WO2001020419A1 - Dispositif a semi-conducteur - Google Patents

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Rinya Hosono
Takeyuki Kouchi
Yukinori Kiya
Takashi Sogabe
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Toko, Inc.
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    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F1/00Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
    • G05F1/10Regulating voltage or current
    • G05F1/46Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc
    • G05F1/56Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices
    • G05F1/575Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices characterised by the feedback circuit

Definitions

  • One input terminal of the error amplifier circuit 6 is connected to the output terminal of the reference electrostatic pressure generation circuit 5, the other input terminal of the error amplifier circuit 6 is connected to a connection point of the resistor R, a resistor R 2, the error amplifier circuit the output terminal of the 6 Bok Rungis evening Q 2 total
  • the transistors Q 42 and the transistor Q 41 is turned on when the level of the control signal applied to the control input terminal 3 becomes high. Then, through the transistor Q 41 of the power supply circuit 4b, the reference voltage generating circuit 5 connected to an external power source to the input terminal 1, the driving voltage is supplied to the internal circuits of the error amplifier circuit 6.
  • the semiconductor device having the control input terminal 3 and having a configuration capable of turning on and off the operation from the outside is shown.
  • one end of the resistor R 4 is connected to the control input terminal 3.
  • the semiconductor device may be connected to the input terminal 1 so that the operation cannot be turned on and off externally.
  • omitted diode D 4 2 power supply circuit 4 in a such as a reference voltage generating circuit 5 to the other circuit configuration, it is possible to change the circuit configuration within the range not changing the gist of the present invention .

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  • Amplifiers (AREA)
  • Control Of Electrical Variables (AREA)

