JP2007015169A - スクライブ形成方法、スクライブ形成装置、多層基板 - Google Patents

スクライブ形成方法、スクライブ形成装置、多層基板 Download PDF

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Abstract

【課題】 複数の層を積層させた多層基板に対して、切り屑を発生させることなく、かつ良好に分割することが可能な分割予定線を形成することができるスクライブ形成方法、スクライブ形成装置、多層基板を提案する。
【解決手段】 複数の層P1〜P3からなる多層基板Pに分割予定線Sを形成するスクライブ形成方法であって、多層基板Pの内部にレーザ光を集光すると共に多層基板Pとレーザ光を相対移動させて、多層基板P内に改質領域S1を形成する工程と、改質領域S2〜Snを多層基板Pの厚み方向に複数重ねて形成する工程と、を有する。
【選択図】 図4

Description

本発明は、複数の層を積層させた多層基板に対して分割予定線を形成するスクライブ形成方法、スクライブ形成装置に関する。
液晶装置等に広く使用されているガラス基板を複数に分割する方法として、基板の表面に溝(分割予定線,スクライブライン)を刻み、この溝に沿って基板を分割する方法が一般に用いられている(特許文献1等)。
特に、複数のガラス基板を積層させた多層基板を分割する場合には、各層のガラス基板のそれぞれに溝を形成した上で、各溝が一致するように各基板を重ねることで、多層基板の分割を可能としている。また、レーザとカッターを併用することで、多層基板に溝を形成する技術も提案されている(特許文献2)。
特開2004−26539号公報 特開2001−64029号公報
しかしながら、上述した技術では、基板に溝を形成する際に発生した切り屑が基板上に付着するため、これをクリーニング処理する工程が必要となる。そして、このクリーニング処理工程が、製造効率の低下やコスト上昇が招く原因となっている。
特に、積層される層が多くなると、切り屑の量が増えたり、或いは溝の深さが不十分となって基板の分割が困難になったりするという問題がある。
本発明は、上述した事情に鑑みてなされたもので、複数の層を積層させた多層基板に対して、切り屑を発生させることなく、かつ良好に分割することが可能な分割予定線を形成することができるスクライブ形成方法、スクライブ形成装置、多層基板を提案することを目的とする。
本発明に係るスクライブ形成方法、スクライブ形成装置、多層基板では、上記課題を解決するために以下の手段を採用した。
第1の発明は、複数の光透過層を有する多層基板に分割予定線を形成するスクライブ形成方法が、前記多層基板の内部にレーザ光を集光すると共に前記多層基板と前記レーザ光を相対移動させて、前記多層基板内に改質領域を形成する工程と、前記改質領域を前記多層基板の厚み方向に複数重ねて形成する工程と、を有するようにした。
この発明によれば、レーザ光を用いて多層基板内に分割予定線を形成するので、多層基板上に切り屑が付着せず、したがってクリーニング処理が不要となる。また、複数の光透過層のそれぞれに改質領域からなる分割予定線を形成し、更にこの分割予定線を基板の厚み方向に重ねるので、光透過層の数に関わらず、良好に多層基板を分割することが可能となる。
また、前記複数の層が光透過層であるものでは、レーザ光の損失が少なくなり、内部に良好に改質領域を形成することができる。
また、前記レーザ光として、超短パルスレーザ光を用いるものでは、焦点位置にのみ良好に改質領域を形成することができる。これにより、細い幅の分割予定線が形成されるので、基板の分割効率を向上させることができる。
第2の発明は、複数の光透過層を有する多層基板に分割予定線を形成するスクライブ形成装置が、前記多層基板を載置すると共に前記多層基板の面方向に二次元移動可能なステージと、前記多層基板に対してレーザ光を照射するレーザ投光部と、前記レーザ投光部からのレーザ光の焦点を前記多層基板の厚み方向に移動可能な焦点移動部と、を備えるようにした。
この発明によれば、レーザ光を用いて多層基板内に分割予定線を形成するので、多層
基板上に切り屑が付着せず、したがってクリーニング処理が不要となる。また、複数の光透過層のそれぞれに改質領域からなる分割予定線を形成し、更にこの分割予定線を多層基板の厚み方向に重ねることで、光透過層の数に関わらず、良好に多層基板を分割することが可能となる。
また、前記複数の層が光透過層であるものでは、レーザ光の損失が少なくなり、内部に良好に改質領域を形成することができる。
また、前記レーザ光として、超短パルスレーザ光を用いるものでは、焦点位置にのみ良好に改質領域を形成することができる。これにより、細い幅の分割予定線が形成されるので、基板の分割効率を向上させることができる。
第3の発明は、複数の光透過層から形成される多層基板が、前記光透過層のそれぞれに、改質領域を前記多層基板の厚み方向に重ねた分割予定線を有するようにした。
