0043】以上のような本発明を適用した素子の転写
方法においては、加熱プロセスのみでベース基板1から
の素子3の剥離と、転写基板4への素子3の接着が可能
であるため、例えば吸着ヘッドや、紫外線反応型の材料
を用いた場合に必要となる紫外線照射装置等の部材が不
要であり、非常に簡素な構成により素子3の転写を行う
ことができる。そして、転写プロセスが簡便であること
から、素子の位置決めが容易に且つ確実に行うことがで
きるため、転写素子の位置ずれ等が生じることがなく、
精度良く素子の転写を行うことができる。また、例えば
転写対象となる素子のうち、基準となる素子3を決め、
この素子のみを所定の位置に位置決めすることにより他
の転写素子も一括して所定の位置に位置決めされるた
め、素子毎に実装位置のずれが生じることがなく、精度
良く素子の転写を行うことができる。
【0044】また、この素子の転写方法では、ベース基
板1からの素子3の剥離と、転写基板4への素子3の接
着がほぼ同時になされるため、短時間で素子3の転写を
実現することができ、実装時間の大幅な短縮が可能であ
る。
【0045】また、この素子の転写方法では、転写基板
4側の素子3の固着に熱可塑性接着層5を用いているた
め、例えば、素子3の転写位置を修正したい場合や、何
らかの原因で素子3が剥離してしまった場合等において
は、熱可塑性接着層5を再加熱することにより素子3を
剥離することが可能である。
【0046】そして、熱可塑性接着層5として、はんだ
を用いることにより、熱可塑性接着層5が配線としての
機能も兼ねることが可能であり、配線の形成工程を省略
することができるため、電子部品等の製造工程を簡略化
することができ、また、電子部品等の構成を簡素化する
ことができ、電子部品の低コスト化を図ることが可能で
ある。
【0047】また、この素子の転写方法では、ベース基
板1側の素子3の固定に熱再剥離層を用いている。 仮
に、例えばベース基板1側の素子3の固定に紫外線硬化
性樹脂を用いた場合には、加熱することにより紫外線硬
化性樹脂が硬化してしまい素子3と接着してしまうため
転写基板に転写することができない。また、この場合に
は、紫外線を照射するプロセスと熱可塑性接着層5を過
熱するプロセスとが必要となり、作業が煩雑となってし
まう。したがって、この転写方法では、ベース基板1側
の素子3の固定に熱再剥離層を用いることにより、簡便
に、且つ確実に素子3の転写が可能となるという利点を
有する。
【0048】上記の例では、熱再剥離層2及び熱可塑性
接着層5の加熱は、オーブン等の熱源により全面加熱を
行う場合について説明したが、図3に示すように、レー
ザ光Lをベース基板1及び転写基板6の裏面側から照射
し、レーザ光Lで熱再剥離層2及び熱可塑性接着層5を
加熱することも可能である。すなわち、レーザ光Lを照
射することにより熱再剥離層2が加熱され、熱再剥離層
2の素子3との粘着力が低減する。これにより、素子3
を熱再剥離層2から剥離することが可能となる。また、
レーザ光Lを照射することにより熱可塑性接着層5が加
熱され、これを軟化させる。そして、熱可塑性接着層5
は、軟化することにより素子3に対して接着力を発揮す
る。したがって、熱可塑性接着層5が軟化した時点でレ
ーザ光Lの照射を止め、熱可塑性接着層5を冷却硬化す
れば、素子3は、熱可塑性接着層5によって転写基板4
に固定される。これにより素子3のベース基板1から転
写基板4への転写が可能となる。この場合、ベース基板
1及び転写基板6は、素子3の転写時にレーザ光を裏面
側から照射する必要があるので、光透過性を有すること
が好ましい。
【0049】また、上記においては、レーザ光Lをベー
ス基板1及び転写基板6の裏面側全面に照射した例を示
したが、レーザ光は、図4に示すように素子3に選択的
に照射しても良い。すなわち、熱再剥離層2及び熱可塑
性接着層5は、素子3に対応する位置のみが加熱されれ
ば良く、素子3を加熱することにより間接的に熱再剥離
層2及び熱可塑性接着層5を加熱しても良い。転写対象
となる素子3にレーザ光Lを照射して素子3を加熱する
と、その熱が熱再剥離層2に伝わって熱再剥離層2が加
熱され、熱再剥離層2の素子3との粘着力が低減する。
これにより、素子3を熱再剥離層2から剥離することが
可能となる。また、素子3の熱が熱可塑性接着層5に伝
わってこれを軟化させる。すなわち、熱可塑性接着層5
を軟化させることにより、熱可塑性接着層5は、素子3
に対して接着力を発揮する。したがって、熱可塑性接着
層5が軟化した時点でレーザ光Lの照射を止め、熱可塑
性接着層5を冷却硬化すれば、素子3は、熱可塑性接着
層5によって転写基板4に固定される。これにより素子
3のベース基板1から転写基板4への転写が可能とな
る。この場合においても、上記と同様の効果を得ること
ができる。そして、レーザ光は、ベース基板1若しくは
転写基板6のいずれか一方の裏面から素子3に照射すれ
ば良い。
【0050】この場合、図4に示すようにレーザ光をこ
の転写基板6の裏面側から素子3にのみ選択的に照射す
るため、素子3を固着する位置以外の熱可塑性接着層5
が軟化して流動することが無いため、より精度良く、素
子3の転写を行うことができる。そして、このようにレ
ーザ光を用いることにより、熱再剥離層2及び熱可塑性
接着層5のごく狭い部分を短時間で加熱することができ
るため、素子3の実装時間を短縮することが可能とな
り、また、加熱する部分が少ないため、ベース基板1の
熱収縮特性の影響を受けることがなく、精度良く素子の
位置決めをすることが可能となる。
【0051】また、レーザ光により素子3を選択的に加
熱することにより、ベース基板1上に配列形成された素
子3のうち所望の素子のみを選択して転写すること、す
なわち、選択的な素子の転写が可能となり、素子の実装
を効率的に行うことができる。
【0052】また、レーザ光により素子3を選択的に加
熱することにより、異なる種類の素子を同一基板上に簡
便に転写することができる。その一例として、以下で
は、予め素子が実装された基板に対して、異なる種類の
素子を転写する場合について説明する。
【0053】図5の(a)において、転写基板4上には熱
可塑性樹脂からなる熱可塑性接着層5が形成され、当該
熱可塑性接着層5上に素子3が所定の間隔をおいて実装
されている。また、ベース基板1上には熱再剥離層2が
形成され、当該熱再剥離層2上に素子3とは異なる種類
の素子である他の素子7が所定の間隔をおいて配列され
ている。そして、他の素子7の高さは、素子3の高さよ
りも高いものとされている。
【0054】転写に際しては、図5の(b)に示すよう
に、ベース基板1と転写基板4とを所定の位置関係で圧
着させた状態で転写基板4の裏面側からレーザ光Lを他
の素子7にのみ選択的に照射することにより、他の素子
7を加熱する。これにより、他の素子7の熱が熱再剥離
層2に伝わって、剥離層2の他の素子7に対応した位置
が加熱され、熱再剥離層2の他の素子7との粘着力が低
減する。これにより、他の素子7を熱再剥離層2から剥
離することが可能となる。また、他の素子7の熱が熱可
塑性接着層5に伝わって、熱可塑性接着層5の他の素子
7に対応した位置を軟化させる。そして、熱可塑性接着
層5は、他の素子7に対応した位置において、他の素子
7に対して接着力を発揮する。また、この場合、熱再剥
離層2における加熱部分が少ないため、ベース基板1の
熱収縮特性の影響を受けることがなく、精度良く素子の
位置決めをすることが可能となる。そして、熱可塑性接
着層5が軟化した時点でレーザ光Lの照射を止め、熱可
塑性接着層5を冷却硬化することにより、他の素子7
は、熱可塑性接着層5によって転写基板4に固定され
る。これにより他の素子7のベース基板1から転写基板
4への転写が可能となる。そして、転写基板4をベース
基板1から剥がし取り、熱可塑性接着層5を常温まで冷
却することにより素子3は確実に転写基板4に固着さ
れ、転写が完了する。
【0055】図5の(c)は、転写基板4をベース基板1
から剥がし取った状態を示すもので、熱可塑性接着層5
上の素子3の間に他の素子7が転写されている。
