JP2001084043A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
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- G05F1/10—Regulating voltage or current
- G05F1/46—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc
- G05F1/56—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices
- G05F1/575—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices characterised by the feedback circuit
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Abstract
圧の低電圧化が可能な半導体装置を提供する。 【解決手段】 入力端子1と各内部回路5、6の間に接
続され、各内部回路5、6に対して駆動電圧を供給する
ためのトランジスタQ41と、エミッタに駆動電圧が、
ベースに基準電圧が供給され、基準電圧と駆動電圧の大
きさに応じて電流を通過させるトランジスタQ44とを
有する電源供給回路4aを設ける。トランジスタ
Q42、Q43、抵抗R5の回路部分により、トランジ
スタQ44を通過した電流に応じてトランジスタQ41
の導通量を制御し、駆動電圧を、およそ基準電圧よりも
トランジスタQ44のベース、エミッタ間の順方向電圧
の分だけ高い値に設定する。
Description
プルリジェクション特性の向上と最低動作電圧の低電圧
化を可能とするための技術に関する。
数多くの増幅回路や比較回路、あるいは基準電圧発生回
路などの基本機能回路が高密度で形成されている。この
ような半導体装置としては、一例として、内部回路を図
2に示す回路図のように構成したレギュレータICが存
在する。図2の回路は、先ず、入力端子1と出力端子2
の間にPNP型のトランジスタQ1の主電流路を直列に
接続し、トランジスタQ1のベースはPNP型のトラン
ジスタQ2を主電流路を介してグランドに接続する。ト
ランジスタQ1のベース、エミッタ間には抵抗R13を
接続し、出力端子2とグランドとの間には抵抗R 1とR
2を直列に接続している。そして電源供給回路4b、基
準電圧発生回路5、誤差増幅回路6を構成し、基準電圧
発生回路5と誤差増幅回路6の電源端子と入力端子1と
の間に電源供給回路を接続する。誤差増幅回路6の一方
の入力端子は基準電圧発生回路5の出力端子に接続し、
誤差増幅回路6の他方の入力端子は抵抗R1と抵抗R2
の接続点に接続し、誤差増幅回路6の出力端子はトラン
ジスタQ2のベースに接続した構成となっている。
路5、誤差増幅回路6は、それぞれ以下のようにして構
成している。PNP型のトランジスタQ41のエミッタ
を入力端子に接続し、そのコレクタを抵抗R8とダイオ
ードD43を介してグランドに接続する。トランジスタ
Q4 1のベースと入力端子1との間には抵抗R3を接続
し、トランジスタQ41のベースとグランドとの間には
NPN型のトランジスタQ42の主電流路を接続し、ト
ランジスタQ41のコレクタ、ベース間にはダイオード
D41を接続する。トランジスタQ42のベースは抵抗
R4を介して制御入力端子3に接続し、電源供給回路4
bを構成する。
ジスタQ41のコレクタに、PNP型のトランジスタQ
51およびトランジスタQ52の各エミッタを接続す
る。トランジスタQ51およびトランジスタQ52の互
いのベースを共通接続し、トランジスタQ51のコレク
タ、ベース間を接続する。トランジスタQ51とトラン
ジスタQ52のそれぞれのコレクタは、それぞれNPN
型のトランジスタQ53あるいはトランジスタQ54の
コレクタに接続する。トランジスタQ53とトランジス
タQ54の互いのベースを共通接続し、トランジスタQ
54のコレクタ、ベース間を接続する。トランジスタQ
53のエミッタを抵抗R10と抵抗R11の直列回路を
