JP2001272606A - 照明光学系及び照明光学系を備えた顕微鏡 - Google Patents

照明光学系及び照明光学系を備えた顕微鏡

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JP2001272606A JP2000083318A JP2000083318A JP2001272606A JP 2001272606 A JP2001272606 A JP 2001272606A JP 2000083318 A JP2000083318 A JP 2000083318A JP 2000083318 A JP2000083318 A JP 2000083318A JP 2001272606 A JP2001272606 A JP 2001272606A
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    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
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    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/0088Inverse microscopes

Abstract

(57)【要約】 【課題】 蛍光色素を励起するのに十分な強度を有する
レーザー光を用いつつ、装置全体もコンパクトでありな
がら、容易にエヴァネッセント照明と通常の落射照明が
切り替え可能な照明光学系及びこの照明光学系を備えた
顕微鏡を提供する。 【解決手段】 光源1から射出されたレーザ光を、レー
ザ光導入機構2を介して光ファイバ3に入射させる。光
ファイバ3の出射端はファイバ位置調整つまみ5を有す
るアダプタ4に接続されている。落射照明投光管6内に
設けられた集光レンズ14によって、対物レンズ7の後
側焦点位置FBの位置と光ファイバ3の出射端が共役に
なっており、光ファイバ3の出射端の位置を移動させる
ことで従来の落射照明とエヴァネッセント照明が行える
ようにした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術の分野】本発明は顕微鏡に関し、特
に全反射を利用して試料を照明する照明光学系、及び該
照明光学系を備えた蛍光顕微鏡に関する。また、従来の
落射照明光学系による照明と全反射を利用した照明の両
方を使用できる顕微鏡に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、生物学の研究において、全反射を
利用した照明(以下、エヴァネッセント照明とする)が
蛍光色素の励起方法に用いられることが多くなってきて
いる。その理由は、照明範囲が試料の深さ方向に対して
極めて浅いため、バックグランドの影響を受けず、試料
の表面付近の情報が高感度で得られるためである。
【0003】従来の落射照明光学系とエヴァネッセント
照明とを具体的に比較すると、以下のようになる。従来
の落射照明では図11に示すように、照明光は対物レン
ズを介して光軸に沿ってカバーガラス上の試料(図示せ
ず)に照射される。この時、対物レンズの焦点位置近傍
が最も照明強度が強く、焦点位置から離れるにしたがっ
て照明強度は弱くなる。このように、照明光は試料の深
さ方向に強度分布が変化しているがある範囲内で強度を
有するため、その範囲に応じた試料の深さ方向すべての
蛍光色素がほとんど励起されてしまう。そのため、対物
レンズの焦点面以外の蛍光はバックグラウンド光となっ
て観察され、S/N比を落としてしまう。
【0004】一方、エヴァネッセント照明は図12に示
すように、照明光は対物レンズを介して照射されるが、
照明光は光軸に対して斜め方向から照射される。この時
の照射角度は、カバーガラスと試料の境界で全反射が発
生するよう角度に設定されている。ただし、照明光はこ
の境界で全て反射されるのではなく、一部のごくわずか
の光はカバーガラスから試料側へにじみ出る。この境界
からにじみ出た光がエヴァネッセント光で、試料の深さ
方向へにじみ出だす量は使用する光源の波長程度とな
る。そこで、エヴァネッセント光を照明光として利用し
た場合、照明範囲は使用する光源の波長程度の深さに限
られることから、蛍光を発する部分が極めて狭くそれ以
外は蛍光を発しなくなり、通常の落射照明時と異なりバ
ックグラウンドとなる蛍光が非常に少なくなる。従っ
て、エヴァネッセント照明では極めて高いS/N比を実
現でき、特に、細胞膜表面の観察やカバーガラス表面付
近に局在する蛍光色素一分子の可視化に有効である。
【0005】このエヴァネッセント照明を実現する手段
としては、特開平9−159922号公報、特開平11
−211990号公報、Noninvasive Techniques in Ce
ll Biology(P93-127,Wiley-liss, Inc 1990)が知られ
ている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
先行技術における構成では、エヴァネッセント照明は実
現できるものの、照明光(励起光)としてのレーザ光
は、レーザ光源と顕微鏡の間に配置された反射ミラーな
どの光学素子を介して顕微鏡に導かれるように構成され
ている、このような構成だと、光学素子の調整を必要と
する他、光学素子を埃から遮断するための覆いが必要と
なり、装置が大型化してしまう。また、レーザ光源と顕
微鏡の配置の自由度も制限される。
【0007】また、このエヴァネッセント照明をするた
めには、試料に対する照明光の照射角度が重要で、全反
射が生じる角度にしなければならない。ところが、この
全反射を生じる角度は角度ずれに敏感であるため、少し
でも照射角度がずれると全反射が生じなくなってしま
う。この角度ずれが生じる原因の一つとしては、外部か
らの振動が挙げられる。レーザ光源や顕微鏡、あるいは
光学素子に振動が伝わると、これらの部材が振動する。
その結果、レーザ光の照射位置や照射角度が微妙に変動
しずれを生じる。そのため、レーザ光源と顕微鏡を防振
台の上に一体で配置する必要がある。また、レーザ光源
から顕微鏡までレーザ光を導く間に、レーザ光の光束径
を広げるビームエキスパンダや集光レンズ等の光学系が
必要になるが、これらの光学系も同じ防振台の上に配置
しなければならないので、結果的に装置全体が大型化し
てしまう。
【0008】また、Noninvasive Techniques in Cell B
iologyでは水銀ランプを用い、照明光路途中に輪帯状の
開口を有する円錐状のプリズム(アキシコンプリズム)
を挿入することでエヴァネッセント照明を実現する旨が
記載されている。アキシコンプリズムを使用すれば、確
かに水銀ランプの一点から発した光については輪帯状に
することはできる。しかしながら、実際の水銀ランプの
発光領域は0.5mm以上の大きさを有しているため、輪
帯状の光が重なり合うことになり、全体としてはほとん
ど輪帯状の光束にはならない。結局、この方法では絞り
を多用して水銀ランプの一点から発した光束のみだけを