【0056】ここで、転写基板4に予め実装されている
素子3にはレーザ光Lが照射されず、加熱されないた
め、熱可塑性接着層5の素子3に対応した位置が軟化す
ることは無い。そして、他の素子7は、隣接して既に接
着された素子3を固着している熱可塑性接着層5にまで
熱を伝えることが無いため、これら隣接して接着された
素子3の固着状態に影響が及ぶことは無い。その結果、
他の素子7を転写基板4に転写する際に、素子3を固着
している熱可塑性接着層5が軟化して素子3が剥離した
り、位置ずれを起こしたりすることを防止することがで
きる。すなわち、予め転写基板4に実装された素子3を
位置ずれさせることなく、異なる種類の素子である他の
素子7を精度良く、予め素子3が実装された転写基板4
に転写することが可能となる。
【0057】したがって、上述した方法を用いることに
より、素子の高さが異なる複数種の素子を効率的に、精
度良く1つの基板上に転写することが可能となる。ただ
し、この場合、上述した例のように、後から転写する素
子の高さを、転写基板に予め実装された素子の高さより
も高くすることが必要である。
【0058】また、上記においては素子3を例に説明し
たが、本発明に係る素子の転写方法における素子には、
素子をプラスチック等の絶縁体に埋め込んでチップ化し
た電子部品等も含まれ、これらについても上記と同様の
効果を得ることが可能である。
【0059】上記の転写方法は、例えばアクティブマト
リクス方式の画像表示装置における素子転写などに応用
すると、極めて有用である。
【0060】アクティブマトリクス方式の画像表示装置
では、駆動素子であるSiトランジスタに隣接して、
R,G,Bの発光素子を配置する必要がある。これら
R,G,Bの発光素子は、順次Siトランジスタの近い
位置に転写する必要があるが、Siトランジスタは極め
て熱伝導が良く、熱が加わると内部回路の破損につなが
る。ここで、上記転写方法においてレーザ光を利用する
ことにより、Siトランジスタに熱が伝わるのを回避す
ることができ、上記不都合を解消することができる。
【0061】次に、上記転写方法の応用例として、二段
階拡大転写法による素子の配列方法及び画像表示装置の
製造方法について説明する。
【0062】本例の素子の配列方法および画像表示装置
の製造方法は、高集積度をもって第一基板上に作成され
た素子を第一基板上で素子が配列された状態よりは離間
した状態となるように一時保持用部材に転写し、次いで
一時保持用部材に保持された前記素子をさらに離間して
第二基板上に転写する二段階の拡大転写を行う。なお、
本例では転写を2段階としているが、素子を離間して配
置する拡大度に応じて転写を三段階やそれ以上の多段階
とすることもできる。
【0063】図6はそれぞれ二段階拡大転写法の基本的
な工程を示す図である。まず、図6の(a)に示す第一基
板10上に、例えば発光素子のような素子12を密に形
成する。素子を密に形成することで、各基板当たりに生
成される素子の数を多くすることができ、製品コストを
下げることができる。第一基板10は例えば半導体ウエ
ハ、ガラス基板、石英ガラス基板、サファイヤ基板、プ
ラスチック基板などの種々素子形成可能な基板である
が、各素子12は第一基板10上に直接形成したもので
あっても良く、他の基板上で形成されたものを配列した
ものであっても良い。
【0064】次に図6の(b)に示すように、第一基板1
0から各素子12が図中破線で示す第一の一時保持用部
材11に転写され、この第一の一時保持用部材11の上
に各素子12が保持される。ここで隣接する素子12は
離間され、図示のようにマトリクス状に配される。すな
わち素子12はx方向にもそれぞれ素子の間を広げるよ
うに転写されるが、x方向に垂直なy方向にもそれぞれ
素子の間を広げるように転写される。このとき離間され
る距離は、特に限定されず、一例として後続の工程での
樹脂部形成や電極パッドの形成を考慮した距離とするこ
とができる。第一の一時保持用部材11上に第一基板1
0から転写した際に第一基板10上の全部の素子が離間
されて転写されるようにすることができる。この場合に
は、第一の一時保持用部材11のサイズはマトリクス状
に配された素子12の数(x方向、y方向にそれぞれ)
に離間した距離を乗じたサイズ以上であれば良い。ま
た、第一の一時保持用部材11上に第一基板10上の一
部の素子が離間されて転写されるようにすることも可能
である。
【0065】このような第一転写工程の後、図6の(c)
に示すように、第一の一時保持用部材11上に存在する
素子12は離間されていることから、素子12毎に素子
周りの樹脂の被覆と電極パッドの形成が行われる。素子
周りの樹脂の被覆は電極パッドを形成し易くし、次の第
二転写工程での取り扱いを容易にするなどのために形成
される。電極パッドの形成は、後述するように、最終的
な配線が続く第二転写工程の後に行われるため、その際
に配線不良が生じないように比較的大き目のサイズに形
成されるものである。なお、図6の(c)には電極パッド
は図示していない。各素子12の周りを樹脂13が覆う
ことで樹脂形成チップ14が形成される。素子12は平
面上、樹脂形成チップ14の略中央に位置するが、一方
の辺や角側に偏った位置に存在するものであっても良
い。
【0066】次に、図6の(d)に示すように、第二転写
工程が行われる。この第二転写工程では第一の一時保持
用部材11上でマトリクス状に配される素子12が樹脂
形成チップ14ごと更に離間するように第二基板15上
に転写される。
【0067】この第二転写工程に上記図1に示す転写方
法を応用するが、これについては後ほど詳述する。
【0068】第二転写工程においても、隣接する素子1
2は樹脂形成チップ14ごと離間され、図示のようにマ
トリクス状に配される。すなわち素子12はx方向にも
それぞれ素子の間を広げるように転写されるが、x方向
に垂直なy方向にもそれぞれ素子の間を広げるように転
写される。第二転写工程によって配置された素子の位置
が画像表示装置などの最終製品の画素に対応する位置で
あるとすると、当初の素子12間のピッチの略整数倍が
第二転写工程によって配置された素子12のピッチとな
る。ここで第一基板10から第一の一時保持用部材11
での離間したピッチの拡大率をnとし、第一の一時保持
用部材11から第二基板15での離間したピッチの拡大
率をmとすると、略整数倍の値EはE=nxmであらわ
される。
【0069】第二基板15上に樹脂形成チップ14ごと
離間された各素子12には、配線が施される。この時、
先に形成した電極パッド等を利用して接続不良を極力抑
えながらの配線がなされる。この配線は例えば素子12
が発光ダイオードなどの発光素子の場合には、p電極、
n電極への配線を含み、液晶制御素子の場合は、選択信
号線、電圧線や、配向電極膜などの配線等を含む。
【0070】図6に示した二段階拡大転写法において
は、第一転写後の離間したスペースを利用して電極パッ
ドや樹脂固めなどを行うことができ、そして第二転写後
に配線が施されるが、先に形成した電極パッド等を利用
して接続不良を極力抑えながらの配線がなされる。した
がって、画像表示装置の歩留まりを向上させることがで
きる。また、本例の二段階拡大転写法においては、素子
間の距離を離間する工程が2工程であり、このような素
子間の距離を離間する複数工程の拡大転写を行うこと
で、実際は転写回数が減ることになる。すなわち、例え
ば、ここで第一基板10から第一の一時保持用部材11
での離間したピッチの拡大率を2(n=2)とし、第一
の一時保持用部材11から第二基板15での離間したピ
ッチの拡大率を2(m=2)とすると、仮に一度の転写
で拡大した範囲に転写しようとしたときでは、最終拡大
率が2×2の4倍で、その二乗の16回の転写すなわち
第一基板のアライメントを16回行う必要が生ずるが、
本例の二段階拡大転写法では、アライメントの回数は第
一転写工程での拡大率2の二乗の4回と第二転写工程で
の拡大率2の二乗の4回を単純に加えただけの計8回で
済むことになる。即ち、同じ転写倍率を意図する場合に
おいては、(n+m)=n+2nm+mであるこ