介してグランドに接続し、トランジスタQ54のエミッ
タを抵抗R 10と抵抗R11の接続点に接続する。ベー
スが電源供給回路4bの抵抗R8とダイオードD43の
接続点に接続されたトランジスタQ55の主電流路をト
ランジスタQ53の主電流路に対して並列に接続し、基
準電圧発生回路5を構成する。
ンジスタQ41のコレクタに、PNP型のトランジスタ
Q61およびトランジスタQ62の各エミッタを接続す
る。トランジスタQ61およびトランジスタQ62の互
いのベースを共通接続し、トランジスタQ62のコレク
タ、ベース間を接続する。トランジスタQ61とトラン
ジスタQ62のそれぞれのコレクタは、それぞれNPN
型のトランジスタQ6 3あるいはトランジスタQ64の
コレクタに接続する。トランジスタQ63とトランジス
タQ64の各エミッタは共通接続し、その各エミッタの
共通接続点とグランドの間に抵抗R12を接続する。ト
ランジスタQ63のベースは基準電圧発生回路5を構成
するトランジスタQ54のコレクタおよびベースに接続
し、トランジスタQ64のベースを抵抗R1と抵抗R2
の接続点に接続する。トランジスタQ61とトランジス
タQ63のコレクタ同士の接続点をトランジスタQ2の
ベースに接続し、誤差増幅回路6を構成する。
制御入力端子3に印加される制御信号のレベルが高くな
るとトランジスタQ42およびトランジスタQ41がオ
ン状態となる。すると、電源供給回路4bのトランジス
タQ41を介して、入力端子1に接続された外部電源か
ら基準電圧発生回路5、誤差増幅回路6の各内部回路に
駆動電圧が供給される。駆動電圧の供給を受けた基準電
圧発生回路5は、回路の起動時において、先ずトランジ
スタQ55が導通することによりトランジスタQ51と
Q52によるカレントミラー回路が動作する。次にトラ
ンジスタQ51とQ52から電流の供給を受けたトラン
ジスタQ53とQ54によるカレントミラー回路が動作
し、トランジスタQ53の導通に伴ってトランジスタQ
55はオフ状態となる。以後、運転状態となった基準電
圧発生回路5は、半導体材料のバンドギャップに基づ
く、およそ1.25Vの基準電圧をトランジスタQ54
のコレクタおよびベースの位置に発生させることにな
る。
路6については、先ず基準電圧の供給を受けたトランジ
スタQ63が動通し、これに伴ってトランジスタQ2お
よびトランジスタQ1が導通する。トランジスタQ1が
導通すると、トランジスタQ 1を介して入力端子1から
出力端子2に電力が伝達され、出力端子2に出力電圧が
出現する。出力端子2に出現した出力電圧は抵抗R1と
R2によって分圧され、この分圧電圧はトランジスタQ
64のベースに供給される。するとトランジスタQ64
は導通し、トランジスタQ61、Q62によるカレント
ミラー回路が動作する。以後、運転状態となった誤差増
幅回路6は、トランジスタQ63に供給された基準電圧
とトランジスタQ64に供給された分圧電圧に応じてト
ランジスタQ2およびQ1の導通量を制御し、出力電圧
の大きさを一定に制御することになる。
回路5および誤差増幅回路6は、オン状態のトランジス
タQ41と入力端子1を介して外部電源と接続される。
このため、外部電源から供給される電圧が変動した場
合、基準電圧発生回路5および誤差増幅回路6は電圧変
動の影響を直接に受けてしまう。これに加え、各回路
5、6の電源側に設けられた各トランジスタQ51、Q
52、Q61およびQ62には、PNP型のトランジス
タであるため印加電圧が高いとアーリー効果が大きく現
れる、また、PNP型のトランジスタは製造プロセスに
おける諸条件の変動の影響を受けやすく、製品毎の特性
値のばらつきが大きくなるといった問題が有った。これ
らの理由から、図2の構成による回路は、特に電圧変動
の影響を受け易いものとなっており、半導体装置の入力
電圧の変動に対するリップルリジェクション特性の向上
とその特性の均質化が困難であった。
回路を図3に示すような構成とすることにより、特性の
改善を図ることがあった。図3の回路は、PNP型のト
ランジスタQ48およびトランジスタQ49の各エミッ
タを入力端子1に接続する。トランジスタQ48とQ
49の互いのベースを共通接続し、トランジスタQ48