この発明によれば、複数の光透過層のそれぞれに改質領域からなる分割予定線が形成され、更にこの分割予定線が多層基板の厚み方向に重ねられているので、光透過層の数に関わらず、良好に多層基板を分割することができる。
以下、本発明のスクライブ形成方法、スクライブ形成装置、多層基板の実施形態について図を参照して説明する。
図1は、スクライブ形成装置10の概略構成を示す概念図である。
スクライブ形成装置10は、レーザ光Lを発生するレーザ光源11、レーザ光Lの出力やパルス幅等を調節するためにレーザ光源11を制御するレーザ光源制御部14、レーザ光Lを集光する集光用レンズ12、集光用レンズ12等をZ軸方向に移動させるためのZ軸駆動部15、多層基板Pを載置する載置台17、載置台17をX軸方向に移動させるためのX軸ステージ18、載置台17をX軸方向に直交するY軸方向に移動させるためのY軸ステージ19、X軸ステージ18及びY軸ステージ19を制御するステージ制御部20等を備える。
レーザ光源11、集光用レンズ12等からなるレーザ投光部13から射出されるレーザ光Lには、超短パルスレーザが用いられる。例えば、パルス幅300fs、出力170mW、繰り返し率1kHz、波長800nm、倍率100倍(NA0.8)のフェムト秒レーザが用いられる。
フェムト秒レーザのような超短パルスレーザは、出力が小さくても、パルス幅が非常に短いため、1パルス中の瞬間的な到達出力は大きくなる。
したがって、超短パルスレーザを集光照射すると,熱伝導が起こる前に瞬時にエネルギーが注入されるため、照射部位周辺が熱的・化学的損傷をほとんど受けない高精度・高品質な加工が実現できる。そして、多光子吸収という現象を利用して、通常であれば光が通り抜けてしまうガラスやダイヤモンド等の透明材料の内部への3次元加工が可能である。
Z軸駆動部15は、レーザ投光部13をZ軸方向に移動させることにより、レーザ光Lの焦点をZ軸方向に移動させるものである。すなわち、Z軸方向は多層基板Pの表面Psと直交する方向であり、また集光用レンズ12等を介して多層基板Pに入射するレーザ光Lの焦点深度の方向でもある。したがって、Z軸駆動部15によりレーザ投光部13をZ軸方向に移動させることにより、多層基板Pの内部に集光したレーザ光Lの焦点を、Z軸方向に移動させることができる。
X軸ステージ18、Y軸ステージ19は、多層基板PをX軸方向及びY軸方向に移動させることで、多層基板P内に集光したレーザ光Lの焦点を多層基板P内でX軸方向及びY軸方向に移動させることができる。
多層基板Pとしては、石英やソーダガラス等を重ね合わせたものが用いられる。また、これらの基板の間に透明な接着層等を含んでいてもよい。すなわち、光を透過する層が積層されることで、少なくとも一方の面から内部に向けてレーザ光Lを照射できる多層基板であればよい。
次に、本実施形態に係るスクライブ形成方法について説明する。
図2,図3は、スクライブ形成方法を示す図であって、図2は多層基板の断面図、図3は多層基板の平面図である。
また、図4は、分断予定線が形成された多層基板を示す断面図である。
まず、載置台17上に多層基板Pを載置する。そして、Z軸駆動部15によりレーザ投光部13をZ軸方向に移動させて、多層基板Pの最下光透過層P3内にレーザ光Lの焦点が合うように位置決めする。具体的には、最下光透過層P3の最も下層、すなわち裏面Ptに近接する位置にレーザ光Lの焦点位置を合わせる。なお、焦点位置は、多層基板Pの各光透過層P1〜P3の屈折率を予め求めておくことで、推測可能である。したがって、各光透過層P1〜P3の屈折率がそれぞれ異なる場合であってもよい。
次いで、レーザ投光部13からフェムト秒レーザを照射して、最下光透過層P3内に改質領域を形成する(図2(a),図3(a)参照)。これと同時に、図3(b)に示すように、X軸ステージ18及びY軸ステージ19を駆動して、多層基板Pをレーザ投光部13に対して移動させる。なお、X軸ステージ18、Y軸ステージ19の走査速度としては、例えば、約20mm/sである。
フェムト秒レーザを用いたスクライブ形成方法では、多層基板Pにレーザ光Lを透過させ、多層基板Pの内部に多光子吸収を発生させることで、微細なクラック等を有する改質領域を形成するものである。
すなわち、多層基板Pがレーザ光Lを吸収することにより多層基板Pを発熱・溶融させるのではない。このため、多層基板Pの焦点以外の部位、例えば表面Psではレーザ光Lがほとんど吸収されず、溶融等を発生することはない。
このようにして、図2(a),図3(b)に示すように、最下光透過層P3内にライン状の改質領域S1が多層基板Pを横断するように形成される。このライン状の改質領域S1は、周辺領域に比べて脆弱な領域であり、したがって、改質領域S1に沿って多層基板Pを複数に分割することが可能となる。
ところで、多層基板Pの最下光透過層P3内に改質領域S1を形成したのみでは、多層基板Pの分割は殆ど不可能である。多層基板Pの厚みに対する改質領域S1のZ軸方向の距離(厚み)が小さいからである。