とから、必ず2nm回だけ転写回数を減らすことができ
ることになる。したがって、製造工程も回数分だけ時間
や経費の節約となり、特に拡大率の大きい場合に有益と
なる。
【0071】なお、図6に示した二段階拡大転写法にお
いては、素子12を例えば発光素子としているが、これ
に限定されず、他の素子例えば液晶制御素子、光電変換
素子、圧電素子、薄膜トランジスタ素子、薄膜ダイオー
ド素子、抵抗素子、スイッチング素子、微小磁気素子、
微小光学素子から選ばれた素子若しくはその部分、これ
らの組み合わせなどであっても良い。
【0072】上記第二転写工程においては、樹脂形成チ
ップとして取り扱われ、一時保持用部材上から第二基板
に転写されるが、この樹脂形成チップについて図7及び
図8を参照して説明する。
【0073】樹脂形成チップ20は、離間して配置され
ている素子21の周りを樹脂22で固めたものであり、
このような樹脂形成チップ20は、一時保持用部材から
第二基板に素子21を転写する場合に使用できるもので
ある。
【0074】樹脂形成チップ20は略平板上でその主た
る面が略正方形状とされる。この樹脂形成チップ20の
形状は樹脂22を固めて形成された形状であり、具体的
には未硬化の樹脂を各素子21を含むように全面に塗布
し、これを硬化した後で縁の部分をダイシング等で切断
することで得られる形状である。
【0075】略平板状の樹脂22の表面側と裏面側には
それぞれ電極パッド23,24が形成される。これら電
極パッド23,24の形成は全面に電極パッド23,2
4の材料となる金属層や多結晶シリコン層などの導電層
を形成し、フォトリソグラフィー技術により所要の電極
形状にパターンニングすることで形成される。これら電
極パッド23,24は発光素子である素子21のp電極
とn電極にそれぞれ接続するように形成されており、必
要な場合には樹脂22にビアホールなどが形成される。
【0076】ここで電極パッド23,24は樹脂形成チ
ップ20の表面側と裏面側にそれぞれ形成されている
が、一方の面に両方の電極パッドを形成することも可能
であり、例えば薄膜トランジスタの場合ではソース、ゲ
ート、ドレインの3つの電極があるため、電極パッドを
3つ或いはそれ以上形成しても良い。電極パッド23,
24の位置が平板上ずれているのは、最終的な配線形成
時に上側からコンタクトをとっても重ならないようにす
るためである。電極パッド23,24の形状も正方形に
限定されず他の形状としても良い。
【0077】このような樹脂形成チップ20を構成する
ことで、素子21の周りが樹脂22で被覆され平坦化に
よって精度良く電極パッド23,24を形成できるとと
もに素子21に比べて広い領域に電極パッド23,24
を延在できる。後述するように、最終的な配線が、第二
転写工程の後に行われるため、比較的大き目のサイズの
電極パッド23,24を利用した配線を行うことで、配
線不良が未然に防止される。
【0078】次に、図9に本例の二段階拡大転写法で使
用される素子の一例としての発光素子の構造を示す。図
9の(a)が素子断面図であり、図9の(b)が平面図
である。この発光素子はGaN系の発光ダイオードであ
り、たとえばサファイヤ基板上に結晶成長される素子で
ある。このようなGaN系の発光ダイオードでは、基板
を透過するレーザ照射によってレーザアブレーションが
生じ、GaNの窒素が気化する現象にともなってサファ
イヤ基板とGaN系の成長層の間の界面で膜剥がれが生
じ、素子分離を容易なものにできる特徴を有している。
【0079】まず、その構造については、GaN系半導
体層からなる下地成長層31上に選択成長された六角錐
形状のGaN層32が形成されている。なお、下地成長
層31上には図示しない絶縁膜が存在し、六角錐形状の
GaN層32はその絶縁膜を開口した部分にMOCVD
法などによって形成される。このGaN層32は、成長
時に使用されるサファイヤ基板の主面をC面とした場合
にS面(1−101面)で覆われたピラミッド型の成長
層であり、シリコンをドープさせた領域である。このG
aN層32の傾斜したS面の部分はダブルへテロ構造の
クラッドとして機能する。GaN層32の傾斜したS面
を覆うように活性層であるInGaN層33が形成され
ており、その外側にマグネシウムドープのGaN層34
が形成される。このマグネシウムドープのGaN層34
もクラッドとして機能する。
【0080】このような発光ダイオードには、p電極3
5とn電極36が形成されている。p電極35はマグネ
シウムドープのGaN層34上に形成されるNi/Pt
/AuまたはNi(Pd)/Pt/Auなどの金属材料
を蒸着して形成される。n電極36は前述の図示しない
絶縁膜を開口した部分でTi/Al/Pt/Auなどの
金属材料を蒸着して形成される。なお、図11に示すよ
うに下地成長層31の裏面側からn電極取り出しを行う
場合は、n電極36の形成は下地成長層31の表面側に
は不要となる。
【0081】このような構造のGaN系の発光ダイオー
ドは、青色発光も可能な素子であって、特にレーザアブ
レーションよって比較的簡単にサファイヤ基板から剥離
することができ、レーザビームを選択的に照射すること
で選択的な剥離が実現される。なお、GaN系の発光ダ
イオードとしては、平板上や帯状に活性層が形成される
構造であっても良く、上端部にC面が形成された角錐構
造のものであっても良い。また、他の窒化物系発光素子
や化合物半導体素子などであっても良い。
【0082】次に、図10から図17までを参照しなが
ら、図6に示す発光素子の配列方法の具体的手法につい
て説明する。発光素子は図9に示したGaN系の発光ダ
イオードを用いている。
【0083】先ず、図10に示すように、第一基板41
の主面上には複数の発光ダイオード42がマトリクス状
に形成されている。発光ダイオード42の大きさは約2
0μm程度とすることができる。第一基板41の構成材
料としてはサファイヤ基板などのように光ダイオード4
2に照射するレーザの波長の透過率の高い材料が用いら
れる。発光ダイオード42にはp電極などまでは形成さ
れているが最終的な配線は未だなされておらず、素子間
分離の溝42gが形成されていて、個々の発光ダイオー
ド42は分離できる状態にある。この溝42gの形成は
例えば反応性イオンエッチングで行う。このような第一
基板41を第一の一時保持用部材43に対峙させて図1
1に示すように選択的な転写を行う。
【0084】第一の一時保持用部材43の第一基板41
に対峙する面には剥離層44と接着剤層45が2層にな
って形成されている。ここで第一の一時保持用部材43
の例としては、ガラス基板、石英ガラス基板、プラスチ
ック基板などを用いることができ、第一の一時保持用部
材43上の剥離層44の例としては、フッ素コート、シ
リコーン樹脂、水溶性接着剤(例えばポリビニルアルコ
ール:PVA)、ポリイミドなどを用いることができ
る。また第一の一時保持用部材43の接着剤層45とし
ては紫外線(UV)硬化型接着剤、熱硬化性接着剤、熱
可塑性接着剤のいずれかからなる層を用いることができ
る。一例としては、第一の一時保持用部材43として石
英ガラス基板を用い、剥離層44としてポリイミド膜4
μmを形成後、接着剤層45としてのUV硬化型接着剤
を約20μm厚で塗布する。
【0085】第一の一時保持用部材43の接着剤層45
は、硬化した領域45sと未硬化領域45yが混在する
ように調整され、未硬化領域45yに選択転写にかかる
発光ダイオード42が位置するように位置合わせされ
る。硬化した領域45sと未硬化領域45yが混在する
ような調整は、例えばUV硬化型接着剤を露光機にて選
択的に200μmピッチでUV露光し、発光ダイオード
42を転写するところは未硬化でそれ以外は硬化させて
ある状態にすれば良い。このようなアライメントの後、
転写対象位置の発光ダイオード42に対しレーザを第一
基板41の裏面から照射し、当該発光ダイオード42を
第一基板41からレーザアブレーションを利用して剥離
する。GaN系の発光ダイオード42はサファイヤとの
界面で金属のGaと窒素に分解することから、比較的簡
単に剥離できる。照射するレーザとしてはエキシマレー