のコレクタ、ベース間を接続する。トランジスタQ48
のコレクタとグランドとの間には抵抗R9とトランジス
タQ42の主電流路を直列に接続し、トランジスタQ
42のベースは抵抗R4を介して制御入力端子3に接続
する。トランジスタQ49のコレクタはNPN型のトラ
ンジスタQ410のベースに接続し、トランジスタQ
49のコレクタとグランドとの間には複数のダイオード
D44〜D48を直列に接続する。そして、トランジス
タQ 410のコレクタを基準電圧発生回路5および誤差
増幅回路6の接続し、電源供給回路4cを構成してい
た。
は、制御入力端子3に印加される制御信号のレベルが高
くなるとトランジスタQ42がオン状態となり、トラン
ジスタQ48、Q49によるカレントミラー回路が動作
する。トランジスタQ49の主電流路を通過した電流の
一部は直列接続したダイオードD44〜D48を介して
グランドに流入し、この時にダイオードD44〜D48
に発生した順方向電圧によってトランジスタQ410の
ベースの位置の電位が上昇する。するとトランジスタQ
410はエミッタの位置の電圧とそのベース、エミッタ
間電圧の合成値がベースの位置の電圧と同じになるよう
に動作し、基準電圧発生回路5および誤差増幅回路6に
供給する駆動電圧を、ほぼダイオードD44〜D48に
発生した全順方向電圧からQ410のベース、エミッタ
間電圧を差し引いた大きさにする。これにより、仮に入
力電圧が変動しても駆動電圧の変動量は入力電圧のそれ
よりも小さく抑えられ、入力電圧の変動に対する半導体
装置のリップルリジェクション特性の向上と特性の均質
化が可能となる。
準電圧発生回路5に図2と同様なバンドギャップ型の基
準電圧発生回路を使用する場合、基準電圧発生回路5に
供給する駆動電圧には、およそ1.8V以上の電圧値が
必要である。図3の構成の回路においては、この駆動電
圧はダイオードD44〜D48の全順方向降下電圧によ
って決定される。ダイオード素子の順方向降下電圧の大
きさは室温状態で素子1個当たりおよそ0.7Vであ
る。そこで、駆動電圧を1.8V以上にするためには、
トランジスタQ410のベース、エミッタ間電圧を考慮
に入れると、ダイオード素子が4本必要になる。しか
し、ダイオード素子は−2mV/℃程度の温度特性を持
つため、半導体装置の全使用温度範囲において駆動電圧
が1.8Vを下回らないようにするには、さらにダイオ
ード素子を1本加える必要が有る。従って図3に示す電
源供給回路4cでは、合計5本以上のダイオード素子を
直列接続しなければならない。
に供給する電圧としては、ダイオードD44〜D48の
全順方向降下電圧にトランジスタQ49のコレクタ、エ
ミッタ間電圧を加えた、3.5V以上の電圧値が要求さ
れることになる。しかし、現在の市場では半導体装置の
最低の動作電圧値に2.5Vが要求されており、3.5
V以上の電圧値が要求される図3の電源供給回路4cを
採用した半導体装置では要求仕様を満足できなかった。
そこで本発明は、リップルリジェクション特性の向上と
動作電圧の低電圧化が可能な半導体装置を提供すること
を目的とする。
の本発明による半導体装置は、外部電源に接続される入
力端子と、基準電圧発生回路を含む内部回路とを具備
し、さらに、内部回路に対して駆動電圧を供給するため
の第1のトランジスタと、基準電圧発生回路が出力する
基準電圧と駆動電圧の大きさに応じて電流を通過させる
第2のトランジスタとを有し、駆動電圧を入力端子に供
給された電圧よりも低く、かつ、基準電圧発生回路が出
力する基準電圧よりも高い大きさとする、入力端子と内
部回路との間に接続された電源供給回路と、を具備する
ことを特徴とする半導体装置。
発生回路を含む内部回路の間に電源供給回路を接続す
る。電源供給回路は、入力端子と内部回路の間にその主
電流路が接続され、内部回路に対して駆動電圧を供給す
るための第1のトランジスタと、主電流路の一端に駆動
電圧が、制御端子に基準電圧発生回路からの基準電圧が
供給され、基準電圧と駆動電圧の大きさに応じて電流を
通過させる第2のトランジスタとを有するものとする。
そして第2のトランジスタを通過した電流に応じて第1