Description

明細書
技術分野
本発明は、 半導体装置のリップルリジェクション特性の向上と最低動作電圧の 低電圧化を可能とするための技術に関する。 背景技術
I C化された半導体装置は、 その内部に数多くの増幅回路や比較回路、 あるい は基準電圧発生回路などの基本機能回路が高密度で形成されている。 このような 半導体装置としては、 一例として、 内部回路を図 2に示す回路図のように構成し たレギユレ一夕 I Cが存在する。
図 2の回路は、 先ず、 入力端子 1と出力端子 2の間に P N P型のトランジスタ Q Jの主電流路を直列に接続し、 トランジスタ Q iのべ一スは P N P型のトランジ ス夕 Q 2を主電流路を介してグランドに接続する。 トランジスタ のべ一ス、 ェ ミッ夕間には抵抗 3を接続し、出力端子 2とグランドとの間には抵抗 と R 2 を直列に接続している。 そして電源供給回路 4 b、 基準電圧発生回路 5、 誤差増 幅回路 6を構成し、 基準電圧発生回路 5と誤差増幅回路 6の電源端子と入力端子 1との間に電源供給回路を接続する。 誤差増幅回路 6の一方の入力端子は基準電 圧発生回路 5の出力端子に接続し、 誤差増幅回路 6の他方の入力端子は抵抗 R , と抵抗 R 2の接続点に接続し、誤差増幅回路 6の出力端子は卜ランジス夕 Q 2のべ
—スに接続した構成となっている。
ここで電源供給回路 4 b、 基準電圧発生回路 5、 誤差増幅回路 6は、 それぞれ 以下のようにして構成している。
P N P型のトランジスタ Q4 1のエミヅ夕を入力端子に接続し、 そのコレクタを 抵抗 R8とダイオード D43を介してグランドに接続する。 トランジスタ Q41のべ —スと入力端子 1との間には抵抗 R 3を接続し、 トランジスタ Q 4 のベースとグ ランドとの間には N P N型のトランジスタ Q 42の主電流路を接続し、 トランジス 夕 Q41のコレクタ、 ベース間にはダイオード D41を接続する。 トランジスタ Q4 2のベースは抵抗 R 4を介して制御入力端子 3に接続し、 電源供給回路 4 bを構成 する。
また、 電源供給回路 4bを構成するトランジスタ Q41のコレクタに、 PNP型 のトランジスタ Q51およびトランジスタ Q52の各エミヅ夕を接続する。 トランジ ス夕 Q51およびトランジスタ Q52の互いのベースを共通接続し、 トランジスタ Q 5 jのコレクタ、ベース間を接続する。 トランジスタ Q51とトランジスタ Q52のそ れそれのコレクタは、 それぞれ NPN型のトランジスタ Q53あるいはトランジス 夕 Q54のコレクタに接続する。トランジスタ Q53とトランジスタ Q54の互いのベ —スを共通接続し、 トランジスタ Q54のコレクタ、 ベース間を接続する。 トラン ジス夕 Q 53のェミツ夕を抵抗 R , 0と抵抗 R 1!の直列回路を介してグランドに接続 し、 トランジスタ Q 54のエミヅ夕を抵抗 R! 0と抵抗 R! Jの接続点に接続する。ベ ースが電源供給回路 4 bの抵抗 R 8とダイオード D 43の接続点に接続されたトラン ジス夕 Q 55の主電流路をトランジスタ Q 53の主電流路に対して並列に接続し、基 準電圧発生回路 5を構成する。
そして、 電源供給回路 4bを構成するトランジスタ Q41のコレクタに、 PNP 型のトランジスタ Q61およびトランジスタ Q 62の各エミッ夕を接続する。 トラン ジス夕 Q 6 iおよびトランジスタ Q 62の互いのベースを共通接続し、 トランジスタ
Q62のコレクタ、 ベース間を接続する。 トランジスタ Q61とトランジスタ Q62 のそれぞれのコレクタは、 それぞれ NPN型のトランジスタ Q63あるいはトラン ジス夕 Q64のコレクタに接続する。トランジスタ Q63とトランジスタ Q64の各ェ ミッ夕は共通接続し、 その各エミヅ夕の共通接続点とグランドの間に抵抗 R12を 接続する。 トランジスタ Q63のべ一スは基準電圧発生回路 5を構成するトランジ ス夕 Q54のコレクタおよびベースに接続し、 トランジスタ Q64のべ一スを抵抗 R iと抵抗 R2の接続点に接続する。トランジスタ Q61とトランジスタ Q63のコレク 夕同士の接続点をトランジスタ Q 2のベースに接続し、 誤差増幅回路 6を構成す る。