ザ、高調波YAGレーザなどが用いられる。
【0086】このレーザアブレーションを利用した剥離
によって、選択照射にかかる発光ダイオード42はGa
N層と第一基板41の界面で分離し、反対側の接着剤層
45にp電極部分を突き刺すようにして転写される。他
のレーザが照射されない領域の発光ダイオード42につ
いては、対応する接着剤層45の部分が硬化した領域s
であり、レーザも照射されていないために 第一の一時
保持用部材43側に転写されることはない。なお、図1
0では1つの発光ダイオード42だけが選択的にレーザ
照射されているが、nピッチ分だけ離間した領域におい
ても同様に発光ダイオード42はレーザ照射されている
ものとする。このような選択的な転写によっては発光ダ
イオード42第一基板41上に配列されている時よりも
離間して第一の一時保持用部材43上に配列される。
【0087】発光ダイオード42は第一の一時保持用部
材43の接着剤層45に保持された状態で、発光ダイオ
ード42の裏面がn電極側(カソード電極側)になって
いて、発光ダイオード42の裏面には樹脂(接着剤)が
ないように除去、洗浄されているため、図11に示すよ
うに電極パッド46を形成すれば、電極パッド46は発
光ダイオード42の裏面と電気的に接続される。
【0088】接着剤層45の洗浄の例としては酸素プラ
ズマで接着剤用樹脂をエッチング、UVオゾン照射にて
洗浄する。かつ、レーザにてGaN系発光ダイオードを
サファイヤ基板からなる第一基板41から剥離したとき
には、その剥離面にGaが析出しているため、そのGa
をエッチングすることが必要であり、NaOH水溶液も
しくは希硝酸で行うことになる。その後、電極パッド4
6をパターニングする。このときのカソード側の電極パ
ッドは約60μm角とすることができる。電極パッド4
6としては透明電極(ITO、ZnO系など)もしくは
Ti/Al/Pt/Auなどの材料を用いる。透明電極
の場合は発光ダイオードの裏面を大きく覆っても発光を
さえぎることがないので、パターニング精度が粗く、大
きな電極形成ができ、パターニングプロセスが容易にな
る。
【0089】図12は第一の一時保持用部材43から発
光ダイオード42を第二の一時保持用部材47に転写し
て、アノード電極(p電極)側のビアホール50を形成
した後、アノード側電極パッド49を形成し、樹脂から
なる接着剤層45をダイシングした状態を示している。
このダイシングの結果、素子分離溝51が形成され、発
光ダイオード42は素子ごとに区分けされたものにな
る。素子分離溝51はマトリクス状の各発光ダイオード
42を分離するため、平面パターンとしては縦横に延長
された複数の平行線からなる。素子分離溝51の底部で
は第二の一時保持用部材47の表面が臨む。
【0090】また、第二の一時保持用部材47上には剥
離層48が形成される。この剥離層48は例えばフッ素
コート、シリコーン樹脂、水溶性接着剤(例えばPV
A)、ポリイミドなどを用いて作成することができる。
第二の一時保持用部材47は、一例としてプラスチック
基板にUV粘着材が塗布してある、いわゆるダイシング
シートであり、UVが照射されると粘着力が低下するも
のを利用できる。
【0091】第一の一時保持用部材43から第二の一時
保持用部材47への転写に際しては、このような剥離層
44を形成した一時保持部材43の裏面からエキシマレ
ーザを照射する。これにより、例えば剥離層44として
ポリイミドを形成した場合では、ポリイミドと石英基板
の界面でポリイミドのアブレーションにより剥離が発生
して、各発光ダイオード42は第二の一時保持部材47
側に転写される。
【0092】また、アノード側電極パッド49を形成す
るに際しては、接着剤層45の表面を酸素プラズマで発
光ダイオード42の表面が露出してくるまでエッチング
する。まずビアホール50の形成はエキシマレーザ、高
調波YAGレーザ、炭酸ガスレーザを用いることができ
る。このとき、ビアホールは約3〜7μmの径を開ける
ことになる。アノード側電極パッドはNi/Pt/Au
などで形成する。ダイシングプロセスは通常のブレード
を用いたダイシング、20μm以下の幅の狭い切り込み
が必要なときには上記レーザを用いたレーザによる加工
を行う。その切り込み幅は画像表示装置の画素内の樹脂
からなる接着剤層45で覆われた発光ダイオード42の
大きさに依存する。
【0093】次に、発光ダイオード42を第二の一時保
持用部材47から第二基板60に転写する。そして、こ
の転写に、上述した転写方法を応用する。すなわち、光
透過性を有する材料からなる第三の一時保持用部材52
の主面に予め熱再剥離層53を形成しておき、図13に
示すように熱再剥離層53と発光ダイオード42の上
面、すなわち、アノード側電極パッド49がある側とが
対向するように当接させる。そしてこの状態で、第二の
一時保持用部材47の裏面からレーザ光54を照射す
る。これにより、例えば剥離層48をポイリイミドによ
り形成した場合では、ポリイミドと石英基板の界面でポ
リイミドのアブレーションにより剥離が発生して各発光
ダイオード42は第三の一時保持部材52の熱再剥離層
53上に転写される。
【0094】ついで、第二基板60に予め熱可塑性接着
層55を形成しておき、図14に示すように、発光ダイ
オード42と第二基板60とが所定の位置関係となるよ
うに発光ダイオード42と熱可塑性接着層55とを対向
させて第三の一時保持部材52と第二基板60とを配置
する。そして、図14に示すように、第三の一時保持部
材52の裏面側及び第二基板60の裏面側からレーザ光
56を照射し、転写する樹脂形成チップ(発光ダイオー
ド42及び接着剤層45)に対応する部分の熱再剥離層
53及び熱可塑性接着層55のみを加熱する。これによ
り、熱再剥離層53の樹脂形成チップに対応した位置に
おいて、樹脂形成チップとの粘着力が低減する。これに
より、樹脂形成チップを熱再剥離層53から剥離するこ
とが可能となる。また、レーザ光56の照射により、熱
可塑性接着層55の樹脂形成チップに対応した位置が軟
化する。その後、熱可塑性接着層55を冷却硬化するこ
とにより、樹脂形成チップが、第二基板60上に固着さ
れる。
【0095】また、第二基板60上にシャドウマスクと
しても機能する電極層57を配設し、この電極層57を
レーザ光56を照射することにより加熱し、間接的に熱
可塑性接着層55を加熱するようにしても良い。特に、
図15に示すように、電極層57の画面側の表面すなわ
ち当該画像表示装置を見る人がいる側の面に黒クロム層
58を形成すれば、画像のコントラストを向上させるこ
とができると共に、黒クロム層58でのエネルギー吸収
率を高くして、選択的に照射されるレーザ光56によっ
て熱可塑性接着層55を効率的に加熱するようにするこ
とができる。
【0096】図16はRGBの3色の発光ダイオード4
2、61、62を第二基板60に配列させ絶縁層59を
塗布した状態を示す図である。上述した転写方法によ
り、第二基板60にマウントする位置をその色の位置に
ずらしてマウントすると、画素としてのピッチは一定の
まま3色からなる画素を形成できる。絶縁層59として
は透明エポキシ接着剤、UV硬化型接着剤、ポリイミド
などを用いることができる。3色の発光ダイオード4
2、61、62は必ずしも同じ形状でなくとも良い。図
16では赤色の発光ダイオード61が六角錐のGaN層
を有しない構造とされ、他の発光ダイオード42、62
とその形状が異なっているが、この段階では各発光ダイ
オード42、61、62は既に樹脂形成チップとして樹
脂からなる接着剤層45で覆われており、素子構造の違
いにもかかわらず同一の取り扱いが実現される。
【0097】図17は配線形成工程を示す図である。絶
縁層59に開口部65、66、67、68、69、70
を形成し、発光ダイオード42、61、62のアノー
ド、カソードの電極パッドと第二基板60の配線用の電
極層57を接続する配線63、64、71を形成した図
である。このときに形成する開口部すなわちビアホール
は発光ダイオード42、61、62の電極パッド46、
