JPH0432571B2 - - Google Patents
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- JPH0432571B2 JPH0432571B2 JP58195148A JP19514883A JPH0432571B2 JP H0432571 B2 JPH0432571 B2 JP H0432571B2 JP 58195148 A JP58195148 A JP 58195148A JP 19514883 A JP19514883 A JP 19514883A JP H0432571 B2 JPH0432571 B2 JP H0432571B2
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- conversion circuit
- transistor
- signal level
- level conversion
- terminal
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 91
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 70
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 claims description 6
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 7
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 7
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 7
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 7
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 3
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 238000009738 saturating Methods 0.000 description 2
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/0175—Coupling arrangements; Interface arrangements
- H03K19/018—Coupling arrangements; Interface arrangements using bipolar transistors only
- H03K19/01806—Interface arrangements
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は一方の端子が共通の基準電位点を成す
第1直流電源によつて給電され、2つの出力信号
レベルを呈する飽和タイプの一方の第1論理回路
と、一方の端子が共通の基準電位点に接続され、
他方の端子が前記第1直流電源の他方の端子の電
圧に対し反対の極性の電位点に接続される第2直
流電源によつて給電され、前記信号レベルとは別
の2つの他の信号レベルを呈する非飽和タイプの
他方の第2論理回路との間の信号レベルを変換す
る変換回路にあつて、中継端子が特に第1論理回
路の出力信号を受信して、前記変換回路の出力端
子における信号を前記第2論理回路の入力に好適
なレベルの信号に変換するための信号レベル変換
回路に関するものである。
第1直流電源によつて給電され、2つの出力信号
レベルを呈する飽和タイプの一方の第1論理回路
と、一方の端子が共通の基準電位点に接続され、
他方の端子が前記第1直流電源の他方の端子の電
圧に対し反対の極性の電位点に接続される第2直
流電源によつて給電され、前記信号レベルとは別
の2つの他の信号レベルを呈する非飽和タイプの
他方の第2論理回路との間の信号レベルを変換す
る変換回路にあつて、中継端子が特に第1論理回
路の出力信号を受信して、前記変換回路の出力端
子における信号を前記第2論理回路の入力に好適
なレベルの信号に変換するための信号レベル変換
回路に関するものである。
デイジタル信号を処理する装置、特に最近のコ
ンピユータでは、TTL論理回路(または等価論
理回路)の信号レベルに対応するレベルを有して
いる信号をECL/CMLタイプの論理回路に適し
た信号に変換したり、その逆に変換したりする必
要がある。
ンピユータでは、TTL論理回路(または等価論
理回路)の信号レベルに対応するレベルを有して
いる信号をECL/CMLタイプの論理回路に適し
た信号に変換したり、その逆に変換したりする必
要がある。
実際上、例えば周辺素子の場合のように、消費
電力は低くする必要はあるも、スイツチング速度
は特に問題にならないような場合にはTTLタイ
プの論理回路を用いるのが慣例になつている。こ
れに対し、電流/スイツチングモードのECL/
CMLタイプの論理回路は飽和しないし、しかも
論理偏差も少ないために高速度で作動することが
証明されている。これがため、このECL/CML
論理回路はデイジタルデータを極めて高速度で処
理する必要のある中央素子に用いるのが有利であ
る。
電力は低くする必要はあるも、スイツチング速度
は特に問題にならないような場合にはTTLタイ
プの論理回路を用いるのが慣例になつている。こ
れに対し、電流/スイツチングモードのECL/
CMLタイプの論理回路は飽和しないし、しかも
論理偏差も少ないために高速度で作動することが
証明されている。これがため、このECL/CML
論理回路はデイジタルデータを極めて高速度で処
理する必要のある中央素子に用いるのが有利であ
る。
従つて、上述したような異なるタイプの論理回
路間にて信号を変換し得るようにし、また最適な
変換状態が得られるようにするのが望ましく、実
際上、供給電圧が変動していて、大きな温度範囲
にわたる所定レベルの雑音がある場合でも予定し
たスイツチングレベルが得られるようにする必要
がある。さらに、電気的な尺度以外に変換回路の
集積化を容易とし、必要な素子数を減らし、従つ
てそれら変換回路を簡単とし、かつ製造方法に関
連する必然的な変動に対する感度を低くすると云
うような技術的な問題もある。
路間にて信号を変換し得るようにし、また最適な
変換状態が得られるようにするのが望ましく、実
際上、供給電圧が変動していて、大きな温度範囲
にわたる所定レベルの雑音がある場合でも予定し
たスイツチングレベルが得られるようにする必要
がある。さらに、電気的な尺度以外に変換回路の
集積化を容易とし、必要な素子数を減らし、従つ
てそれら変換回路を簡単とし、かつ製造方法に関
連する必然的な変動に対する感度を低くすると云
うような技術的な問題もある。
冒頭にて述べた種類の変換回路は特に、米国特
許第3959666号から既知である。
許第3959666号から既知である。
従来回路では、スイツチングレベルの電圧が温
度の関数として所望な可能性、即ちTTLタイプ
の論理回路の場合のように、2つの半導体接合で
の直流電圧降下に対応する可変性を呈さないこと
を確めた。従つて、斯程回路の雑音余裕度では通
常特定化される全温度範囲にわたり標準の諸要求
を満足させることができない。
度の関数として所望な可能性、即ちTTLタイプ
の論理回路の場合のように、2つの半導体接合で
の直流電圧降下に対応する可変性を呈さないこと
を確めた。従つて、斯程回路の雑音余裕度では通
常特定化される全温度範囲にわたり標準の諸要求
を満足させることができない。
さらに、従来回路ではトランジスタのベース・
コレクタ接合に並列にシヨツトキーダイオードを
用いて、このトランジスタを飽和させないように
している。ところで、このタイプのダイオードの
集積化はTTL技法によつて変換回路を得る場合
には簡単であるが、変換回路を所定のCML技法
に基いて実現すべき場合は上記ダイオードの集積
下は困難である。
コレクタ接合に並列にシヨツトキーダイオードを
用いて、このトランジスタを飽和させないように
している。ところで、このタイプのダイオードの
集積化はTTL技法によつて変換回路を得る場合
には簡単であるが、変換回路を所定のCML技法
に基いて実現すべき場合は上記ダイオードの集積
下は困難である。
シヨツトキーダイオードをなくしたり、そのダ
イオードの代りに不飽和トランジスタを用いたり
することがきることは勿論である。シヨツトキー
ダイオードをなくす最初の場合にはトランジスタ
の飽和によつてスイツチング速度が適用できない
レベルにまで低下してしまう。また、第2の場合
にはダイオードをトランジスタと変換し、このト
ランジスタに複数個の補足抵抗を追加する必要が
あるため、所望なスイツチング速度を得るには比
較的多数の構成部品が必要である。
イオードの代りに不飽和トランジスタを用いたり
することがきることは勿論である。シヨツトキー
ダイオードをなくす最初の場合にはトランジスタ
の飽和によつてスイツチング速度が適用できない
レベルにまで低下してしまう。また、第2の場合
にはダイオードをトランジスタと変換し、このト
ランジスタに複数個の補足抵抗を追加する必要が
あるため、所望なスイツチング速度を得るには比
較的多数の構成部品が必要である。
本発明の目的は特に従来回路の欠点を除去する
ことにある。
ことにある。
本発明の主目的は大きな作動温度範囲内にて2
つの論理回路間の信号レベルを満足に適合させる
ことにある。
つの論理回路間の信号レベルを満足に適合させる
ことにある。
本発明の他の目的は、構成素子を複雑な作用を
する第2論理回路と一緒に集積し得ると共に同じ
技術的な規則に基づいて画成し得る簡単な構成の
変換回路を提供することにある。
する第2論理回路と一緒に集積し得ると共に同じ
技術的な規則に基づいて画成し得る簡単な構成の
変換回路を提供することにある。
本発明は冒頭にて述べた種類の信号レベル変換
回路において、該変換回路が、ベースが一方では
第1順方向半導体接合を経て共通の基準電位点の
電位に対して所定の電位を呈する変換回路におけ
る第1電位点に、他方では限流素子を経て中継端
子に接続されるエミツタホロワトランジスタと; 第2直流電源の前記他方の端子とエミツタホロ
ワトランジスタのエミツタとの間に接続される定
電流源と; 一方の第1接続線がエミツタホロワトランジス
タのエミツタに接続され、他方の第2接続線が共
通の基準電位点の電位に対して所定の電位を呈す
る変換回路における第2電位点に接続される定電
流源用の負荷素子; とを具えており、かつ 負荷素子の前記第1接続線が第2論理回路の入
力に対する信号を搬送する変換回路の出力端子を
成し、第2論理回路の入力信号の内の一方のレベ
ルを、エミツタホロワトランジスタがカツト・オ
フされている際に定電流源の電流が流れることに
より負荷素子での電圧降下にて変換回路の第2電
位点の電位に基いて決定し、論理回路の入力信号
の内の他方のレベルをエミツタホロワトランジス
タが導通している際におけるこのトランジスタの
エミツタの電位によつて決定するようにしたこと
を特徴とする。
回路において、該変換回路が、ベースが一方では
第1順方向半導体接合を経て共通の基準電位点の
電位に対して所定の電位を呈する変換回路におけ
る第1電位点に、他方では限流素子を経て中継端
子に接続されるエミツタホロワトランジスタと; 第2直流電源の前記他方の端子とエミツタホロ
ワトランジスタのエミツタとの間に接続される定