以上のような構成とした図 2の回路では、 制御入力端子 3に印加される制御信 号のレベルが高くなるとトランジスタ Q42およびトランジスタ Q41がオン状態と なる。 すると、 電源供給回路 4bのトランジスタ Q41を介して、 入力端子 1に接 続された外部電源から基準電圧発生回路 5、 誤差増幅回路 6の各内部回路に駆動 電圧が供給される。
駆動電圧の供給を受けた基準電圧発生回路 5は、 回路の起動時において、 先ず トランジスタ Q55が導通することによりトランジスタ Q51と Q52によるカレント ミラ一回路が動作する。次にトランジスタ Q 5 と Q 52から電流の供給を受けたト ランジス夕 Q53と Q54によるカレントミラ一回路が動作し、 トランジスタ Q53 の導通に伴ってトランジスタ Q55はオフ状態となる。以後、 運転状態となった基 準電圧発生回路 5は、 半導体材料のバンドギャップに基づく、 およそ 1. 25V の基準電圧をトランジスタ Q54のコレクタおよびベースの位置に発生させること になる。
一方、 駆動電圧の供給を受けた誤差増幅回路 6については、 先ず、 基準電圧の 供給を受けたトランジスタ Q63が動通し、 これに伴ってトランジスタ Q2および トランジスタ が導通する。 トランジスタ が導通すると、 トランジスタ を介して入力端子 1から出力端子 2に電力が伝達され、 出力端子 2に出力電圧が 出現する。 出力端子 2に出現した出力電圧は抵抗 と R2によって分圧され、 こ の分圧電圧はトランジスタ Q64のペースに供給される。 するとトランジスタ Q6
4は導通し、 トランジスタ Q61、 Q62によるカレントミラ一回路が動作する。 以 後、 運転状態となった誤差増幅回路 6は、 トランジスタ Q63に供給された基準電 圧とトランジスタ Q64に供給された分圧電圧に応じてトランジスタ Q2および の導通量を制御し、 出力電圧の大きさを一定に制御することになる。
このような図 2の回路では、 基準電圧発生回路 5および誤差増幅回路 6は、 ォ ン状態のトランジスタ Q41と入力端子 1を介して外部電源と接続される。 このた め、 外部電源から供給される電圧が変動した場合、 基準電圧発生回路 5および誤 差増幅回路 6は電圧変動の影響を直接に受けてしまう。 これに加え、 各回路 5、 6の電源側に設けられた各トランジスタ Q51、 Q52、 Q61および Q62には、 P NP型のトランジスタであるため印加電圧が高いとァ一リ一効果が大きく現れる、 また、 PNP型のトランジスタは製造プロセスにおける諸条件の変動の影響を受 けやすく、 製品毎の特性値のばらつきが大きくなるといつた問題が有つた。
これらの理由から、 図 2の構成による回路は、 特に電圧変動の影響を受け易い ものとなっており、 半導体装置の入力電圧の変動に対するリ ヅプルリジェクショ ン特性の向上とその特性の均質化が困難であった。
このような図 2の回路に対して、 電源供給回路を図 3に示すような構成とする ことにより、 特性の改善を図ることがあった。
図 3の回路は、 PNP型のトランジスタ Q48およびトランジスタ Q49の各エミ ヅ夕を入力端子 1に接続する。 トランジスタ Q 48と Q 49の互いのベースを共通接 続し、 トランジスタ Q48のコレクタ、 ベース間を接続する。 トランジスタ Q48 のコレクタとグランドとの間には抵抗 R9とトランジスタ Q42の主電流路を直列 に接続し、 トランジスタ Q 42のべ一スは抵抗 R 4を介して制御入力端子 3に接続 する。 トランジスタ Q49のコレクタは NPN型のトランジスタ Q410のベースに 接続し、 トランジスタ Q49のコレクタとグランドとの間には複数のダイオード D 44〜D48を直列に接続する。 