49の面積を大きくしているのでビアホール形状は大き
く、ビアホールの位置精度も各発光ダイオードに直接形
成するビアホールに比べて粗い精度で形成できる。この
ときのビアホールは約60μm角の電極パッド46、4
9に対し、約φ20μmのものを形成できる。また、ビ
アホールの深さは配線基板と接続するもの、アノード電
極と接続するもの、カソード電極と接続するものの3種
類の深さがあるのでレーザのパルス数で制御し、最適な
深さを開口する。その後、保護層を配線上に形成し、画
像表示装置のパネルは完成する。このときの保護層は図
17の絶縁層59と同様、透明エポキシ接着剤などの材
料が使用できる。この保護層は加熱硬化し配線を完全に
覆う。この後、パネル端部の配線からドライバーICを
接続して駆動パネルを製作することになる。
【0098】上述のような発光素子の配列方法において
は、第一の一時保持用部材43に発光ダイオード42を
保持させた時点で既に、素子間の距離が大きくされ、そ
の広がった間隔を利用して比較的サイズの電極パッド4
6、49などを設けることが可能となる。それら比較的
サイズの大きな電極パッド46、49を利用した配線が
行われるために、素子サイズに比較して最終的な装置の
サイズが著しく大きな場合であっても容易に配線を形成
できる。また、本例の発光素子の配列方法では、発光素
子の周囲が硬化した接着剤層45で被覆され平坦化によ
って精度良く電極パッド46,49を形成できる。ま
た、発光ダイオード42の第一の一時保持用部材43へ
の転写には、GaN系材料がサファイヤとの界面で金属
のGaと窒素に分解することを利用して、比較的簡単に
剥離でき、確実に転写される。さらに、樹脂形成チップ
の第二基板への転写(第二転写工程)では、熱再剥離層
53及び熱可塑性接着層55をレーザ光の照射により選
択的に加熱し、硬化することにより、他の部品の接着状
態に影響を及ぼすことなく転写対象となる樹脂形成チッ
プのみを確実に転写することが可能である。
【0099】
【発明の効果】本発明に係る素子の転写方法は、熱再剥
離層によって素子が配列固定された第一の基板上に、熱
可塑性接着層を有する第二の基板を重ね合わせ、上記素
子と上記熱可塑性接着層とが接した状態で上記熱再剥離
層及び熱可塑性接着層を加熱冷却することにより、上記
熱再剥離層から上記素子を剥離可能とするとともに熱可
塑性接着層を溶融後硬化し、上記素子を第二の基板上に
転写するものである。
【0100】以上のような本発明に係る素子の転写方法
においては、加熱プロセスのみで第一の基板からの素子
の剥離と、第二の基板への素子の接着が可能であるた
め、例えば吸着ヘッドや、紫外線反応型の材料を用いた
場合に必要となる紫外線照射装置等の部材が不要であ
り、非常に簡単に素子の転写を行うことができる。そし
て、転写プロセスが簡便であることから、素子の位置決
めが容易に且つ確実に行うことができるため、転写素子
の位置ずれ等が生じることがなく、精度良く素子の転写
を行うことができる。
【0101】また、この素子の転写方法では、第一の基
板からの素子の剥離と、第二の基板への素子の接着がほ
ぼ同時になされるため、短時間での転写を実現すること
ができ、効率的に素子の転写を行うことができる。
【0102】また、本発明に係る素子の配列方法は、第
一の基板上に配列された複数の素子を第二の基板上に再
配列する素子の配列方法において、上記第一の基板上で
上記素子が配列された状態よりは離間した状態となるよ
うに上記素子を転写して第一の一時保持用部材に該素子
を保持させる第一転写工程と、上記第一の一時保持用部
材に保持された上記素子を樹脂で固める工程と、上記樹
脂をダイシングして素子毎に分離する工程と、上記第一
の一時保持用部材に保持され樹脂で固められた上記素子
をさらに離間して上記第二の基板上に転写する第二転写
工程とを有し、上記第二転写工程は、熱再剥離層によっ
て上記素子が配列固定された第二の一時保持用部材上
に、熱可塑性接着層を有する第二の基板を重ね合わせ、
上記素子と上記熱可塑性接着層とが接した状態で上記熱
再剥離層及び熱可塑性接着層を加熱冷却することによ
り、上記熱再剥離層から上記素子を剥離可能とするとと
もに熱可塑性接着層を溶融後硬化し、上記素子を第二の
基板上に転写するものである。
【0103】以上のような本発明に係る素子の配列方法
によれば、上記素子の転写方法を応用しているので、素
子の転写を効率的、確実に行うことができ、素子間の距
離を大きくする拡大転写を円滑に実施することが可能で
ある。
【0104】そして、本発明に係る画像表示装置の製造
方法は、発光素子をマトリクス状に配置した画像表示装
置の製造方法において、上記第一の基板上で上記発光素
子が配列された状態よりは離間した状態となるように上
記発光素子を転写して第一の一時保持用部材に該発光素
子を保持させる第一転写工程と、上記第一の一時保持用
部材に保持された上記発光素子を樹脂で固める工程と、
上記樹脂をダイシングして発光素子毎に分離する工程
と、上記第一の一時保持用部材に保持され樹脂で固めら
れた上記発光素子をさらに離間して上記第二の基板上に
転写する第二転写工程とを有し、上記第二転写工程は、
第二の一時保持用部材上に熱再剥離層を形成し、上記熱
再剥離層上に上記発光素子を配列し、上記発光素子の転
写面となる上記第二の基板の一主面上に熱可塑性接着層
を形成し、上記発光素子と上記熱可塑性接着層とを当接
させた状態で加熱手段により上記熱再剥離層と上記熱可
塑性接着層とを加熱し、上記熱可塑性接着層を硬化させ
ることにより転写対象となる発光素子を第二の基板に接
着するものである。
【0105】以上のような本発明に係る画像表示装置の
製造方法によれば、密な状態すなわち集積度を高くして
微細加工を施して作成された発光素子を、上記素子の転
写方法及び上記素子の配列方法を応用して効率よく離間
して再配置することができ、したがって精度の高い画像
表示装置を生産性良く製造することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の転写方法による転写プロセスの一例を
示す概略断面図である。
【図2】熱剥離材料の温度と粘着力との関係を示す特性
図である。
【図3】レーザ光により熱再剥離層及び熱可塑性接着層
を加熱した様子を示す模式図である。
【図4】レーザ光により素子を加熱した様子を示す模式
図である。
【図5】本発明の転写方法を適用して素子が実装された
基板に、異なる種類の素子を転写するプロセスの一例を
示す概略断面図である。
【図6】素子の配列方法を示す模式図である。
【図7】樹脂形成チップの概略斜視図である。
【図8】樹脂形成チップの概略平面図である。
【図9】発光素子の一例を示す図であって、(a)は断
面図、(b)は平面図である。
【図10】第一転写工程を示す概略断面図である。
【図11】電極パッド形成工程を示す概略断面図であ
る。
【図12】第二の一時保持用部材への転写後の電極パッ
ド形成工程を示す概略断面図である。
【図13】第二転写工程を示す概略断面図である。
【図14】第二転写工程を示す概略断面図である。
【図15】第二転写工程の一応用例を示す概略断面図で
ある。
【図16】絶縁層の形成工程を示す概略断面図である。
【図17】配線形成工程を示す概略断面図である。
【図18】従来の素子の転写方法を示す概略断面図であ
る。
【符号の説明】
1 ベース基板 2 熱再剥離層 3 素子 4 転写基板 5 熱可塑性接着層 6 熱 7 他の素子 10 第一基板 11 第一の一時保持用部材 12 素子 13 樹脂 14 樹脂形成チップ 15 第二基板
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 21/336 H01L 29/91 A 29/786 Fターム(参考) 5C094 AA43 BA03 CA19 EA04 EA07 GB10 5F110 AA16 GG02 QQ08 QQ16 5G435 AA17 BB04 KK05 KK10

Claims (17)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 熱再剥離層によって素子が配列固定され