電流源と; 一方の第1接続線がエミツタホロワトランジス
タのエミツタに接続され、他方の第2接続線が共
通の基準電位点の電位に対して所定の電位を呈す
る変換回路における第2電位点に接続される定電
流源用の負荷素子; とを具えており、かつ 負荷素子の前記第1接続線が第2論理回路の入
力に対する信号を搬送する変換回路の出力端子を
成し、第2論理回路の入力信号の内の一方のレベ
ルを、エミツタホロワトランジスタがカツト・オ
フされている際に定電流源の電流が流れることに
より負荷素子での電圧降下にて変換回路の第2電
位点の電位に基いて決定し、論理回路の入力信号
の内の他方のレベルをエミツタホロワトランジス
タが導通している際におけるこのトランジスタの
エミツタの電位によつて決定するようにしたこと
を特徴とする。
なお、「共通の基準電位点の電位に対して所定
の電位を呈する変換回路における電位点」とは共
通の基準電位点そのもの、または例えば半導体接
合の順方向の降下電圧のような、共通の基準電位
点の電位とは一定の値だけ電位が異なる点を意味
するものとする。また、「電流源用の負荷素子」
とは、抵抗、ダイオードまたはトランジスタのよ
うな、定電流源によつて供給れる電流が流れる際
に適当な電圧降下を呈する任意の素子を意味する
ものとする。さらに、「半導体接合」とはダイオ
ードだけでなく、ダイオードとして機能するよう
接続したトランジスタ、即ち、ベースとコレクタ
を互いに接続して、これにより一方の出力電極を
構成し、エミツタにより他方の電極を構成するよ
うにしたトランジスタも意味するものとする。
の電位を呈する変換回路における電位点」とは共
通の基準電位点そのもの、または例えば半導体接
合の順方向の降下電圧のような、共通の基準電位
点の電位とは一定の値だけ電位が異なる点を意味
するものとする。また、「電流源用の負荷素子」
とは、抵抗、ダイオードまたはトランジスタのよ
うな、定電流源によつて供給れる電流が流れる際
に適当な電圧降下を呈する任意の素子を意味する
ものとする。さらに、「半導体接合」とはダイオ
ードだけでなく、ダイオードとして機能するよう
接続したトランジスタ、即ち、ベースとコレクタ
を互いに接続して、これにより一方の出力電極を
構成し、エミツタにより他方の電極を構成するよ
うにしたトランジスタも意味するものとする。
本発明による変換回路の利点は、その回路を前
記第2論理回路内に簡単に集積化させることので
きる限定数の素子で構成し得る点にある。斯かる
本発明回路は第1論理回路をTTLによつて構成
する場合における+Vccの如き第1直流電源の端
子を具えていない。
記第2論理回路内に簡単に集積化させることので
きる限定数の素子で構成し得る点にある。斯かる
本発明回路は第1論理回路をTTLによつて構成
する場合における+Vccの如き第1直流電源の端
子を具えていない。
第1直流電源の端子間における電位は中継端子
を経て変換回路に供給されるだけである。従つ
て、斯様な変換回路を組込む第2論理回路の集積
回路のピン数を節約することができる。
を経て変換回路に供給されるだけである。従つ
て、斯様な変換回路を組込む第2論理回路の集積
回路のピン数を節約することができる。
最後に、また後に詳述するように、変換回路の
入力信号のレベルと出力信号のレベルとの間の偏
差は極めて大きな温度範囲にわたり両立し得るよ
うに保つことができる。
入力信号のレベルと出力信号のレベルとの間の偏
差は極めて大きな温度範囲にわたり両立し得るよ
うに保つことができる。
本発明の第1の実施例では、所定電位にある変
換回路の第1および第2電位点を共通の基準電位
点に接続し、エミツタホロワトランジスタのコレ
クタを前記直列回路の接続点の一方に接続する。
換回路の第1および第2電位点を共通の基準電位
点に接続し、エミツタホロワトランジスタのコレ
クタを前記直列回路の接続点の一方に接続する。
例えば、直列回路を中継端子から順に配置する
限流抵抗と補足半導体接合とによつて形成する場
合には、エミツタホロワトランジスタのコレクタ
を直接中継端子に接続するか、または限流抵抗と
補足半導体接合との間の接続点に接続するか、或
いはエミツタホロワトランジスタのベースに直接
接続することができる。しかし、直列回路の素子
の配列順序は反対とすることもでき、この場合に
はエミツタホロワトランジスタのコレクタの接続
個所を選択する必要がある。
限流抵抗と補足半導体接合とによつて形成する場
合には、エミツタホロワトランジスタのコレクタ
を直接中継端子に接続するか、または限流抵抗と
補足半導体接合との間の接続点に接続するか、或
いはエミツタホロワトランジスタのベースに直接
接続することができる。しかし、直列回路の素子
の配列順序は反対とすることもでき、この場合に
はエミツタホロワトランジスタのコレクタの接続
個所を選択する必要がある。
後に詳述するように限流抵抗の値はエミツタホ
ロワトランジスタのコレクタ電流をこの抵抗を経
て流すか、流さないかに応じてそれぞれ別の値に
選定する必要がある。
ロワトランジスタのコレクタ電流をこの抵抗を経
て流すか、流さないかに応じてそれぞれ別の値に
選定する必要がある。
エミツタホロワトランジスタのコレクタ電流を
限流抵抗に流さない場合には、エミツタホロワト
ランジスタのベースに対する制御信号を供給する
中継端子がこのトランジスタのコレクタ電流も供
給する。
限流抵抗に流さない場合には、エミツタホロワト
ランジスタのベースに対する制御信号を供給する
中継端子がこのトランジスタのコレクタ電流も供
給する。
本発明の他の好適な実施に当つては、前記直列
回路におけるエミツタホロワトランジスタのコレ
クタ接続点と前記トランジスタのベースとの間に
追加の限流抵抗を設ける。このようにすれば中継
端子によつて供給される電流量を減らせると云う
利点がある。
回路におけるエミツタホロワトランジスタのコレ
クタ接続点と前記トランジスタのベースとの間に
追加の限流抵抗を設ける。このようにすれば中継
端子によつて供給される電流量を減らせると云う
利点がある。
本発明の第2の実施例の変換回路は、信号レベ
ル変換回路において、前記第1電位点を関連する
半導体接合の第1電極に接続し、該半導体接合の
第2電極を共通の基準電位点に接続し、前記関連
する半導体接合の第1電極と前記第2直流電源の
前記他方の端子との間に前記半導体接合に順方向
電流を与える別の関連する電流源を接続し、かつ
前記直列回路が2個の補足半導体接合を具えるよ
うにしたことを特徴とする。
ル変換回路において、前記第1電位点を関連する
半導体接合の第1電極に接続し、該半導体接合の
第2電極を共通の基準電位点に接続し、前記関連
する半導体接合の第1電極と前記第2直流電源の
前記他方の端子との間に前記半導体接合に順方向
電流を与える別の関連する電流源を接続し、かつ
前記直列回路が2個の補足半導体接合を具えるよ
うにしたことを特徴とする。
それ故、この第2の実施例の場合にはエミツタ
ホロワトランジスタのベース制御電圧が第1の実
施例の場合に比べて半導体接合の順方向電圧降下
分の値だけシフトされることになる。従つて、こ
の場合にはエミツタホロワトランジスタのコレク
タを共通の基準電位点に接続するのが有利であ
る。この際、コレクタ電流は共通の基準電位点か
ら供給され、最早中継端子からは供給されず、従
つてこの端子での電流消費が低減される。
ホロワトランジスタのベース制御電圧が第1の実
施例の場合に比べて半導体接合の順方向電圧降下
分の値だけシフトされることになる。従つて、こ
の場合にはエミツタホロワトランジスタのコレク
タを共通の基準電位点に接続するのが有利であ
る。この際、コレクタ電流は共通の基準電位点か
ら供給され、最早中継端子からは供給されず、従
つてこの端子での電流消費が低減される。
第1の実施例にも適用し得るが、本発明の第2
の実施例の特に有利な変更は、追加の電流源、特
に追加のベース抵抗をエミツタホロワトランジス
タのベースと第2直流電源の前記他方の端子との
間に接続することにある。この追加の電流源とし
ては前記定電流源によつて供給される電流よりも
弱い電流を供給するものを選定するが、このよう
な追加の電流源によつてエミツタホロワトランジ
スタの増幅度が変換回路の作動に及ぼす影響を調
整し、その影響を無視し得る程度に小さくするこ
とができる。
の実施例の特に有利な変更は、追加の電流源、特
に追加のベース抵抗をエミツタホロワトランジス
タのベースと第2直流電源の前記他方の端子との
間に接続することにある。この追加の電流源とし
ては前記定電流源によつて供給される電流よりも
弱い電流を供給するものを選定するが、このよう
な追加の電流源によつてエミツタホロワトランジ
スタの増幅度が変換回路の作動に及ぼす影響を調
整し、その影響を無視し得る程度に小さくするこ
とができる。
本発明の第2の実施例の第1変形例によれば、
変換回路における前記所定の第2電位点を前記第
1電位点に接続する。
変換回路における前記所定の第2電位点を前記第
1電位点に接続する。
さらに本発明の第2の実施例の第2変形例によ
れば、負荷素子をエミツタホロワトランジスタと
同一極性を有する後に負荷トランジスタと称する
トランジスタによつて構成し、このトランジスタ
のエミツタにより前記第1接続線を構成し、ベー
スにより第2論理回路の内部レベルの内の一方の
レベルにより第2論理回路の内部レベルの内の一
方のレベルの電位を呈する前記第2接続線を構成
し、かつコレクタを共通の基準電位点に接続せし
めるようにする。
れば、負荷素子をエミツタホロワトランジスタと
同一極性を有する後に負荷トランジスタと称する
トランジスタによつて構成し、このトランジスタ
のエミツタにより前記第1接続線を構成し、ベー
スにより第2論理回路の内部レベルの内の一方の
レベルにより第2論理回路の内部レベルの内の一
方のレベルの電位を呈する前記第2接続線を構成
し、かつコレクタを共通の基準電位点に接続せし
めるようにする。
さらに、中継端子が第2ロング−テールド−ペ
ア−トランジスタの内の第1トランジスタを制御
すべく“OR”ゲートとして接続した第1ロング
−テールド−ペア−トランジスタを具えている第
2論理回路の出力端子から到来する信号を第1論
理回路に転送するために受信し得るようにした変
換回路場合には、第1ロング−テールド−ペア−
トランジスタの一方のトランジスタのベースが第
1変換選択入力端子を成し、他方のトランジスタ
のベースが第2論理回路用の信号を受信するよう
にし、第2ロング−テールド−ペア−トランジス
タの内の第1トランジスタのコレクタと共通の基
準電位点との間の結線部に前記関連する半導体接
合を構成する半導体接合を設け、前記第2ロング
−テールド−ペア−トランジスタに給電する電流
源が前記関連する電流源を成し、第2ロング−テ
ールド−ペア−トランジスタの第2トランジスタ
のコレクタを順方向半導体接合を経て共通の基準
電位点に接続すると共に中継端子にも直接接続
し、かつ負荷トランジスタのベースが第1選択入
力端子に対して相補的に制御される第2選択入力
端子を成すようにするのが有利である。従つて、
斯種の変換回路は僅か1つの中継端子を用いるだ
けで2つの論理回路間で信号を双方向に変換する
のに使用することができる。
ア−トランジスタの内の第1トランジスタを制御
すべく“OR”ゲートとして接続した第1ロング
−テールド−ペア−トランジスタを具えている第
2論理回路の出力端子から到来する信号を第1論
理回路に転送するために受信し得るようにした変
換回路場合には、第1ロング−テールド−ペア−
トランジスタの一方のトランジスタのベースが第
1変換選択入力端子を成し、他方のトランジスタ
