JP2002025259A - リング遅延とカウンタを利用したレジスタ制御遅延固定ループ - Google Patents

リング遅延とカウンタを利用したレジスタ制御遅延固定ループ

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JP2002025259A JP2001049134A JP2001049134A JP2002025259A JP 2002025259 A JP2002025259 A JP 2002025259A JP 2001049134 A JP2001049134 A JP 2001049134A JP 2001049134 A JP2001049134 A JP 2001049134A JP 2002025259 A JP2002025259 A JP 2002025259A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 低周波においても小さい面積を有するリング
遅延とカウンタを利用したレジスタ制御遅延固定ループ
を提供する。 【解決手段】 クロック入力信号を生成する入力部30
0、クロック入力信号により遅延される遅延量をモデリ
ングするための遅延モニター310、内部クロック信号
と、遅延モニターからの信号との位相を比較しシフトを
制御する位相検出器320、リング循環しながら遅延の
加算/減算を制御するシフトレジスタ330と、リング
循環しながら遅延量を調節するディジタル遅延ライン3
40と、ディジタル遅延ラインからの出力データの数を
カウンティングする第1カウンタ350と、シフトレジ
スタからの出力信号の数をカウンティングする第2カウ
ンタ360と、第1カウンタと第2カウンタのカウント
数を比較するカウント比較器370と、クロック出力信
号を出力する出力部380とを含んでなる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明が属する技術分野】本発明は、半導体メモリ装置
に関し、特に、低周波においても小さい面積を有するリ
ング遅延とカウンタを利用したレジスタ制御遅延固定ル
ープに関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、遅延固定ループとは、半導体メ
モリ装置でクロックを用いる同期式メモリの内部クロッ
クを誤りなしに外部クロックと一致するようにするため
に用いる回路である。すなわち、外部から入力されるク
ロックが内部で用いられる時、タイミング遅延が発生す
るが、該タイミング遅延を制御して内部で用いるクロッ
クが外部から入力されるクロックと同一に同期されるよ
うにするために用いる。言い換えれば、外部クロックと
データ、または外部クロックと内部クロックとの間のス
キュー(Skew)を補償するためのクロック発生装置
である。
【0003】図1は、従来の技術の線型レジスタ制御遅
延固定ループの構成を示すブロック図である。
【0004】図1では、DRAMにおける遅延固定ルー
プの用途を示すために遅延固定ループ500と関連した
DRAMの周辺回路構成を同時に示している。
【0005】図1を参照すると、従来の技術の遅延固定
ループは、外部のクロック信号External CL
Kが入力されてクロック入力信号CLKinを生成する
入力部100と、遅延固定ループの最終出力信号である
クロック出力信号CLKoutが入力されて前記クロッ
ク入力信号CLKinで遅延される遅延量をモデリング
する遅延モニター110と、前記入力部100からの内
部クロック信号CLKinと前記遅延モニター110の
フィードバックされる信号とが入力されて二つの信号の
位相を比較してシフトを制御する位相検出器120と、
前記位相検出器120の左側又は右側へのシフト指示を
行う左側シフト信号shift−left及び右側シフ
ト信号shift−rightが入力されて遅延の加算
/減算を制御するシフトレジスタ130と、前記シフト
レジスタ130の出力に応じて遅延量を調節するための
ディジタル遅延ライン140とを備える。
【0006】このような遅延固定ループによりDRAM
コア部150で読み出されたデータは、前記クロック出
力信号CLKoutに同期されてDフリップフロップ1
60及び出力駆動部170を経て外部に出力DQされ
る。遅延固定ループを用いない場合、すなわち前記クロ
ック入力信号CLKinと前記クロック出力信号CLK
outとが同じである場合に、出力されたデータは、外