    た第一の基板上に、熱可塑性接着層を有する第二の基板
    を重ね合わせ、上記素子と上記熱可塑性接着層とが接し
    た状態で上記熱再剥離層及び熱可塑性接着層を加熱冷却
    することにより、上記熱再剥離層から上記素子を剥離可
    能とするとともに熱可塑性接着層を溶融後硬化し、上記
    素子を第二の基板上に転写することを特徴とする素子の
    転写方法。
  2. 【請求項2】 上記熱再剥離層は、熱可塑性樹脂からな
    ることを特徴とする請求項1記載の素子の転写方法。
  3. 【請求項3】 上記熱再剥離層は、熱剥離材料からなる
    ことを特徴とする請求項1記載の素子の転写方法。
  4. 【請求項4】 上記熱再剥離層は、上記第一の基板の一
    主面全面に形成されることを特徴とする請求項1記載の
    素子の転写方法。
  5. 【請求項5】 上記熱再剥離層は、上記第一の基板の上
    記素子に対応した位置に形成されることを特徴とする請
    求項1記載の素子の転写方法。
  6. 【請求項6】 上記熱可塑性接着層は、熱可塑性樹脂か
    らなることを特徴とする請求項1記載の素子の転写方
    法。
  7. 【請求項7】 上記熱可塑性接着層は、上記第二の基板
    の一主面全面に形成されることを特徴とする請求項1記
    載の素子の転写方法。
  8. 【請求項8】 上記熱可塑性接着層は、上記第二の基板
    の上記素子に対応した位置に選択的に形成されることを
    特徴とする請求項1記載の素子の転写方法。
  9. 【請求項9】 加熱手段は、レーザ光であることを特徴
    とする請求項1記載の素子の転写方法。
  10. 【請求項10】 上記レーザ光を上記熱再剥離層及び上
    記熱可塑性接着層の、上記素子に対応した位置に選択的
    に照射して加熱することを特徴とする請求項9記載の素
    子の転写方法。
  11. 【請求項11】 上記レーザ光を転写対象となる素子に
    照射して加熱し、上記熱再剥離層及び上記熱可塑性接着
    層の、当該素子に対応した位置を加熱することを特徴と
    する請求項9記載の素子の転写方法。
  12. 【請求項12】 上記素子は、絶縁性物質に埋め込まれ
    ていることを特徴とする請求項1記載の素子の転写方
    法。
  13. 【請求項13】 第一の基板上に配列された複数の素子
    を第二の基板上に再配列する素子の配列方法において、
    上記第一の基板上で上記素子が配列された状態よりは離
    間した状態となるように上記素子を転写して第一の一時
    保持用部材に該素子を保持させる第一転写工程と、上記
    第一の一時保持用部材に保持された上記素子を樹脂で固
    める工程と、上記樹脂をダイシングして素子毎に分離す
    る工程と、上記第一の一時保持用部材に保持され樹脂で
    固められた上記素子をさらに離間して上記第二の基板上
    に転写する第二転写工程とを有し、上記第二転写工程
    は、熱再剥離層によって上記素子が配列固定された第二
    の一時保持用部材上に、熱可塑性接着層を有する上記第
    二の基板を重ね合わせ、上記素子と上記熱可塑性接着層
    とが接した状態で上記熱再剥離層及び上記熱可塑性接着
    層を加熱冷却することにより、上記熱再剥離層から上記
    素子を剥離可能とするとともに上記熱可塑性接着層を溶
    融後硬化し、上記素子を上記第二の基板上に転写するこ
    とを特徴とする素子の配列方法。
  14. 【請求項14】 上記第一転写工程で離間させる距離が
    上記第一の基板上に配列された素子のピッチの略整数倍
    になっており且つ上記第二転写工程で離間させる距離が
    上記第一転写工程で上記一時保持用部材に配列させた素
    子のピッチの略整数倍になっていることを特徴とする請
    求項13記載の素子の配列方法。
  15. 【請求項15】 上記素子は窒化物半導体を用いた半導
    体素子であることを特徴とする請求項13記載の素子の
    配列方法。
  16. 【請求項16】 上記素子は発光素子、液晶制御素子、
    光電変換素子、圧電素子、薄膜トランジスタ素子、薄膜
    ダイオード素子、抵抗素子、スイッチング素子、微小磁
    気素子、微小光学素子から選ばれた素子若しくはその部
    分であることを特徴とする請求項13記載の素子の配列
    方法。
  17. 【請求項17】 発光素子をマトリクス状に配置した画
    像表示装置の製造方法において、上記第一の基板上で上
    記発光素子が配列された状態よりは離間した状態となる
    ように上記発光素子を転写して第一の一時保持用部材に
    該発光素子を保持させる第一転写工程と、上記第一の一
    時保持用部材に保持された上記発光素子を樹脂で固める
    工程と、上記樹脂をダイシングして発光素子毎に分離す
    る工程と、上記第一の一時保持用部材に保持され樹脂で
    固められた上記発光素子をさらに離間して上記第二の基
    板上に転写する第二転写工程とを有し、上記第二転写工
    程は、熱再剥離層によって上記発光素子が配列固定され
    た第二の一時保持用部材上に、熱可塑性接着層を有する
    上記第二の基板を重ね合わせ、上記発光素子と上記熱可
    塑性接着層とが接した状態で上記熱再剥離層及び上記熱
    可塑性接着層を加熱冷却することにより、上記熱再剥離
    層から上記発光素子を剥離可能とするとともに上記熱可
    塑性接着層を溶融後硬化し、上記発光素子を上記第二の
    基板上に転写することを特徴とする画像表示装置の製造
    方法。
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Cited By (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004079700A1 (ja) * 2003-03-06 2004-09-16 Sony Corporation 素子転写方法および表示装置
JP2005045074A (ja) * 2003-07-23 2005-02-17 Sony Corp 剥離方法
JPWO2004064018A1 (ja) * 2003-01-15 2006-05-18 株式会社半導体エネルギー研究所 剥離方法及びその剥離方法を用いた表示装置の作製方法
JP2007173845A (ja) * 2003-01-15 2007-07-05 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置の作製方法及び半導体装置
JP2008060608A (ja) * 2007-11-15 2008-03-13 Sony Corp 素子転写方法
WO2009135078A2 (en) * 2008-04-30 2009-11-05 The Regents Of The University Of California Method and apparatus for fabricating optoelectromechanical devices by structural transfer using re-usable substrate
KR20120108918A (ko) * 2009-06-23 2012-10-05 글로벌 오엘이디 테크놀러지 엘엘씨 기판에 칩렛을 제공하는 방법
KR20160077913A (ko) * 2014-12-24 2016-07-04 엘지이노텍 주식회사 미세 필름 전사 방법 및 장치
JP6170232B1 (ja) * 2016-08-11 2017-07-26 ルーメンス カンパニー リミテッド Ledチップグループのアレイを含むディスプレイモジュール及びその製造方法
JP2017526189A (ja) * 2014-09-05 2017-09-07 スコーピオズ テクノロジーズ インコーポレイテッド 転送ウエハ除去のための水素注入を利用する対応する樹脂との半導体接合