のベースが第2論理回路用の信号を受信するよう
にし、第2ロング−テールド−ペア−トランジス
タの内の第1トランジスタのコレクタと共通の基
準電位点との間の結線部に前記関連する半導体接
合を構成する半導体接合を設け、前記第2ロング
−テールド−ペア−トランジスタに給電する電流
源が前記関連する電流源を成し、第2ロング−テ
ールド−ペア−トランジスタの第2トランジスタ
のコレクタを順方向半導体接合を経て共通の基準
電位点に接続すると共に中継端子にも直接接続
し、かつ負荷トランジスタのベースが第1選択入
力端子に対して相補的に制御される第2選択入力
端子を成すようにするのが有利である。従つて、
斯種の変換回路は僅か1つの中継端子を用いるだ
けで2つの論理回路間で信号を双方向に変換する
のに使用することができる。
図面につき本発明を説明する。
第1図には本発明による変換回路の全体的な回
路図を破線10にて囲んで示してある。例えば
TTLのような飽和タイプの第1論理回路11に
は第1直流電源14から給電し、この電源の負端
子15は共通の基準電位点Mをもつて構成する。
Vccにて総称する電位は電源14の正端子16か
供給する。例えばECLまたはCMLのような非飽
和タイプの第2論理回路は破線12にて示す枠内
に示してあり、この回路は変換回路10と一緒に
同一半導体本体に同時に集積化するのが好適なた
め、変換回路10の隣りに示してある。第2論理
回路12への給電は第2直流電源20により行な
い、この電源の正端子は共通の電位点Mに接続す
る。VEEにて総称する電位は第2直流電源20の
負端子21から供給する。第1論理回路11の出
力端子は出力信号17に現われる。この出力端子
17は抵抗Rcを経て回路11の外部にて電位Vcc
に接続する。抵抗Rcは回路11の出力部におけ
るトランジスタT11のコレクタに対する負荷と
して作用する。
路図を破線10にて囲んで示してある。例えば
TTLのような飽和タイプの第1論理回路11に
は第1直流電源14から給電し、この電源の負端
子15は共通の基準電位点Mをもつて構成する。
Vccにて総称する電位は電源14の正端子16か
供給する。例えばECLまたはCMLのような非飽
和タイプの第2論理回路は破線12にて示す枠内
に示してあり、この回路は変換回路10と一緒に
同一半導体本体に同時に集積化するのが好適なた
め、変換回路10の隣りに示してある。第2論理
回路12への給電は第2直流電源20により行な
い、この電源の正端子は共通の電位点Mに接続す
る。VEEにて総称する電位は第2直流電源20の
負端子21から供給する。第1論理回路11の出
力端子は出力信号17に現われる。この出力端子
17は抵抗Rcを経て回路11の外部にて電位Vcc
に接続する。抵抗Rcは回路11の出力部におけ
るトランジスタT11のコレクタに対する負荷と
して作用する。
第1論理回路11の出力端子17は変換回路1
0の一部を成す中継端子22に接続する。変換回
路10はエミツタホロワトランジスタT1を具え
ており、このトランジスタのベースは一方では順
方向に接続した第1半導体接合J1を経て共通基
準電位点Mの電位に対し所定の電位を有する回路
10の第1電位点P1に、他方では特に限流抵抗
R1と順方向に接続して少なくとも1個の補足半
導体接合J2とから成る直列回路を経て中継端子
22に接続する。図面の明瞭化のために半導体接
合J1およびJ2をダイオードとして表わした
が、これらの半導体接合としてはダイオード接続
したトランジスタを用いるのが有利であることは
当業者にとつて明らかなことである。また、半導
体接合J1およびJ2としては後述するように他
の半導体接合を用いることもできる。
0の一部を成す中継端子22に接続する。変換回
路10はエミツタホロワトランジスタT1を具え
ており、このトランジスタのベースは一方では順
方向に接続した第1半導体接合J1を経て共通基
準電位点Mの電位に対し所定の電位を有する回路
10の第1電位点P1に、他方では特に限流抵抗
R1と順方向に接続して少なくとも1個の補足半
導体接合J2とから成る直列回路を経て中継端子
22に接続する。図面の明瞭化のために半導体接
合J1およびJ2をダイオードとして表わした
が、これらの半導体接合としてはダイオード接続
したトランジスタを用いるのが有利であることは
当業者にとつて明らかなことである。また、半導
体接合J1およびJ2としては後述するように他
の半導体接合を用いることもできる。
変換回路10は電位点VEEとエミツタホロワト
ランジスタT1のエミツタとの間に接続される特
にECL/CML技法に基く慣例の構成の定電流源
S1も具えている。この定電流源S1は電流値が
Iの電流を供給する。
ランジスタT1のエミツタとの間に接続される特
にECL/CML技法に基く慣例の構成の定電流源
S1も具えている。この定電流源S1は電流値が
Iの電流を供給する。
変換回路10は負荷素子Zも具えており、この
素子の一方の接続線24をエミツタホロワトラン
ジスタT1のエミツタに接続し、他方の接続線2
5は共通基準電位点Mの電位に対して所定の電位
を有する回路10の第2電位点P2に接続する。
素子の一方の接続線24をエミツタホロワトラン
ジスタT1のエミツタに接続し、他方の接続線2
5は共通基準電位点Mの電位に対して所定の電位
を有する回路10の第2電位点P2に接続する。
変換回路10の出力端子27は負荷素子Zの第
1接続線24と共通とする。出力端子27は第2
論理回路12の入力に対する信号を搬送する。こ
れらの信号の内の低レベルのものは第2電位点P
2の電位に基いて決定され、そのレベルはエミツ
タホロワトランジスタT1が中継端子22の低レ
ベルに応答してカツト・オフされている際に電流
Iが負荷素子Zを流れることによる電圧降下によ
つて決定され、また出力端子27によつて搬送さ
れる信号の高レベルはエミツタホロワトランジス
タT1が中継端子22の高ベルに応答して導通し
ている際のこのトランジスタのエミツタの電位に
よつて決定される。出力端子27の高レベルは第
1電位点P1の電位に極めて正確に対応する。そ
の理由は半導体接合J1がエミツタホロワトラン
ジスタT1の電圧VBEを実質上平衡させるからで
ある。
1接続線24と共通とする。出力端子27は第2
論理回路12の入力に対する信号を搬送する。こ
れらの信号の内の低レベルのものは第2電位点P
2の電位に基いて決定され、そのレベルはエミツ
タホロワトランジスタT1が中継端子22の低レ
ベルに応答してカツト・オフされている際に電流
Iが負荷素子Zを流れることによる電圧降下によ
つて決定され、また出力端子27によつて搬送さ
れる信号の高レベルはエミツタホロワトランジス
タT1が中継端子22の高ベルに応答して導通し
ている際のこのトランジスタのエミツタの電位に
よつて決定される。出力端子27の高レベルは第
1電位点P1の電位に極めて正確に対応する。そ
の理由は半導体接合J1がエミツタホロワトラン
ジスタT1の電圧VBEを実質上平衡させるからで
ある。
後述するように、トランジスタT1のコレクタ
端子28は条件に応じて回路10のいずれかの適
当な接続点に接続することができる、この接続点
はトランジスタT1が導通状態において、電流値
がほぼIに相当するエミツタ電流を放出し得る
も、このトランジスタT1は飽和しないような点
とする。
端子28は条件に応じて回路10のいずれかの適
当な接続点に接続することができる、この接続点
はトランジスタT1が導通状態において、電流値
がほぼIに相当するエミツタ電流を放出し得る
も、このトランジスタT1は飽和しないような点
とする。
第2論理回路12についてはメモリに対する差
動入力段30だけを示してあり、この入力段の一
方のトランジスタの入力ベースには端子27によ
つて搬送される信号を供給し、他方の入力ベース
には基準電位VRを供給する。実際上、第2論理
回路12の構成は従来の、特にECL/CMLタイ
プの論理回路によるものであり、その構成は本発
明の要部とする所ではない。
動入力段30だけを示してあり、この入力段の一
方のトランジスタの入力ベースには端子27によ
つて搬送される信号を供給し、他方の入力ベース
には基準電位VRを供給する。実際上、第2論理
回路12の構成は従来の、特にECL/CMLタイ
プの論理回路によるものであり、その構成は本発
明の要部とする所ではない。
第2図は本発明による変換回路10の第1の実
施例を示す回路図であり、ここに第1図の変換回
路10における対応する素子には同一符号を付し
て示してある。第2図の変換回路が第1図の変換
回路10と相違する点はつぎの点である。即ち、
電位点P1とP2を一緒に接続して共通の基準電
位点Mに接続し、かつトランジスタT1のコレク
タ端子28を抵抗R1と半導体接合J2との接続
点に接続した点である。さらに、本例では負荷素
子Zを抵抗値がRの抵抗で構成するようにする。
施例を示す回路図であり、ここに第1図の変換回
路10における対応する素子には同一符号を付し
て示してある。第2図の変換回路が第1図の変換
回路10と相違する点はつぎの点である。即ち、
電位点P1とP2を一緒に接続して共通の基準電
位点Mに接続し、かつトランジスタT1のコレク
タ端子28を抵抗R1と半導体接合J2との接続
点に接続した点である。さらに、本例では負荷素
子Zを抵抗値がRの抵抗で構成するようにする。
つぎに第2図の変換回路10の作動につき説明
するが、先ずは中継端子22は低レベルにあるも
のとする。例えばTTL論理回路の場合、このこ
とは中継端子22の電位が約+0.4Vよりも低い
電位にあることを意味する。第1図から推論し得
るように、この低レベルは抵抗RCの負荷がかか
るトランジスタT11が飽和することにより定め
られる。このような状態ではトランジスタT1が
カツト−オフされて、電流Iが負荷素子Z=Rに
流れ、端子27を(O−R1)ボルトに相当する
電位の低状態にする。RおよびIの値は任意に選
定して、これらの積による電圧降下値が第2論理
回路12の入力端子にて所望される電圧偏差値に
等しくなるようにする。例えば、CMLタイプの
論理回路の場合にはIを0.5mAとし、Rを約
800Ωとすれば、その電圧偏差値は約0.4ボルトと
なる。
するが、先ずは中継端子22は低レベルにあるも
のとする。例えばTTL論理回路の場合、このこ
とは中継端子22の電位が約+0.4Vよりも低い
電位にあることを意味する。第1図から推論し得
るように、この低レベルは抵抗RCの負荷がかか
るトランジスタT11が飽和することにより定め
られる。このような状態ではトランジスタT1が
カツト−オフされて、電流Iが負荷素子Z=Rに
流れ、端子27を(O−R1)ボルトに相当する
電位の低状態にする。RおよびIの値は任意に選
定して、これらの積による電圧降下値が第2論理
回路12の入力端子にて所望される電圧偏差値に
等しくなるようにする。例えば、CMLタイプの
論理回路の場合にはIを0.5mAとし、Rを約
800Ωとすれば、その電圧偏差値は約0.4ボルトと
なる。
ECL論理回路の入力の場合にRを約1.6KΩとなる
ように首尾良く設定すれば、その入力電圧偏差値
は約0.8ボルトとなる。なお、低状態における中
継端子22と、端子27との間の降下電圧はトラ
ンジスタT1を導通させるのには不十分であるこ
とは明らかである。
ように首尾良く設定すれば、その入力電圧偏差値
は約0.8ボルトとなる。なお、低状態における中
継端子22と、端子27との間の降下電圧はトラ
ンジスタT1を導通させるのには不十分であるこ
とは明らかである。
つぎにトランジスタT1が導通して、このトラ
ンジスタが1/2に相当するエミツダ電流を放出す