取り出すようにする必要がある。しかし、これでは水銀
ランプから発した光のほとんどが絞りでカットされてし
まうため、照明強度が低下する恐れがある。
【0009】このような問題に鑑み、本発明は、蛍光色
素を励起するのに十分な強度を有するレーザ光を用いつ
つ、装置全体もコンパクトでありながら、容易にエヴァ
ネッセント照明と通常の落射照明が切り替え可能な照明
光学系、及びこの照明光学系を備えた顕微鏡を提供する
ことである。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明の照明光学系は、レーザ光源と、前記レーザ
光源を発した光を光ファイバへ導入する導入光学系と、
前記光ファイバを出射した光を試料に照射する照射光学
系を備え、該照射光学系は、前記試料側に配置された第
1の集光光学系と前記光ファイバ側に配置された第2の
集光光学系を有し、前記第2の集光光学系は前記第1の
集光光学系の後側焦点位置あるいはその近傍に前記光フ
ァイバから射出された光を集光させ、前記光ファイバを
前記照射光学系の光軸に垂直な面内で移動させる移動機
構を備えることを特徴とする。
【0011】また、本発明の顕微鏡は、レーザ光源と、
前記レーザ光源を発した光を光ファイバへ導入する導入
光学系と、前記光ファイバを出射した光を試料に照射す
る照射光学系を備え、該照射光学系は、前記試料側に配
置された第1の集光光学系と前記光ファイバ側任配置さ
れた第2の集光光学系を有し、前記第2の集光光学系は
前記第1の集光光学系の後側焦点位置あるいはその近傍
に前記光ファイバから射出された光を集光させ、前記光
ファイバを前記照射光学系の光軸に垂直な面内で移動さ
せる移動機構を備え、前記ファイバを前記照射光学系の
光軸上に位置させた第1の照明と、前記ファイバを前記
照射光学系の光軸から離れて位置させた第2の照明を有
することを特徴とする。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態につい
て、図面に基づいて説明する。 (第1実施例)第1実施例を図1乃至図4に示す。図1
は本発明の照明光学系を備えた倒立型の蛍光顕微鏡であ
る。図1において1は光源、2はレーザ光導入機構、3
は光ファイバ、4はアダプタ、5はファイバ位置調整つ
まみ、6は落射照明投光管、7は対物レンズ、8は試
料、9はダイクロイックミラー、10は吸収フィルタ、
11顕微鏡本体、12は観察鏡筒である。
【0013】光源1はレーザ光源であって、光源1から
射出したレーザ光はレーザ光導入機構2を介して光ファ
イバ3に導かれる。レーザ光導入機構2は図2に示すよ
うにレンズ13からなる導入光学系を有しており、光源
1から射出された略平行なレーザ光を光ファイバ3の入
射端面に集光する。なお、光ファイバ3のコア径に応じ
て、レンズ13よりも光源1側レーザ光の光束径を拡大
あるいは縮小する光束径変換光学系が配置される場合が
ある。この場合、導入光学系はレンズ13と光束径変換
光学系とで構成されることになる。また、光ファイバ3
の開口数よりも、レンズ13で集光される光束で決まる
開口数のほうが小さいことが望ましい。
【0014】光ファイバ3に入射したレーザ光は、光フ
ァイバ3内を伝播し出射端に達する。光ファイバ3の出
射端はアダプタ4に接続されている。アダプタ4は落射
照明投光管6に接続され、光ファイバ3から出射したレ
ーザ光を落射照明投光管6に導く。アダプタ4内には公
知の調整機構が備えられており、光ファイバ3の出射端
はこの調整機構に保持されている。公知の調整機構は、
光ファイバ3を光軸方向や光軸に垂直な面内方向に移動
させることができるほか、光軸に対する傾を調整できる
ようになっている。この調整機構にはファイバ位置調整
つまみ5が設けられ、ファイバ位置調整つまみ5を操作
することにより光ファイバ3の出射端の位置が外部から
調整できるようになっている。
【0015】光ファイバ3の出射端から射出したレーザ
光は、落射照明投光管6内を通過してダイクロイックミ
ラー9に入射する。レーザ光はダイクロイックミラー9
によって対物レンズ7に向けて反射され、対物レンズ7
を介して試料8に照射される。試料8から発生した蛍光
は対物レンズ7、ダイクロイックミラー9、吸収フィル
タ10を通過して観察鏡筒12に達する。
【0016】図3及び図4は落射照明投光管6内に設け
られた照明光学系の主要部で、光ファイバ3から射出さ
れたレーザ光を試料8に照射する照射光学系15を示し
ている。照射光学系15は、試料側に配置された対物レ
ンズ7(第1の集光光学系)と光ファイバ3側に配置さ
れた集光レンズ14(第2の集光光学系)で構成されて
いる。図3は従来の落射照明(ケーラー照明)を行う場
合の光学配置を示す図で、図4はエヴァネッセント照明
を行う場合の光学配置を示す図である。いずれの図にお
いても、簡単のためにダイクロイックミラー9は省略
し、光ファイバ3から対物レンズ7までを直線的に表示
している。
【0017】図3に示す従来の落射照明(第1の光路)
では、光ファイバ3の出射端は照射光学系15の光軸1
6上に位置している。また、集光レンズ14は対物レン
ズ7の後側焦点位置FBの位置と光ファイバ3の出射端
とが共役になるように配置されている。そのため、光フ
ァイバ3から射出したレーザ光は対物レンズ7の後側焦
点位置FBに一旦集光してから対物レンズ7に入射す
る。この結果、対物レンズ7から射出するレーザ光束は
平行光束になり、試料8はケーラー照明によって照明さ
れることになる。
【0018】一方、エヴァネッセント照明(第2の光
路)を行う場合は、図4に示すように光ファイバ3の出
射端面を、光軸16上の位置(破線で示す従来の照明位
置)から光軸16以外の位置に移動させる。本実施例で
は、対物レンズ7の後側焦点位置FBにおける光軸16
に垂直な面(以下、対物レンズ7の後側焦点面という)
内を光ファイバ3の出射端の投影像が移動するように、
光ファイバ3の出射端を移動させる。この時、光ファイ
バ3の出射端面から射出される光束の中心光線18(光
ファイバ3から発散せずに直進する光線)が主光線とな
って対物レンズ7の後側焦点面に対して傾いて入射させ
るようにすると、照明光の利用効率を高くできるので好
ましい。
【0019】また、光ファイバ3の出射端の移動に合わ
せて、光ファイバ3の出射端面の向きも変化させるほう
が好ましい。また、光ファイバ3の出射端の移動軌跡が
円弧状になるように、光ファイバ3を移動させるように
しても良い。図3では、従来の落射照明における光ファ
イバ3に比べ、エヴァネッセント照明における光ファイ
バ3の位置が集光レンズ14側に大きくずれているが、
これは従来の落射照明とエヴァネッセント照明との違い
を明確にするためで、実際にはわずかなずれ量である。
光ファイバ3の出射端面の移動は、ファイバ位置調整つ
まみ5を操作して行う。なお、図1では調整つまみの数
は1しか示されていないが、複数の調整つまみを設けて
調整するようにしても構わない。
【0020】ファイバ位置調整つまみ5を操作して光フ
ァイバ3の出射端を光軸上から光軸外にずらすと、対物
レンズ7に入射する光束の角度が変化する。対物レンズ
7から射出されるレーザ光は従来の落射照明と同じよう