そして、 トランジスタ Q410のコレクタを基準電圧 発生回路 5および誤差増幅回路 6の接続し、 電源供給回路 4 cを構成していた。 このような構成とした電源供給回路 4 cでは、制御入力端子 3に印加される制御 信号のレベルが高くなるとトランジスタ Q42がオン状態となり、 トランジスタ Q 48、 Q49によるカレントミラ一回路が動作する。 トランジスタ Q49の主電流路を 通過した電流の一部は直列接続したダイオード D 44〜 D 48を介してグランドに流 入し、この時にダイオード D44〜D48に発生した順方向電圧によってトランジス 夕 Q4 1 oのベースの位置の電位が上昇する。するとトランジスタ Q410はェミツ夕 の位置の電圧とそのベース、 エミッ夕間電圧の合成値がベースの位置の電圧と同 じになるように動作し、 基準電圧発生回路 5および誤差増幅回路 6に供給する駆 動電圧を、 ほぼダイオード D 44〜 D 48に発生した全順方向電圧から Q 410のべ一 ス、 エミッ夕間電圧を差し引いた大きさにする。 これにより、 仮に入力電圧が変 動しても駆動電圧の変動量は入力電圧のそれよりも小さく抑えられ、 入力電圧の 変動に対する半導体装置のリップルリジェクション特性の向上と特性の均質化が 可倉 となる。 ,
(発明が解決しょうとする課題)
ところで、 図 3中の基準電圧発生回路 5に図 2と同様なバンドギヤップ型の基 準電圧発生回路を使用する場合、 基準電圧発生回路 5に供給する駆動電圧には、 およそ 1. 8 V以上の電圧値が必要である。 図 3の構成の回路においては、 この 駆動電圧はダイオード D44〜D48の全順方向降下電圧によって決定される。 ダイォード素子の順方向降下電圧の大きさは室温状態で素子 1個当たりおよそ 0. 7Vである。 そこで、 駆動電圧を 1. 8 V以上にするためには、 トランジス 夕 Q41。のべ一ス、 ェミッタ間電圧を考慮に入れると、 ダイオード素子が 4本必 要になる。 しかし、 ダイオード素子は— 2 mV/°C程度の温度特性を持っため、 半導体装置の全使用温度範囲において駆動電圧が 1. 8 Vを下回らないようにす るには、 さらにダイオード素子を 1本カ卩える必要が有る。 従って図 3に示す電源 供給回路 4 cでは、合計 5本以上のダイォード素子を直列接続しなければならない このような場合、 外部電源から半導体装置に供給する電圧としては、 ダイォ一 ド D 4 4〜D 4 8の全順方向降下電圧にトランジスタ Q 4 9のコレクタ、エミッ夕間電 圧を加えた、 3 . 5 V以上の電圧値が要求されることになる。 しかし、 現在の巿 場では半導体装置の最低の動作電圧値に 2 . 5 Vが要求されており、 3 . 5 V以 上の電圧値が要求される図 3の電源供給回路 4 cを採用した半導体装置では要求仕 様を満足できなかった。
そこで本発明は、 リップルリジェクシヨン特性の向上と動作電圧の低電圧化が 可能な半導体装置を提供することを目的とする。
(課題を解決するための手段)
上記課題を解決するための本発明による半導体装置は、 外部電源に接続される 入力端子と、 基準電圧発生回路を含む内部回路とを具備し、 さらに、 内部回路に 対して駆動電圧を供給するための第 1のトランジス夕と 基準電圧発生回路が出 力する基準電圧と駆動電圧の大きさに応じて電流を通過させる第 2のトランジス 夕とを有し、 駆動電圧を入力端子に供給された電圧よりも低く、 かつ、 基準電圧 発生回路が出力する基準電圧よりも高い大きさとする、 入力端子と内部回路との 間に接続された電源供給回路とを具備することを特徴とする半導体装置である。 図面の簡単な説明
図 1は、 本発明による半導体装置の実施例の回路図である。
図 2は、 従来の半導体装置の一例の回路図である。
図 3は、 特性面の改良を図った従来の半導体装置の別の回路図である。 発明の実施の形態
半導体装置の入力端子と基準電圧発生回路を含む内部回路の間に電源供給回路 を接続する。