部クロックExternal CLKに比べて前記入力
部100の時間遅延tと前記Dフリップフロップ16
0及び前記出力駆動部170で遅延される時間遅延t
とを足しただけのスキュー(skew)を有することと
なる。しかし、図1のように、遅延固定ループを使用す
れば、出力されるデータは、外部クロックと正確に同期
される。このようにするためには、クロック出力信号C
LKoutがクロック入力信号CLKinを必要とする
ほど遅延させたものとなるべきであるが、この過程を次
の図2と共に説明する。
【0007】図2は、3段により構成した従来のディジ
タル遅延ライン140の例を示した詳細な回路図であ
る。
【0008】図2を参照すると、ディジタル遅延ライン
140は、シフトレジスタ130からの第1乃至第3シ
フト信号s1、s2、s3とクロック入力信号CLKi
nとが入力されて前記第1乃至第3シフト信号s1、s
2、s3の制御によりクロック入力信号CLKinを伝
達する制御部200と、制御部200の制御を受けて時
間遅延をする遅延部210と、前記遅延部210から入
力される信号を出力する出力部220とを備える。
【0009】具体的に、制御部200は、クロック入力
信号CLKinと第3シフト信号s3とが入力される第
1NANDゲート201と、クロック入力信号CLKi
nと第2シフト信号s2とが入力される第2NANDゲ
ート202と、クロック入力信号CLKinと第1シフ
ト信号s1とが入力される第3NANDゲート203と
を備える。
【0010】また、遅延部210は、第1NANDゲー
ト201と電源電圧が入力される第4NANDゲート2
04と、第4NANDゲート204の出力と電源電圧と
が入力される第5NANDゲート205と、第2NAN
Dゲート202の出力と第5NANDゲート205の出
力とが入力される第6NANDゲート206と、第6N
ANDゲート206の出力と電源電圧とが入力される第
7NANDゲート207と、第3NANDゲート203
の出力と第7NANDゲート207の出力とが入力され
る第8NANDゲート208と、第8NANDゲート2
08の出力と電源電圧とが入力される第9NANDゲー
ト209とを備える。
【0011】また、出力部220は、第9NANDゲー
ト209の出力と電源電圧とが入力される第10NAN
Dゲート220から構成されている。
【0012】図2で示す遅延部210は、二つのNAN
Dゲートから構成されている単位遅延230三つを用い
た3段の遅延部を説明するためのものであって、実際に
は、100段またはその以上の単位遅延230が必要で
ある。また、単位遅延230の個数は、低周波に行くほ
どさらに多くなり得る。
【0013】以下、上記の構成の動作を説明すると、最
初に第1シフト信号s1のみが論理ハイであって、第2
及び第3シフト信号s2、s3は、論理ローであるなら
ば、クロック出力信号CLKoutは、クロック入力信
号CLKinを単位遅延した一つの段だけ遅延させたこ
ととなる。この場合、クロック入力信号CLKinが入
力されるNANDゲート201、202、203とクロ
ック出力信号CLKoutを出力するNANDゲート2
20の遅延は、補償できるものであるので無視しても良
い。
【0014】クロック出力信号CLKoutは、遅延モ
ニター110を経た後、位相検出器120で位相比較を
する。ここで、クロック出力信号CLKoutがさらに
遅延されるべきであるならば、位相検出器120は、左
側シフト信号shift−leftを活性化させる。こ
れによって第1シフト信号s1は、論理ローとなり、前
記第2シフト信号s2は、論理ハイとなる。すなわち、
論理ハイが左側に伝達されるのである。次いで、また位
相検出器120で位相比較をすることとなり、クロック
出力信号CLKoutがさらに遅延されるべきであるな
らば、再び左側シフト信号shift−leftを活性
化させて今回は、第3シフト信号s3に論理ハイを伝達
させる。この場合、クロック出力信号CLKoutは、
クロック入力信号CLKinを単位遅延3段だけ遅延さ
せたこととなる。それに対し、位相検出器120でクロ
ック出力信号CLKoutが小さく遅延されるべきであ
るという判定が出力されれば、右側シフト信号shif
t−rightが活性化され、クロック入力信号CLK
inが経るべき単位遅延の段数を減らすこととなる。上
記のような方法で位相が一致するまで同じ過程が繰り返
される。
【0015】必要な単位遅延の段数は、tCK(一つの
クロック周期)−tDM(補償しようとする遅延)であ