に平行光束のままであるが、光軸16に対して傾いて射
出する。対物レンズ7から射出される光束の角度は、光
ファイバ3の移動に伴って変化していく。
【0021】前述のように、エヴァネッセント照明は全
反射を利用するものである。ここで、カバーガラス17
の屈折率をn1、試料側の屈折率をn2とすると、光軸1
6を基準にしたときの対物レンズ7から射出される光束
の角度θがsin-1(n2/n1)よりも小さい場合、対物
レンズ7から射出される光束はカバーガラス17及び試
料8を通過していく。ところが、角度θがsin-1(n2
1)に等しくなる(あるいはそれ以上になる)と、カ
バーガラス17及び試料8(あるいは標本を保持する培
養液や水)の境界で全反射が生じる。
【0022】そのため、ほとんどのレーザ光は試料8に
達しなくなるが、ごく一部のレーザ光はカバーガラス1
7と試料8の境界を超えて試料8側に達する(試料8側
へにじみ出す)。この光がエヴァネッセント光(エヴァ
ネッセント場)で、試料8側へにじみ出す光軸方向の量
は照明光の波長程度である。このように、エヴァネッセ
ント照明では、試料の光軸方向の照明範囲が波長程度と
非常に狭いため、境界付近の標本の情報(蛍光)のみを
高感度で検出することができる。
【0023】なお、本実施例の対物レンズ7は、対物レ
ンズ7とカバーガラス17との間にイマージョンオイル
を満たして使用する液浸対物レンズであって、開口数は
1.4である。また、カバーガラス17の屈折率は1.
52で、イマージョンオイルの屈折率は1.52であ
る。したがって、カバーガラス17とイマージョンオイ
ルとの間で屈折はほとんど生じない。
【0024】以上述べたように、本実施例では光源から
射出されたレーザ光を光ファイバで顕微鏡に導くように
構成しているため、顕微鏡に対して光源を自由に配置す
ることができ、レイアウトの自由度が高い。また、光源
と顕微鏡の間に反射ミラーやリレーレンズなどの光学素
子を配置する従来の構成では、顕微鏡までレーザ光を導
くためにレーザ光を見ながらこれらの光学素子の配置位
置や傾きを調整しなければならないが、本実施例のよう
に光ファイバを用いるとレーザを見ながら調整する必要
はなくなるので安全面で有効である。また、これらの光
学素子を保持したり調整したりする機構が不要になるほ
か、光学素子を埃などから隔離するための防塵部材(カ
バー)など必要がないので装置を小型化ができる。ま
た、調整はアダプタに設けられた1ヶ所だけで行えば良
いので調整が容易に行える。
【0025】(第2実施例)第2実施例を図5に示す。
図5も落射照明投光管6内に設けられた照明光学系の主
要部を示したもので、第1実施例とは異なる光学配置を
示している。光ファイバ3から射出されたレーザ光を試
料8に照射する照射光学系20は、試料側に配置された
対物レンズ7と光ファイバ3側に配置された集光レンズ
系19で構成されている。本実施例においても、簡単の
ためにダイクロイックミラー9は省略し、光ファイバ3
から対物レンズ7まで直線的に表示している。
【0026】集光レンズ系19は複数のレンズで構成さ
れ、対物レンズ7の後側焦点位置F Bの位置と光ファイ
バ3の出射端が共役になるように配置されている。した
がって、破線で示す位置に光ファイバ3がある場合は、
光ファイバ3から射出したレーザ光は対物レンズ7の後
側焦点位置FBに一旦集光した後に対物レンズ7に入射
し、光軸16に平行なレーザ光束となって対物レンズ7
から射出されるので、ケーラー照明となる。一方、エヴ
ァネッセント照明を行う場合は、実線で示すように光フ
ァイバ3の出射端面が光軸16から離れた位置に移動す
る。
【0027】本実施例では、集光レンズ系19は片側テ
レセントリック光学系であって、対物レンズ7側に対し
てテレセントリックになっている。したがって、光束光
ファイバ3から射出された光束のうち中心光線(主光
線)21は、集光レンズ系19に入射する時は光軸16
に対して非平行になっているが、集光レンズ系19から
射出する際には光軸16と平行になっている。また、光
ファイバ3から射出された光束のうち周辺光線22、2
3は、それぞれ集光レンズ系19から射出する際には対
物レンズの後側焦点位置FBで交わる収斂光線となる。
【0028】この結果、カバーガラス17と標本8の境
界に照射される光束の範囲(照明範囲)Dは略円形にな
る。このように本実施例では、光ファイバ3から射出し
たレーザ光を全て利用することができるため、照明効率
の高い照明が行える。
【0029】(第3実施例)第3実施例を図6に示す。
図6も落射照明投光管6内に設けられた照明光学系の主
要部を示す図ある。光ファイバ3から射出されたレーザ
光を試料8に照射する照射光学系は、試料側に配置され
た対物レンズ7と光ファイバ3側に配置された集光レン
ズ系24で構成されている。本実施例においても、簡単
のためにダイクロイックミラー9は省略し、光ファイバ
3から対物レンズ7まで直線的に表示している。
【0030】第2実施例と同様に、集光レンズ系24は
複数のレンズで構成され、対物レンズ7の後側焦点位置
Bの位置と光ファイバ3の出射端が共役になるように
配置されている。したがって、破線で示す位置に光ファ
イバ3がある場合は、光ファイバ3から射出したレーザ
光は対物レンズ7の後側焦点位置FBに一旦集光した後
に対物レンズ7に入射し、光軸16に平行なレーザ光束
となって対物レンズ7から射出されるので、ケーラー照
明となる。一方、エヴァネッセント照明を行う場合は実
線で示すように、光ファイバ3の出射端面が光軸16上
の位置から光軸16以外の位置に移動する。
【0031】本実施例では、集光レンズ系24は両側テ
レセントリック光学系になっている。したがって、光フ
ァイバ3から射出された光束のうち中心光線(主光線)
26は、集光レンズ系24に入射する際も射出する際
も、主光線26は光軸16と平行になっている。また、
光ファイバ3から射出された光束のうち周辺光線は、そ
れぞれ集光レンズ系24から射出する際には対物レンズ
の後側焦点位置FBで交わる収斂光線となる。
【0032】この結果、第2実施例と同様にカバーガラ
ス17と標本8の境界に照射される光束の範囲(照明範
囲)Dは略円形になる。よって、光ファイバ3から射出
したレーザ光を全て利用することができるため、照明効
率の高い照明が行える。また、本実施例の場合、光ファ
イバ3の移動は光軸に垂直な面内のみで良く、移動の際
に光ファイバ3の出射端面を光軸16に対して傾ける必
要もない。したがって、第1実施例や第2実施例に比べ
て、光ファイバ3の位置を調整する調整機構を簡略化す
ることができ、操作性が向上する。
【0033】なお、図7は集光レンズ系24の具体例で
あって、2枚の正レンズ27、28で集光レンズ系24
を構成したものである。光ファイバ3の出射端が正レン
ズ27の前側焦点面に配置され、正レンズ28後側焦点
面に対物レンズ7の後側焦点位置FBが一致する構成と
なっている。図7では2枚のレンズで集光レンズ系が構
成できるので、コスト的に有効である。
【0034】(第4実施例)第4実施例を図8に示す。
図8も落射照明投光管6内に設けられた照明光学系の主
要部を示す図である。光ファイバ3から射出されたレー
