JP2005045074A - 剥離方法 - Google Patents
剥離方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2005045074A JP2005045074A JP2003278632A JP2003278632A JP2005045074A JP 2005045074 A JP2005045074 A JP 2005045074A JP 2003278632 A JP2003278632 A JP 2003278632A JP 2003278632 A JP2003278632 A JP 2003278632A JP 2005045074 A JP2005045074 A JP 2005045074A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- layer
- resin
- metal layer
- resin layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Laser Beam Processing (AREA)
- Lasers (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Abstract
【解決手段】 金属層3は、パルスレーザ光L1から吸収したエネルギーによって熱を発生し、その熱により金属層3に接する樹脂層2の一部が加熱される。樹脂層2がアブレーションされる温度は、金属層3がアブレーションされる温度より低いことから、樹脂層2のうち金属層3に接する樹脂部2aがその熱によって瞬時にアブレーションされ、素子4を透明基板1から分離することができる。さらに、透明基板1として、通常のガラス基板の如き安価な基板を用いることができ、素子4の製造コストを低減することができる。
【選択図】 図1
Description
[第1の実施の形態]
[第2の実施の形態]
実施例
2,13 樹脂層
2a,2b,13a,13b 樹脂部
3,12,12a,32 金属層
4,14 素子
5,15 素子分離溝
31 サファイア基板
33 樹脂チップ
L1,L2 パルスレーザ光
L3 YAGレーザ光
Claims (13)
- 樹脂層と光吸収層とを重ねて形成し、
前記光吸収層に光を照射し、
前記光吸収層で発生する熱を前記樹脂層に伝熱することによって当該光吸収層から前記樹脂層を剥離すること
を特徴とする剥離方法。 - 前記樹脂層及び前記光吸収層が積層される基板の裏面側から前記光を照射すること
を特徴とする請求項1記載の剥離方法。 - 前記基板は、光透過性を有する無機材料、又は光透過性を有する合成樹脂を主たる材料とすること
を特徴とする請求項2記載の剥離方法。 - 前記樹脂層は前記光吸収層の上側に形成され、
前記樹脂層上に形成される素子のサイズに合わせて前記樹脂層が分離されていること
を特徴とする請求項1記載の剥離方法。 - 前記樹脂層は前記光吸収層の下側に形成され、
前記光吸収層上に形成される素子のサイズに合わせて前記光吸収層が分離されていること
を特徴とする請求項1記載の剥離方法。 - 前記光吸収層は金属を主たる材料として形成されて前記素子の配線、又は電極を構成すること
を特徴とする請求項5記載の剥離方法。 - 前記光吸収層がアブレーションされる温度は、前記樹脂層がアブレーションされる温度より高いこと
を特徴とする請求項1記載の剥離方法。 - 前記光吸収層は、金属を主たる材料とすること
を特徴とする請求項1記載の剥離方法。 - 前記金属は、Ti、Cr、Niから選択された一種、又は2種以上の材料であること
を特徴とする請求項8記載の剥離方法。 - 前記光吸収層に照射される光の波長は、可視光、又は赤外光の波長領域にあること
を特徴とする請求項1記載の剥離方法。 - 前記光は、レーザ光であること
を特徴とする請求項1記載の剥離方法。 - 樹脂層と光吸収層とを重ねて形成し、
前記光吸収層に選択的に光を照射し、
前記光吸収層のうち前記光が照射された領域に接する前記樹脂層を当該光吸収層から剥離すること
を特徴とする剥離方法。 - 前記光吸収層は、半透明であること
を特徴とする請求項12記載の剥離方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003278632A JP4934942B2 (ja) | 2003-07-23 | 2003-07-23 | 剥離方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003278632A JP4934942B2 (ja) | 2003-07-23 | 2003-07-23 | 剥離方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005045074A true JP2005045074A (ja) | 2005-02-17 |
JP4934942B2 JP4934942B2 (ja) | 2012-05-23 |
Family
ID=34264985
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003278632A Expired - Fee Related JP4934942B2 (ja) | 2003-07-23 | 2003-07-23 | 剥離方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4934942B2 (ja) |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006286493A (ja) * | 2005-04-04 | 2006-10-19 | Sony Corp | 表示素子、表示装置および表示素子の製造方法 |
WO2006132382A2 (en) * | 2005-06-07 | 2006-12-14 | Fujifilm Corporation | Method of manufacturing a film |
JP2009048146A (ja) * | 2007-08-23 | 2009-03-05 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置の製造方法、電気光学装置の製造装置 |
JP2016535449A (ja) * | 2013-07-29 | 2016-11-10 | 晶元光▲電▼股▲ふん▼有限公司 | 半導体素子を選択的にトランスファーする方法 |
CN106132627A (zh) * | 2015-01-13 | 2016-11-16 | 罗芬-新纳技术公司 | 用于对脆性材料进行划割并随后进行化学蚀刻的方法和系统 |
JP2019075569A (ja) * | 2018-12-12 | 2019-05-16 | 晶元光電股▲ふん▼有限公司Epistar Corporation | 半導体素子を選択的にトランスファーする方法 |