WO2018030695A1 (ko) * 2016-08-11 2018-02-15 주식회사 루멘스 엘이디 모듈 및 그 제조방법
WO2019013120A1 (ja) * 2017-07-10 2019-01-17 株式会社ブイ・テクノロジー 表示装置の製造方法、チップ部品の転写方法、および転写部材
JP2019506737A (ja) * 2016-12-26 2019-03-07 エルジー・ケム・リミテッド マイクロ電気素子の転写方法
JP2019114660A (ja) * 2017-12-22 2019-07-11 東レエンジニアリング株式会社 実装方法および実装装置
JP2019114659A (ja) * 2017-12-22 2019-07-11 東レエンジニアリング株式会社 実装方法および実装装置
KR20200011098A (ko) * 2018-07-24 2020-02-03 한국기계연구원 마이크로 소자의 간격 조절 전사방법 및 이를 이용하여 제조되는 전자기기
CN111048463A (zh) * 2015-07-23 2020-04-21 首尔半导体株式会社 显示装置制造方法
CN111128789A (zh) * 2018-10-31 2020-05-08 昆山工研院新型平板显示技术中心有限公司 微元件的转移装置及其转移方法
KR102118179B1 (ko) * 2019-12-06 2020-06-02 (주)라이타이저 디스플레이 장치의 제조 방법 및 그 방법에 의해 제조되는 디스플레이 장치
KR20210133780A (ko) * 2020-04-29 2021-11-08 한국광기술원 마이크로 발광소자 전사방법
WO2022102691A1 (ja) 2020-11-13 2022-05-19 積水化学工業株式会社 電子部品の製造方法、表示装置の製造方法、及び、支持テープ
WO2022163005A1 (ja) * 2021-01-29 2022-08-04 日東電工株式会社 電子部品転写用粘着シートおよび電子部品転写用粘着シートを用いた電子部品の加工方法
KR20220151599A (ko) 2020-03-09 2022-11-15 세키스이가가쿠 고교가부시키가이샤 전자 부품의 제조 방법, 및, 표시 장치의 제조 방법
JP7219373B1 (ja) * 2021-09-06 2023-02-07 積水化学工業株式会社 半導体装置製造用粘着テープ
WO2023033176A1 (ja) 2021-09-06 2023-03-09 積水化学工業株式会社 半導体装置製造用粘着テープ

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11142878A (ja) * 1997-11-12 1999-05-28 Sharp Corp 表示用トランジスタアレイパネルの形成方法
JP2001007340A (ja) * 1999-06-25 2001-01-12 Toshiba Corp アクティブマトリクス基板及びその製造方法、素子形成基板、中間転写基板
JP2001051296A (ja) * 1999-08-06 2001-02-23 Seiko Epson Corp 薄膜デバイス装置の製造方法、薄膜デバイス装置、アクティブマトリクス基板の製造方法、アクティブマトリクス基板および電気光学装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11142878A (ja) * 1997-11-12 1999-05-28 Sharp Corp 表示用トランジスタアレイパネルの形成方法
JP2001007340A (ja) * 1999-06-25 2001-01-12 Toshiba Corp アクティブマトリクス基板及びその製造方法、素子形成基板、中間転写基板
JP2001051296A (ja) * 1999-08-06 2001-02-23 Seiko Epson Corp 薄膜デバイス装置の製造方法、薄膜デバイス装置、アクティブマトリクス基板の製造方法、アクティブマトリクス基板および電気光学装置

Cited By (53)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8508682B2 (en) 2003-01-15 2013-08-13 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Peeling method and method for manufacturing display device using the peeling method
JPWO2004064018A1 (ja) * 2003-01-15 2006-05-18 株式会社半導体エネルギー研究所 剥離方法及びその剥離方法を用いた表示装置の作製方法
JP2007173845A (ja) * 2003-01-15 2007-07-05 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置の作製方法及び半導体装置
US9299879B2 (en) 2003-01-15 2016-03-29 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Peeling method and method for manufacturing display device using the peeling method
US9013650B2 (en) 2003-01-15 2015-04-21 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Peeling method and method for manufacturing display device using the peeling method
US8830413B2 (en) 2003-01-15 2014-09-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Peeling method and method for manufacturing display device using the peeling method
JP4637588B2 (ja) * 2003-01-15 2011-02-23 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置の作製方法
US8228454B2 (en) 2003-01-15 2012-07-24 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Peeling method and method for manufacturing display device using the peeling method
WO2004079700A1 (ja) * 2003-03-06 2004-09-16 Sony Corporation 素子転写方法および表示装置
KR100982964B1 (ko) * 2003-03-06 2010-09-17 소니 가부시키가이샤 소자 전사 방법 및 표시장치
JP2005045074A (ja) * 2003-07-23 2005-02-17 Sony Corp 剥離方法
JP4605207B2 (ja) * 2007-11-15 2011-01-05 ソニー株式会社 素子転写方法
JP2008060608A (ja) * 2007-11-15 2008-03-13 Sony Corp 素子転写方法
WO2009135078A3 (en) * 2008-04-30 2010-02-18 The Regents Of The University Of California Method and apparatus for fabricating optoelectromechanical devices by structural transfer using re-usable substrate