るので、低周波になるほど増えることとなる。例えば、
単位遅延が0.1nsecであって、tCK=15ns
ec、tDM=3nsecであるならば、120段の単
位遅延が必要となる。
【0016】以上、説明したように、従来のレジスタ制
御位相固定ループ(register control
led DLL)は、線型遅延ライン(Linear
delay line)を用いるため、低周波に行くほ
どそれに比例して必要な単位遅延数が増えることとなる
ので、素子面積がさらに増えることとなる問題点が発生
する。
【0017】
【発明が解決しようとする課題】そこで、本発明は上記
従来のレジスタ制御遅延固定ループにおける問題点に鑑
みてなされたものであって、低周波においても小さい面
積を占めるリング遅延とカウンタを利用した遅延固定ル
ープを提供することにその目的がある。
【0018】
【課題を解決するための手段】上記のような目的を達成
するためになされた本発明によるリング遅延とカウンタ
を利用したレジスタ制御遅延固定ループは、半導体メモ
リ装置において、外部のクロック信号が入力されてクロ
ック入力信号を生成する入力部と、遅延固定ループの最
終出力信号であるクロック出力信号が入力されて前記ク
ロック入力信号により遅延される遅延量をモデリングす
るための遅延モニターと、前記入力部からの内部クロッ
ク信号と、前記遅延モニターからフィードバックされる
信号とが入力されて二つの信号の位相を比較してシフト
を制御する位相検出器と、前記位相検出器の左側又は右
側へのシフト指示を行う左側シフト信号及び右側シフト
信号が入力されてリング循環しながら遅延の加算/減算
を制御するシフトレジスタと、前記シフトレジスタの出
力に応じてリング循環しながら遅延量を調節するディジ
タル遅延ラインと、リング循環しながら前記ディジタル
遅延ラインからのデータ出力の数をカウンティングする
第1カウンタと、リング循環しながら前記シフトレジス
タからの信号出力の数をカウンティングする第2カウン
タと、前記第1カウンタと前記第2カウンタのカウント
数を比較するカウント比較器と、前記カウント比較器と
前記ディジタル遅延ラインの出力が入力されてクロック
出力信号を出力する出力部とを含んでなることを特徴と
する。
【0019】
【発明の実施の形態】次に、本発明にかかるリング遅延
とカウンタを利用したレジスタ制御遅延固定ループの実
施の形態の具体例を図面を参照しながら説明する。
【0020】図3は、本発明の遅延固定ループの構成を
示すブロック図である。
【0021】図3を参照すると、外部のクロック信号E
xternal CLKが入力されてクロック入力信号
CLKinを生成する入力部300と、遅延固定ループ
の最終出力信号であるクロック出力信号CLKoutが
フィードバック入力され前記クロック入力信号CLKi
nで遅延される遅延量をモデリングする遅延モニター3
10と、入力部300からの内部クロック信号CLKi
nと遅延モニター310の出力される信号とが入力され
て二つの信号の位相を比較してシフトを制御する位相検
出器320と、位相検出器320の左側又は右側へのシ
フト指示を行う左側シフト信号shift−left及
び右側シフト信号shift−rightが入力されて
リング循環をしながら遅延の加算/減算を制御するシフ
トレジスタ330と、シフトレジスタ330の出力に応
じてリング循環をしながら遅延量を調節するディジタル
遅延ライン340と、リング循環しながらディジタル遅
延ライン340からのデータ出力の数をカウンティング
する第1カウンタ350と、リング循環しながらシフト
レジスタ330からの信号出力の数をカウンティングす
る第2カウンタ360と、第1カウンタ350と第2カ
ウンタ360とのカウント数を比較するカウント比較器
370と、カウント比較器370とディジタル遅延ライ
ン340の出力とが入力されてクロック出力信号CLK
outを出力する出力部380とを備える。
【0022】図4は、3段から構成した本発明のリング
遅延とカウンタを利用したレジスタ制御遅延固定ループ
の実施例を示した詳細な回路図である。
【0023】図4を参照すると、本発明の遅延固定ルー
プは、シフトレジスタ330からの第1乃至第3シフト
信号s1、s2、s3とクロック入力信号CLKinと
が入力されて第1乃至第3シフト信号s1、s2、s3
の制御によりクロック入力信号CLKinを伝達する制
御部400と、リセット信号resetbと制御部40
0の制御を受けてリング循環しながら時間遅延を行う遅