るまでに中継端子22の電位が増大するものとす
る。この際、負荷素子にも定電流源S1から到来
する1/2の電流が流れる。この場合に中継端子2
2を経て得られる電位VTを第1論理回路のスイ
ツチングレベルと称し、一方変換回路10の出力
端子27を経て得られる電位を第2論理回路のス
イツチングレベルと称する。VTの値は次式(1)に
よつて近似的に求めることができる。即ち、 VTR1・I/2+VJ2+VBE(T1) −R・I/2 ……(1) なお、トランジスタT1のベース電流値はこのト
ランジスタのエミツタおよびコレクタ電流の値に
対し無視し、エミツタおよびコレクタ電流の値に
対し無視し、エミツタおよびコレクタ電流の値は
互いに等しくした。また、上式(1)におけるVJ2は
半導体接合J2における順方向電圧降下値を示
し、VBE(T1)はトランジスタT1のエミツタ
−ベース接合の順方向電圧降下値を示す。R1=
Rとすれば、第1論理回路のスイツチングレベル
が2つの順方向接合電圧の降下分の値に極めて近
い値となり、しかもそのレベルが温度の関数とし
てそれ相当の可変性を呈することは明らかであ
る。
ンジスタが1/2に相当するエミツダ電流を放出す
るまでに中継端子22の電位が増大するものとす
る。この際、負荷素子にも定電流源S1から到来
する1/2の電流が流れる。この場合に中継端子2
2を経て得られる電位VTを第1論理回路のスイ
ツチングレベルと称し、一方変換回路10の出力
端子27を経て得られる電位を第2論理回路のス
イツチングレベルと称する。VTの値は次式(1)に
よつて近似的に求めることができる。即ち、 VTR1・I/2+VJ2+VBE(T1) −R・I/2 ……(1) なお、トランジスタT1のベース電流値はこのト
ランジスタのエミツタおよびコレクタ電流の値に
対し無視し、エミツタおよびコレクタ電流の値に
対し無視し、エミツタおよびコレクタ電流の値は
互いに等しくした。また、上式(1)におけるVJ2は
半導体接合J2における順方向電圧降下値を示
し、VBE(T1)はトランジスタT1のエミツタ
−ベース接合の順方向電圧降下値を示す。R1=
Rとすれば、第1論理回路のスイツチングレベル
が2つの順方向接合電圧の降下分の値に極めて近
い値となり、しかもそのレベルが温度の関数とし
てそれ相当の可変性を呈することは明らかであ
る。
TTL論理回路がスイツチングレベルによつて
特徴付けられ、そのレベル値(1.3ボルト程度で
ある)が、2つの接合降下電圧と同様に温度と共
に変化することは既知である。従つて、上述した
例の変換回路によれば、2つの論理回路間のスイ
ツチングレベルを温度の関数として所望通りに両
立させることができる。その理由は、出力端子に
おけるスイツチングレベルは安定しているからで
あり、これはCML論理回路にとつては好都合な
ことである。温度関数と同様な他の所望な可変性
は、直列回路23に1個または数個の順方向接合
を設けて入力スイツチングレベルの可変性を大き
くしたり、または端子24と27との間に1個ま
たは数個の順方向接合を介挿させることにより出
力レベルの可変性を大きくしたりすることによつ
て簡単に得ることができる。
特徴付けられ、そのレベル値(1.3ボルト程度で
ある)が、2つの接合降下電圧と同様に温度と共
に変化することは既知である。従つて、上述した
例の変換回路によれば、2つの論理回路間のスイ
ツチングレベルを温度の関数として所望通りに両
立させることができる。その理由は、出力端子に
おけるスイツチングレベルは安定しているからで
あり、これはCML論理回路にとつては好都合な
ことである。温度関数と同様な他の所望な可変性
は、直列回路23に1個または数個の順方向接合
を設けて入力スイツチングレベルの可変性を大き
くしたり、または端子24と27との間に1個ま
たは数個の順方向接合を介挿させることにより出
力レベルの可変性を大きくしたりすることによつ
て簡単に得ることができる。
ついで、中継端子の電位がスイツチングレベル
を越して、第1論理回路の高状態にまで増大した
場合について考察する。この場合、トランジスタ
T1のエミツタ電流はその値がIとなるまで増大
する。なお、抵抗Rに流れる電流は相殺され、端
子27はOボルトの高状態に達する。中継端子2
2の電位以上の電位に対しては、導通状態のトラ
ンジスタと高状態の端子27との間の半導体接合
がOボルトに保持される。中継端子12の高状態
では、変換回路10の入力電流が限流抵抗R1に
よつて制限される。
を越して、第1論理回路の高状態にまで増大した
場合について考察する。この場合、トランジスタ
T1のエミツタ電流はその値がIとなるまで増大
する。なお、抵抗Rに流れる電流は相殺され、端
子27はOボルトの高状態に達する。中継端子2
2の電位以上の電位に対しては、導通状態のトラ
ンジスタと高状態の端子27との間の半導体接合
がOボルトに保持される。中継端子12の高状態
では、変換回路10の入力電流が限流抵抗R1に
よつて制限される。
第3図は第2図の変形例であり、この例でも第
1図の回路に対応する素子には同一符号を付して
示してある。第3図の回路と第2図の回路との相
違点は、限流抵抗R1を中継端子22に直接接続
し、エミツタホロワトランジスタT1のコレクタ
を半導体接合J2の第1電極31に接続し、追加
の限流抵抗R2を直列回路における半導体接合J
2の第1電極31とトランジスタT1のベースと
の間に設け、半導体接合J2の第2電極32を限
流抵抗R1に接続した点にある。さらに第2図の
回路と相違する点は電流源S1に対する負荷素子
をこの電流源に対して順方向に接続される半導体
接合Jとした点にある。
1図の回路に対応する素子には同一符号を付して
示してある。第3図の回路と第2図の回路との相
違点は、限流抵抗R1を中継端子22に直接接続
し、エミツタホロワトランジスタT1のコレクタ
を半導体接合J2の第1電極31に接続し、追加
の限流抵抗R2を直列回路における半導体接合J
2の第1電極31とトランジスタT1のベースと
の間に設け、半導体接合J2の第2電極32を限
流抵抗R1に接続した点にある。さらに第2図の
回路と相違する点は電流源S1に対する負荷素子
をこの電流源に対して順方向に接続される半導体
接合Jとした点にある。
第3図の回路は第2図の回路とほぼ同様に作動
する。中継端子22の電位が低状態にある場合に
はトランジスタT1がカツト・オフされる。この
場合、電流Iが半導体接合Jに流れ、出力端子2
7は低状態となり、この端子の電位は(O−VJ)
ボルトとなる。なお、VJは電流Iが流れる際の
半導体接合Jでの順方向電圧降下値を示す。また
VJの値は第2論理回路の入力端子におけるレベ
ル偏差も表わし、その値は電流Iの値および予じ
め選定されている半導体接合Jの特性に依存す
る。
する。中継端子22の電位が低状態にある場合に
はトランジスタT1がカツト・オフされる。この
場合、電流Iが半導体接合Jに流れ、出力端子2
7は低状態となり、この端子の電位は(O−VJ)
ボルトとなる。なお、VJは電流Iが流れる際の
半導体接合Jでの順方向電圧降下値を示す。また
VJの値は第2論理回路の入力端子におけるレベ
ル偏差も表わし、その値は電流Iの値および予じ
め選定されている半導体接合Jの特性に依存す
る。
中継端子22の電位が低状態から増大すると、
電流Iの増加分がトランジスタT1のエミツタに
供給されて出力端子27の電位は増大する。その
電位が第2論理回路の入力に対するスイツチング
レベルとして規制される値−VJ/2に達する場
合には、電流Iの内の半導体接合Jを流れる分の
電流が極めて小さくなり、この際電流Iの大部分
がトランジスタT1のエミツタによつて供給され
ることは明らかである。このような状態にて中継
端子22を経て得られる電位VTは次式(2)によつ
て近似的に求めることができる。即ち、 VTR1・I+VJ2+R2・I/β +VBE(T)−VJ/2 ……(2) なお、R1・I/βの項は無視してあり、増幅度β
=IE(T1)/Iβ(T1)は一般に高い値を呈す
る。抵抗値は、 R1VJ/(2・1)−R2・/β のように選定し得るため、第1論理回路のスイツ
チングレベルは2つの順方向接合電圧の降下分に
再びほぼ等しくなり、そのレベルは温度の関数と
同様な対応する可変性を呈するようになる。実施
上、構成VJ/2はそれを第2論理回路のスイツ
チングレベルの値として選定してあるから、温度
が変化する場合でも確実に一定となるようにする
電圧レベルを表わすことは明らかである。さら
に、R2の値を多少高目として、高状態での中継
端子22における入力電流の値を抵抗R1が単独
で用いられる場合(第2図の回路の場合のよう
に)よりも著しく低減させることは容易である
が、その値は変換回路の入力におけるスイツチン
グレベルがトランジスタT1の増幅度βに著しく
依存するようになる電位点程には高くない。これ
がため、追加の限流抵抗R2を設ければ、高状態
における変換回路10の入力電流を著しく低くす
ることができ、また抵抗R1の値を主パラメータ
として、これにより第1論理回路のスイツチング
レベルを調整し得ると云う利点がある。従つて、
追加の限流抵抗R2を設けることは、第2図の回
路に対し、負荷素子として抵抗Rの代りに半導体
接合Jを用いることによる第2の変形例とは関係
のない更に別の変形例であることは明らかであ
る。第3図に示した回路と第2図の回路との第3
の変更点は直列回路23へのトランジスタT1の
コレクタ接続点にある。
電流Iの増加分がトランジスタT1のエミツタに
供給されて出力端子27の電位は増大する。その
電位が第2論理回路の入力に対するスイツチング
レベルとして規制される値−VJ/2に達する場
合には、電流Iの内の半導体接合Jを流れる分の
電流が極めて小さくなり、この際電流Iの大部分
がトランジスタT1のエミツタによつて供給され
ることは明らかである。このような状態にて中継
端子22を経て得られる電位VTは次式(2)によつ
て近似的に求めることができる。即ち、 VTR1・I+VJ2+R2・I/β +VBE(T)−VJ/2 ……(2) なお、R1・I/βの項は無視してあり、増幅度β
=IE(T1)/Iβ(T1)は一般に高い値を呈す
る。抵抗値は、 R1VJ/(2・1)−R2・/β のように選定し得るため、第1論理回路のスイツ
チングレベルは2つの順方向接合電圧の降下分に
再びほぼ等しくなり、そのレベルは温度の関数と
同様な対応する可変性を呈するようになる。実施
上、構成VJ/2はそれを第2論理回路のスイツ
チングレベルの値として選定してあるから、温度
が変化する場合でも確実に一定となるようにする
電圧レベルを表わすことは明らかである。さら
に、R2の値を多少高目として、高状態での中継
端子22における入力電流の値を抵抗R1が単独
で用いられる場合(第2図の回路の場合のよう
に)よりも著しく低減させることは容易である
が、その値は変換回路の入力におけるスイツチン
グレベルがトランジスタT1の増幅度βに著しく
依存するようになる電位点程には高くない。これ
がため、追加の限流抵抗R2を設ければ、高状態
における変換回路10の入力電流を著しく低くす
ることができ、また抵抗R1の値を主パラメータ
として、これにより第1論理回路のスイツチング
レベルを調整し得ると云う利点がある。従つて、
追加の限流抵抗R2を設けることは、第2図の回
路に対し、負荷素子として抵抗Rの代りに半導体
接合Jを用いることによる第2の変形例とは関係
のない更に別の変形例であることは明らかであ
る。第3図に示した回路と第2図の回路との第3
の変更点は直列回路23へのトランジスタT1の
コレクタ接続点にある。