そこで、図2(b)に示すように、改質領域S1の上部(+Z方向)に、更に改質領域を重ねて形成することで、改質領域のZ軸方向の距離(厚み)を大きくする。具体的には、Z軸駆動部15によりレーザ投光部13を+Z軸方向に移動させて、レーザ光Lの焦点位置を最下光透過層P3内の中間部等に移動させる。そして、改質領域S1に沿って、改質領域S1の上部に重ねて改質領域S2を形成する(図3参照)。
そして、レーザ光Lの焦点位置をZ方向に移動させつつ、改質領域を重ねて形成する工程を複数回繰り返すことで、各光透過層P1〜P3のそれぞれに、ライン状の改質領域S1〜Snを形成する。
このようにして、図4に示すように、Z方向に重ねて配置された複数のライン状の改質領域S1〜Snからなる分割予定線Sを形成する。そして、分割予定線S(改質領域S1〜Sn)の多層基板Pの厚みに対するのZ軸方向の距離(厚み)は十分に大きくなっているので、容易に多層基板Pをこの分割予定線Sに沿って分割することが可能となる。
なお、多層基板Pの分割は、多層基板Pに比較的小さな力を加えること行われる。すなわち、分割予定線Sに沿って亀裂が発生、進行して、多層基板Pが分割(分断)される。また、分割予定線Sに沿って亀裂が発生するので、多層基板Pに不必要な割れを発生させることなく、良好に分割することができる。
なお、多層基板Pに力を加える方法としては、例えば、分割予定線Sに沿って多層基板Pに曲げ応力やせん断応力を加えたり、多層基板Pに温度差を与えて熱応力を発生させたりする。
上述した実施形態においては、説明を分かりやすくするために、ライン(直線)状の分割予定線Sを1本だけ形成する場合について説明したが、これに限らない。複数の分割予定線を平行に形成する場合であってもよい。また、曲線状や格子状の分割予定線を形成してもよい。このような場合であっても、改質領域をZ軸方に重ねて形成する必要があることは言うまでもない。
また、改質領域S1〜Snは、必ずしもZ方向に密着させて配置する必要はない。Z方向に多少の間隔が開く場合であってもよい。
また、全ての改質領域S1〜Snをライン状に形成する必要はない。例えば、破線状の改質領域を形成してもよいし、ライン状と破線状の改質領域をZ軸方向に重ねて形成してもよい。複数の層内に、複数の改質領域を積層させて形成することで、全体として、Z軸方向に十分な厚みのある改質領域からなる分割予定線Sが形成されればよい。
多層基板PをX軸ステージ及びY軸ステージによりX軸方向及びY軸方向に移動させ、またレーザ投光部13をZ軸駆動部によりZ軸方向に移動させる場合について説明したが、これに限らない。
レーザ投光部13を固定して、多層基板PをX軸,Y軸およびZ軸方向に移動させてもよい。逆に、多層基板Pを固定して、レーザ投光部13をX軸,Y軸およびZ軸方向に移動させてもよい。
また、多層基板Pとしては、液晶装置や有機EL装置等のディスプレイ等が挙げられる。主に、多層基板Pの裏面Ptに、電子デバイスや配線パターン等が形成されたTFT基板がある。そして、このような多層基板Pに分割予定線Sを形成した場合には、分割予定線S以外の部分での割れが殆どなくなるので、多層基板Pの分割に伴う電子デバイスや配線パターンの損傷が防止される。
また、多層基板Pとしては、TFT基板等に限らず、内部にマイクロレンズを形成した透明基板であってもよい。
また、説明を分かりやすくするために、多層基板Pが3つの光透過層を有する場合について説明したが、層の数は複数であればよい。同様に、改質領域の数も複数であればよい。
なお、必ずしも全ての光透過層に改質領域を形成する必要はなく、例えば他の光透過層に比べて厚みが小さい薄膜層の場合には改質領域の形成を省略する等、適宜、改質領域の形成を調整してもよい。
また、多層基板が光透過層のみを有する場合について説明したが、多層基板の一部に光を透過しない層があってもよい。例えば、最下光透過層P3が光を透過しない層の場合には、光透過層P2,P1にのみ改質領域を形成すればよい。また、例えば、中間光透過層P2が光を透過しない層の場合には、光透過層P3,P1にのみ改質領域を形成すればよい。この場合には、多層基板Pの表面Ps及び裏面Ptの両側から多層基板P内にレーザ光Lを投光することで分割予定線を形成することができる。
また、多層基板がガラス基板等の光透過層を有する場合について説明したが、レーザ光Lが透過するものであれば、半透明又は不透明な材料からなる多層基板であってもよい。
本実施形態のスクライブ形成装置の概略構成を示す概念図である。 本実施形態のスクライブ形成方法を示す断面図である。 本実施形態のスクライブ形成方法を示す平面図である。 本実施形態の分断予定線が形成された多層基板を示す断面図である。
符号の説明
10…スクライブ形成装置、 11…レーザ光源、 13…レーザ投光部、
15…Z軸駆動部(焦点移動部)、 18…X軸ステージ、 19…Y軸ステージ、
L…レーザ光、 P…多層基板、 P1〜P3…光透過層、 S…分割予定線、
S1〜Sn…改質領域