のトランジスタの導通量を制御し、駆動電圧を入力端子
に印加される電圧よりも低く、基準電圧発生回路が出力
する基準電圧よりも高い値に設定する。具体的には、駆
動電圧は、基準電圧よりも半導体素子の順方向電圧の分
だけ高い値に設定し、その半導体素子は第2のトランジ
スタとする。
圧の低電圧化を可能とする本発明の実施例による半導体
装置の回路図を図1に示した。図1に示す回路は、電源
供給回路4aを以下のように構成した。なお、図1にお
いて、図2、図3に示されたものと同じ構成要素に対し
ては同じ符号を付与してある。トランジスタQ41のエ
ミッタは入力端子1に接続し、トランジスタQ41のベ
ース、エミッタ間、コレクタ、ベース間にはそれぞれ抵
抗R3、ダイオードD 41を接続する。トランジスタQ
41のベースはトランジスタQ42のコレクタに接続
し、トランジスタQ42のエミッタはダイオードD42
と抵抗R5の直列回路を介してグランドに接続する。ト
ランジスタQ42のベースは抵抗R4を介して制御入力
端子3に接続し、さらにトランジスタQ42のベースは
NPN型のトランジスタQ43のコレクタに接続する。
トランジスタQ43のベースはトランジスタQ42のエ
ミッタに接続し、トランジスタQ43のエミッタはグラ
ンドに接続する。
のトランジスタQ44のエミッタに接続し、トランジス
タQ44のコレクタはPNP型のトランジスタQ45の
エミッタに接続し、トランジスタQ45のコレクタはダ
イオードD42と抵抗R5の接続点に接続する。2つの
NPN型のトランジスタQ46とQ47のベースを共通
接続し、各エミッタをグランドに接続する。トランジス
タQ46のコレクタ、ベース間を接続し、トランジスタ
Q46のコレクタをトランジスタQ45のベースに接続
する。トランジスタQ47のコレクタを抵抗R7を介し
てトランジスタQ44のベースに接続し、トランジスタ
Q44のベースを抵抗R6を介して基準電圧発生回路5
の基準電圧が得られる回路点に接続し、電源供給回路4
aを構成する。なお、基準電圧発生回路5の起動用のト
ランジスタQ55のベースをトランジスタQ42のエミ
ッタへ接続すること以外の残りの回路部分については、
図1と図2の回路構成は同一である。
電源供給回路4aは基準電圧発生回路5及び誤差増幅回
路6に対し、以下のようにして駆動電圧を供給する。制
御入力端子3に印加される制御信号のレベルが高くなる
と、トランジスタQ 42と共にトランジスタQ41が導
通し、電源供給回路4aから基準電圧発生回路5および
誤差増幅回路6の各内部回路に駆動電圧が供給される。
ここでトランジスタQ43は、トランジスタQ42のベ
ース電流をダイオードD42と抵抗R 5の直列回路間に
現れた電圧に応じて安定化する役割を果たす。トランジ
スタQ 42が導通した直後にトランジスタQ55が導通
することにより基準電圧発生回路5が動作を開始し、ト
ランジスタQ54のベースおよびコレクタの位置におよ
そ1.25Vの基準電圧を発生させる。この基準電圧は
誤差増幅回路6に供給されると同時に、電源供給回路4
aのトランジスタQ44のベースにも抵抗R6を介して
供給される。
位置に現れる駆動電圧が所定の電圧値を越えて高くなろ
うとすると、トランジスタQ44のコレクタからトラン
ジスタQ45の主電流路を介して抵抗R5に流入する電
流が増加する。すると抵抗R 5の端子間電圧が増加し、
トランジスタQ42を介して流れるトランジスタQ4 1
のベース電流の流量が減少する。その結果、トランジス
タQ41はコレクタ、エミッタ間電圧を増加させ、駆動
電圧が前記所定の電圧値を越えて高くなろうとするのを
抑制する。なお、図1に示す構成の回路における所定の
電圧値とは、トランジスタQ44のベースに供給される
基準電圧とトランジスタQ44のベース、エミッタ間の
順方向電圧を合わせた電圧値にほぼ等しい値である。
5V、トランジスタQ44のベース、エミッタ間の順方
向電圧がおよそ0.65V前後であるため、基準電圧発
生回路5に供給される駆動電圧は電源供給回路4aによ
って約1.9Vの値に設定されることになる。仮に外部
電源からの供給電圧が変動しても、上記した電源供給回
路4aによる駆動電圧の設定動作によって、基準電圧発