第4図は第1図の総体回路によつて説明したよ
うな本発明による変換回路の第2の実施例を示す
ものであり、ここに第1図における素子に対応す
るものには同一符号を付して示してある。
うな本発明による変換回路の第2の実施例を示す
ものであり、ここに第1図における素子に対応す
るものには同一符号を付して示してある。
第4図の回路が第1図の回路と相違する点はつ
ぎの点である。即ち、 −電位点P1とP2を共に関連する半導体接合
J4の第1電極35に接続し、またこの半導体接
合J4の第2電極36を共通の基準点Mに接続し
て、半導体接合J4の第1電極35と給電線VEE
との間に接続した関連する電流源S2の順方向電
流を半導体接合J4に与えるようにする。斯かる
電流源S2は電流源S1の電流Iの値よりも僅か
に高い値の電流I2を放出すべく選定する。従つ
て、作動中半導体接合J4には常時給電されてい
るため、電位点P1およびP2の電位は共通の基
準電位点Mにおける電位よりも常に低い電位にあ
る。; −さらに、直列回路2んが第1〜3図に示すよ
うな単一の半導体接合の代りに2個の補足半導体
接合J2とJ3を具えている。; −トランジスタT1のコレクタ端子28を共通
の電位点Mに直接接続する。; −トランジスタT1のベースと給電線VEEとの
間に追加の電流源S3を接続する。この電流源S
3は電流値がL3の電流を供給すべく設計する。
なお、斯かる電流値I3はIとI/βとの間の値に
選定するのが有利である。斯様な電流源S3は給
電線VEEに接続する高抵抗値の簡単なベース抵抗
で構成するとができる。
ぎの点である。即ち、 −電位点P1とP2を共に関連する半導体接合
J4の第1電極35に接続し、またこの半導体接
合J4の第2電極36を共通の基準点Mに接続し
て、半導体接合J4の第1電極35と給電線VEE
との間に接続した関連する電流源S2の順方向電
流を半導体接合J4に与えるようにする。斯かる
電流源S2は電流源S1の電流Iの値よりも僅か
に高い値の電流I2を放出すべく選定する。従つ
て、作動中半導体接合J4には常時給電されてい
るため、電位点P1およびP2の電位は共通の基
準電位点Mにおける電位よりも常に低い電位にあ
る。; −さらに、直列回路2んが第1〜3図に示すよ
うな単一の半導体接合の代りに2個の補足半導体
接合J2とJ3を具えている。; −トランジスタT1のコレクタ端子28を共通
の電位点Mに直接接続する。; −トランジスタT1のベースと給電線VEEとの
間に追加の電流源S3を接続する。この電流源S
3は電流値がL3の電流を供給すべく設計する。
なお、斯かる電流値I3はIとI/βとの間の値に
選定するのが有利である。斯様な電流源S3は給
電線VEEに接続する高抵抗値の簡単なベース抵抗
で構成するとができる。
第4図の例では電流源S1の負荷素子を抵抗R
とする。つぎに、この例の変換回路の作動を、中
継端子22が低状態にあり、トランジスタT1が
カツト・オフされている場合につき簡単に説明す
る。実際上、半導体接合J4での電圧降下による
トランジスタT1のベースにおける電位シフトは
補足半導体J3によつて補償される。さらに、電
流源S3はトランジスタT1を一層強力に非導通
にならしめる作用も有している。出力端子27は
低状態にあり、この端子の電位は(−VJ4−R・
I)即ち半導体接合J4での順方向電圧降下によ
つて負方向にシフトされる項R・Iにより説明し
た第2論理回路のレベル偏差値に相当する。−VJ4
によるシフトのために、変換回路10の出力信号
が第2論理回路の段に適用されるようになり、斯
かる第2論理回路の他の入力には、ECL/CML
技法から既知のように、順方向の接合電圧降下に
よつて同様に負方向にシフトされる基準電位が与
えられることは明らかである。
とする。つぎに、この例の変換回路の作動を、中
継端子22が低状態にあり、トランジスタT1が
カツト・オフされている場合につき簡単に説明す
る。実際上、半導体接合J4での電圧降下による
トランジスタT1のベースにおける電位シフトは
補足半導体J3によつて補償される。さらに、電
流源S3はトランジスタT1を一層強力に非導通
にならしめる作用も有している。出力端子27は
低状態にあり、この端子の電位は(−VJ4−R・
I)即ち半導体接合J4での順方向電圧降下によ
つて負方向にシフトされる項R・Iにより説明し
た第2論理回路のレベル偏差値に相当する。−VJ4
によるシフトのために、変換回路10の出力信号
が第2論理回路の段に適用されるようになり、斯
かる第2論理回路の他の入力には、ECL/CML
技法から既知のように、順方向の接合電圧降下に
よつて同様に負方向にシフトされる基準電位が与
えられることは明らかである。
中継端子22の電位を低状態から高状態にまで
上昇させると、トランジスタT1のベース電位は
そのトランジスタのベース・コレクタ通路が導通
し始めるまでに増大する。
上昇させると、トランジスタT1のベース電位は
そのトランジスタのベース・コレクタ通路が導通
し始めるまでに増大する。
そこで、トランジスタT1のエミツタによつて
供給される電流がI/2に等しくなる場合につき考
察する。この瞬時に負荷素子にもI/2に相当する
電流が流れる。この場合における出力端子27の
電圧レベルが第2論理回路のスイツチングレベル
と称するレベルである。この際、中継端子22を
経て得られる電位VT次式(3)によつて近似的に求
めることができる。即ち、 VTRI・(I3+I/2β)+VJ2 +VJ3+VBE(T1)−R・I/2−VJ4 ……(3) 上式はつぎのように書き直すことができる。
供給される電流がI/2に等しくなる場合につき考
察する。この瞬時に負荷素子にもI/2に相当する
電流が流れる。この場合における出力端子27の
電圧レベルが第2論理回路のスイツチングレベル
と称するレベルである。この際、中継端子22を
経て得られる電位VT次式(3)によつて近似的に求
めることができる。即ち、 VTRI・(I3+I/2β)+VJ2 +VJ3+VBE(T1)−R・I/2−VJ4 ……(3) 上式はつぎのように書き直すことができる。
VTRI・(I3+I/2β)−R・I/2+2・
VJ なお、上式中のVJは順方向の降下電圧を示す。
VJ なお、上式中のVJは順方向の降下電圧を示す。
第1論理回路をTTLタイプのものとする場合
のように、第1論理回路のスイツチングレベルを
VT2・Vに位置させるのが望まれる場合には、
R1(2・I3/I+I/β)Rの関係が得られる。
のように、第1論理回路のスイツチングレベルを
VT2・Vに位置させるのが望まれる場合には、
R1(2・I3/I+I/β)Rの関係が得られる。
第2図の例にて既に利用した数値、即ちI=
0.5mA,R=800Ωを再び選定し、かつI3=
0.3mAに選定すると、項I/βは項2・I3/I(これ
は0.4に相当する)に比べて殆ど問題にならない
程に小さいから、R12KΩが得られる。
0.5mA,R=800Ωを再び選定し、かつI3=
0.3mAに選定すると、項I/βは項2・I3/I(これ
は0.4に相当する)に比べて殆ど問題にならない
程に小さいから、R12KΩが得られる。
トランジスタT1のコレクタ電流が本例の場合
のようにトランジスタR1を通らない場合には、
追加の電流源S3を設けるのが有利なことは前述
した所から明らかである。電流源S3がない場合
には、抵抗R1の抵抗値をトランジスタT1の増
幅数βの関数として選定する必要がある。
のようにトランジスタR1を通らない場合には、
追加の電流源S3を設けるのが有利なことは前述
した所から明らかである。電流源S3がない場合
には、抵抗R1の抵抗値をトランジスタT1の増
幅数βの関数として選定する必要がある。
中継端子22の電位を第1論理回路のレベル0
に向けて増大させると、抵抗Rを流れる電流が相
殺され、端子27は−VJ4に相当する値の高状態
に持たらされる。この際、トランジスタT1のコ
レクタ電流が共通の基準電流点Mから導出され、
かつ抵抗R1の抵抗値は高いことからして、斯か
る高状態における中継端子22での電流消費量は
前述した例の場合よりも低減されることは明らか
である。
に向けて増大させると、抵抗Rを流れる電流が相
殺され、端子27は−VJ4に相当する値の高状態
に持たらされる。この際、トランジスタT1のコ
レクタ電流が共通の基準電流点Mから導出され、
かつ抵抗R1の抵抗値は高いことからして、斯か
る高状態における中継端子22での電流消費量は
前述した例の場合よりも低減されることは明らか
である。
第5図は本発明による変換回路の他の例を示す
ものであり、この回路の構成は第4図の例のもの
にほぼ等しいが、これは2つの論理回路間にて信
号を双方向に変換するのに適用するものである。
第5図の素子の内で第4図の素子に対応するも
の、および同様な機能をするものには同一符号を
付して示してある。
ものであり、この回路の構成は第4図の例のもの
にほぼ等しいが、これは2つの論理回路間にて信
号を双方向に変換するのに適用するものである。
第5図の素子の内で第4図の素子に対応するも
の、および同様な機能をするものには同一符号を
付して示してある。
本例では、入力または出力信号がバス220を
経て中継端子22に到来するTTLタイプの論理
回路(図示せず)とCMLタイプの論理回路との
間での双方向信号レベル変換につき考察する。バ
ス220にはVccに接続される抵抗Rcの負荷をか
ける。内部に変換回路100を物理的に集積化し
てあるCML論理回路は、例えばゲートを分散さ
せた回路網またはメモリのような複雑な機能をす
る論理回路とする。この論理回路の内の本発明に
必要な部分だけ、即ち変換回路100によるレベ
ル変換後のTTL論理回路から到来する信号入力
に対するCML入力回路120と、CML論理回路
から到来する信号出力に対するTTL論理回路と
するCML出力回路200だけを示してある。な
お上記各信号の中継はいずれも中継端子22だけ
で行なう。
経て中継端子22に到来するTTLタイプの論理
回路(図示せず)とCMLタイプの論理回路との
間での双方向信号レベル変換につき考察する。バ
ス220にはVccに接続される抵抗Rcの負荷をか
ける。内部に変換回路100を物理的に集積化し
てあるCML論理回路は、例えばゲートを分散さ
せた回路網またはメモリのような複雑な機能をす
る論理回路とする。この論理回路の内の本発明に
必要な部分だけ、即ち変換回路100によるレベ
ル変換後のTTL論理回路から到来する信号入力
に対するCML入力回路120と、CML論理回路
から到来する信号出力に対するTTL論理回路と
するCML出力回路200だけを示してある。な
お上記各信号の中継はいずれも中継端子22だけ
で行なう。
CML出力回路200はトランジスタT203
を制御する“OR”ゲートとして接続される第1
ロング−テールド−ペア−トランジスタT20
1,T202を具えており、上記トランジスタT
203はトランジスタT204と共に第2のロン
グ−テールド−ペアを成す。
を制御する“OR”ゲートとして接続される第1
ロング−テールド−ペア−トランジスタT20
1,T202を具えており、上記トランジスタT
203はトランジスタT204と共に第2のロン
グ−テールド−ペアを成す。
トランジスタT201およびT202のコレク
タは2つの論理回路の共通基準電位点Mに接続す
る。上記両トランジスタT201およびT202
のエミツタ共通導線は電流源S21を経てVEEに
接続すると共に、トランジスタT203のベース
にも直接接続する。
タは2つの論理回路の共通基準電位点Mに接続す
る。上記両トランジスタT201およびT202