WO2009135078A2 (en) * 2008-04-30 2009-11-05 The Regents Of The University Of California Method and apparatus for fabricating optoelectromechanical devices by structural transfer using re-usable substrate
KR20120108918A (ko) * 2009-06-23 2012-10-05 글로벌 오엘이디 테크놀러지 엘엘씨 기판에 칩렛을 제공하는 방법
KR101695666B1 (ko) * 2009-06-23 2017-01-12 글로벌 오엘이디 테크놀러지 엘엘씨 기판에 칩렛을 제공하는 방법
JP2012531746A (ja) * 2009-06-23 2012-12-10 グローバル・オーエルイーディー・テクノロジー・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー 基板へのチップレットの付着
JP2017526189A (ja) * 2014-09-05 2017-09-07 スコーピオズ テクノロジーズ インコーポレイテッド 転送ウエハ除去のための水素注入を利用する対応する樹脂との半導体接合
KR102265275B1 (ko) 2014-12-24 2021-06-16 엘지이노텍 주식회사 미세 필름 전사 방법 및 장치
KR20160077913A (ko) * 2014-12-24 2016-07-04 엘지이노텍 주식회사 미세 필름 전사 방법 및 장치
US11817440B2 (en) 2015-07-23 2023-11-14 Seoul Semiconductor Co., Ltd. Display apparatus and manufacturing method thereof
US11848316B2 (en) 2015-07-23 2023-12-19 Seoul Semiconductor Co., Ltd. Display apparatus having a semiconductor light emitting source
CN111048463A (zh) * 2015-07-23 2020-04-21 首尔半导体株式会社 显示装置制造方法
WO2018030695A1 (ko) * 2016-08-11 2018-02-15 주식회사 루멘스 엘이디 모듈 및 그 제조방법
US9941259B2 (en) 2016-08-11 2018-04-10 Lumens Co., Ltd. LED module and method for fabricating the same
JP2018026517A (ja) * 2016-08-11 2018-02-15 ルーメンス カンパニー リミテッド Ledチップグループのアレイを含むディスプレイモジュール及びその製造方法
JP6170232B1 (ja) * 2016-08-11 2017-07-26 ルーメンス カンパニー リミテッド Ledチップグループのアレイを含むディスプレイモジュール及びその製造方法
GB2570221B (en) * 2016-08-11 2022-05-04 Lumens Co Ltd LED module and method for fabricating the same
GB2570221A (en) * 2016-08-11 2019-07-17 Lumens Co Ltd LED module and method for preparing same
US10559554B2 (en) 2016-08-11 2020-02-11 Lumens Co., Ltd. Method for fabricating LED module using transfer tape
JP2019506737A (ja) * 2016-12-26 2019-03-07 エルジー・ケム・リミテッド マイクロ電気素子の転写方法
JP2019015899A (ja) * 2017-07-10 2019-01-31 株式会社ブイ・テクノロジー 表示装置の製造方法、チップ部品の転写方法、および転写部材
WO2019013120A1 (ja) * 2017-07-10 2019-01-17 株式会社ブイ・テクノロジー 表示装置の製造方法、チップ部品の転写方法、および転写部材
JP6990577B2 (ja) 2017-12-22 2022-01-12 東レエンジニアリング株式会社 実装方法および実装装置
JP2019114659A (ja) * 2017-12-22 2019-07-11 東レエンジニアリング株式会社 実装方法および実装装置
JP2019114660A (ja) * 2017-12-22 2019-07-11 東レエンジニアリング株式会社 実装方法および実装装置
KR20200011098A (ko) * 2018-07-24 2020-02-03 한국기계연구원 마이크로 소자의 간격 조절 전사방법 및 이를 이용하여 제조되는 전자기기
KR102152459B1 (ko) 2018-07-24 2020-09-07 한국기계연구원 마이크로 소자의 간격 조절 전사방법
CN111128789A (zh) * 2018-10-31 2020-05-08 昆山工研院新型平板显示技术中心有限公司 微元件的转移装置及其转移方法
CN111128789B (zh) * 2018-10-31 2022-08-05 成都辰显光电有限公司 微元件的转移装置及其转移方法
KR102346172B1 (ko) 2019-12-06 2022-01-03 (주)라이타이저 디스플레이 장치의 제조 방법 및 그 방법에 의해 제조되는 디스플레이 장치
KR20210071794A (ko) * 2019-12-06 2021-06-16 (주)라이타이저 디스플레이 장치의 제조 방법 및 그 방법에 의해 제조되는 디스플레이 장치
KR102118179B1 (ko) * 2019-12-06 2020-06-02 (주)라이타이저 디스플레이 장치의 제조 방법 및 그 방법에 의해 제조되는 디스플레이 장치
KR20220151599A (ko) 2020-03-09 2022-11-15 세키스이가가쿠 고교가부시키가이샤 전자 부품의 제조 방법, 및, 표시 장치의 제조 방법
KR20210133780A (ko) * 2020-04-29 2021-11-08 한국광기술원 마이크로 발광소자 전사방법
KR102364729B1 (ko) 2020-04-29 2022-02-22 한국광기술원 마이크로 발광소자 전사방법
WO2022102691A1 (ja) 2020-11-13 2022-05-19 積水化学工業株式会社 電子部品の製造方法、表示装置の製造方法、及び、支持テープ
WO2022163005A1 (ja) * 2021-01-29 2022-08-04 日東電工株式会社 電子部品転写用粘着シートおよび電子部品転写用粘着シートを用いた電子部品の加工方法
WO2023033176A1 (ja) 2021-09-06 2023-03-09 積水化学工業株式会社 半導体装置製造用粘着テープ
CN116323194A (zh) * 2021-09-06 2023-06-23 积水化学工业株式会社 半导体装置制造用粘合带
JP7219373B1 (ja) * 2021-09-06 2023-02-07 積水化学工業株式会社 半導体装置製造用粘着テープ
KR20240057380A (ko) 2021-09-06 2024-05-02 세키스이가가쿠 고교가부시키가이샤 반도체 장치 제조용 점착 테이프

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