生回路5、誤差増幅回路6への供給電圧の変動の影響は
非常に小さくすることができる。その結果、半導体装置
内の各回路の見掛け上のリップルリジェクション特性は
向上する。また、1.9Vの駆動電圧とトランジスタQ
41のコレクタ、エミッタ間電圧を考慮すると、図1に
示す回路構成とした半導体装置は最低の動作電圧を約2
Vにすることができ、動作電圧の低電圧化も可能とな
る。
Q47によるカレントミラー回路はトランジスタQ44
とQ45のベース電流を補正する役割を果たしている。
また、この動作の中で図1に示すトランジスタQ
41は、制御入力端子3に印加された制御信号のレベル
に応じて基準電圧発生回路5などの内部回路に供給する
駆動電圧をオン、オフするスイッチとしての機能と、駆
動電圧を安定化するための電圧制御素子としての機能を
合わせ持っている。さらにトランジスタQ42、トラン
ジスタQ43および抵抗R5の回路部分は、トランジス
タQ41のベース電流を安定的に流す定電流回路として
の機能と共に、トランジスタQ44から流入する電流信
号に応じてトランジスタQ41のベース電流を制御する
制御回路としての機能を合わせ持っている。
図1の回路図は全体としてシリーズレギュレータを構成
しているが、これに限定されず、本発明は基準電圧発生
回路を含む内部回路を具備する種々の半導体装置に適用
可能である。また図1の実施例では、制御入力端子3を
有し、外部から動作をオン、オフすることが可能な構成
の半導体装置を示しているが、例えば抵抗R4の一端を
制御入力端子3ではなく入力端子1に接続し、外部から
動作をオン、オフすることができない構成の半導体装置
であっても良い。さらに、電源供給回路4a中のダイオ
ードD42を省略する、基準電圧発生回路5を他の回路
構成にするなど、本発明の要旨を変更しない範囲で回路
構成を変更することは可能である。
体装置は、内部回路に対して駆動電圧を供給するための
第1のトランジスタと、基準電圧発生回路が出力する基
準電圧と駆動電圧の大きさに応じて電流を通過させる第
2のトランジスタとを有する電源供給回路を入力端子と
内部回路との間に接続する。ここで電源供給回路は、駆
動電圧を基準電圧発生回路が出力する基準電圧よりも半
導体素子の順方向電圧の分だけ高い大きさとなるよう
に、第2のトランジスタを通過した電流に応じて第1の
トランジスタの導通量を制御することを特徴としてい
る。これにより、電源供給回路の駆動電圧の設定動作に
よって内部回路への供給電圧の変動の影響は非常に小さ
くすることができ、半導体装置のリップルリジェクショ
ン特性は向上する。また、駆動電圧は基準電圧よりも半
導体素子の順方向電圧分だけ高い値に設定されることか
ら、半導体装置の動作電圧も低くできる。従って本発明
によれば、リップルリジェクション特性の向上と動作電
圧の低電圧化が可能な半導体装置を提供することが可能
となる。
の回路図。
子 4a:本発明による電源供給回路 4b、
4c:従来の電源供給回路 5:基準電圧発生回路
6:誤差増幅回路 Q41:トランジスタ
(第1のトランジスタ) Q44:トランジスタ
(第2のトランジスタ)
Claims (3)
- 【請求項1】 外部電源に接続される入力端子と、 基準電圧発生回路を含む内部回路と、 該内部回路に対して駆動電圧を供給するための第1のト
ランジスタと、該基準電圧発生回路が出力する基準電圧
と該駆動電圧の大きさに応じて電流を通過させる第2の
トランジスタとを有し、該駆動電圧を該入力端子に供給
された電圧よりも低く、かつ、該基準電圧発生回路が出
力する基準電圧よりも高い大きさとする、該入力端子と
該内部回路との間に接続された電源供給回路と、を具備
することを特徴とする半導体装置。 - 【請求項2】 前記供給電圧は、前記基準電圧発生回路
が出力する基準電圧よりも、半導体素子のPN接合部分
に発生する順方向降下電圧の分だけ高くした事を特徴と
する、請求項1に記載した半導体装置。 - 【請求項3】 前記基準電圧発生回路がバンドギャップ
型であることを特徴とする、請求項1あるいは請求項2
に記載した半導体装置。
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