ザ光を試料8に照射する照射光学系25は、試料側に配
置された対物レンズ7’と光ファイバ3側に配置された
集光レンズ系24で構成されている。本実施例において
も、簡単のためにダイクロイックミラー9は省略し、光
ファイバ3から対物レンズ7まで直線的に表示してい
る。
【0035】本実施例では、第3実施例の対物レンズ7
の代わりに、別の対物レンズ7’が用いられた場合の様
子を示すものである。図7と同様に、集光レンズ系25
は2枚の正レンズ27、28で構成され、対物レンズ7
の後側焦点位置FBが位置と光ファイバ3の出射端が共
役になるように配置されている。
【0036】対物レンズ7’は第3実施例の対物レンズ
7と異なる後側焦点位置FB’を有している。しがっ
て、対物レンズ7の代わりに対物レンズ7’が用いられ
た場合、集光レンズ系24に対して後側焦点位置がΔmm
ずれることになる。この場合、主光線26と周辺光線2
9、30は対物レンズ7’を射出する際に平行とはなら
ない。そのため、一部の光線が全反射されなくなってし
まう。その結果、カバーガラス17と標本8の境界に照
射される光束の範囲(照明範囲)Dは略円形にならず、
観察に必要な範囲を効率よく照明できなくなる。
【0037】そこで本実施例では、集光レンズ系24を
光軸方向に移動する移動機構を備えることによって、対
物レンズの交換に伴って生じる後側焦点位置の変化に応
じて集光レンズ系24を光軸方向に移動させるようにし
ている。これによって、使用する対物レンズの後側焦点
位置が異なっても、光ファイバ3から射出したレーザ光
を常に後側焦点位置に集光させることができる。
【0038】なお、集光レンズ系24の移動に合わせて
光ファイバ3も光軸方向に移動させても良い。この場
合、光ファイバ3の出射端面が集光レンズ系24の前側
焦点位置に一致するように光ファイバ3を移動させるこ
とが望ましい。
【0039】また、集光レンズ系24を構成するレンズ
27とレンズ28を一体に移動させず、個別に移動させ
ることもできる。レンズ27とレンズ28の個々の移動
量を異ならせた場合、集光レンズ系24のテレセントリ
ック性が失われることになる。しかしながら、第1実施
例のように、光ファイバ3の出射端面と対物レンズの後
側焦点位置が共役になるようにレンズ27、28あるい
は更に光ファイバ3を移動させれば、エヴァネッセント
照明を行うことができる。
【0040】なお、図8では、レンズ27、28及び光
ファイバ3の移動量はいずれもΔとなっているが、上述
のように必ずしも同じ量移動させなければならないわけ
ではない。
【0041】以上説明したように、本実施例において
も、同じ移動量が同じから射出したレーザ光を全て利用
することができるため、照明効率の高い照明が行える。
また、本実施例の場合、光ファイバの移動は光軸に垂直
な面内のみで良く、移動の際に光ファイバ3の出射端面
を円弧状に移動させる必要もない。したがって、第1実
施例や第2実施例に比べて、光ファイバ3の位置を調整
する調整機構を簡略化することができ、操作性が向上す
る。
【0042】(第5実施例)第5実施例を図9に示す。
本実施例は第1実施例の変形例であって、全体構成を上
方から見た図である。第1実施例と同じ構成については
同じ番号を付し説明は省略する。本実施例では、倒立型
顕微鏡31に設けてある落射照明投光管6の一端に、ア
ダプタ32が接続されている。このアダプタ32は内部
に光分割素子33を備えており、2つの方向から入射す
る光を一つの光路に合成する機能を有する。
【0043】そのため、アダプタ32の一方の入射端に
第1実施例のアダプタ4を接続し、もう一方の入射端に
落射照明で用いられる水銀ランプを接続すると、光源1
からのレーザ光によるエヴァネッセント照明と水銀ラン
プよる従来の落射照明とが行える。したがって、複数の
蛍光色素を用いた試料を観察する場合や試料の位置を探
す場合には水銀ランプよる従来の落射照明を行い、試料
を高感度で観察する場合にはエヴァネッセント照明によ
る照明を行うというように、目的に応じて照明方法を切
換えることができるので操作性や利便性が向上する。
【0044】なお、本実施例においても、光ファイバ3
の射出端面を対物レンズ7の後側焦点位置に投影する光
学系が落射照明投光管6内に設けられている。ただし、
本実施例のように従来の落射照明で用いられる水銀ラン
プも使用する場合、従来の落射照明性能を維持する観点
からすると、落射投光管6として従来の蛍光顕微鏡で用
いられる落射照明投光管を用いることが良いこともあ
る。この場合、従来の落射照明投光管の光学系を利用す
るかあるいは更に光学系を追加して、光ファイバ3の射
出端面を対物レンズ7の後側焦点位置に投影できるよう
に構成すれば良い。
【0045】また、光分割素子33としては、ミラー、
ハーフミラー、ダイクロイックミラーなどがある。光分
割素子33としてミラーを用いた場合は、ミラーを光路
中に挿脱することによってエヴァネッセント照明と従来
の落射照明を切換えることができる。この場合、いずれ
の照明においても光量損失がない。また、光分割素子3
3としてハーフミラーを用いた場合は、ハーフミラーを
光路中に挿脱する必要がなくなるので装置を簡素化でき
る。ただし、光量損失が生じる。また、光分割素子33
としてダイクロイックミラーを用いた場合は、光量損失
はほとんど生じない。
【0046】また、光源1とは別の波長のレーザ光を射
出する光源、レーザ光導入機構、光ファイバ、アダプ
タ、ファイバ位置調整つまみを別に1セット用意し、水
銀ランプ34の代わりにアダプタを介してアダプタ32
に取り付けることもできる。この場合、複数の異なる波
長によるエヴァネッセント照明が可能となる。
【0047】(第6実施例)第6実施例を図10に示
す。第1実施例と同じ構成については同じ番号を付し説
明は省略する。図10は本発明の照明光学系を備えた正
立型の蛍光顕微鏡である。図10において1は光源、2
はレーザ光導入機構、3は光ファイバ、4はアダプタ、
5はファイバ位置調整つまみ、6は落射照明投光管、7
は対物レンズ、8は試料、9はダイクロイックミラー、
10は吸収フィルタ、35は顕微鏡本体、12は観察鏡
筒である。
【0048】本実施例では、光ファイバ3としてシング
ルモードファイバを用いている。シングルモードファイ
バを用いると光ファイバ3の出射端面の大きさが小さく
なるため、対物レンズ7の後側焦点位置に投影される光
ファイバ3の出射端面の像の大きさも小さくすることが
できる。この場合、従来の落射照明となる範囲に比べて
エヴァネッセント照明となる範囲は極端に小さくなる
が、その範囲内に確実に光ファイバの投影像を移動させ
ることができ、従来の落射照明との切換えが容易にな
る。
【0049】なお、本実施例にかぎらず、第1実施例乃
至第5実施例の光ファイバとしてシングルモードファイ
バを用いても構わない。以上、各実施例について説明し
たが、本発明には以下のような特徴も含まれる。
【0050】(1)レーザ光源と、前記レーザ光源を発
した光を光ファイバへ導入する導入光学系と、前記光フ
ァイバを出射した光を試料に照射する照射光学系を備
え、該照射光学系は、前記試料側に配置された第1の集