のエミツタ共通導線は電流源S21を経てVEEに
接続すると共に、トランジスタT203のベース
にも直接接続する。
トランジスタT204のベース電位はCML論
理回路の基準電位レベルVR2に持たらされ、この
電位レベルの値は第1ロング−テールド−ペアに
対する第2のロング−テールド−ペア−トランジ
スタの状態によつて与えられることから、上記基
準電位のレベルは「第2レベル」と称される。ト
ランジスタT204のコレクタは順方向半導体接
合 J5を経て共通の基準電位点Mに接続すると共
に中継端子22にも直接接続する。トランジスタ
T 203のコレクタは変換回路100の電位点P
1に接続する。この電位点P1は半導体接合J4
を経て共通基準電位点Mに接続する。半導体接合
J4は第4図の例にて述べた関連する半導体接合
を構成する。第2ロング−テールド−ペア−トラ
ンジスタT203,T204のエミツタへの共通
導線は変換回路100内に示す電流源S2を経て
VEEに接続する。電流源S2は第4図の例の関連
する電流源S2の機能を満足するものとする。
理回路の基準電位レベルVR2に持たらされ、この
電位レベルの値は第1ロング−テールド−ペアに
対する第2のロング−テールド−ペア−トランジ
スタの状態によつて与えられることから、上記基
準電位のレベルは「第2レベル」と称される。ト
ランジスタT204のコレクタは順方向半導体接
合 J5を経て共通の基準電位点Mに接続すると共
に中継端子22にも直接接続する。トランジスタ
T 203のコレクタは変換回路100の電位点P
1に接続する。この電位点P1は半導体接合J4
を経て共通基準電位点Mに接続する。半導体接合
J4は第4図の例にて述べた関連する半導体接合
を構成する。第2ロング−テールド−ペア−トラ
ンジスタT203,T204のエミツタへの共通
導線は変換回路100内に示す電流源S2を経て
VEEに接続する。電流源S2は第4図の例の関連
する電流源S2の機能を満足するものとする。
トランジスタT202のベースにはCML論理
回路から到来してバス220にTTL入力信号と
して転送すべき信号を供給する。
回路から到来してバス220にTTL入力信号と
して転送すべき信号を供給する。
トランジスタT201のベースは選択信号Aを
受信する第1変換モードの選択入力信号を構成す
る。
受信する第1変換モードの選択入力信号を構成す
る。
変換回路100は第4図の回路に類似している
が、その回路とは多少異なるものである。
が、その回路とは多少異なるものである。
先ず、この第5図の例では電流源S1の負荷素
子を抵抗の代りにトランジスタTzによつて構成
する。この負荷トランジスタTzの極性はエミツ
タホロワトランジスタT1の極性と同じとする。
負荷トランジスタTzのエミツタは前述したよう
に、負荷素地の第1接続線を成し、ベースは内在
的なCMLレベルの一方のレベルの電位を呈する
電位点P2に接続される第2接続線を成す。さら
に詳述するに、電位点P2、つまりトランジスタ
Tzのベースにはモード選択信号Aに対し相補的
な信号を供給する。なお、この信号Aのレベル
はVR1につき説明した“第1レベル”と称するレ
ベルである。従つて、トランジスタTzのベース
は第1選択入力に対して相補的に制御される第2
モードの選択入力を成す。
子を抵抗の代りにトランジスタTzによつて構成
する。この負荷トランジスタTzの極性はエミツ
タホロワトランジスタT1の極性と同じとする。
負荷トランジスタTzのエミツタは前述したよう
に、負荷素地の第1接続線を成し、ベースは内在
的なCMLレベルの一方のレベルの電位を呈する
電位点P2に接続される第2接続線を成す。さら
に詳述するに、電位点P2、つまりトランジスタ
Tzのベースにはモード選択信号Aに対し相補的
な信号を供給する。なお、この信号Aのレベル
はVR1につき説明した“第1レベル”と称するレ
ベルである。従つて、トランジスタTzのベース
は第1選択入力に対して相補的に制御される第2
モードの選択入力を成す。
つぎに、この第5図の例では追加の電流源を第
4図につき述べた追加の電流源S3の代りに抵抗
値の高い単なるベース抵抗R3によつて構成す
る。この抵抗をトランジスタT1のベースとVEE
との間に接続する。
4図につき述べた追加の電流源S3の代りに抵抗
値の高い単なるベース抵抗R3によつて構成す
る。この抵抗をトランジスタT1のベースとVEE
との間に接続する。
変換回路100の出力端子27は、TTL論理
回路によつて放出され、かつレベル変換された後
にCML入力回路120に供給される信号を搬送
する。なお、入力CML回路120は第1差動段
30を示してあるだけである。この第1差動段に
示してあるVR2は第2レベル電圧を示す。
回路によつて放出され、かつレベル変換された後
にCML入力回路120に供給される信号を搬送
する。なお、入力CML回路120は第1差動段
30を示してあるだけである。この第1差動段に
示してあるVR2は第2レベル電圧を示す。
つぎに第5図の回路の作動につき簡単に説明す
る。選択信号Aが高状態にある場合には、トラン
ジスタT201が導通し、トランジスタT203
も導通する。これらのトランジスタはトランジス
タT202のベースに供給れる信号には無関係に
導通する。半導体接合J4にはトランジスタT2
03を経て電流源S2から電流が供給される。ト
ランジスタT204がカツト・オフされている場
合にはそのトランジスタのコレクタは中継端子2
2に対し高インピーダンスを呈し、バス220を
経てTTL論理回路から到来する信号を受信しな
くなる。従つて、高状態の選択信号Aはモード選
択信号、即ちMCL入力回路に対するTTL出力と
なる。
る。選択信号Aが高状態にある場合には、トラン
ジスタT201が導通し、トランジスタT203
も導通する。これらのトランジスタはトランジス
タT202のベースに供給れる信号には無関係に
導通する。半導体接合J4にはトランジスタT2
03を経て電流源S2から電流が供給される。ト
ランジスタT204がカツト・オフされている場
合にはそのトランジスタのコレクタは中継端子2
2に対し高インピーダンスを呈し、バス220を
経てTTL論理回路から到来する信号を受信しな
くなる。従つて、高状態の選択信号Aはモード選
択信号、即ちMCL入力回路に対するTTL出力と
なる。
電位点P2に供給される信号は−0.4V程度
の低状態にある。このような条件で、中継端子2
2が低状態にある場合には、トランジスタT1は
導通せず、電流源S1の電流Iが負荷トランジス
タTzに流れて、端子27を低状態にし、その電
位は(−0.4−VBE(Tz))ボルト、即ち約−1.2ボ
ルトに相当する。なお、VBE(Tz)は負荷トラン
ジスタTzのエミツターベース降下電圧を示す。
の低状態にある。このような条件で、中継端子2
2が低状態にある場合には、トランジスタT1は
導通せず、電流源S1の電流Iが負荷トランジス
タTzに流れて、端子27を低状態にし、その電
位は(−0.4−VBE(Tz))ボルト、即ち約−1.2ボ
ルトに相当する。なお、VBE(Tz)は負荷トラン
ジスタTzのエミツターベース降下電圧を示す。
中継端子22の電位が低状態から増大すると、
トランジスタT1のベース電位はこのトランジス
タが導通し始めるような程度にまで増大する。電
流Iの増加分はトランジスタT1によつて供給さ
れ、この増加分の電流は負荷トランジスタTzを
流れている電流から導出される。
トランジスタT1のベース電位はこのトランジス
タが導通し始めるような程度にまで増大する。電
流Iの増加分はトランジスタT1によつて供給さ
れ、この増加分の電流は負荷トランジスタTzを
流れている電流から導出される。
端子27の電位がVR2に相当する値に達する
と、第1作動段30のスイツチングレベルが得ら
れる。このような条件下ではトランジスタTzを
流れる電流Iの残りの部分は、その電流Iの内の
トランジスタT1によつて供給される電流部分に
対して極めて小さい。中継端22を経て得られる
電位Vは前述した近似式をならし、次式(4)によつ
て求められる。即ち、 VTR1・(I3+I/2β)+VJ2 +VJ3+VBE(T1)−|VR2|……(4) VTはTTL論理回路のスイツチングレベル、即
ち半導体接合の順方向降下電圧の2倍に相当する
ようにするのが望ましい。なお、 R1(I3+I/2β)|VR2|−VBE(T1) となるように選定するが、既知の如く、第2レベ
ルVR2の基準電位は半導体接合の順方向降下電圧
と、CML論理回路のレベルの1/2の偏差分との和
に相当する。最後に、 R1(I3+1/2β)1/2(CML論理回路の
偏差分)となるように選定する。例えば、I=
0.5mA,I3= 0.1mAとすれば、抵抗R3の値を
求めることができる。CML論理回路の1/2の偏差
分を約0.2ボルトとすれば、トランジスタT1の
増幅度β=50の場合、R11.9KΩとなり、また
トランジスタ100の増幅度β=100の場合、
R11.95KΩとなる。本発明による回路を集積
化して製造する際における各グループのトランジ
スタの増幅度の変動によつては回路の作動が殆ど
影響されないように各素子の値を選定することは
容易に成し得ることである。
と、第1作動段30のスイツチングレベルが得ら
れる。このような条件下ではトランジスタTzを
流れる電流Iの残りの部分は、その電流Iの内の
トランジスタT1によつて供給される電流部分に
対して極めて小さい。中継端22を経て得られる
電位Vは前述した近似式をならし、次式(4)によつ
て求められる。即ち、 VTR1・(I3+I/2β)+VJ2 +VJ3+VBE(T1)−|VR2|……(4) VTはTTL論理回路のスイツチングレベル、即
ち半導体接合の順方向降下電圧の2倍に相当する
ようにするのが望ましい。なお、 R1(I3+I/2β)|VR2|−VBE(T1) となるように選定するが、既知の如く、第2レベ
ルVR2の基準電位は半導体接合の順方向降下電圧
と、CML論理回路のレベルの1/2の偏差分との和
に相当する。最後に、 R1(I3+1/2β)1/2(CML論理回路の
偏差分)となるように選定する。例えば、I=
0.5mA,I3= 0.1mAとすれば、抵抗R3の値を
求めることができる。CML論理回路の1/2の偏差
分を約0.2ボルトとすれば、トランジスタT1の
増幅度β=50の場合、R11.9KΩとなり、また
トランジスタ100の増幅度β=100の場合、
R11.95KΩとなる。本発明による回路を集積
化して製造する際における各グループのトランジ
スタの増幅度の変動によつては回路の作動が殆ど
影響されないように各素子の値を選定することは
容易に成し得ることである。
中継端子22の電位がTTL論理回路の高状態
に向つてスイツチングレベルを越して増大する
と、負荷トランジスタTzはカツト・オフされる。
この際、端子27は定電位点P1によつて定めら
れる高状態となる。その理由は各半導体接合での
降下電圧VJ1とVBE(T1)が互いに一度相殺する
からである。従って、端子27の高状態の電位
は、順方向に附勢される半導体接合J4のために
共通電位点Mに対する電圧シフト分が課せられた
−0.8ボルト程度の電位に相当する。
に向つてスイツチングレベルを越して増大する
と、負荷トランジスタTzはカツト・オフされる。
この際、端子27は定電位点P1によつて定めら
れる高状態となる。その理由は各半導体接合での
降下電圧VJ1とVBE(T1)が互いに一度相殺する
からである。従って、端子27の高状態の電位
は、順方向に附勢される半導体接合J4のために
共通電位点Mに対する電圧シフト分が課せられた
−0.8ボルト程度の電位に相当する。