延部410と、遅延部410からの信号出力の数をカウ
ンティングする第1カウンタ350と、リング循環して
いるシフトレジスタ330からの信号出力の数をカウン
ティングする第2カウンタ360と、第1カウンタ35
0と第2カウンタ360のカウント数を比較するための
カウント比較器370と、カウント比較器370と遅延
部410の出力が入力されてクロック出力信号CLKo
utを出力する出力部380とを備える。
【0024】具体的に、制御部400は、クロック入力
信号CLKinと第3シフト信号s3とが入力される第
1NANDゲート401と、クロック入力信号CLKi
nと第2シフト信号s2とが入力される第2NANDゲ
ート402と、クロック入力信号CLKinと第1シフ
ト信号s1とが入力される第3NANDゲート403と
を備える。
【0025】また、遅延部410は、第1NANDゲー
ト401とリング循環される第9NANDゲート409
の出力とが入力される第4NANDゲート404と、第
4NANDゲート404の出力と電源電圧とが入力され
る第5NANDゲート405と、第2NANDゲート4
02の出力と第5NANDゲート405の出力とが入力
される第6NANDゲート406と、第6NANDゲー
ト406の出力と電源電圧とが入力される第7NAND
ゲート407と、第3NANDゲート403の出力と第
7NANDゲート207の出力とが入力される第8NA
NDゲート408と、第8NANDゲート408の出力
と電源電圧とが入力される第9NANDゲート409と
を備える。
【0026】また、出力部380は、第9NANDゲー
ト209の出力とカウント比較器370の出力とが入力
されるNORゲートとから構成されている。
【0027】以下、上記構成の動作を説明すると、基本
的な動作原理は、従来の技術と類似しており、ただし、
第3シフト信号s3が論理ハイとなっても位相検出器3
20で左側シフト信号shift−leftがまた活性
化されれば、論理ハイ値は、また第1シフト信号s1に
伝達され、第2カウンタ360は、回数1を記録するこ
ととなる。第1シフト信号s1が論理ハイであるので、
クロック入力信号CLKinは、単位遅延430一つを
通過して第1カウンタ350に回数1を記録することと
なり、同時にリング循環して単位遅延430三つを通過
することとなる。第1カウンタ350と第2カウンタ3
60のカウント数が同じになると、カウント比較器37
0は、カウント比較器出力信号enbを論理ローにして
総4段を経た信号がクロック出力信号CLKoutに出
力されるようにする。すなわち、3段の遅延のみを有し
ていても、それ以上の遅延が必要な場合に処理できるこ
ととなる。第2カウンタ360は、右側シフト信号sh
ift−rightが活性化されて逆リング循環する場
合にも処理できるために、カウントダウン(Count
Down)機能も実行できるべきである。第1及び第
2カウンタ350、360とカウント比較器370は、
相対的に非常に小さい面積を占めるため、例えば、30
段の遅延を有してもはるかに低い周波数まで動作できる
可能性を有する。
【0028】リセット信号resetbは、初期状態
と、クロック出力信号CLKoutの出力と次のクロッ
ク入力信号CLKinが入力される間毎に、論理ローに
セッティングされてリング遅延を初期化する役割を行
う。
【0029】図5は、上昇クロックに対するリセット信
号resetbのタイミング図である。
【0030】図5を参照すると、クロック信号CLKが
上昇する時ごとにリセット信号resetbが論理ロー
に活性化されてクロック出力信号CLoutが出力さ
れ、クロック入力信号CLkinが入力される前に遅延
部410を初期化させることが分かる。
【0031】尚、本発明は、本実施例に限られるもので
はない。本発明の趣旨から逸脱しない範囲内で多様に変
更実施することが可能である。
【0032】
【発明の効果】上述したように、本発明は、従来のレジ
スタ制御遅延固定ループで用いた線型遅延ラインをリン
グ遅延とカウンタとに置き換えることによって必要な遅
延段数を減少させて素子の全体面積を減らし、低周波動
作時に動作範囲を大幅に広げることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の技術の線型レジスタ制御遅延固定ループ
の構成を示すブロック図である。
【図2】3段から構成した従来のディジタル遅延ライン
の実施例を示した詳細な回路図である。
【図3】本発明のリング遅延とカウンタを利用したレジ