電源供給回路は、 入力端子と内部回路の間にその主電流路が接続され、 内部回 路に対して駆動電圧を供給するための第 1のトランジスタと、 主電流路の一端に 駆動電圧が、 制御端子に基準電圧発生回路からの基準電圧が供給され、 基準電圧 と駆動電圧の大きさに応じて電流を通過させる第 2のトランジスタとを有するも のとする。 そして第 2のトランジスタを通過した電流に応じて第 1のトランジス 夕の導通量を制御し、 駆動電圧を入力端子に印加される電圧よりも低く、 基準電 圧発生回路が出力する基準電圧よりも高い値に設定する。 具体的には、 駆動電圧 は、 基準電圧よりも半導体素子の順方向電圧の分だけ高い値に設定し、 その半導 体素子は第 2のトランジスタとする。
(実施例)
リップルリジェクション特性の向上と動作電圧の低電圧化を可能とする本発明 の実施例による半導体装置の回路図を図 1に示した。 図 1に示す回路は、 電源供 給回路 4 aを以下のように構成した。 なお、 図 1において、 図 2、 図 3に示され たものと同じ構成要素に対しては同じ符号を付与してある。
トランジスタ Q41のエミヅ夕は入力端子 1に接続し、 トランジスタ Q41のべ一 ス、 エミヅ夕間、 コレクタ、 ベース間にはそれぞれ抵抗 R 3、 ダイオード D41を 接続する。 トランジスタ Q 4 のベースはトランジスタ Q42のコレクタに接続し、 トランジスタ Q42のエミッ夕はダイオード D42と抵抗 R5の直列回路を介してグ ランドに接続する。 トランジスタ Q42のベースは抵抗 R4を介して制御入力端子 3に接続し、 さらにトランジスタ Q42のべ一スは NPN型のトランジスタ Q43 のコレクタに接続する。 トランジスタ Q43のベースはトランジスタ Q42のエミッ 夕に接続し、 トランジスタ Q43のエミッ夕はグランドに接続する。
トランジスタ Q41のコレクタは PNP型のトランジスタ Q44のェミツ夕に接続 し、 トランジスタ Q44のコレクタは PNP型のトランジスタ Q45のェミツ夕に接 続し、 トランジスタ Q45のコレクタはダイオード D42と抵抗 R5の接続点に接続 する。 2つの NPN型のトランジスタ Q46と Q47のべ一スを共通接続し、各エミ ッ夕をグランドに接続する。 トランジスタ Q46のコレクタ、 ベース間を接続し、 トランジスタ Q46のコレクタをトランジスタ Q45のベースに接続する。 トランジ ス夕 Q47のコレクタを抵抗 R7を介してトランジスタ Q44のベースに接続し、 ト ランジス夕 Q 44のベースを抵抗 R 6を介して基準電圧発生回路 5の基準電圧が得 られる回路点に接続し、 電源供給回路 4 aを構成する。
なお、基準電圧発生回路 5の起動用のトランジスタ Q55のべ一スをトランジス 夕 Q 42のェミツ夕へ接続すること以外の残りの回路部分については、 図 1と図 2 の回路構成は同一である。
以上のような構成とした図 1の回路では、 電源供給回路 4 aは基準電圧発生回 路 5及び誤差増幅回路 6に対し、 以下のようにして駆動電圧を供給する。
制御入力端子 3に印加される制御信号のレベルが高 <なると、 トランジスタ Q 42と共にトランジスタ Q 4 iが導通し、電源供給回路 4 aから基準電圧発生回路 5 および誤差増幅回路 6の各内部回路に駆動電圧が供給される。 ここでトランジス 夕 Q 43は、 トランジスタ Q 42のベース電流をダイオード D 42と抵抗 R 5の直列回 路間に現れた電圧に応じて安定化する役割を果たす。 トランジスタ Q 42が導通し た直後にトランジスタ Q 55が導通することにより基準電圧発生回路 5が動作を開 始し、 トランジスタ Q54のベースおよびコレクタの位置におよそ 1. 25Vの基 準電圧を発生させる。 この基準電圧は誤差増幅回路 6に供給されると同時に、 電 源供給回路 4 aのトランジスタ Q44のベースにも抵抗 R6を介して供給される。 ここで、 トランジスタ Q41のコレクタの位置に現れる駆動電圧が所定の電圧値 を越えて高くなろうとすると、 トランジスタ Q44のコレクタからトランジスタ Q