光光学系と前記光ファイバ側任配置された第2の集光光
学系を有し、前記第2の集光光学系は前記第1の集光光
学系の後側焦点位置あるいはその近傍に前記光ファイバ
から射出された光を集光させ、前記光ファイバを前記照
射光学系の光軸に垂直な面内で移動させる移動機構を備
える照明光学系。
【0051】(2)前記第2の集光光学系は、略片側テ
レセントリック光学系であることを特徴とする(1)に
記載の照明光学系。。 (3)前記第2の集光光学系は、略両側テレセントリッ
ク光学系であることを特徴とする(1)または(2)に
記載の照明光学系。
【0052】(4)前記移動機構は、前記光ファイバを
前記照射光学系の光軸中心に対して略垂直な平面内で移
動させることを特徴とする(3)に記載のレーザー顕微
鏡。 (5)前記第2の集光光学系は、二つの正レンズ成分か
らなることを特徴とする(3)に記載の照明光学系。
【0053】(6)第2の集光光学系を構成するレンズ
成分は、それぞれ前記照射光学系の光軸方向に移動可能
なことを特徴とする(2)または(3)に記載の照明光
学系。
【0054】(7)導入光学系を構成するレンズ成分
は、前記レーザ光源の射出光軸方向に移動可能なことを
特徴とする(2)または(3)に記載の照明光学系。 (8)前記略片側テレセントリック光学系は、前記第1
の集光光学系側がテレセントリックになっている(2)
に記載の照明光学系。
【0055】(9)レーザ光源と、前記レーザ光源を発
した光を光ファイバへ導入する導入光学系と、前記光フ
ァイバを出射した光を試料に照射する照射光学系を備
え、該照射光学系は、前記試料側に配置された第1の集
光光学系と前記光ファイバ側任配置された第2の集光光
学系を有し、前記第2の集光光学系は前記第1の集光光
学系の後側焦点位置あるいはその近傍に前記光ファイバ
から射出された光を集光させ、前記光ファイバを前記照
射光学系の光軸に垂直な面内で移動させる移動機構を備
え、前記ファイバを前記照射光学系の光軸上に位置させ
た第1の照明と、前記ファイバを前記照射光学系の光軸
から離れて位置させた第2の照明を有する顕微鏡。
【0056】(10)前記第2の照明は前記標本近傍で
全反射を生じる(9)記載の顕微鏡。
【0057】
【発明の効果】以上説明したとおり、本発明によれば、
十分な照明強度を有するレーザー光を用いながも、装置
全体もコンパクトでありながら、エヴァネッセント照明
と通常の落射照明が容易に切り替え可能な照明光学系及
び顕微鏡を提供することができる。
【0058】また、照明光学系の一部にテレセントリッ
ク光学系を用いることにより光ファイバからの出射光を
効率よくエヴァネッセント照明として利用することがで
きる。
【0059】また、前記光ファイバーを光軸中心に対し
て移動させる方向が略垂直面内にすることで、移動機構
が簡略化されるだけでなく、エヴァネッセント照明と通
常の落射照明との切り替え時の操作性を向上することが
できる。
【0060】また、照明光学系の少なくとも一部を光軸
方向に移動させることにより、後側焦点位置が異なる対
物レンズを用いた場合でも、光ファイバを出射した光を
前記対物レンズの略後側焦点位置付近に集光させること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例の照明光学系を備えた倒立
型の蛍光顕微鏡の構成を示す図。
【図2】レーザ光導入機構を示す図。
【図3】第1実施例の照明光学系の主要部を示す図であ
って、ケーラー照明の場合の構成。
【図4】第1実施例の照明光学系の主要部を示す図であ
って、エヴァネッセント照明の場合の構成。
【図5】照明光学系の主要部を示す第2実施例を示す
図。
【図6】照明光学系の主要部を示す第3実施例を示す
図。
【図7】照明光学系の主要部を示す第3実施例を示す図
であって、具体的なレンズ構成の一例。
【図8】照明光学系の主要部を示す第4実施例を示す
図。
【図9】第5実施例の構成を示す図であって、第1実施
例の変形例を示す図。
【図10】本発明の照明光学系を備えた正立型の蛍光顕
微鏡の構成を示す図。
【図11】従来の落射照明を示す図。
【図12】エヴァネッセント照明を示す図。
【符号の説明】
1 光源 2 レーザ光導入機構 3 光ファイバ 4、32 アダプタ 5 ファイバ位置調整つまみ 6 落射照明投光管 7 対物レンズ 8 試料 9 ダイクロイックミラー 10 吸収フィルタ 11、35 顕微鏡本体 12 観察鏡筒 13 レンズ(導入光学系) 14 集光レンズ 15、20、25 照射光学系 16 光軸 17 カバーガラス 18、21、26 光束の中心光線(主光線) 19、24 集光レンズ系 22、23、29、30 周辺光線 27、28 正レンズ 31 倒立型顕微鏡 33 光分割素子

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザ光源と、前記レーザ光源を発した
    光を光ファイバへ導入する導入光学系と、前記光ファイ
    バを出射した光を試料に照射する照射光学系を備え、該
    照射光学系は、前記試料側に配置された第1の集光光学
    系と前記光ファイバ側に配置された第2の集光光学系を
    有し、前記第2の集光光学系は前記第1の集光光学系の
    後側焦点位置あるいはその近傍に前記光ファイバから射
    出された光を集光させ、前記光ファイバを前記照射光学
    系の光軸に垂直な面内で移動させる移動機構を備える照
    明光学系。
  2. 【請求項2】 レーザ光源と、前記レーザ光源を発した
    光を光ファイバへ導入する導入光学系と、前記光ファイ
    バを出射した光を試料に照射する照射光学系を備え、該
    照射光学系は、前記試料側に配置された第1の集光光学
    系と前記光ファイバ側任配置された第2の集光光学系を
    有し前記第2の集光光学系は前記第1の集光光学系の後
    側焦点位置あるいはその近傍に前記光ファイバから射出
    された光を集光させ、前記光ファイバを前記照射光学系
    の光軸に垂直な面内で移動させる移動機構を備え、前記
    ファイバを前記照射光学系の光軸上に位置させた第1の
    照明と、前記ファイバを前記照射光学系の光軸から離れ
    て位置させた第2の照明を有する顕微鏡。
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Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004295122A (ja) * 2003-03-13 2004-10-21 Olympus Corp 照明切換装置及びその方法
JP2004318133A (ja) * 2003-04-04 2004-11-11 Olympus Corp 全反射蛍光顕微鏡
WO2005045501A1 (de) * 2003-11-07 2005-05-19 Carl Zeiss Jena Gmbh Invertierbares lichtmikroskop
US6924490B2 (en) 2002-01-10 2005-08-02 Olympus Optical Co., Ltd. Microscope system
JP2005300614A (ja) * 2004-04-06 2005-10-27 Nikon Corp 照明装置とこれを有する顕微鏡装置
JP2006194645A (ja) * 2005-01-11 2006-07-27 Nikon Corp 測定装置及びその調整方法
US7245426B2 (en) 2001-11-06 2007-07-17 Olympus Optical Co., Ltd. Total internal reflection illumination apparatus and microscope using this total internal reflection illumination apparatus
JP2014092643A (ja) * 2012-11-02 2014-05-19 Nikon Corp 構造化照明装置及び構造化照明顕微鏡装置
JP2015028637A (ja) * 2009-05-19 2015-02-12 バイオナノ ジェノミックス、インク. 試料の空間位置の動的決定および動的再配置の装置および方法
EP2902833A1 (en) 2014-01-30 2015-08-05 Olympus Corporation Microscope illumination apparatus, microscope, and microscope illumination method
US9766444B2 (en) 2010-05-10 2017-09-19 Hirox Co., Ltd. Digital microscope

Families Citing this family (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4912546B2 (ja) * 2001-07-24 2012-04-11 オリンパス株式会社 顕微鏡
US7170676B2 (en) * 2003-03-13 2007-01-30 Olympus Corporation Illumination switching apparatus and method
JP2004347777A (ja) * 2003-05-21 2004-12-09 Olympus Corp 全反射蛍光顕微鏡
EP1668395A1 (de) * 2003-09-25 2006-06-14 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Objektiv zur evaneszenten beleuchtung und mikroskop
WO2005031429A1 (de) 2003-09-25 2005-04-07 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Objektiv zur evaneszenten beleuchtung und mikroskop
WO2005029149A1 (de) * 2003-09-25 2005-03-31 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskop mit evaneszenter beleuchtung
US7808699B2 (en) 2003-09-25 2010-10-05 Leica Microsystems Cms Gmbh Microscope lens for total internal reflection microscopy and microscope
EP1690122B8 (de) * 2003-09-25 2009-02-18 Leica Microsystems CMS GmbH Beleuchtungsmodul zur evaneszenten beleuchtung und mikroskop
WO2005031427A1 (de) * 2003-09-25 2005-04-07 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren zur probenuntersuchung und mikroskop mit evaneszenter probenbeleuchtung
DE502004009281D1 (de) * 2003-09-25 2009-05-14 Leica Microsystems Mikroskop mit evaneszenter probenbeleuchtung
JP4414722B2 (ja) * 2003-10-15 2010-02-10 オリンパス株式会社 レーザー顕微鏡
US20050151967A1 (en) * 2004-01-08 2005-07-14 Sysmex Corporation Lighting device and measuring apparatus using the same
DE102004034846B4 (de) * 2004-07-19 2008-04-10 Leica Microsystems Cms Gmbh Ergotubus und inverses Mikroskop mit Ergotubus
US7486441B2 (en) * 2005-03-01 2009-02-03 Leica Microsystems Cms Gmbh Objective and microscope
DE102005009832A1 (de) 2005-03-01 2006-09-07 Leica Microsystems Cms Gmbh Objektiv und Mikroskop
DE102005010887A1 (de) * 2005-03-09 2006-09-14 Leica Microsystems (Schweiz) Ag Beleuchtungseinrichtung
DE102005011979B4 (de) * 2005-03-14 2010-05-12 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskop
DE102005023768B4 (de) * 2005-05-19 2017-06-29 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren zur Ermittlung der Orientierung von Molekülen in biologischen Proben
DE102005037818A1 (de) * 2005-08-08 2007-02-15 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskop
DE102006021996B4 (de) * 2005-08-12 2016-09-01 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskop und Verfahren zur Totalinternen Reflexions-Mikroskopie
WO2007050743A2 (en) * 2005-10-27 2007-05-03 Yale University An optical system for illumination of an evanescent field
DE102007007395A1 (de) 2007-02-12 2008-08-14 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskop
DE102007018922A1 (de) * 2007-02-12 2008-08-14 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskop
US8085295B2 (en) * 2007-10-26 2011-12-27 Mitutoyo Corporation Controllable micro light assembly
DE102008021577A1 (de) 2008-04-30 2009-11-05 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Verfahren zum Kalibrieren einer Ablenkeinheit in einem TIRF-Mikroskop, TIRF-Mikroskop und Verfahren zu dessen Betrieb
DE102009037366A1 (de) * 2009-08-13 2011-02-17 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Mikroskop, insbesondere zur Messung von Totalreflexions-Fluoreszenz, und Betriebsverfahren für ein solches
US9335533B2 (en) * 2010-10-13 2016-05-10 The University Of Vermont And State Agricultural College Adjustable total internal reflectance microscopy (TIRFM) illuminator apparatus
US9411144B2 (en) * 2011-01-12 2016-08-09 Ge Healthcare Bio-Sciences Corp. Systems for fluorescence illumination using superimposed polarization states
EP2720075B1 (en) 2012-10-12 2017-11-29 Spectral Applied Research Inc. Total internal reflectance fluorescence (TIRF) microscopy across multiple wavelengths simultaneously
DE102012223533A1 (de) * 2012-12-18 2014-06-18 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Digitales Mikroskopsystem
US11067509B2 (en) * 2015-07-06 2021-07-20 Indiana University Research And Technology Corporation Fluorescent microscope
JP6619026B2 (ja) * 2015-12-14 2019-12-11 オリンパス株式会社 観察装置
CN108165489A (zh) * 2017-12-30 2018-06-15 宁波华仪宁创智能科技有限公司 激光显微切割装置及其工作方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0387804A (ja) * 1989-07-13 1991-04-12 Martin R Harris スキャニング共焦点顕微鏡
JPH04213404A (ja) * 1990-12-10 1992-08-04 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光照射装置
JPH05203445A (ja) * 1991-11-28 1993-08-10 Brother Ind Ltd 共焦点型焦点位置検出装置
JPH07332922A (ja) * 1994-06-07 1995-12-22 Agency Of Ind Science & Technol 高速追尾式レーザ干渉測長器
JPH09159922A (ja) * 1995-12-13 1997-06-20 Kagaku Gijutsu Shinko Jigyodan 光照射切り替え方法

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4289398A (en) * 1978-12-04 1981-09-15 Robichaud Roger E Optical time domain reflectometer
US4621911A (en) * 1985-03-12 1986-11-11 Carnegie-Mellon University Standing wave luminescence microscopy
US5258787A (en) * 1989-10-16 1993-11-02 Kowa Company Ltd. Ophthalmologic apparatus
JP2613118B2 (ja) * 1990-04-10 1997-05-21 富士写真フイルム株式会社 共焦点走査型顕微鏡
US5570228A (en) * 1991-04-19 1996-10-29 Edge Scientific Instrument Company Llc Fiber optic illumination system and method for a high definition light microscope
US5119233A (en) * 1991-06-24 1992-06-02 Swift Instruments, Inc. Adjustable microscope illuminator
DE9110926U1 (ja) * 1991-09-03 1991-12-19 Max-Planck-Gesellschaft Zur Foerderung Der Wissenschaften Ev, 3400 Goettingen, De
US5394268A (en) * 1993-02-05 1995-02-28 Carnegie Mellon University Field synthesis and optical subsectioning for standing wave microscopy
CH693804A5 (de) * 1994-10-13 2004-02-13 Zeiss Carl Fa Beleuchtungseinrichtung für ein Stereomikroskop.
DE19604363A1 (de) * 1995-02-23 1996-08-29 Zeiss Carl Fa Zusatzmodul zur ortsaufgelösten Fokusvermessung
JP3917731B2 (ja) * 1996-11-21 2007-05-23 オリンパス株式会社 レーザ走査顕微鏡
US5939709A (en) * 1997-06-19 1999-08-17 Ghislain; Lucien P. Scanning probe optical microscope using a solid immersion lens
AU3102699A (en) * 1998-03-19 1999-10-11 Board Of Regents, The University Of Texas System Fiber-optic confocal imaging apparatus and methods of use
JP2000223767A (ja) * 1999-02-01 2000-08-11 Agency Of Ind Science & Technol 近接場光発生素子及び光ヘッド
US6181478B1 (en) * 1999-07-16 2001-01-30 Michael Mandella Ellipsoidal solid immersion lens
US6195203B1 (en) * 1999-09-01 2001-02-27 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Apparatus for direct optical fiber through-lens illumination of microscopy or observational objects
US6462814B1 (en) * 2000-03-15 2002-10-08 Schlumberger Technologies, Inc. Beam delivery and imaging for optical probing of a device operating under electrical test
US6819484B2 (en) * 2001-11-06 2004-11-16 Olympus Optical Co., Ltd. Total internal reflection illumination apparatus and microscope using this total internal reflection illumination apparatus

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0387804A (ja) * 1989-07-13 1991-04-12 Martin R Harris スキャニング共焦点顕微鏡
JPH04213404A (ja) * 1990-12-10 1992-08-04 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光照射装置
JPH05203445A (ja) * 1991-11-28 1993-08-10 Brother Ind Ltd 共焦点型焦点位置検出装置
JPH07332922A (ja) * 1994-06-07 1995-12-22 Agency Of Ind Science & Technol 高速追尾式レーザ干渉測長器
JPH09159922A (ja) * 1995-12-13 1997-06-20 Kagaku Gijutsu Shinko Jigyodan 光照射切り替え方法

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7245426B2 (en) 2001-11-06 2007-07-17 Olympus Optical Co., Ltd. Total internal reflection illumination apparatus and microscope using this total internal reflection illumination apparatus
US6924490B2 (en) 2002-01-10 2005-08-02 Olympus Optical Co., Ltd. Microscope system
JP4563699B2 (ja) * 2003-03-13 2010-10-13 オリンパス株式会社 照明切換装置
JP2004295122A (ja) * 2003-03-13 2004-10-21 Olympus Corp 照明切換装置及びその方法
JP2004318133A (ja) * 2003-04-04 2004-11-11 Olympus Corp 全反射蛍光顕微鏡
JP4683853B2 (ja) * 2003-04-04 2011-05-18 オリンパス株式会社 全反射蛍光顕微鏡
WO2005045501A1 (de) * 2003-11-07 2005-05-19 Carl Zeiss Jena Gmbh Invertierbares lichtmikroskop
CN100454077C (zh) * 2003-11-07 2009-01-21 卡尔·蔡斯·耶拿有限公司 可反转的光学显微镜
JP2005300614A (ja) * 2004-04-06 2005-10-27 Nikon Corp 照明装置とこれを有する顕微鏡装置
JP2006194645A (ja) * 2005-01-11 2006-07-27 Nikon Corp 測定装置及びその調整方法
JP4701723B2 (ja) * 2005-01-11 2011-06-15 株式会社ニコン 測定装置及びその調整方法
JP2015028637A (ja) * 2009-05-19 2015-02-12 バイオナノ ジェノミックス、インク. 試料の空間位置の動的決定および動的再配置の装置および方法
US9766444B2 (en) 2010-05-10 2017-09-19 Hirox Co., Ltd. Digital microscope
JP2014092643A (ja) * 2012-11-02 2014-05-19 Nikon Corp 構造化照明装置及び構造化照明顕微鏡装置
EP2902833A1 (en) 2014-01-30 2015-08-05 Olympus Corporation Microscope illumination apparatus, microscope, and microscope illumination method
US9690085B2 (en) 2014-01-30 2017-06-27 Olympus Corporation Microscope illumination apparatus, microscope, and microscope illumination method

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