スタ制御遅延固定ループの構成を示すブロック図であ
る。
【図4】3段から構成した本発明の遅延固定ループの実
施例を示した詳細な回路図である。
【図5】本発明の遅延固定ループの上昇クロックに対す
るリセット信号resetbのタイミング図である。
【符号の説明】
300 入力部 310 遅延モニター 320 位相検出器 330 シフトレジスタ 340 ディジタル遅延ライン 350 第1カウンタ 360 第2カウンタ 370 カウント比較器 380 出力部(NORゲート) 400 制御部 401〜409 NANDゲート 410 遅延部 430 単位遅延

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体メモリ装置において、外部のクロ
    ック信号が入力されてクロック入力信号を生成する入力
    部と、 遅延固定ループの最終出力信号であるクロック出力信号
    が入力されて前記クロック入力信号により遅延される遅
    延量をモデリングするための遅延モニターと、 前記入力部からの内部クロック信号と、前記遅延モニタ
    ーからフィードバックされる信号とが入力されて二つの
    信号の位相を比較してシフトを制御する位相検出器と、 前記位相検出器の左側又は右側へのシフト指示を行う左
    側シフト信号及び右側シフト信号が入力されてリング循
    環しながら遅延の加算/減算を制御するシフトレジスタ
    と、 前記シフトレジスタの出力に応じてリング循環しながら
    遅延量を調節するディジタル遅延ラインと、 リング循環しながら前記ディジタル遅延ラインからのデ
    ータ出力の数をカウンティングする第1カウンタと、 リング循環しながら前記シフトレジスタからの信号出力
    の数をカウンティングする第2カウンタと、 前記第1カウンタと前記第2カウンタのカウント数を比
    較するカウント比較器と、 前記カウント比較器と前記ディジタル遅延ラインの出力
    が入力されてクロック出力信号を出力する出力部とを含
    んでなることを特徴とするリング遅延とカウンタを利用
    したレジスタ制御遅延固定ループ。
  2. 【請求項2】 前記ディジタル遅延ラインは、前記シフ
    トレジスタから出力されるシフト信号と前記クロック入
    力信号とが入力されて前記シフト信号の制御により前記
    クロック入力信号を伝達する制御部と、 リセット信号と前記制御部の制御を受けてリング循環し
    ながら時間遅延を行う遅延部とを含んでなることを特徴
    とする請求項1に記載のリング遅延とカウンタを利用し
    たレジスタ制御遅延固定ループ。
  3. 【請求項3】 前記制御部は、前記クロック入力信号と
    前記シフト信号とが入力される多数のロジックゲートを
    含んでなることを特徴とする請求項2に記載のリング遅
    延とカウンタを利用したレジスタ制御遅延固定ループ。
  4. 【請求項4】 前記遅延部は、第1ステージ単位遅延
    端、多数の中間ステージ単位遅延端、及び最終ステージ
    単位遅延端を含んでおり、 前記第1ステージ単位遅延端は、前記ロジックゲートと
    リング循環される第9ロジックゲートの出力が入力され
    る第4ロジックゲートと前記第4ロジックゲートの出力
    と電源電圧とが入力される第5ロジックゲートとを備
    え、 前記中間ステージ単位遅延端は、前記制御部の出力信号
    と前記第1ステージ単位遅延端の出力信号が入力される
    第6ロジックゲートと、前記第6ロジックゲートの出力
    と電源電圧とが入力される第7ロジックゲートとを備
    え、 前記最終ステージ単位遅延端は、前記制御部の出力信号
    と前記中間ステージ単位遅延端の出力信号とが入力され
    る第8ロジックゲートと、前記第8ロジックゲートの出
    力と電源電圧とが入力される前記第9ロジックゲートと
    を備えることを特徴とする請求項2又は3記載のリング
    遅延とカウンタを利用したレジスタ制御遅延固定ルー
    プ。
  5. 【請求項5】 前記出力部は、前記遅延部の出力と前記
    カウント比較器の出力とが入力されるロジックゲートを
    含むことを特徴とする請求項1に記載のリング遅延とカ
    ウンタを利用したレジスタ制御遅延固定ループ。
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