JP2020174129A (ja) * | 2019-04-10 | 2020-10-22 | 大日本印刷株式会社 | 保持部材、転写部材、保持部材の製造方法、転写部材の製造方法、及び、発光基板の製造方法 |
KR20210046511A (ko) * | 2019-11-07 | 2021-04-28 | 양진석 | 복수의 칩 이송 장치 및 복수의 칩 이송 방법 |
JP2021520065A (ja) * | 2018-03-29 | 2021-08-12 | ソイテック | 光束を用いることによって取外し可能な複合構造の分離方法 |
WO2022201767A1 (ja) * | 2021-03-26 | 2022-09-29 | リンテック株式会社 | ワークハンドリングシートおよびデバイス製造方法 |
TWI794783B (zh) * | 2021-04-07 | 2023-03-01 | 梁晋碩 | 轉移多個晶片的裝置和轉移多個晶片的方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002368282A (ja) * | 2001-06-05 | 2002-12-20 | Sony Corp | 素子の転写方法及びこれを用いた素子の配列方法、画像表示装置の製造方法 |
JP2003007986A (ja) * | 2001-06-27 | 2003-01-10 | Sony Corp | 素子の転写方法及びこれを用いた素子の配列方法、画像表示装置の製造方法 |
WO2003010825A1 (en) * | 2001-07-24 | 2003-02-06 | Seiko Epson Corporation | Transfer method, method of manufacturing thin film element, method of manufacturing integrated circuit, circuit substrate and method of manufacturing the circuit substrate, electro-optic device and method of manufacturing the electro-optic device, and ic card and electronic equipmen |
-
2003
- 2003-07-23 JP JP2003278632A patent/JP4934942B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002368282A (ja) * | 2001-06-05 | 2002-12-20 | Sony Corp | 素子の転写方法及びこれを用いた素子の配列方法、画像表示装置の製造方法 |
JP2003007986A (ja) * | 2001-06-27 | 2003-01-10 | Sony Corp | 素子の転写方法及びこれを用いた素子の配列方法、画像表示装置の製造方法 |
WO2003010825A1 (en) * | 2001-07-24 | 2003-02-06 | Seiko Epson Corporation | Transfer method, method of manufacturing thin film element, method of manufacturing integrated circuit, circuit substrate and method of manufacturing the circuit substrate, electro-optic device and method of manufacturing the electro-optic device, and ic card and electronic equipmen |
Cited By (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006286493A (ja) * | 2005-04-04 | 2006-10-19 | Sony Corp | 表示素子、表示装置および表示素子の製造方法 |
WO2006132382A2 (en) * | 2005-06-07 | 2006-12-14 | Fujifilm Corporation | Method of manufacturing a film |
WO2006132382A3 (en) * | 2005-06-07 | 2007-04-26 | Fujifilm Corp | Method of manufacturing a film |
JP2009048146A (ja) * | 2007-08-23 | 2009-03-05 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置の製造方法、電気光学装置の製造装置 |
US11211522B2 (en) | 2013-07-29 | 2021-12-28 | Epistar Corporation | Method of selectively transferring semiconductor device |
US11901478B2 (en) | 2013-07-29 | 2024-02-13 | Epistar Corporation | Method of selectively transferring semiconductor device |
DE112013007281B4 (de) * | 2013-07-29 | 2021-07-01 | Epistar Corporation | Verfahren zum selektiven Transferieren von Halbleitervorrichtungen |
JP2016535449A (ja) * | 2013-07-29 | 2016-11-10 | 晶元光▲電▼股▲ふん▼有限公司 | 半導体素子を選択的にトランスファーする方法 |
CN106132627A (zh) * | 2015-01-13 | 2016-11-16 | 罗芬-新纳技术公司 | 用于对脆性材料进行划割并随后进行化学蚀刻的方法和系统 |
JP2021520065A (ja) * | 2018-03-29 | 2021-08-12 | ソイテック | 光束を用いることによって取外し可能な複合構造の分離方法 |
JP7311528B2 (ja) | 2018-03-29 | 2023-07-19 | ソイテック | 光束を用いることによって取外し可能な複合構造の分離方法 |
JP2019075569A (ja) * | 2018-12-12 | 2019-05-16 | 晶元光電股▲ふん▼有限公司Epistar Corporation | 半導体素子を選択的にトランスファーする方法 |