つぎにモード選択信号Aが低状態にある場合に
つき考察する。この際、定電位点P2に供給され
る相補信号は約0ボルトに相当する高状態にあ
る。また、負荷トランジスタTzは導通しており、
これは出力端子27を−0.8ボルトの高状態にし、
この状態は中継端子22によつて搬送される信号
に応答するトランジスタT1によつて変更させる
ことはできない。変換回路100は最早TTL論
理回路100から到来する信号をCML回路12
0に伝送することはできず、このCML回路の差
動段30はその入力端子の高状態でカツト・オフ
される。トランジスタT201のベースには低状
態の信号Aが供給され、トランジスタ対T20
1,T202のエミツタ共通導線の電位は、一方
のVBEによる電圧シフトを考慮して、トランジス
タT202のベースに供給されるCML論理回路
の信号に従うようになる。
つき考察する。この際、定電位点P2に供給され
る相補信号は約0ボルトに相当する高状態にあ
る。また、負荷トランジスタTzは導通しており、
これは出力端子27を−0.8ボルトの高状態にし、
この状態は中継端子22によつて搬送される信号
に応答するトランジスタT1によつて変更させる
ことはできない。変換回路100は最早TTL論
理回路100から到来する信号をCML回路12
0に伝送することはできず、このCML回路の差
動段30はその入力端子の高状態でカツト・オフ
される。トランジスタT201のベースには低状
態の信号Aが供給され、トランジスタ対T20
1,T202のエミツタ共通導線の電位は、一方
のVBEによる電圧シフトを考慮して、トランジス
タT202のベースに供給されるCML論理回路
の信号に従うようになる。
トランジスタ対T203,T204におけるト
ランジスタT204が導通している場合には電流
源S2の電流Iの一部は低状態に持たらされる中
継端子22から取出され、残りの電流は、電流値
I2の値を例えば5mAのような比較的高い値に
選定する場合には半導体接合J5から取出され
る。
ランジスタT204が導通している場合には電流
源S2の電流Iの一部は低状態に持たらされる中
継端子22から取出され、残りの電流は、電流値
I2の値を例えば5mAのような比較的高い値に
選定する場合には半導体接合J5から取出され
る。
Rc=2.5KΩとする場合、中継端子22は共通
電位点Mに対する半導体接合J5での降下電圧に
よつて定められる約−0.8ボルトの低状態に持た
らされる。
電位点Mに対する半導体接合J5での降下電圧に
よつて定められる約−0.8ボルトの低状態に持た
らされる。
この瞬時にはトランジスタT203は電流を放
出せず、半導体接合J4には給電されないが、中
継端子22は低状態にあり、トランジスタT1は
カツト・オフしたままである。
出せず、半導体接合J4には給電されないが、中
継端子22は低状態にあり、トランジスタT1は
カツト・オフしたままである。
トランジスタT203が導通している場合には
トランジスタT204がカツト・オフされる。こ
の際、Vccに接続される抵抗Rcの影響下で中継端
子22は高状態にまでは増大しなくなる。電流源
S2の電流I2はその一部がトランジスタT20
3を経て半導体接合J1によつて供給され、残り
の部分は半導体接合J4によつて供給され、残り
の部分は半導体接合J4によつて供給される。こ
の瞬時にトランジスタT1は上述した条件下で作
動する。即ち、そのトランジスタが導通したとす
ると、これにより出力端子27は高状態の信号
によつて制御される負荷トランジスタTzにより
既に定められた電位と同じ−0.8ボルトの高状態
となる。従つて、低状態における選択信号Aはモ
ード選択信号、即ちTTL入力回路に対するCML
出力となる。
トランジスタT204がカツト・オフされる。こ
の際、Vccに接続される抵抗Rcの影響下で中継端
子22は高状態にまでは増大しなくなる。電流源
S2の電流I2はその一部がトランジスタT20
3を経て半導体接合J1によつて供給され、残り
の部分は半導体接合J4によつて供給され、残り
の部分は半導体接合J4によつて供給される。こ
の瞬時にトランジスタT1は上述した条件下で作
動する。即ち、そのトランジスタが導通したとす
ると、これにより出力端子27は高状態の信号
によつて制御される負荷トランジスタTzにより
既に定められた電位と同じ−0.8ボルトの高状態
となる。従つて、低状態における選択信号Aはモ
ード選択信号、即ちTTL入力回路に対するCML
出力となる。
本発明は上述した例のみに限定されるものでな
く、幾多の変更を加え得ること勿論である。例え
ば、上述した例では特に、TTL論理回路と
ECL/CML論理回路との間での信号レベル変換
にnpnトランジスタを用いる場合につき述べた
が、電源の極性を反転させ、pnpトランジスタを
用いても別の要求に応える変換回路を得ることが
できることは勿論である。さらに、第5図の回路
では回路の素子数を極めて節約する例につき述べ
たが、この点は本発明の他の例についても云える
ことである。なお、例を挙げて示した数値並びに
計算式は使用すべき回路素子の必要な選択をする
上で判り易くするために例示したに過ぎないもの
である。
く、幾多の変更を加え得ること勿論である。例え
ば、上述した例では特に、TTL論理回路と
ECL/CML論理回路との間での信号レベル変換
にnpnトランジスタを用いる場合につき述べた
が、電源の極性を反転させ、pnpトランジスタを
用いても別の要求に応える変換回路を得ることが
できることは勿論である。さらに、第5図の回路
では回路の素子数を極めて節約する例につき述べ
たが、この点は本発明の他の例についても云える
ことである。なお、例を挙げて示した数値並びに
計算式は使用すべき回路素子の必要な選択をする
上で判り易くするために例示したに過ぎないもの
である。
第1図は本発明にによる変換回路並びに第1お
よび第2論理回路へのその変換回路の主要結線の
全体を示す電気回路図;第2図は本発明の第1の
実施例による変換回路の電気回路図;第3図は第
2図の例の変形例を示す回路図;第4図は本発明
の第2の実施例に基づく変換回路の電気回路図;
第5図は本発明による変換回路を2つの論理回路
間にて信号を双方向に変換するのに利用する場合
に適用される第4図の回路の変形例を示す回路図
である。 10……変換回路、11……第1論理回路、1
2……第2論理回路、14……第1直流電源、2
0……第2直流電源、22……中継端子、23…
…直列回路、27……変換回路出力端子、28…
…コレクタ端子、30……第2論理回路の差動入
力段、100……変換回路、120……CML入
力回路、200……CML出力回路、220……
バス、M……共通基準電位点、Rc……抵抗、T
1……エミツタホロワトランジスタ、J1〜J5
……半導体接合、P1,P2……電位点、S1,
S2,S3,S21……電流源、R1,R2……
限流抵抗、Z……負荷素子、Tz……負荷トラン
ジスタ、R3……抵抗(電流源)、T201,T
202,T203,T204……トランジスタ。
よび第2論理回路へのその変換回路の主要結線の
全体を示す電気回路図;第2図は本発明の第1の
実施例による変換回路の電気回路図;第3図は第
2図の例の変形例を示す回路図;第4図は本発明
の第2の実施例に基づく変換回路の電気回路図;
第5図は本発明による変換回路を2つの論理回路
間にて信号を双方向に変換するのに利用する場合
に適用される第4図の回路の変形例を示す回路図
である。 10……変換回路、11……第1論理回路、1
2……第2論理回路、14……第1直流電源、2
0……第2直流電源、22……中継端子、23…
…直列回路、27……変換回路出力端子、28…
…コレクタ端子、30……第2論理回路の差動入
力段、100……変換回路、120……CML入
力回路、200……CML出力回路、220……
バス、M……共通基準電位点、Rc……抵抗、T
1……エミツタホロワトランジスタ、J1〜J5
……半導体接合、P1,P2……電位点、S1,
S2,S3,S21……電流源、R1,R2……
限流抵抗、Z……負荷素子、Tz……負荷トラン
ジスタ、R3……抵抗(電流源)、T201,T
202,T203,T204……トランジスタ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 一方の端子15が共通の基準電位点Mを成す
第1直流電源14によつて給電され、2つの出力
信号レベルを呈する飽和タイプの一方の第1論理
回路11と、一方の端子が共通の基準電位点Mに
接続され、他方の端子が前記第1直流電源の他方
の端子の電圧に対し反対の極性の電位点に接続さ
れる第2直流電源20によつて給電され、前記信
号レベルとは別の2つの他の信号レベルを呈する
非飽和タイプの他方の第2論理回路12,12
0,200との間の信号レベルを変換する変換回
路10,100にあつて、中継端子22が特に第
1論理回路11の出力信号を受信して、前記変換
回路の出力端子27における信号を前記第2論理
回路の入力に好適なレベルの信号に変換するため
の信号レベル変換回路において、該変換回路が、 ベースが一方では第1順方向半導体接合J1を
経て共通の基準電位点Mの電位に対して所定の電
位を呈する変換回路における第1電位点P1に、
他方では限流素子23を経て中継端子22に接続
されるエミツタホロワトランジスタT1と; 第2直流電源20の前記他方の端子VEEとエミ
ツタホロワトランジスタT1のエミツタとの間に
接続される定電流源S1と; 一方の第1接続線24がエミツタホロワトラン
ジスタのエミツタに接続され、他方の第2接続線
25が共通の基準電位点Mの電位に対して所定の
電位を呈する変換回路における第2電位点P2に
接続される定電流源S1用の負荷素子Z,R,J,
TZ; とを具えており、かつ 負荷素子の前記第1接続線24が第2論理回路
の入力に対する信号を搬送する変換回路の出力端
子を成し、第2論理回路の入力信号の内の一方の
レベルを、エミツタホロワトランジスタT1がカ
ツト・オフされている際に定電流源S1の電流I
が流れることにより負荷素子Z,R,J,TZで
の電圧降下にて変換回路の第2電位点 P2の電位に基いて決定し、論理回路の入力信号
の内の他方のレベルをエミツタホロワトランジス
タT1が導通している際におけるこのトランジス
タのエミツタの電位によつて決定するようにした
ことを特徴とする信号レベル変換回路。 2 特許請求の範囲1記載の信号レベル変換回路
において、エミツタホロワトランジスタT1のベ
ースを、限流抵抗R1と少なくとも1個の順方向
に接続される補足半導体接合J2とを具える直列
回路23を経て中継端子22に接続したことを特
徴とする信号レベル変換回路。 3 特許請求の範囲2記載の信号レベル変換回路
において、変換回路における所定電位に持たらさ
れる前記第1P1および第2電位点P2を共通の
基準電位点Mに接続し、エミツタホロワトランジ
スタT1のコレクタ28を前記直列回路23の接
続点の一方に接続したことを特徴とする信号レベ
ル変換回路。 4 特許請求の範囲3記載の信号レベル変換回路
において、前記直列回路23が、エミツタホロワ
トランジスタT1のコレクタを接続する接続点と
前記トランジスタのベースとの間に追加の限流抵
抗R2を含むようにしたことを特徴とする信号レ
ベル変換回路。 5 特許請求の範囲2記載の信号レベル変換回路
において、前記第1電位点P1を関連する半導体
接合J4の第1電極35に接続し、該半導体接合
の第2電極36を共通の基準電位点Mに接続し、
前記関連する半導体接合J4の第1電極35と前
記第2直流電源の前記他方の端子VEEとの間に前