45の主電流路を介して抵抗 R 5に流入する電流が増加する。すると抵抗 R 5の端子 間電圧が増加し、 トランジスタ Q42を介して流れるトランジスタ Q41のベース電 流の流量が減少する。 その結果、 トランジスタ Q41はコレクタ、 エミッ夕間電圧 を増加させ、 駆動電圧が前記所定の電圧値を越えて高くなろうとするのを抑制す る。 なお、 図 1に示す構成の回路における所定の電圧値とは、 トランジスタ Q44 のベースに供給される基準電圧とトランジスタ Q44のベース、 エミッ夕間の順方 向電圧を合わせた電圧値にほぼ等しい値である。
図 1のような構成では、 基準電圧が 1. 25V、 トランジスタ Q44のべ一ス、 エミッ夕間の順方向電圧がおよそ 0. 65 V前後であるため、 基準電圧発生回路 5に供給される駆動電圧は電源供給回路 4 aによって約 1. 9 Vの値に設定され ることになる。 仮に外部電源からの供給電圧が変動しても、 上記した電源供給回 路 4 aによる駆動電圧の設定動作によって、 基準電圧発生回路 5、 誤差増幅回路 6への供給電圧の変動の影響は非常に小さくすることができる。 その結果、 半導 体装置内の各回路の見掛け上のリヅプルリジェクシヨン特性は向上する。 また、 1. 9 Vの駆動電圧とトランジスタ Q41のコレクタ、 エミヅ夕間電圧を考慮す ると、 図 1に示す回路構成とした半導体装置は最低の動作電圧を約 2 Vにするこ とができ、 動作電圧の低電圧化も可能となる。
なお、 トランジスタ Q46とトランジスタ Q47によるカレントミラ一回路はトラ ンジス夕 Q44と Q45のベース電流を補正する役割を果たしている。 また、 この動 作の中で図 1に示すトランジスタ Q 4 iは、制御入力端子 3に印加された制御信号 のレベルに応じて基準電圧発生回路 5などの内部回路に供給する駆動電圧をオン 、 オフするスィッチとしての機能と、 駆動電圧を安定ィ匕するための電圧制御素子 としての機能を合わせ持っている。 さらにトランジスタ Q42、 トランジスタ Q4 3および抵抗 R5の回路部分は、 トランジス夕 Q4 のベース電流を安定的に流す定 電流回路としての機能と共に、 トランジスタ Q44から流入する電流信号に応じて トランジス夕 Q4!のベース電流を制御する制御回路としての機能を合わせ持って いる。 以上に説明した本発明の実施例において、 図 1の回路図は全体としてシリーズ レギユレ一夕を構成しているが、 これに限定されず、 本発明は基準電圧発生回路 を含む内部回路を具備する種々の半導体装置に適用可能である。
また図 1の実施例では、 制御入力端子 3を有し、 外部から動作をオン、 オフす ることが可能な構成の半導体装置を示しているが、 例えば抵抗 R 4の一端を制御 入力端子 3ではなく入力端子 1に接続し、 外部から動作をオン、 オフすることが できない構成の半導体装置であっても良い。
さらに、 電源供給回路 4 a中のダイオード D 4 2を省略する、基準電圧発生回路 5を他の回路構成にするなど、 本発明の要旨を変更しない範囲で回路構成を変更 することは可能である。
(発明の効果)
以上に説明したように本発明による半導体装置は、 内部回路に対して駆動電圧 を供給するための第 1のトランジスタと、 基準電圧発生回路が出力する基準電圧 と駆動電圧の大きさに応じて電流を通過させる第 2のトランジスタとを有する電 源供給回路を入力端子と内部回路との間に接続する。 ここで電源供給回路は、 駆 動電圧を基準電圧発生回路が出力する基準電圧よりも半導体素子の順方向電圧の 分だけ高い大きさとなるように、 第 2のトランジスタを通過した電流に応じて第 1のトランジスタの導通量を制御することを特徴としている。
これにより、 電源供給回路の駆動電圧の設定動作によって内部回路への供給電 圧の変動の影響は非常に小さくすることができ、 半導体装置のリッブルリジェク シヨン特性は向上する。 また、 駆動電圧は基準電圧よりも半導体素子の順方向電 圧分だけ高い値に設定されることから、 半導体装置の動作電圧も低くできる。 従って本発明によれば、 リヅプルリジェクション特性の向上と動作電圧の低電 圧化が可能な半導体装置を提供することが可能となる。