JP7272078B2 (ja) | 2019-04-10 | 2023-05-12 | 大日本印刷株式会社 | 保持部材、転写部材、保持部材の製造方法、転写部材の製造方法、及び、発光基板の製造方法 |
JP2020174129A (ja) * | 2019-04-10 | 2020-10-22 | 大日本印刷株式会社 | 保持部材、転写部材、保持部材の製造方法、転写部材の製造方法、及び、発光基板の製造方法 |
KR102311521B1 (ko) * | 2019-11-07 | 2021-10-13 | 양진석 | 복수의 칩 이송 장치 및 복수의 칩 이송 방법 |
KR20210046511A (ko) * | 2019-11-07 | 2021-04-28 | 양진석 | 복수의 칩 이송 장치 및 복수의 칩 이송 방법 |
WO2022201767A1 (ja) * | 2021-03-26 | 2022-09-29 | リンテック株式会社 | ワークハンドリングシートおよびデバイス製造方法 |
TWI794783B (zh) * | 2021-04-07 | 2023-03-01 | 梁晋碩 | 轉移多個晶片的裝置和轉移多個晶片的方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4934942B2 (ja) | 2012-05-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100787901B1 (ko) | 박막 디바이스 공급체, 박막 디바이스 공급체의 제조 방법, 전사 방법 및 반도체 장치의 제조 방법 | |
US9409383B2 (en) | Layer-specific energy distribution delamination | |
KR100494479B1 (ko) | 액티브 매트릭스 기판의 제조 방법 | |
JP4934942B2 (ja) | 剥離方法 | |
KR100484959B1 (ko) | 3차원 디바이스의 제조 방법 | |
KR100614078B1 (ko) | 반도체 장치의 제조 방법, 집적 회로, 전기 광학 장치 및전자 기기 | |
JP2001051296A (ja) | 薄膜デバイス装置の製造方法、薄膜デバイス装置、アクティブマトリクス基板の製造方法、アクティブマトリクス基板および電気光学装置 | |
WO1999044242A1 (en) | Method of detaching thin-film device, method of transferring thin-film device, thin-film device, active matrix substrate, and liquid crystal display | |
WO2015135316A1 (zh) | 光学掩膜板和激光剥离装置 | |
JP2010177390A (ja) | 素子の移載方法および表示装置の製造方法 | |
JP2007266420A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPH1174533A (ja) | 薄膜デバイスの転写方法,薄膜デバイス,薄膜集積回路装置,アクティブマトリクス基板および液晶表示装置 | |
JP2009539610A (ja) | レーザ誘起衝撃波を利用した微小流体装置の製造 | |
JP2004014913A (ja) | 半導体集積回路、信号伝送装置、電気光学装置および電子機器 | |
JPWO2010079640A1 (ja) | 有機エレクトロルミネセンス表示装置及びその製造方法 | |
US7006193B2 (en) | Method of sealing two substrates with a non-epoxy or epoxy-acrylate sealant using laser radiation | |
JPH1126734A (ja) | 薄膜デバイスの転写方法,薄膜デバイス,薄膜集積回路装置,アクティブマトリクス基板および液晶表示装置 | |
JP4983662B2 (ja) | 樹脂フィルムの生産方法 | |
WO2017014136A1 (ja) | デバイス基板、液晶表示装置、及びデバイス基板の製造方法 | |
JP6571437B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP2007015169A (ja) | スクライブ形成方法、スクライブ形成装置、多層基板 | |
JP2001148403A (ja) | 半導体チップの実装方法および装置 | |
WO2019119719A1 (zh) | 导光板与反射片的贴合结构、贴合方法和液晶显示装置 | |
JP2010110818A (ja) | 加工対象物分断方法および対象物製造方法 | |
JP2000133809A (ja) | 剥離方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20050527 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20050607 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060508 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100517 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100525 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100716 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110510 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110701 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120124 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120206 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150302 Year of fee payment: 3 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 4934942 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150302 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |