JP2001232204A - 陽イオンの添加された水素発生用硫化カドミウム亜鉛系光触媒及びその製造方法とそれによる水素の製造方法 - Google Patents

陽イオンの添加された水素発生用硫化カドミウム亜鉛系光触媒及びその製造方法とそれによる水素の製造方法

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JP2001232204A JP2001018107A JP2001018107A JP2001232204A JP 2001232204 A JP2001232204 A JP 2001232204A JP 2001018107 A JP2001018107 A JP 2001018107A JP 2001018107 A JP2001018107 A JP 2001018107A JP 2001232204 A JP2001232204 A JP 2001232204A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 太陽光線領域でも光触媒が活性を表し,水素
生成量が多く,触媒の寿命が半永久的である,水素発生
用光触媒及びその製造方法とそれによる水素の製造方法
を提供する。 【解決手段】 水素発生用光触媒は,m(a)/Cd
ZnSの一般式で表される。この一般式で,mは
電子受容体で,ドーピングされた金属を示し,Ni,P
t,Ru又はこれらの酸化物のなかから選択された1種
以上,aはmの重量百分率で,0.10〜5.00,M
はMo,V,Al,Cs,Mn,Fe,Pd,Pt,
P,Cu,Ag,Ir,Sb,Pb,Ga,Reのなか
から選択された金属,zはM/(Cd+Zn+M)のa
tom%で,0.05〜20.00の値,x,yはそれ
ぞれCd/(Cd+Zn+M)のatom%及びZn/
(Cd+Zn+M)のatom%を示すもので,10.
00〜90.00の値を有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は水素発生用光触媒及
びその製造方法と,それを用いる水素の製造方法に関す
るものであり,より詳しくは,光反応により水から水素
を製造する際に使用される金属がドーピングされた新規
のCdZnMs系光触媒及びその製造方法と,それを用
いる水素の製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】水素はアンモニア,メタノールなどの製
造原料として使用され,飽和化合物を生成させる水素化
反応の必須原料である。同時に,水素添加反応,脱硫反
応,脱窒素反応,脱金属反応などのような水素処理工程
に使用されており,特に,最近の地球温暖化の主原因で
ある二酸化炭素の固定化反応に必ず使用されている。ま
た,水素は清浄な代替エネルギーの一つで,現在の化石
原料を代替する未来のエネルギー源として大きく期待さ
れている。
【0003】水素を製造する従来の方法としては,ナフ
サ及び天然ガスのような化石燃料を改質して水素を製造
する方法,高温で鉄と水蒸気を接触させる方法,アルカ
リ金属と水を反応させる方法,及び水の電気分解方法な
どが挙げられる。
【0004】しかし,これらの方法は根本的に多くのエ
ネルギーがかかるため,経済的であるとは言えず,特
に,化石燃料の改質の場合は,膨大な量の二酸化炭素を
副生させるという問題点がある。また,水の電気分解の
場合は,電極の短い寿命と,副生する酸素の処理問題が
常に存在する。このような根本的な問題のため,実際に
水素製造設備には高い費用がかかる。
【0005】一方,自然界での水素はいろいろの化合物
(特に,無機化合物)の形態として存在しているが,大
部分は水の形態として存在する。気体状態として存在す
る水素は,低比重のため,大気中に存在する量は非常に
少ない。また,無機化合物の形態として存在する水素は
純粋に分離することそのものが技術的に難しいだけでな
く,技術的に分離が可能であるといっても,分離に高費
用がかかるので,経済性がない。したがって,水から水
素を効果的に製造する技術は非常に意味がある課題であ
るといえる。
【0006】水から水素を効果的に製造する技術として
は,最近関心が高くなっている光触媒を用いる水の分解
技術が挙げられる。水素製造用光触媒に関する先行技術
はその数が少ないほうで,日本国特開昭62−1910
45号,同63−107815号,そして本発明者によ
る下記の出願がある。
【0007】日本国特開昭62−19045号は,希土
類元素化合物を光触媒として使用して,NaS水溶液
の光分解反応により水素を発生させることを特徴として
おり,可視光線に光触媒が活性を表す利点がある。
【0008】日本国特開昭63−107815号は,ニ
オビウムとアルカリ土類金属の複合酸化物を光触媒とし
て使用し,メタノール水溶液の光分解反応により水素を
発生させることを特徴としており,これもやはり可視光
線に触媒が活性を表す利点がある。しかし,上記両技術
による水素製造方法は,水素生成量において,その発生
量が10ml/0.5g hr程度と非常に少ないという問題点
を有する。
【0009】前記のような問題点を解決するためのもの
として,本発明者による韓国特許出願第95−7721
号,第95−30416号,第96−44214号が挙
げられる。
【0010】韓国特許出願第95−7721号の技術
は,下記の一般式 IIで示される光触媒を使用し,ホル
ムアルデヒド,アルコールなどの含酸素有機物促進剤が
混合された水溶液に紫外光を照射して水素を発生させる
ことを特徴とする。 (一般式II) Cs(a)/KNb17
【0011】この技術は環境に無害であり,常温で水素
を発生させ得る利点があるが,水素発生促進剤として含
酸素有機物を使用しなければならない問題点がある。含
酸素有機物を使用すると,反応後には反応物の再使用が
不可能になる欠点がある。
【0012】また,韓国特許出願第95−30416号
の技術は,下記の一般式IIIで表示される光触媒を使用
し,環境に無害であり,含酸素有機物促進剤を使用しな
くても多量の水素を常温のような低温で効果的に発生さ
せることを特徴とする。 (一般式III) Cs(a)M(c)/S(b)
【0013】この技術はやはり環境に無害であり,常温
で含酸素有機物促進剤なしに多量の水素を発生するとい
う大きい利点があるが,触媒の寿命ないし安定性に問題
点がある。すなわち,セシウム(Cs)のようなアルカ
リ金属を光担体に担支させた場合,水素生成量は第95
−7721号の場合に比べて増加する反面,触媒的安定
性は非常に弱化する欠点がある。
【0014】また,韓国特許出願第96−44214号
の技術は下記の一般式IVで表示される光触媒を使用し,
環境に無害であり,可視光線でも光触媒が活性を表すの
みならず,光触媒の製造方法が比較的簡単であり,ま
た,これにより得られた触媒の安定性が優秀であり,寿
命が電子供与体及び還元剤の存在に依存するが,半永久
的であり,水素発生量も先の特許に比べ非常に良好であ
る。 (一般式IV) Pt(A)/Zn[M(b)]S
【0015】この技術は先の先行技術と同様に,環境に
無害であり,可視光線領域でも光活性を表し,Csの代
わりにPtでドーピング(Doping)することによ
り触媒の安定性が増大したことは事実であるが,水素生
成量を経済的な側面で判断すると生成量が未だ足りない
という問題点がある。
【0016】また,韓国特許出願第98−37179号
の技術は下記の一般式Vで表示される光触媒を使用し,
環境に無害であり,可視光線でも光触媒が活性を表すだ
けでなく,光触媒の製造方法が一層簡単になり,製造時
少ない副産物の生成により環境親和的である。また,こ
の際に得られた触媒の寿命がより向上され,水素発生量
も先の特許に比べて大変画期的に増加した。 (一般式V) Pt(a)/Zn[M(b)]S
【0017】この技術は先の先行技術に比べ,より環境
親和的であり,水素発生量も先の特許に比べて大変画期
的に増加したことは事実であるが,可視光線領域におけ
る水素生成量を経済的な側面で判断すると,生成量が依
然として足りないという問題点がある。
【0018】本発明者による韓国特許出願第98−37
180の技術は上記のような諸般問題点を解決するため
のもので,光フィルタ(light filter)で
調整された可視光線領域だけでなく,太陽光線領域でも
光触媒が活性を表し,水素生成量が格段に増加し,触媒
の寿命が半永久的である。 (一般式VI) m(A)/Cd[M(B)]S
【0019】この技術による光触媒は,いろいろのドー
ピング金属の導入及び多様な助触媒の活用と添加技術に
より,従来の光触媒が表した光源に対する活性の制限を
解決したばかりでなく,光触媒の製造工程が従来の様々
な方法よりも簡単であり,得られた触媒の寿命が非常に
長く,水からの水素発生量が従来の方法より増大した。
しかしながら経済的側面で判断すると,1種の還元剤に
対する制限的な水素発生活性のみを表すので,依然とし
て足りないという問題点がある。
【0020】このような経済的側面での問題点を解決す
るためのもので,本発明者による韓国特許出願第99−
22954号の技術は,以前に開発された光触媒の前記
のような種類の還元剤に対する制限的な水素発生活性の
みを表す問題点を解決した。 (一般式VII) m(a)/Cd[M(b)]S
【0021】この技術は,水を光反応で分解する際に使
用される新たなCdS系光触媒(光触媒システム)及び
その製造と構築方法,そして亜硫酸基のような経済的側
面が強化された還元システムによる水素の製造方法に関
するもので,可視光線領域での水素発生量にも優れる
が,可視光線領域だけでなく,紫外光を含む太陽光の電
波場領域での水素生成量を経済的側面で判断すると,生
成量が依然として足りないという問題点がある。
【0022】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上記のような
諸般問題点を解決するためになされたものであり,可視
光及び紫外光領域の両方で活性を表す水素発生用光触媒
を提供することをその目的とする。
【0023】本発明のほかの目的は,従来の光触媒が表
す還元剤に対する活性の制限を画期的に解決するととも
に,太陽光線領域でも光触媒が活性を表し,水素生成量
が格段に増加し,触媒の寿命が半永久的である水素発生
用光触媒を提供することである。本発明の更にほかの目
的は,高い活性を表す光触媒の製造方法を提供すること
である。
【0024】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
本発明によれば, 一般式 I m(a)/CdZnS (一般式 I中で,mは電子受容体で,ドーピングされた
金属を示し,Ni,Pt,Ru又はこれらの酸化物のな
かから選択された1種以上であり,aはmの重量百分率
を示すもので,0.10〜5.00の値を有する。Mは
Mo,V,Al,Cs,Mn,Fe,Pd,Pt,P,
Cu,Ag,Ir,Sb,Pb,Ga,Reのなかから
選択された金属であり,zはM/(Cd+Zn+M)の
atom%を示すもので,0.05〜20.00の値を
有する。x,yはそれぞれCd/(Cd+Zn+M)の
atom%及びZn/(Cd+Zn+M)のatom%
を示すもので,10.00〜90.00の値を有す
る。)で示される光触媒が提供される。
【0025】本発明の光触媒の製造方法は,Mのato
m%が0.05〜20.00,そしてCd/(Cd+Z
n+M)のatom%及びZn/(Cd+Zn+M)の
atom%がそれぞれ10.00〜90.00の値を有
するように,Cd,Zn及びM含有化合物を水に溶解し
た後,これに反応物としてHS又はNaSを加え,
掻き混ぜてCdZnMS沈殿物を得,この沈殿物を水で
洗浄し,洗浄された沈殿物を窒素(気流)雰囲気で真空
乾燥させた後,このCdZnMS沈殿物に,m含有量が
0.10〜5.00重量%となるように,液状の化合物
を加えてドーピング処理することを特徴とする。
【0026】本発明の水素製造方法は,本発明者の先行
技術と同様に,本発明による光触媒を,電子供与体とし
てNaSを,還元剤としてNaHPO又はNaH
POを代替する還元剤としてのNaSOをそれ
ぞれ加えた水に懸濁させ,光フィルターで調整された可
視光線領域の光,太陽光又は紫外光を照射させることを
特徴とする。
【0027】かかる構成によれば,太陽光線領域でも水
素発生量が十分確保でき,寿命が半永久的な水素発生用
光触媒,およびその製造方法,水素製造方法が提供され
る。
【0028】
【発明の実施の形態】以下,本発明を詳細に説明する。
一般式 Iにおいて,mは電子受容体(electron
acceptor)で,ドーピング金属を示し,N
i,Pt,Ruのなかから選択された金属又はこれらの
酸化物であり,例えば0.10〜5.00重量%の値を
有する。0.10未満の場合,水素発生量が低下し,触
媒の安定性が悪くなる問題点があり,5.00を超える
場合,水素発生量が却って減少するだけでなく,触媒の
製造原価が上昇する問題点がある。
【0029】触媒に添加される成分Mは助触媒で,M
o,V,Al,Cs,Mn,Fe,Pd,Pt,P,C
u,Ag,Ir,Sb,Pb,Ga,Reのなかから選
択された金属である。zはM/(Cd+Zn+M)のa
tom%を示すもので,例えば0.05〜20.00の
値を有する。0.05未満の場合には触媒の機能が喪失
される問題点があり,20.00を超える場合には水素
生成量が減少する問題点がある。
【0030】CdとS及びZnとSの適切なモル比はそ
れぞれ例えばCd:S=1:(0.05〜1.4)及びZ
n:S=1:(0.05〜1.4)であり,より好まし
くはCd:S=1:(0.3〜0.7),Zn:S=
1:(0.3〜0.7)である。効果的な触媒の能力は
この範囲内で発揮される。
【0031】光触媒の製造方法において,mがPtであ
る場合は,窒素雰囲気で紫外光を照射した後,焼成する
ことで,Ptがドーピングされるように処理することが
好ましい。好ましい例としては,得られたCdZnMS
沈殿物にHydrogenhexachloropla
tinate(IV)を加え,窒素気流で雰囲気を転換さ
せた後,紫外光線を照射し,m(Pt)の含有量が例え
ば0.10〜5.00となるようにした後,これを再
び,pHが7となるまで,水等で洗浄し,例えば105
〜130℃で約1.5〜3.0時間真空乾燥させた後,
例えば300〜400℃で約1.0〜6.0時間酸化焼
成し,例えば300〜400℃で約1.0〜6.0時間
還元焼成させることを挙げることができる。
【0032】また,mがPtでない場合の好ましい製造
例は,得られたCdZnMS沈殿物にPtでないmを含
有した化合物を選択し,このmの含有量が例えば0.1
0〜5.00の値となるように加えた後,よく掻き混ぜ
ながら濃い塩酸を例えば6〜7滴を徐々に入れることで
得たスラリーを超音波で例えば1.0〜5.0分間処理
し,例えば110〜130℃で1.5〜3.0時間真空
乾燥させた後,例えば300〜400℃で1.0〜6.
0時間酸化焼成し,300〜400℃で1.0〜6.0
時間還元焼成させることを挙げることができる。
【0033】Ptでドーピングされた光触媒の製造にお
いて,pHを7に調節した後,乾燥し,酸化及び還元雰
囲気で焼成する理由は,沈殿で得られた光触媒におい
て,電子受容体であるPtを純粋な状態に維持するため
である。
【0034】周知のように,HPtClの形態とし
て触媒の製造に導入されたPtは,紫外光に露出される
ことによりCdZnMSの表面を活性化させるととも
に,遊離されたSと結合してPtSに変化する。これを
例えば300〜400℃の温度で酸化及び還元雰囲気で
一定時間焼成することにより,ウルツ鉱(wurzit
e)構造に変換される。
【0035】さらにこれを例えば300〜400℃の温
度で1.0〜6.0時間焼成することにより,電子受容
体であるPtを純粋な状態のPt(O)に転換させるこ
とができる。より好ましい焼成温度は約320〜390
℃であるが,この範囲を外れる場合は触媒の寿命と活性
が減少する問題点がある。
【0036】Cdを含有する化合物の例としては,Cd
Cl,CdBr,CdI,Cd(CHCO
・xHO,CdSO・xHO及びCd(N
・4HOなどが挙げられる。
【0037】Znを含有した化合物の例としては,Zn
Cl,ZnBr,ZnI,Zn(CHCO
・xHO,ZnSO・xHO及びZn(N
・xHOなどが挙げられる。
【0038】Mを含有した化合物の例としては,MoC
,VCl,VOSO,VOCl,Al(NO
,AlCl,TiCl,CsCO,Ti
[OCH(CH,KCr,Cr(C
CO,Cr(HCO,Cr(NO
,HPO,NaHPO,SbCl,MnC
,MnF,KMnO,Pb(NO,Pb
(CHCO,RuCl,FeCl,IrC
,Pd(NO,HPtCl,Cu(NO
・3HO,AgNO,Ga(NO,S
nCl,ReClなどが挙げられる。
【0039】mを含有する化合物の例としては,H
tCl,RuCl,NiSO,Ni(N
,Ni(CHCO,NiCl,Ni
Br,NiIなどが挙げられる。
【0040】先行技術である本発明者の韓国特許出願第
96−44214号では,1次焼成後,酸でエッチング
処理を行ったが,本発明では,光触媒で生成された沈殿
物を窒素気流で真空乾燥することにより,1次焼成工程
と,これによる酸エッチング処理工程を省略することが
できる。
【0041】本発明の水素製造方法は,これら光触媒
を,電子供与体としてNaSを例えば0.15〜1.0
0モル,還元剤としてHPO 又はHPO
代替する代替還元剤としてSO 2−を0.15〜1.
00モルを加えた1次ないし2次蒸留水又は単に前処理
した水と接触させて懸濁させ,撹拌しながら例えば5〜
85℃の温度,0.1〜5気圧の条件で紫外光又は光フ
ィルターで調整された可視光線領域の光を照射させるこ
とで,光反応を起こして,水から水素が良好な効率で発
生する。
【0042】そして,ここでは,電子供与体と還元剤の
濃度範囲を維持することが重要であり,上記範囲未満で
あると水素生成量が低下し,上記範囲を超えても水素発
生量は増加しない。反応条件は約10〜60℃の温度と
真空〜2気圧が適当である。また,本発明による光触媒
は電子供与体及び還元剤を反応界に繰り返し投入させて
反応を進行させると,寿命が半永久的である。
【0043】
【実施例】本発明の実施例は次のようである。 <製造実施例1>下記(表1)のような組成を有するよ
うに,水250mlにCdSO・HOとZnSO
7HOを溶かした後,助触媒としてMoClと反応
物としてHSをよく掻き混ぜながら加えて,CdZn
MoS沈殿物を得た。この沈殿物をpHが7となるよう
に水で十分に洗浄した後,約130℃及び窒素気流の雰
囲気で約2時間真空乾燥してCdZnMoS粉末を得
た。
【0044】この乾燥されたCdZnMoSS粉末に,
Ni(NO・6HOを,Ni含有量が1重量%
となるように加えた後,よく掻き混ぜながら濃い塩酸約
6〜7滴を徐々に注入して得たスラリーを超音波で約3
分間処理し,約130℃で2時間乾燥した後,約380
℃の酸化雰囲気で4時間焼成した後,更に約380℃で
4時間還元雰囲気で焼成してNi(1wt%)/Cd
49.70Zn49.7 Mo0.6Sを得た。
【0045】<製造実施例2>Moの含有量が約1.0
atom%となるように,助触媒MoClを添加した
ことを除き,製造実施例1と同様に実施して光触媒Ni
(1wt%)/Cd 9.50Zn49.50Mo
1.0Sを得た。
【0046】<製造実施例3〜7>Moの含有量が約
2.0atom%となるように,助触媒MoClを添
加したことを除き,製造実施例1と同様に実施して光触
媒Ni(1wt%)/Cd 9.00Zn49.00
2.0Sを得た。
【0047】<製造実施例8>Moの含有量が約3.0
atom%となるように,助触媒MoClを添加した
ことを除き,製造実施例1と同様に実施して光触媒Ni
(1wt%)/Cd . 50Zn48.50Mo
3.0Sを得た。
【0048】<製造実施例9>製造実施例3と同様に実
施して得た乾燥粉末Cd49.70Zn49.70Mo
2.0Sに,HPtClを,Pt含有量が約1.0
重量%となるように加えた後,窒素雰囲気で約0.5時
間紫外光を照射し,pHが7となるまで水で再び洗浄し
た後,約130℃で2時間乾燥し,約380℃で4時間
酸化雰囲気で焼成し,これを再び約380℃で4時間半
減雰囲気で焼成して光触媒Pt(1wt%)/Cd
49.00Zn49.00Mo2.0Sを得た。
【0049】<製造実施例10>助触媒としてMoCl
の代わりにVClを使用したことと約380℃で4
時間酸化雰囲気のみで焼成することを除き,製造実施例
1と同様に実施して光触媒Ni(1wt%)/Cd
49.70Zn49.700.6Sを得た。
【0050】<製造実施例11>Vの含有量が約1.0
atom%となるように,助触媒VClを添加したこ
とと約380℃で4時間酸化雰囲気のみで焼成すること
を除き,製造実施例1と同様に実施して光触媒Ni(1
wt%)/Cd49.50Zn49.501. Sを
得た。
【0051】<製造実施例12>Vの含有量が約2.0
atom%となるように,助触媒VClを添加したこ
とを除き,製造実施例1と同様に実施して光触媒Ni
(1wt%)/Cd49. 00Zn49.002.0
Sを得た。
【0052】<製造実施例13〜15>Vの含有量が約
2.0atom%となるように,助触媒VClを添加
したことと約380℃でそれぞれ2,4,6時間酸化雰
囲気のみで焼成することを除き,製造実施例1と同様に
実施して光触媒Ni(1wt%)/Cd49.00Zn
49.002.0Sを得た。
【0053】<製造実施例16>Vの含有量が約3.0
atom%となるように,助触媒VClを添加したこ
とを除き,製造実施例11と同様に実施して光触媒Ni
(1wt%)/Cd48 .50Zn48.503.0
Sを得た。
【0054】<製造実施例17>Vの含有量が約5.0
atom%となるように,助触媒VClを添加したこ
とを除き,製造実施例11と同様に実施して光触媒Ni
(1wt%)/Cd47 .50Zn47.505.0
Sを得た。
【0055】<製造実施例18>助触媒としてMoCl
の代わりにCo(NOを使用したことを除き,
製造実施例1と同様に実施して光触媒Ni(1wt%)
/Cd49.70Zn 9.70Co0.6Sを得た。
【0056】<製造実施例19>Coの含有量が約2.
0atom%となるように,助触媒Co(NO
添加したことを除き,製造実施例18と同様に実施して
光触媒Ni(1wt%)/Cd49.00Zn
49.00Co2.0Sを得た。
【0057】<製造実施例20>Coの含有量が約5.
0atom%となるように,助触媒Co(NO
添加したことを除き,製造実施例19と同様に実施して
光触媒Ni(1wt%)/Cd47.50Zn
47.50Co5.0Sを得た。
【0058】<製造実施例21>助触媒としてMoCl
の代わりにAl(NOを使用したことを除き,
製造実施例1と同様に実施して光触媒Ni(1wt%)
/Cd49.70Zn 9.70Al0.6Sを得た。
【0059】<製造実施例22>Alの含有量が約2.
0atom%となるように,助触媒Al(NO
添加したことを除き,製造実施例19と同様に実施して
光触媒Ni(1wt%)/Cd49.00Zn
49.00Al2.0Sを得た。
【0060】<製造実施例23>Alの含有量が約5.
0atom%となるように,助触媒Al(NO
添加したことを除き,製造実施例19と同様に実施して
光触媒Ni(1wt%)/Cd47.50Zn
47.50Al5.0Sを得た。
【0061】<製造実施例24>助触媒としてMoCl
の代わりにCsCOを使用したことを除き,製造
実施例1と同様に実施して光触媒Ni(1wt%)/C
49.70Zn49. 70Cs0.6Sを得た。
【0062】<製造実施例25>Csの含有量が約2.
0atom%となるように,助触媒CsCOを添加
したことを除き,製造実施例24と同様に実施して光触
媒Ni(1wt%)/Cd49.00Zn49.00
2.0Sを得た。
【0063】<製造実施例26>助触媒としてMoCl
の代わりにTi[OCH(CHを使用した
ことを除き,製造実施例1と同様に実施して光触媒Ni
(1wt%)/Cd49 .70Zn49.70Ti
0.6Sを得た。
【0064】<製造実施例27>Tiの含有量が約2.
0atom%となるように,助触媒Ti[OCH(CH
を添加したことを除き,製造実施例26と同
様に実施して光触媒Ni(1wt%)/Cd49.00
Zn49.00Ti2.0Sを得た。
【0065】<製造実施例28>Tiの含有量が約5.
0atom%となるように,助触媒Ti[OCH(CH
を添加したことを除き,製造実施例26と同
様に実施して光触媒Ni(1wt%)/Cd47.50
Zn47.50Ti5.0Sを得た。
【0066】<製造実施例29>助触媒としてMoCl
の代わりにMnFを使用したことを除き,製造実施
例1と同様に実施して光触媒Ni(1wt%)/Cd
49.70Zn49.70Mn0.6Sを得た。
【0067】<製造実施例30>Mnの含有量が約0.
2atom%となるように,助触媒MnFを添加した
ことを除き,製造実施例29と同様に実施して光触媒N
i(1wt%)/Cd 9.90Zn49.90Mn
0.2Sを得た。
【0068】<製造実施例31>助触媒としてMoCl
の代わりにHPOを使用したことを除き,製造実
施例1と同様に実施して光触媒Ni(1wt%)/Cd
47.00Zn47.0 6.0Sを得た。
【0069】<製造実施例32>NiCl・6H
の代わりにRuCl・3HOを,Ruの含有量が約
1重量%となるように,加えたことを除き,製造実施例
3と同様に実施して光触媒Ru(1wt%)/Cd
47.00Zn47.006.0Sを得た。
【0070】<製造実施例33>Pの含有量が約10.
0atom%となるように,助触媒HPOを添加し
たことを除き,製造実施例31と同様に実施して光触媒
Ni(1wt%)/Cd 45.00Zn45.00
10.0Sを得た。
【0071】<製造実施例34>助触媒としてMoCl
の代わりにFeClを使用したことを除き,製造実
施例1と同様に実施して光触媒Ni(1wt%)/Cd
49.70Zn49.7 Fe0.6Sを得た。
【0072】<製造実施例35>助触媒としてMoCl
の代わりにPd(NOを使用したことを除き,
製造実施例1と同様に実施して光触媒Ni(1wt%)
/Cd49.70Zn 9.70Pd0.6Sを得た。
【0073】<製造実施例36>助触媒としてMoCl
の代わりにHPtClを使用したことを除き,製
造実施例1と同様に実施して光触媒Ni(1wt%)/
Cd49.70Zn49 .70Pt0.6Sを得た。
【0074】<製造実施例37>助触媒としてMoCl
の代わりにCu(NO・3HOを使用したこ
とを除き,製造実施例1と同様に実施して光触媒Ni
(1wt%)/Cd49. 70Zn49.70Cu
0.6Sを得た。
【0075】<製造実施例38>助触媒としてMoCl
の代わりにAgNOを使用したことを除き,製造実
施例1と同様に実施して光触媒Ni(1wt%)/Cd
49.70Zn49.7 Ag0.6Sを得た。
【0076】<製造実施例39>助触媒としてMoCl
の代わりにIrClを使用したことを除き,製造実
施例1と同様に実施して光触媒Ni(1wt%)/Cd
49.70Zn49.7 Ir0.6Sを得た。
【0077】<製造実施例40>助触媒としてMoCl
の代わりにPb(NOを使用したことを除き,
製造実施例1と同様に実施して光触媒Ni(1wt%)
/Cd49.70Zn 9.70Pb0.6Sを得た。
【0078】<製造実施例41>助触媒としてMoCl
の代わりにSnClを使用したことを除き,製造実
施例1と同様に実施して光触媒Ni(1wt%)/Cd
49.70Zn49.7 Sn0.6Sを得た。
【0079】<製造実施例42>助触媒としてMoCl
の代わりにGa(NOを使用したことを除き,
製造実施例1と同様に実施して光触媒Ni(1wt%)
/Cd49.70Zn 9.70Ga0.6Sを得た。
【0080】<製造実施例43>助触媒としてMoCl
の代わりにReClを使用したことを除き,製造実
施例1と同様に実施して光触媒Ni(1wt%)/Cd
49.70Zn49.7 Re0.6Sを得た。
【0081】<製造実施例44>助触媒としてMoCl
の代わりにSbClを使用したことを除き,製造実
施例1と同様に実施して光触媒Ni(1wt%)/Cd
49.70Zn49.7 Sb0.6Sを得た。
【0082】<製造実施例45>Crの含有量が約0.
2atom%となるように,助触媒KCrを添
加したことを除き,製造実施例1と同様に実施して光触
媒Ni(1wt%)/Cd49.90Zn49.90
0.2Sを得た。
【0083】<製造実施例46>CdとZnの含有量が
それぞれ約39.90,59.90atom%となるよ
うにしたことを除き,製造実施例45と同様に実施して
光触媒Ni(1wt%)/Cd39.90Zn
59.90Cr0.2Sを得た。
【0084】<製造実施例47>CdとZnの含有量が
それぞれ約59.90,39.90atom%となるよ
うにしたことを除き,製造実施例45と同様に実施して
光触媒Ni(1wt%)/Cd59.90Zn
39.90Cr0.2Sを得た。
【0085】<製造実施例48>Crの含有量が約0.
5atom%となるように,助触媒KCrを添
加したことを除き,製造実施例45と同様に実施して光
触媒Ni(1wt%)/Cd49.75Zn49.75
Cr0.5Sを得た。
【0086】<製造実施例49>Crの含有量が約1.
0atom%となるように,助触媒KCrを添
加したことを除き,製造実施例45と同様に実施して光
触媒Ni(1wt%)/Cd49.50Zn49.50
Cr1.0Sを得た。
【0087】<製造実施例50>製造実施例45と同様
に実施して光触媒Ni(1wt%)/Cd49.90
49.90Cr0.2Sを得た。
【0088】<製造実施例51>製造実施例3と同様に
実施して光触媒Ni(1wt%)/Cd49.00Zn
49.00Mo2.0Sを得た。
【0089】<比較製造例1>Niの含有量が約0.0
5重量%となるようにしたことを除き,製造実施例40
と同様に実施して光触媒Ni(0.05wt%)/Cd
49.70Zn49. 70Pb0.6Sを得た。
【0090】<比較製造例2>Niの含有量が約7.0
重量%となるようにしたことを除き,製造実施例40と
同様に実施して光触媒Ni(7wt%)/Cd
49.70Zn49.70Pb 0.6Sを得た。
【0091】<比較製造例3>CdとZnの含有量がそ
れぞれ約91.80,8.00atom%となるように
したことを除き,製造実施例45と同様に実施して光触
媒Ni(1wt%)/Cd91.80Zn8.00Cr
0.2Sを得た。
【0092】<比較製造例4>CdとZnの含有量がそ
れぞれ約8.00,91.80atom%となるように
したことを除き,製造実施例45と同様に実施して光触
媒Ni(1wt%)/Cd8.00Zn91.80Cr
0.2Sを得た。
【0093】<比較製造例5>酸化雰囲気で焼成した
後,約380℃で30分間還元雰囲気で焼成することを
除き,製造実施例48と同様に実施して光触媒Ni(1
wt%)/Cd49.7 Zn49.75Cr0.5
を得た。
【0094】<実施例1〜49及び比較例1〜5>製造
実施例1〜23及び製造比較例1〜5により得られた光
触媒0.5gを,NaS濃度が約0.36モル,Na
SO濃度が約0.36モルである水溶液約500m
lに入れてから懸濁し,閉鎖気体循環界光反応装置に入
れ,約300rpmで撹拌しながら,常温,常圧で50
0WのXeランプと光フィルタで調整された可視光を照
射して発生した水素の量をガスクロマトグラフィー及び
ビュレット(burette)で定量分析した。その結
果はつぎの(表1)および(表2)に示す。
【0095】<実施例50>光源として500WのXe
ランプの代わりに450Wの高圧水銀ランプを使用した
ことを除き,実施例1と同様に実施し,その結果は下記
の(表2)のようである。
【0096】<実施例51>本実施例は本発明の光触媒
の寿命を確認するためのもので,製造実施例3により得
た光触媒約0.5gを,NaS濃度が約0.36モ
ル,NaSO濃度が約0.36モルである水溶液5
00mLに入れ,合計100時間にわたって,10時間
ごとにNaSを約0.36モルとNaSOを約
0.36モルずつを繰り返し投入して発生した水素の量
を平均した結果,発生気体の量は980(mL/hr)
で,実施例17で得た水素発生量である972(mL/
hr)とほば同じであった。これは,光触媒の寿命が半
永久的であることを意味する。
【表1】
【表2】
【0097】以上詳細に説明したように,本発明によれ
ば可視光及び紫外光領域の両方で活性を表す水素発生用
光触媒を提供することができる。
【0098】以上,添付図面を参照しながら本発明にか
かる水素発生用硫化カドミウム亜鉛系光触媒及びその製
造方法とそれによる水素の製造方法の好適な実施形態に
ついて説明したが,本発明はかかる例に限定されない。
当業者であれば,特許請求の範囲に記載された技術的思
想の範疇内において各種の変更例または修正例に想到し
得ることは明らかであり,それらについても当然に本発
明の技術的範囲に属するものと了解される。
【0099】
【発明の効果】以上詳細に説明したように本発明にかか
る実施例及び比較例から分かるように,本発明の光触媒
は,可視光で高い触媒活性を有するCdS系光触媒と紫
外光で相対的に高い活性を表すZnS系触媒の利点を同
時に有するので,幅広い領域の光源を利用し得る画期的
な新規のCdZnMS系光触媒であり,様々なドーピン
グ金属の導入,多様な助触媒の活用,添加技術の開発,
及び最適焼成時間の確立などによる触媒の積極的な改質
により,従来の光触媒のように,還元剤に対する活性が
制限されるのを画期的に解決しただけでなく,得られた
触媒の寿命が非常に長く,また,最大触媒活性を表すC
dZnMS系触媒の最適CdとZnの組成比及び反応条
件の確立により,水分解による水素発生量が従来の方法