記半導体接合J4に順方向電流を与える別の関連
する電流源S2を接続し、かつ前記直列回路23
が2個の補足半導体接合J2,J3を具えるよう
にしたことを特徴とする信号レベル変換回路。 6 特許請求の範囲5記載の信号レベル変換回路
において、エミツタホロワトランジスタT1のコ
レクタ28を共通の基準電位点Mに接続したこと
を特徴とする信号レベル変換回路。 7 特許請求の範囲2〜6のいずれか1つに記載
の信号レベル変換回路において、エミツタホロワ
トランジスタT1のベースと第2直流電源の前記
他方の端子VEEとの間に追加の電流源S3,特に
追加のベース抵抗R3を接続したことを特徴とす
る信号レベル変換回路。 8 特許請求の範囲5〜10のいずれか1つに記
載の信号レベル変換回路において、該回路の前記
第2電位点P2を前記第1電位点P1に接続した
ことを特徴とする信号レベル変換回路。 9 特許請求の範囲2〜8のいずれか1つに記載
の信号レベル変換回路において、負荷素子Zを抵
抗Rとしたことを特徴とする信号レベル変換回
路。 10 特許請求の範囲2〜8のいずれか1つに記
載の信号レベル変換回路において、負荷素子Zを
定電流源S1に対して順方向に接続される半導体
接合Jによつて構成したことを特徴とする信号レ
ベル変換回路。 11 特許請求の範囲5〜7のいずれか1つに記
載の信号レベル変換回路において、負荷素子Zを
エミツタホロワトランジスタと同一極性を有し、
かつ負荷トランジスタTZとして定められるトラ
ンジスタによつて構成し、該トランジスタのエミ
ツタが前記第1接続線を成し、ベースが第2論理
回路の内部レベルの内の一方のレベルの電位を呈
する前記第2接続線を成し、かつコレクタが共通
の基準電位点Mに接続されるようにしたことを特
徴とする信号レベル変換回路。 12 中継端子22が、第2ロング−テールド−
ペアのトンジスタT203,T204の内の第1
トランジスタT203を制御すべく“OR”ゲー
トとして接続した第1ロング−テールド−ペア−
トランジスタT201,T202を具えている第
2論理回路200の出力端子から到来する信号を
第1論理回路に転送するために受信し得るように
した特許請求の範囲11記載の信号レベル変換回
路において、第1ロング−テールド−ペア−トラ
ンジスタT201,T202の一方のトランジス
タT201のベースが第1変換選択入力端子を成
し、他方のトランジスタT202のベースが第2
論理回路用の信号を受信するようにし、第2ロン
グ−テールド−ペア−トランジスタの内の第1ト
ランジスタT203のコレクタと共通の基準電位
点Mとの間の結線部に前記関連する半導体接合J
4を構成する半導体接合を設け、前記第2ロング
−テールド−ペア−トランジスタに給電する電流
源が前記関連する電流源S2を成し、第2ロング
−テールド−ペア−トランジスタの第2トランジ
スタT204のコレクタを順方向半導体接合J5
を経て共通の基準電位点Mに接続すると共に中継
端子22にも直接接続し、かつ負荷トランジスタ
TZのベースが第1選択入力端子に対して相補的
に制御される第2選択入力端子を成すようにした
ことを特徴とする信号レベル変換回路。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR8217397A FR2534752A1 (fr) | 1982-10-18 | 1982-10-18 | Circuit convertisseur de niveaux de signaux entre une logique de type saturee et une logique de type non saturee |
FR8217397 | 1982-10-18 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59103427A JPS59103427A (ja) | 1984-06-14 |
JPH0432571B2 true JPH0432571B2 (ja) | 1992-05-29 |
Family
ID=9278347
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58195148A Granted JPS59103427A (ja) | 1982-10-18 | 1983-10-18 | 信号レベル変換回路 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4612460A (ja) |
EP (1) | EP0109106B1 (ja) |
JP (1) | JPS59103427A (ja) |
DE (1) | DE3369041D1 (ja) |
FR (1) | FR2534752A1 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0763139B2 (ja) * | 1985-10-31 | 1995-07-05 | 日本電気株式会社 | レベル変換回路 |
JPH0716154B2 (ja) * | 1988-10-06 | 1995-02-22 | 日本電気株式会社 | Ttl−eclレベル変換回路 |
US5059826A (en) * | 1989-11-30 | 1991-10-22 | Motorola Inc. | Voltage threshold generator for use in diode load emitter coupled logic circuits |
US5008570A (en) * | 1990-03-30 | 1991-04-16 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Schmitt-triggered TTL to CML input buffer apparatus |
DE4201947C2 (de) * | 1992-01-24 | 1993-10-28 | Texas Instruments Deutschland | Integrierte Transistorschaltung mit Reststromkompensation |
US5440248A (en) * | 1994-01-31 | 1995-08-08 | Texas Instruments Incorporated | Power-saver differential input buffer |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56117427A (en) * | 1980-02-20 | 1981-09-14 | Fujitsu Ltd | Level converting circuit |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1245347A (en) * | 1968-07-01 | 1971-09-08 | Nippon Telegraph & Telephone | Improved high speed logic circuit device |
DE2000401C3 (de) * | 1970-01-07 | 1974-01-03 | Siemens Ag, 1000 Berlin U. 8000 Muenchen | Schaltungsanordnung zur Umsetzung von Signalspannungen aus Schaltkreisen mit in der Sättigung betriebenen Transistoren in solche für Schaltkreise, in denen die Sättigung vermieden ist |
US3716722A (en) * | 1970-04-29 | 1973-02-13 | Cogar Corp | Temperature compensation for logic circuits |
US3959666A (en) * | 1974-07-01 | 1976-05-25 | Honeywell Information Systems, Inc. | Logic level translator |
US3986045A (en) * | 1975-04-23 | 1976-10-12 | Advanced Micro Devices, Inc. | High speed logic level converter |
EP0052565A1 (en) * | 1980-11-17 | 1982-05-26 | FAIRCHILD CAMERA & INSTRUMENT CORPORATION | Temperature and process variation compensated TTL to ECL translator buffer |
US4456838A (en) * | 1981-02-25 | 1984-06-26 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | Level shifting circuit |
JPS57162838A (en) * | 1981-03-31 | 1982-10-06 | Fujitsu Ltd | Emitter coupling type logical circuit |
US4518876A (en) * | 1983-03-30 | 1985-05-21 | Advanced Micro Devices, Inc. | TTL-ECL Input translation with AND/NAND function |
-
1982
- 1982-10-18 FR FR8217397A patent/FR2534752A1/fr active Granted
-
1983
- 1983-10-14 EP EP83201475A patent/EP0109106B1/fr not_active Expired
- 1983-10-14 US US06/541,946 patent/US4612460A/en not_active Expired - Fee Related
- 1983-10-14 DE DE8383201475T patent/DE3369041D1/de not_active Expired
- 1983-10-18 JP JP58195148A patent/JPS59103427A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56117427A (en) * | 1980-02-20 | 1981-09-14 | Fujitsu Ltd | Level converting circuit |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0109106B1 (fr) | 1987-01-07 |
FR2534752B1 (ja) | 1984-11-23 |
FR2534752A1 (fr) | 1984-04-20 |
DE3369041D1 (en) | 1987-02-12 |
US4612460A (en) | 1986-09-16 |
EP0109106A1 (fr) | 1984-05-23 |
JPS59103427A (ja) | 1984-06-14 |
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