Claims (7)

  1. 複数の層からなる多層基板に分割予定線を形成するスクライブ形成方法であって、
    前記多層基板の内部にレーザ光を集光すると共に前記多層基板と前記レーザ光を相対移動させて、前記多層基板内に改質領域を形成する工程と、
    前記改質領域を前記多層基板の厚み方向に複数重ねて形成する工程と、
    を有することを特徴とするスクライブ形成方法。
  2. 前記複数の層が光透過層であることを特徴とする請求項1に記載のスクライブ形成方法。
  3. 前記レーザ光として、超短パルスレーザ光を用いることを特徴する請求項1又は請求項2に記載のスクライブ形成方法。
  4. 複数の層からなる多層基板に分割予定線を形成するスクライブ形成装置であって、
    前記多層基板を載置すると共に前記多層基板の面方向に二次元移動可能なステージと、
    前記多層基板に対してレーザ光を照射するレーザ投光部と、
    前記レーザ投光部からのレーザ光の焦点を前記多層基板の厚み方向に移動可能な焦点移動部と、
    を備えることを特徴とするスクライブ形成装置。
  5. 前記複数の層が光透過層であることを特徴とする請求項4に記載のスクライブ形成装置。
  6. 前記レーザ光として、超短パルスレーザ光を用いることを特徴する請求項4又は請求項5に記載のスクライブ形成装置。
  7. 複数の光透過層から形成される多層基板であって、
    前記光透過層のそれぞれに、改質領域を前記多層基板の厚み方向に重ねた分割予定線を有することを特徴とする多層基板。



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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009023215A (ja) * 2007-07-19 2009-02-05 Panasonic Electric Works Co Ltd 積層体の割断方法
JP2011000754A (ja) * 2009-06-17 2011-01-06 Canon Inc 微細構造体の製造方法及び液体吐出ヘッドの製造方法
JP2011011917A (ja) * 2009-06-30 2011-01-20 Mitsuboshi Diamond Industrial Co Ltd レーザ光によるガラス基板加工装置
JP2013220981A (ja) * 2012-04-18 2013-10-28 Optoceramics:Kk 空中結像用の光学パネルの製造方法
JP2016049542A (ja) * 2014-08-29 2016-04-11 アイシン精機株式会社 レーザ加工方法、ガラス加工部品の製造方法及びレーザ加工装置
JP2019063818A (ja) * 2017-09-29 2019-04-25 三星ダイヤモンド工業株式会社 複層脆性材料基板の作製方法および作製システム
JP2019102688A (ja) * 2017-12-05 2019-06-24 株式会社ディスコ ウェーハの加工方法

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009023215A (ja) * 2007-07-19 2009-02-05 Panasonic Electric Works Co Ltd 積層体の割断方法
JP2011000754A (ja) * 2009-06-17 2011-01-06 Canon Inc 微細構造体の製造方法及び液体吐出ヘッドの製造方法
JP2011011917A (ja) * 2009-06-30 2011-01-20 Mitsuboshi Diamond Industrial Co Ltd レーザ光によるガラス基板加工装置
JP2013220981A (ja) * 2012-04-18 2013-10-28 Optoceramics:Kk 空中結像用の光学パネルの製造方法
JP2016049542A (ja) * 2014-08-29 2016-04-11 アイシン精機株式会社 レーザ加工方法、ガラス加工部品の製造方法及びレーザ加工装置
JP2019063818A (ja) * 2017-09-29 2019-04-25 三星ダイヤモンド工業株式会社 複層脆性材料基板の作製方法および作製システム
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