より格段に増加した。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) B01J 35/02 B01J 35/02 J 37/03 37/03 B 37/20 37/20 37/34 37/34 C01B 3/04 C01B 3/04 A

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一般式 I m(a)/CdZnS (式中,mは電子受容体でドーピングされた金属を示
    し,Ni,Pt,Ru又はこれらの酸化物のなかから選
    択された1種以上であり,aはmの重量百分率を示すも
    ので,0.10〜5.00の値を有する。MはMo,
    V,Al,Cs,Mn,Fe,Pd,Pt,P,Cu,
    Ag,Ir,Sb,Pb,Ga,Reのなかから選択さ
    れた金属であり,zはM/(Cd+Zn+M)のato
    m%を示すもので,0.05〜20.00の値を有す
    る。x,yはそれぞれCd/(Cd+Zn+M)のat
    om%及びZn/(Cd+Zn+M)のatom%を示
    すもので,10.00〜90.00の値を有する。)で
    示される水素発生用CdZnMS系光触媒。
  2. 【請求項2】 請求項1記載のM/(Cd+Zn+M)
    のatom%が0.05〜20.00,かつCd/(C
    d+Zn+M)のatom%及びZn/(Cd+Zn+
    M)のatom%がそれぞれ10.00〜90.00の
    値を有するように,Cd,Zn及びM含有化合物を水に
    溶解した後,これに反応物としてHS又はNaSを
    加え,掻き混ぜてCdZnS沈殿物を得,この
    沈殿物を水で洗浄し,窒素(気流)雰囲気と105〜1
    50℃の温度で1.5〜3.0時間真空乾燥させた後,
    この乾燥されたCdZnS沈殿物に,液状の請
    求項1記載のm含有化合物を,mの含有量が全体光触媒
    に対して0.10〜5.00重量%となるように加え
    て,ドーピング処理することを特徴とするCdZnMS
    系光触媒の製造方法。
  3. 【請求項3】 前記ドーピング処理方法は,紫外光照射
    又は酸処理及び超音波処理後,焼成工程を含むことを特
    徴とする請求項2記載のCdZnMS系光触媒の製造方
    法。
  4. 【請求項4】 前記Mを含有する化合物は,MoC
    ,VCl,VOSO,VOCl,Al(NO
    ,AlCl,TiCl,CsCO,Ti
    [OCH(CH,KCr,Cr(C
    CO,Cr(HCO,Cr(NO
    ,HPO,NaHPO,SbCl,MnC
    ,MnF,KMnO,Pb(NO,Pb
    (CHCO,RuCl,FeCl,IrC
    ,Pd(NO,HPtCl,Cu(NO
    ・3HO,AgNO,Ga(NO,S
    nCl,ReClを含むことを特徴とする請求項2
    記載のCdZnMS系光触媒の製造方法。
  5. 【請求項5】 前記m含有化合物は,HPtCl
    RuCl,NiSO,Ni(NO,Ni(C
    CO,NiCl,NiBr,NiI
    含むことを特徴とする請求項2記載のCdZnMS系光
    触媒の製造方法。
  6. 【請求項6】 前記mがPtである場合,窒素雰囲気で
    紫外光を照射してドーピング処理した後,300〜40
    0℃の焼成温度で酸化焼成及び還元焼成を行うことを特
    徴とする請求項2記載のCdZnMS系光触媒の製造方
    法。
  7. 【請求項7】 前記Cd含有化合物は,CdCl,C
    dBr,CdI,Cd(CHCO・xH
    O,CdSO・xHO及びCd(NO・4H
    Oを含み,Znを含有した化合物は,ZnCl,Z
    nBr,ZnI,Zn(CHCO・xH
    O,ZnSO・xHO及びZn(NO・xH
    Oを含むことを特徴とする請求項2記載のCdZnM
    S系光触媒の製造方法。
  8. 【請求項8】 前記mがPtでない場合は,乾燥前,塩
    酸及び超音波処理工程が追加されることを特徴とする請
    求項2記載のCdZnMS系光触媒の製造方法。
  9. 【請求項9】 請求項1記載の光触媒を,還元剤として
    NaSOを0.05〜1.00モル,電子供与体と
    してNaSを0.05〜1.00モル加えた水と接
    触,懸濁させ,撹拌しながら,紫外光又は光フィルタで
    調整された可視光線領域の光を照射して反応させること
    を特徴とする光触媒を用いる水素発生方法。
  10. 【請求項10】 前記反応条件は10〜60℃の温度及
    び真空〜2気圧であることを特徴とする請求項9記載の
    光触媒を用いる水素発生方法。
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