Claims

請求の範囲
1 . 外部電源に接続される入力端子と、
基準電圧発生回路を含む内部回路と、
該内部回路に対して駆動電圧を供給するための第 1のトランジスタと、 該基準 電圧発生回路が出力する基準電圧と該駆動電圧の大きさに応じて電流を通過させ る第 2のトランジスタとを有し、 該駆動電圧を該入力端子に供給された電圧より も低 かつ、該基準電圧発生回路が出力する基準電圧よりも高い大きさとする、 該入力端子と該内部回路との間に接続された電源供給回路と、
を具備することを特徴とする半導体装置。
2 . 前記供給電圧は、 前記基準電圧発生回路が出力する基準電圧よりも、 半導体 素子の P N接合部分に発生する順方向降下電圧の分だけ高くした事を特徴とする 請求項 1に記載した半導体装置。
3 . 前記基準電圧発生回路がバンドギャップ型であることを特徴とする、 請求項 1または請求項 2に記載した半導体装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7443229B1 (en) * 2001-04-24 2008-10-28 Picor Corporation Active filtering
US6985341B2 (en) * 2001-04-24 2006-01-10 Vlt, Inc. Components having actively controlled circuit elements
US7394308B1 (en) * 2003-03-07 2008-07-01 Cypress Semiconductor Corp. Circuit and method for implementing a low supply voltage current reference
JP3710469B1 (ja) 2004-11-04 2005-10-26 ローム株式会社 電源装置、及び携帯機器
JP3739006B1 (ja) 2004-11-04 2006-01-25 ローム株式会社 電源装置、及び携帯機器
JP3710468B1 (ja) 2004-11-04 2005-10-26 ローム株式会社 電源装置、及び携帯機器
JP4721726B2 (ja) * 2005-02-25 2011-07-13 富士通セミコンダクター株式会社 差動増幅器
JP2007133533A (ja) * 2005-11-09 2007-05-31 Nec Electronics Corp 基準電圧生成回路
JP4374388B2 (ja) * 2007-10-10 2009-12-02 Okiセミコンダクタ株式会社 電圧制御回路
JP6638423B2 (ja) * 2016-01-27 2020-01-29 ミツミ電機株式会社 レギュレータ用半導体集積回路
US9952610B1 (en) 2017-06-07 2018-04-24 Mitsumi Electric Co., Ltd. Clamp circuit to suppress reference voltage variation in a voltage regulator

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01151315U (ja) * 1988-04-05 1989-10-19
JPH03104211U (ja) * 1990-02-08 1991-10-29

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4636710A (en) * 1985-10-15 1987-01-13 Silvo Stanojevic Stacked bandgap voltage reference
JPH01151315A (ja) 1987-12-08 1989-06-14 Fuji Electric Co Ltd パルス信号入力回路
US4906863A (en) * 1988-02-29 1990-03-06 Texas Instruments Incorporated Wide range power supply BiCMOS band-gap reference voltage circuit
JPH0727425B2 (ja) * 1988-12-28 1995-03-29 株式会社東芝 電圧発生回路
JPH03104211A (ja) 1989-09-19 1991-05-01 Fujitsu Ltd 半導体装置の製造方法
US5289111A (en) * 1991-05-17 1994-02-22 Rohm Co., Ltd. Bandgap constant voltage circuit
JP2943521B2 (ja) 1992-08-25 1999-08-30 松下電器産業株式会社 テストベクトル生成方法およびテストベクトル生成装置
JP2851767B2 (ja) * 1992-10-15 1999-01-27 三菱電機株式会社 電圧供給回路および内部降圧回路
US5512817A (en) * 1993-12-29 1996-04-30 At&T Corp. Bandgap voltage reference generator
JPH0954625A (ja) 1995-08-18 1997-02-25 Fujitsu Ltd 基準電圧生成回路及びこれを用いた半導体装置
JPH1027027A (ja) * 1996-07-09 1998-01-27 Mitsubishi Electric Corp 内部降圧回路
JP3621237B2 (ja) * 1997-08-14 2005-02-16 富士通株式会社 半導体集積回路
US5929617A (en) * 1998-03-03 1999-07-27 Analog Devices, Inc. LDO regulator dropout drive reduction circuit and method
US6002293A (en) * 1998-03-24 1999-12-14 Analog Devices, Inc. High transconductance voltage reference cell
US6225857B1 (en) * 2000-02-08 2001-05-01 Analog Devices, Inc. Non-inverting driver circuit for low-dropout voltage regulator

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01151315U (ja) * 1988-04-05 1989-10-19
JPH03104211U (ja) * 1990-02-08 1991-10-29

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP1220071A4 *

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US20010022527A1 (en) 2001-09-20
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